磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法

1.本发明属于磁粒子成像技术领域，具体涉及一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法、系统及电子设备。


背景技术：

2.在磁粒子成像(mpi)中，图像重建是指将mpi扫描仪测量到的电压响应信号重建为相关磁粒子分布的图像，x-space重建方法因其重建速度快的特点被广泛使用。使用x-space重建方法时，通常需要三组数据：响应信号、瞬时位置、瞬时速度。其中，响应信号由mpi装置测量得到，其信号幅度用于反应磁粒子的浓度；瞬时位置指扫描过程中ffp(无磁场点，field-free point)或ffl(无磁场线，field-free line)的所在的位置，即与时刻对应的扫描轨迹；瞬时速度表示某时刻下ffp或ffl扫描到某一位置时所对应的速度，可由瞬时位置求导得到。然而，由于传感器误差、电子学器件的固有延迟、接收线圈寄生电容影响和滤波后信号失真等方面影响，会导致响应信号的接收端口与激励/驱动线圈的输出之间存在时间差，在周期性信号中表现为相位差(比如mpi装置中一般使用连续的正弦波作为激励信号)，因此不能直接使用激励线圈的电流信息用于瞬时位置的映射，需要进一步进行相位的偏移校准，否则会影响mpi的最终成像质量。
3.磁粒子成像瞬时位置的相位偏移校准方式缺乏相关报道，目前主要基于研究人员的经验实现，可行方式主要有以下2种方式：1)通过实验的方法测量系统中不同器件带来的时间延迟，然后根据已设置的激励信号信息，将延迟时间换算为瞬时位置的相位偏移，最后通过调节电路或延迟采样时间的方式校准瞬时位置；2)通过建模得到系统的传递函数，然后计算出瞬时位置信息。这两种校准方式都需要对系统中每个器件都进行单独的测量或计算，导致工作量大、校准过程所需时间长，调节麻烦，参与人员需要足够的电路知识储备，而且目前还未有相关报道提到评价标准，缺少瞬时位置相位偏移程度的描述与执行方案。基于此，本发明提出了一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法。


技术实现要素：

4.为了解决现有技术中的上述问题，即为了解决现有的无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法需要对mpi装置中每个器件都进行单独的测量或计算，导致工作量大、校准过程所需时间长，调节麻烦的问题，本发明第一方面，提出了一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法，应用于mpi装置，所述mpi装置包括控制子系统、发射子系统、接收子系统、电流传感子系统；该方法包括：
5.s100，采集所述mpi装置中待成像的目标样品的磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；
6.s200，基于所述输入信号，结合设定的调制所需参数，循环对所述mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；所述调制所需参数包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数；
7.s300，相位自动调制结束后，获取目标特征值、相位偏置；结合所述目标特征值、所述相位偏置，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，对所述目标特征值的最优解求平均，作为相位偏移的最优解；所述目标特征值包括相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置；
8.s400，根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。
9.在一些优选的实施方式中，s100之前还包括：
10.利用磁力计标定所述mpi装置中mpi扫描仪的主磁场中心；
11.标定后，将浓度相同、平行放置的spio样品棒均匀放置在所述mpi装置的载物台的两侧；所述spio样品棒即目标样品对应的spio样品棒；
12.设置所述mpi扫描仪的扫描参数；所述扫描参数包括扫描轨迹、扫描频率、成像视野和时间；
13.将所述载物台推出磁场区域，测量并记录背景信号；
14.背景信号测量后，将所述载物台推入到所述主磁场中心，进而测量并记录所述目标样品的磁粒子响应信号、电流强度信号。
15.在一些优选的实施方式中，循环对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制，其方法为：
16.s201，判断当前的循环次数i是否超过所述调制一共所需的限定次数，若否，则跳转s202，否则，相位自动调制结束；
17.s202，将当前的循环次数与所述单次计算的步进大小相乘，作为当前状态下需要总共步进的延迟时间；将所述当前状态下需要总共步进的延迟时间与所述起始延时相加，作为当前状态目标调制延迟时间；
18.s203，基于所述当前状态目标调制延迟时间、所述电流强度信号，进行相位自动调制，得到新的瞬时位置及其对应的瞬时速度；
19.s204，结合所述磁粒子响应信号，进行磁粒子成像，得到一维mpi图像；提取所述一维mpi图形的特征值，进而得到相位自动调制过程重建的一维mpi图像的目标特征值；
20.s205，基于所述当前状态目标调制延迟时间，计算相位偏置；
21.s206，令i＝i 1，跳转s201。
22.在一些优选的实施方式中，基于所述当前状态目标调制延迟时间、所述电流强度信号，进行相位自动调制，得到新的瞬时位置及其对应的瞬时速度，其方法为：
23.获取所述mpi装置成像过程中无磁场点的初始瞬时位置信息；
24.将所述初始瞬时位置信息分解为位置信息、时间坐标两组数据，分别作为第一位置信息、第一时间坐标；
25.将所述第一时间坐标与所述当前状态目标调制延迟时间进行求和，作为第二时间坐标；
26.结合所述第二时间坐标，通过插值方法获取所述第二时间坐标下的位置信息，作为第二位置信息；
27.将所述第一时间坐标与所述第二位置信息进行组合的，作为新的瞬时位置信息，
并对其求导，得到瞬时速度。
28.在一些优选的实施方式中，所述相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置，其获取方法为：
29.所述峰值比值：h1/h2→130.其中，h1、h2表示重建的一维mpi图像的峰值大小；
31.所述峰谷位置：x
valley
→
0.5*f0v；
32.其中，x
valley
表示重建的一维mpi图像的峰谷位置，fov表示成像视野。
33.在一些优选的实施方式中，基于所述当前状态目标调制延迟时间，计算相位偏置，其方法为：
34.poffset＝(delay％t)
×
360
35.其中，poffset表示相位偏置，delay表示当前状态目标调制延迟时间，t表示mpi装置激励方向的扫描频率。
36.在一些优选的实施方式中，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，其方法为：绘制相位自动调制过程曲线，在所述相位自动调制过程曲线中通过插值或拟合的方法计算峰值比值、峰谷位置的最优解。
37.本发明的第二方面，提出了一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准系统，应用于mpi装置，所述mpi装置包括控制子系统、发射子系统、接收子系统、电流传感子系统；该相位偏移校准系统包括：
38.信号采集模块，配置为采集所述mpi装置中待成像的目标样品的磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；
39.相位自动调制模块，配置为基于所述输入信号，结合设定的调制所需参数，循环对所述mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；所述调制所需参数包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数；
40.最优解求解模块，配置为相位自动调制结束后，获取目标特征值、相位偏置；结合所述目标特征值、所述相位偏置，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，对所述目标特征值的最优解求平均，作为相位偏移的最优解；所述目标特征值包括相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置；
41.再次调制模块，配置为根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。
42.本发明的第三方面，提出了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个所述处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述处理器执行的指令，所述指令用于被所述处理器执行以实现上述的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法。
43.本发明的第四方面，提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于被所述计算机执行以实现上述的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法。
44.本发明的有益效果：
45.本发明对无磁场点瞬时位置的相位偏移校准时不需要再对硬件进行设置，大大降
低相位调制难度、方便人员操作。
46.1)本发明得到“初始瞬时位置”后，通过调节“延时”的大小实现了对周期瞬时位置信号的相位调制，所有操作均可配合计算机程序自动运行，不需要再对硬件进行设置，大大降低相位调制难度、方便人员操作；
47.2)本发明采用电流传感信号作为初始值，得到样品数据后可以完全通过软件计算实现瞬时位置的自动相位校准，因此不需要对系统中各个器件单独测试延迟时间或建立传递函数，具有操作简单、调试快速的优点；
48.3)本发明一方面提供了明确的评价标准和规范的校准流程，另一方面特征值反映在成像效果上，具有可视化的校准过程；
49.4)扩展性强，对于二维、三维的mpi系统，可以分解为一维系统进行校准。
附图说明
50.通过阅读参照以下附图所做的对非限制性实施例所做的详细描述，本技术的其他特征、目的和优点将会变得更明显。
51.图1是本发明一种实施例的一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法的流程示意图；
52.图2是本发明一种实施例的一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准系统的框架示意图；
53.图3是本发明一种实施例的mpi装置的结构示意图；
54.图4是本发明一种实施例的瞬时位置的相位偏置调制原理图；
55.图5是本发明一种实施例的spio样品棒的设置示意图；
56.图6是本发明一种实施例的一维期望重建效果示意图；
57.图7是本发明一种实施例的相位自动调制的流程示意图；
58.图8是本发明一种实施例的瞬态位置的相位校准的具体流程示意图；
59.图9是本发明一种实施例的5mm边边距的样品的相位校准过程中一维图像重建结果；
60.图10是本发明一种实施例的相位调制过程曲线图；
61.图11是本发明一种实施例的实测样品无磁场点瞬时位置的相位偏移校准后效果对比图；
62.图12是本发明一种实施例的适于用来实现本技术实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。
具体实施方式
63.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
64.下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便
于描述，附图中仅示出了与有关发明相关的部分。
65.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
66.本发明的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法，应用于mpi装置，所述mpi装置包括控制子系统、发射子系统、接收子系统、电流传感子系统；如图1所示，包括以下步骤：
67.s100，采集所述mpi装置中待成像的目标样品的磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；
68.s200，基于所述输入信号，结合设定的调制所需参数，循环对所述mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；所述调制所需参数包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数；
69.s300，相位自动调制结束后，获取目标特征值、相位偏置；结合所述目标特征值、所述相位偏置，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，对所述目标特征值的最优解求平均，作为相位偏移的最优解；所述目标特征值包括相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置；
70.s400，根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。
71.为了更清晰地对本发明磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法进行说明，下面结合附图8对本发明方法一种实施例中各步骤进行展开详述。
72.在本发明中，用于磁粒子成像中响应信号所对应的无磁场点瞬时位置的相位偏移校准基于完整的mpi装置实现，该装置包括控制、发射、接收和电流传感四部分子系统，如图3所示，展示了该mpi装置的构成。控制子系统由计算机和数据采集卡组成，其目标是为了实现硬件设备控制、激励信号产生、接收信号采集、数据处理、图像重建和相位自动校准等功能；发射子系统的目标是为了获取纯净的正弦波激励，使用放大器、滤波器和谐振电路来调制信号。接收子系统的目标是在抑制基频馈通信号的同时接收磁粒子信号，其中感应线圈需要采用反向绕制的方法对基频干扰进行补偿和减小，并采用滤波器抑制高频噪声的影响。电流传感器子系统用于测量激励/扫描电路中的瞬时电流，从而映射ffp在mpi扫描仪中瞬时位置的初始值。同时，图中箭头表示信号传递方向，实线表示通过连接线使信号在设备间传输，虚线表示通过磁场感应传递信号，圆圈表示电流传感器为非接触式测量，被测电流母线从电流传感器中穿过。
73.在上述特定的mpi装置配置中，使用电流传感器的信号来确定ffp的瞬时位置。然而在未校准的情况下使用时，通常在重建图像上的反应为样本位置与期望位置不一致，这是由于电流传感子系统与接收子系统的最终输出信号之间存在时间差导致的。mpi扫描仪一般采用周期性激励信号，因此在数字采样后电流信号的幅值与扫描视场有关，相位与采样时的瞬时位置有关，通过电流信号相位的改变可以实现相对时间差的调节，即得到“初始瞬时位置”后，通过调节“延时”的大小实现了对周期瞬时位置信号的相位调制。具体如下：
74.s100，采集所述mpi装置中待成像的目标样品的磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；
75.在本实施例中，在开始相位自动调试后，首先将运行次数初始化为0，然后输入相位调试所使用的磁粒子响应信号(由接收子系统测得)和电流强度信号(由电流传感子系统测得)。具体如下：
76.利用磁力计标定所述mpi装置中mpi扫描仪的主磁场中心；
77.标定后，将浓度相同、平行放置的spio样品棒均匀放置在所述mpi装置的载物台的两侧；所述spio样品棒即目标样品对应的spio样品棒；
78.设置所述mpi扫描仪的扫描参数；所述扫描参数包括扫描轨迹、扫描频率、成像视野和时间；
79.将所述载物台推出磁场区域，测量并记录背景信号；
80.背景信号测量后，将所述载物台推入到所述主磁场中心，进而测量并记录所述目标样品的磁粒子响应信号、电流强度信号。
81.s200，基于所述输入信号，结合设定的调制所需参数，循环对所述mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；所述调制所需参数包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数；
82.在本实施例中，先设置调制所需要的参数信息，即调制所需参数，其包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数。然后进行循环模式，循环对mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制，相位自动调制过程如下，如图7所示：
83.s201，判断当前的循环次数i是否超过所述调制一共所需的限定次数，若否，则跳转s202，否则，相位自动调制结束；
84.s202，将当前的循环次数与所述单次计算的步进大小相乘，作为当前状态下需要总共步进的延迟时间；将所述当前状态下需要总共步进的延迟时间与所述起始延时相加，作为当前状态目标调制延迟时间；
85.s203，基于所述当前状态目标调制延迟时间、所述电流强度信号，进行相位自动调制，得到新的瞬时位置及其对应的瞬时速度；
86.在本实施例中，瞬时位置的相位调制原理，如图4所示，具体如下：未校准时的ffp所在瞬时位置可以用电流强度乘以系数来表示，通常该系数由电流传感器的用户手册提供。电流传感器测量初始的瞬时位置信息，由于是通过数据采集卡测量得到的，其模拟信号数字化之后表现为二维数组，每个采样点(即初始瞬时位置信息)可以分解为对应的“位置信息”和“时间坐标”两组信息，分别作为第一位置信息、第一时间坐标；将所述第一时间坐标与所述当前状态目标调制延迟时间进行求和，作为第二时间坐标；结合所述第二时间坐标，通过插值方法(不局限于线性、三次样条和高斯插值等方法)获取所述第二时间坐标下的位置信息，作为第二位置信息；将所述第一时间坐标与所述第二位置信息进行组合的，作为新的瞬时位置信息，并对其求导，得到瞬时速度。
87.即本发明得到“初始瞬时位置”后，通过调节“延时”的大小实现了对周期瞬时位置信号的相位调制，所有操作均可配合计算机程序自动运行，不需要再对硬件进行设置，大大降低相位调制难度、方便人员操作。
88.s204，结合所述磁粒子响应信号，进行磁粒子成像，得到一维mpi图像；提取所述一维mpi图形的特征值，进而得到相位自动调制过程重建的一维mpi图像的目标特征值；
89.在本实施例中，运行x-space成像算法，将采集的磁粒子响应信号网格化处理，得
到一维mpi图像。
90.在扫描时，目标样品为方向平行、浓度相同的两条spio棒，垂直于扫描轨迹且均匀分布在视野中心两侧，如图5所示，因此一维期望成像效果示意图，理论上当瞬时位置相位正确时，期望图像中两个峰位高度相同，如图6所示，具体表示为：
91.h1/h2→1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)
92.其中，h1、h2分别表示重建的一维mpi图像的峰值大小，h1/h2表示峰值比值；
“→”
表示：趋近于，“1”表示期望图像中h1/h2的值，总体意思为：自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比h1/h2，希望能够趋近于期望图像中峰值比的大小，即为1。
93.峰谷的位置在视野的中心，表示为
94.x
valley
→
0.5*fov
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
95.其中，x
valley
表示重建的一维mpi图像的的峰谷位置，fov表示成像视野，即期望图像中成像视野，总体意思为：自动调制过程重建的一维mpi图像的峰谷位置x
valley
，希望能够趋近于期望图像中的fov的中心，即为fov的一半大小(0.5*fov)。
96.因此，在获取一维mpi图像后，从一维mpi图像中提取特征值并锁存，用于几种存储，特征值包括峰值比值、和峰谷位置(即评估标准)。
97.s205，基于所述当前状态目标调制延迟时间，计算相位偏置；
98.相位偏移和相位偏置是两个概念。相位偏移是本发明提出的问题，系统中瞬时位置和速度存在相位偏移，所以需要校准。相位偏置是用于标定相位偏移的方法，在本发明中指：瞬时位置和速度属于周期信号，而周期信号中设置不同延迟时间(s202)则相当于相位偏置。所以，延迟时间对应了自动调节时候相位偏置，不同相位偏置有不同mpi图形的特征值，将相位偏置作为x与特征值作为y可画出相位调制过程曲线图，进而确定出最优相位偏置点，才能针对性的补偿瞬时位置的相位偏移，具体参考s300。
99.在本实施例中，相位是按照延迟时间进行转换，转换公式为：
100.poffset＝(delay％t)
×
360(3)
101.其中，poffset表示相位偏置，delay表示当前状态目标调制延迟时间，t表示mpi装置激励方向的扫描频率。
102.s206，令i＝i 1，跳转s201。
103.s300，相位自动调制结束后，获取目标特征值、相位偏置；结合所述目标特征值、所述相位偏置，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，对所述目标特征值的最优解求平均，作为相位偏移的最优解；所述目标特征值包括相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置；
104.瞬时位置相位的偏移校准是通过测量特征样品在瞬时位置不同相位偏移角度下的图像分布，然后根据图像上特征参数来反馈相位偏移程度，最终利用拟合和插值的方法在特征参数曲线中找到最合适相位偏移值。
105.在本实施例中，结合所述目标特征值，绘制相位自动调制过程曲线，如图10所示，从图10中可以看出，两组目标特征参数随调制相位偏移的变化情况。在15
°
到35
°
的偏置区域内几乎呈线性关系。根据公式(1)(2)，在曲线中通过插值算法计算得得到了对应的特征值最优解分别为23.262
°
(峰值比值)和24.702
°
(峰谷位置)，则最佳相位偏移为23.982(平均值)
106.对所述相位自动调制过程曲线进行插值或拟合的数学方法进行处理，得到所述目标特征值的最优解，并求目标特征值的最优解的平均值，作为相位偏移的最优解。
107.s400，根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。
108.在本实施例中，根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制(具体过程可参见上述步骤中的方法)，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。最终相位偏移校准后的瞬时位置及其对应的瞬时速度即为校准后结果。
109.随着相位的调制，可以明显观察到重建结果的改变，如下图9所示为5mm边边距的样品的相位校准过程中一维图像重建结果。可以明显观察到，该6项结果中特征值在相位偏移量为25
°
的时候最接近理想状态，而且成像效果最佳。实测样品，无磁场点瞬时位置的相位偏移校准后效果对比，如图11所示。
110.本发明第二实施例的一种磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准系统，应用于mpi装置，所述mpi装置包括控制子系统、发射子系统、接收子系统、电流传感子系统；如图2所示，该相位偏移校准系统包括：
111.信号采集模块100，配置为采集所述mpi装置中待成像的目标样品的磁粒子响应信号及电流强度信号，作为输入信号；
112.相位自动调制模块200，配置为基于所述输入信号，结合设定的调制所需参数，循环对所述mpi装置成像过程中无磁场点的瞬时位置进行相位自动调制；所述调制所需参数包括起始延时、单次计算的步进大小、调制一共所需的限定次数；
113.最优解求解模块300，配置为相位自动调制结束后，获取目标特征值、相位偏置；结合所述目标特征值、所述相位偏置，绘制相位自动调制过程曲线并求解所述目标特征值的最优解，对所述目标特征值的最优解求平均，作为相位偏移的最优解；所述目标特征值包括相位自动调制过程重建的一维mpi图像的峰值比值及峰谷位置；
114.再次调制模块400，配置为根据所述相位偏移的最优解，对所述mpi装置中无磁场点的瞬时位置再次进行相位自动调制，将再次调制过程中获取的瞬时位置作为最终相位偏移校准后的瞬时位置，并对其求导得到瞬时速度。
115.所述技术领域的技术人员可以清楚的了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统的具体的工作过程及有关说明，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
116.需要说明的是，上述实施例提供的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准系统，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块来完成，即将本发明实施例中的模块或者步骤再分解或者组合，例如，上述实施例的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。对于本发明实施例中涉及的模块、步骤的名称，仅仅是为了区分各个模块或者步骤，不视为对本发明的不当限定。
117.本发明第三实施例的一种电子设备，至少一个处理器；以及与至少一个所述处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述处理器执行的指令，所述指令用于
被所述处理器执行以实现上述的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法。
118.本发明第四实施例的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于被所述计算机执行以实现上述的磁粒子成像中无磁场点瞬时位置的相位偏移校准方法。
119.所述技术领域的技术人员可以清楚的了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的电子设备、可读存储介质的具体工作过程及有关说明，可以参考前述方法实例中的对应过程，在此不再赘述。
120.下面参考图12，其示出了适于用来实现本技术方法、系统、装置实施例的服务器的计算机系统的结构示意图。图12示出的服务器仅仅是一个示例，不应对本技术实施例的功能和使用范围带来任何限制。
121.如图12所示，计算机系统包括中央处理单元(cpu，central processing unit)1201，其可以根据存储在只读存储器(rom，read only memory)1202中的程序或者从存储部分1208加载到随机访问存储器(ram，random access memory)1203中的程序而执行各种适当的动作和处理。在ram 1203中，还存储有系统操作所需的各种程序和数据。cpu 1201、rom 1202以及ram 1203通过总线1204彼此相连。输入/输出(i/o，input/output)接口1205也连接至总线1204。
122.以下部件连接至i/o接口1205：包括键盘、鼠标等的输入部分1206；包括诸如阴极射线管(crt，cathode ray tube)、液晶显示器(lcd，liquid crystal display)等以及扬声器等的输出部分1207；包括硬盘等的存储部分1208；以及包括诸如lan(局域网，local area network)卡、调制解调器等的网络接口卡的通讯部分1209。通讯部分1209经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器1210也根据需要连接至i/o接口1205。可拆卸介质1211，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器1210上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分1208。
123.特别地，根据本发明的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本发明的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通讯部分1209从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质1211被安装。在该计算机程序被中央处理单元(cpu)1201执行时，执行本技术的方法中限定的上述功能。需要说明的是，本技术上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本技术中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本技术中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机
可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、rf等等，或者上述的任意合适的组合。
124.可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本技术的操作的计算机程序代码，上述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、smalltalk、c ，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(lan)或广域网(wan)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
125.附图中的流程图和框图，图示了按照本技术各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
126.术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不是用于描述或表示特定的顺序或先后次序。
127.术语“包括”或者任何其它类似用语旨在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备/装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者还包括这些过程、方法、物品或者设备/装置所固有的要素。
128.至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征作出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。