一种键槽对称度检具的制作方法

1.本发明涉及键槽对称度检测技术领域，特别是涉及一种键槽对称度检具。


背景技术：

2.键槽，一种存在于轴和轮之间，用于传递扭矩的槽，通常与键配合，主要承受剪切力。在精度较高的机械结构中，键和键槽要求尽量完美配合，以消除间隙，进而消除机构运转过程中的振动和异响，以保证机械装置的平稳运行和寿命。要使键槽与键完美配合，通常会要求较高的公差精度，尤其是键槽的对称度公差，所以，机械加工中，如何检测键槽的对称度，尤其是如何快速精准检测键槽的对称度，对保证产品质量和机械加工效率非常重要。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于针对现有技术的不足，而提供一种键槽对称度检具，其采用一种检具，把键槽的两侧面引申出来，从而通过间接的方法快速检测键槽的对称度。
4.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种键槽对称度检具，包括与键槽所在的轴或孔同轴且可周向转动的轴套，所述轴套设置有一个贯穿内孔到外圆周的矩形孔，所述矩形孔内设置有一根摆轴，所述轴套在所述矩形孔的两侧设置有与所述摆轴距离相等的左检测位和右检测位，所述摆轴转动连接有摆锤，所述摆锤包括位于键槽内且当所述轴套左旋或右旋时可在键槽内卡死的锤部、以及随所述锤部同步反方向摆动的检测部，所述摆锤关于其厚度方向左右对称；还包括当所述锤部卡死时，检测所述左检测位或所述右检测位到所述检测部距离的游标卡尺。
5.进一步的，所述轴套与轴或孔间隙配合。
6.进一步的，所述摆锤与所述摆轴的转动连接点到所述锤部、所述检测部的距离相等。
7.进一步的，所述摆轴、所述轴套两者的轴线共面，且所述摆轴的轴线与键槽侧面的顶边平行。
8.进一步的，所述锤部截面的长度小于键槽的宽度，所述锤部截面的高度小于键槽的深度，所述锤部截面的对角线长度大于键槽的宽度。
9.进一步的，所述锤部为长方体。
10.进一步的，所述游标卡尺的精度≤0.01mm。
11.本发明的有益效果是：一种键槽对称度检具，其包括与键槽所在的轴或孔同轴且可周向转动的轴套，所述轴套设置有一个贯穿内孔到外圆周的矩形孔，所述矩形孔内设置有一根摆轴，所述轴套在所述矩形孔的两侧设置有与所述摆轴距离相等的左检测位和右检测位，所述摆轴转动连接有摆锤，所述摆锤包括位于键槽内且当所述轴套左旋或右旋时可在键槽内卡死的锤部、以及随所述锤部同步反方向摆动的检测部，所述摆锤关于其厚度方向左右对称；还包括当所述锤部卡死时，检测所述左检测位或所述右检测位到所述检测部距离的游标卡尺。本发明利用与轴或孔同轴的所述轴套转动时，带动所述摆锤偏转，使所述
锤部在键槽内卡死，进而获得所述检测部的唯一位置，进而通过测量所述检测部到左右检测位的距离并计算后，可间接快速精准获得键槽对称度。
附图说明
12.图1是本发明的实施例一的立体图；图2是图1的横向剖视图；图3是图1的纵向剖视图；图4是本发明的实施例二的立体图；图5是实施例二的主视图；图6是图5的剖视图。
13.附图标记说明：1——轴套、11——矩形孔、12——左检测位、13——右检测位、2——摆轴、3——摆锤、31——锤部、32——检测部、4——游标卡尺。
具体实施方式
14.下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细的说明，并不是把本发明的实施范围限制于此。
15.实施例一。
16.如图1-3所示，本实施例公开一种用于检测锥轴上键槽的对称度检具，包括与键槽所在的锥轴同轴且可周向转动的轴套1，此处，为防止检测时，所述轴套1沿轴向滑动，锥轴前端可拧上螺母并抵触所述轴套1；所述轴套1设置有一个贯穿内孔到外圆周的矩形孔11，所述矩形孔11内设置有一根摆轴2，所述轴套1在所述矩形孔11的两侧设置有与所述摆轴2距离相等的左检测位12和右检测位13，所述摆轴2转动连接有摆锤3，且套合点位于所述摆锤3的中部，所述摆锤3包括位于键槽内且当所述轴套1左旋或右旋时可在键槽内卡死的锤部31、以及随所述锤部31同步反方向摆动的检测部32；还包括当所述锤部31卡死时，检测所述左检测位12或所述右检测位13到所述检测部32距离的游标卡尺4。
17.作业时，所述轴套1左旋，带动所述摆锤3偏转，因为所述锤部31位于键槽内，所以，所述锤部31受键槽约束而与键槽的两侧面抵触，进而卡死限制所述轴套1继续转动，此时，用所述游标卡尺4卡住所述检测部32的左侧和所述右检测位13，获得距离一；同理，所述轴套1右旋，重复上述步骤，用所述游标卡尺4卡住所述检测部32的右侧和所述左检测位12，获得距离二。
18.上述检测，为保证精确，所述左检测位12、所述右检测位13到所述摆轴2的距离相等，且所述摆锤3在厚度方向为对称件，即以包容所述摆锤3套合于所述摆轴2的孔的轴线，且平行于所述摆锤3厚度方向的平面为对称面，所述摆锤3尤其是所述锤部31、所述检测部32关于该对称面对称，设定该对称面为所述摆锤3的体对称面。这样，所述摆锤3的体对称面与所述轴套1的轴线、所述摆轴2的轴线构成的平面重合时，所述摆锤3也关于后者平面对称，从而消除所述摆锤3自身对测量精度的影响。
19.若设定所述摆锤3与所述摆轴2的转动连接点到所述锤部31、所述检测部32的距离相等，则用所述游标卡尺4测量的两个距离分别为键槽左侧面到对称面的距离加某个定量，
或键槽右侧面到对称面的距离加某个定量；若所述摆锤3与所述摆轴2的转动连接点到所述锤部31、所述检测部32的距离不相等，则用所述游标卡尺4测量的两个距离分别为键槽左侧面到对称面的距离比例放大或缩小后加某个定量，或键槽右侧面到对称面的距离比例放大或缩小后加某个定量。所以，以前者为例，两个距离之差即为键槽左右两侧面到对称面的距离之差，再结合轴的直径、键槽的深度，计算可得键槽对称度。
20.另外，本实施例用于直径不变的圆轴，也同样适用。
21.实施例二。
22.如图4-6所示，本实施例公开一种用于检测孔内键槽的对称度检具，包括插入孔且可周向转动的轴套1，所述轴套1的中间设置有轴肩，作为检测时抵触孔端从而定位，所述轴套1设置有一个贯穿内孔到外圆周的矩形孔11，所述矩形孔11内设置有一根摆轴2，所述摆轴2转动连接有一个摆锤3，且铰接点在所述摆锤3的中部，所述摆锤3包括位于键槽内且当所述轴套1左旋或右旋时可在键槽内卡死的锤部31、以及随所述锤部31同步反方向摆动的检测部32，所述摆锤3关于其厚度方向且穿过轴孔的平面对称。为便于检测时方便观察所述锤部31的姿态，所述矩形孔11的长度大于键槽的长度且穿过轴肩所在的平面，使所述锤部31露出。另外，本实施例的所述轴套1为一个圆管，为了便于游标卡尺测量，所述轴套1未与键槽孔套合的部分沿轴向剖开，剖开后的半管的两侧设置所述左检测位12和所述右检测位13，另外，所述检测部32位于圆管的孔内且向该半管延伸并形成延伸圆柱。
23.作业时，左旋所述轴套1，带动所述摆锤3摆动，因为所述摆锤3位于键槽内，所述锤部31受键槽约束与其两侧面抵触，从而卡死并限制所述轴套1继续转动，从而获得左旋唯一位置，然后用所述游标卡尺4测量所述检测部32延伸圆柱右侧与所述左检测位12的距离；右旋所述轴套1，操作步骤同上，用所述游标卡尺4测量所述检测部32延伸圆柱左侧与所述右检测位13的距离。两个距离之差即为键槽两侧面到其对称面的距离之差，再结合孔的直径和键槽的深度，计算可得键槽的对称度。
24.上述左、右等方位是为了便于说明，参照图2、图5命名，本技术领域的普通技术人员应当理解，其不能作为对本发明技术方案的限制。
25.上述两个实施例，所述轴套1与轴或孔套合，即两者同轴，所述轴套1左旋或右旋进行测量时，为防止所述轴套1径向偏移，所述轴套1与轴或孔间隙配合，且所述轴套1与轴或孔的间隙尽量小。
26.所述锤部31截面的长度小于键槽的宽度，所述锤部31截面的高度小于键槽的深度，所述锤部31截面的对角线长度大于键槽的宽度；从而使得所述锤部31完全置于键槽内，但当所述轴套1转动而带动所述摆锤3摆动时，所述锤部31不会脱离键槽，且可利用所述锤部31对角线的两顶边抵触键槽的两侧面，达到限制所述轴套1转动的效果。本实施例所述锤部31采用长方体，实际生产中，也可采用截面为其它形状的棱柱，如六棱柱，该六棱柱可完全置于键槽内，且六棱柱两对边的距离小于键槽的宽度，六棱柱的最长对角线的长度大于键槽的宽度。
27.为使检测时，所述锤部31的边线完全贴合键槽的侧面，提高检测准确度，所述摆轴2、所述轴套1两者的轴线共面，且所述摆轴2与键槽侧面的顶边平行。如，键槽在圆轴或圆孔时，所述摆轴2与所述轴套1的轴线平行；键槽在锥轴上时，所述摆轴2与所述轴套1的轴线成夹角，从而使所述摆轴2与键槽侧面的顶边平行，进而使所述锤部31沿键槽的长度方向可完
全贴合；另外，本发明可用于平键槽、半圆键槽的对称度检测，检测时，均使所述摆轴2与平键槽侧面的顶边、或半圆键槽侧面的顶边平行，从而使所述锤部31可完全贴合平键槽或半圆键槽的侧面。
28.所述游标卡尺4的精度≤0.01mm，实际检测时，可采用精度更高的数显游标卡尺。
29.最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，且为便于对技术方案的描述，采用的前、后、左、右、上、中、下等方位是基于附图设定，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。