一种线扫描MicroLED光强检测光学模组的制作方法

一种线扫描micro led光强检测光学模组
技术领域
1.本实用新型涉及光学检测技术领域，具体为一种线扫描microled光强检测光学模组。


背景技术：

2.应用ccd可直接测量单缝衍射的光强分布，并可在数显示波器中直接显示光强分布曲线的全貌，从而精确测量单缝宽度，microled光强检测过程中通过透镜将光线传导至ccd光强传感器中，此为如今实验室光强检测的常用方法之一。
3.可参考市面上的正在售卖的ccd光强分布测量仪，进行光强检测时时以ccd光强分布测量仪为基础设备添加透镜进行micro led 晶片的光强检测，检测过程中通过led光源照射至micro led晶片，再检测micro led晶片发出的光线强度，此种直接输入led光源的方式容易受到外部环境导致光源较为分散，进而使得microled晶片受到的光源不均匀，增加光强检测的误差，并且micro led 晶片发出的光线若与ccd镜组入光角不一致，使得ccd传感器很难完全接收到micro led晶片的检测光线，因此需要一种可将输入光源均匀输入且输出光源与ccd镜组入光角一致的micro led光强检测光学模组。


技术实现要素：

4.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种线扫描microled光强检测光学模组，旨在解决现有技术中，直接输入led光源的方式容易受到外部环境导致光源较为分散以及micro led晶片发出的光线若与ccd镜组入光角不一致，使得ccd传感器很难完全接收到micro led晶片的检测光线的问题。
5.为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：
6.led光源、均光镜组、第一透镜组、分光镜组、micro led晶片、第二透镜组、ccd镜组和ccd传感器，所述led光源依次经过均光镜组、第一透镜组、分光镜组、micro led晶片、第二透镜组、ccd镜组和ccd传感器。
7.优选的，所述均光镜组将光线折射为高均匀光线。
8.优选的，所述第一透镜组将光线折射为平行小角度高均匀光斑。
9.优选的，所述分光镜组将光线折射为垂直方向至micro led晶片。
10.优选的，所述micro led晶片将光线反射至分光镜组。
11.优选的，所述分光镜组将micro led晶片的反射光线传导至第二透镜组。
12.优选的，所述第二透镜组将光线调整为与ccd镜组同一水平线。
13.优选的，所述ccd镜组将光线送入至ccd传感器。
14.本实用新型实施例提供了一种线扫描micro led光强检测光学模组，具备以下有益效果：
15.1、通过设置均光镜组，均光镜组将光源调整为平行均匀光斑，相较于直接将光源照射至micro led晶片检测可有效保障光源输出的均匀性，使得micro led晶片接收的led
光源更为均匀，减少光强检测的误差。
16.2、通过设置分光镜组和第二透镜组，该模组设置有分光镜组和第二透镜组，分光镜组与第二透镜组配合使用将入射角调整至与 ccd镜组相同，可有效避免入射角发生偏移ccd传感器未完全检测，使得ccd传感器可较为完全的接收到micro led晶片的检测光线。
附图说明
17.附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
18.图1是本实用新型光强检测流程图。
19.图中：1、led光源；2、均光镜组；3、第一透镜组；4、分光镜组；5、micro led晶片；6、第二透镜组；7、ccd镜组；8、ccd 传感器。
具体实施方式
20.以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
21.实施例：如图1所示，led光源1射入，经过均光镜组2将光线整合成均匀性光线，通过第一透镜组3整合呈平行小角度、高均匀的光线，再通过分光镜组4将平行光线改变为垂直方向投向待测物(micro led晶片5)，micro led晶片5发出光线再经过分光镜组4，配合第二透镜组6将光线角度调整为与ccd镜组7同一入光角，使得光线能够确保相同角度入射至ccd传感器8中。
22.工作原理：检测过程中led光源1射入，经过均光镜组2将光线整合成均匀性光线，相较于直接将光源照射至micro led晶片5 检测可有效保障光源输出的均匀性，使得micro led晶片5接收的 led光源1更为均匀，减少光强检测的误差，通过第一透镜组3整合呈平行小角度、高均匀的光线，再通过分光镜组4将平行光线改变为垂直方向投向待测物(micro led晶片5)，micro led晶片5 发出光线再经过分光镜组4，配合第二透镜组6将光线角度调整为与ccd镜组7同一入光角，使得光线能够确保相同角度入射至ccd 传感器8中，可有效避免入射角发生偏移ccd传感器8未完全检测，使得ccd传感器8可较为完全的接收到micro led晶片5的检测光线。


技术特征：
1.一种线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，包括：led光源(1)、均光镜组(2)、第一透镜组(3)、分光镜组(4)、micro led晶片(5)、第二透镜组(6)、ccd镜组(7)和ccd传感器(8)，所述led光源(1)依次经过均光镜组(2)、第一透镜组(3)、分光镜组(4)、micro led晶片(5)、第二透镜组(6)、ccd镜组(7)和ccd传感器(8)。2.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述均光镜组(2)将光线折射为高均匀光线。3.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述第一透镜组(3)将光线折射为平行小角度高均匀光斑。4.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述分光镜组(4)将光线折射为垂直方向至micro led晶片(5)。5.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述micro led晶片(5)将光线反射至分光镜组(4)。6.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述分光镜组(4)将micro led晶片(5)的反射光线传导至第二透镜组(6)。7.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述第二透镜组(6)将光线调整为与ccd镜组(7)同一水平线。8.根据权利要求1所述的线扫描micro led光强检测光学模组，其特征在于，所述ccd镜组(7)将光线送入至ccd传感器(8)。

技术总结
本实用新型涉及光学检测技术领域，具体涉及一种线扫描MicroLED光强检测光学模组，包括LED光源、均光镜组、第一透镜组、分光镜组、MicroLED晶片、第二透镜组、CCD镜组和CCD传感器，LED光源依次经过均光镜组、第一透镜组、分光镜组、Micro LED晶片、第二透镜组、CCD镜组和CCD传感器。本实用新型克服了现有技术的不足，通过设置均光镜组，均光镜组将光源调整为平行均匀光斑，相较于直接将光源照射至MicroLED晶片检测可有效保障光源输出的均匀性，使得CCD传感器可较为完全的接收到光线，减少光强检测的误差，并且该模组设置有分光镜组和第二透镜组，分光镜组与第二透镜组配合使用将入射角调整至与CCD镜组相同，可有效避免入射角发生偏移CCD传感器未完全检测。移CCD传感器未完全检测。移CCD传感器未完全检测。


技术研发人员：周亚兴 唐孝生 庄益祯 游证杰
受保护的技术使用者：奇格半导体（重庆）有限责任公司
技术研发日：2022.11.07
技术公布日：2023/2/23