一种转接电路、设备、方法和测试方法与流程

1.本技术涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种转接电路、设备、方法和测试方法。


背景技术：

2.poe(power over ethernet，有源以太网)电源适配器在生产出来之后，需要测试合格才能投入市场。目前，由于同批次生产的poe电源适配器共用一个从机地址，因此当多台poe电源适配器与测试设备相连时，测试设备无法对每个poe电源适配器进行区分，导致测试设备无法从多个poe电源适配器中确定本次需要进行产测的poe电源适配器，因此现在产线上对poe电源适配器进行产测时每次只能连接并测试一台电源适配器，这使得poe电源适配器的产测效率低下。
3.由此，在同批次生产的poe电源适配器具有相同从机地址的情况下，如何提高poe电源适配器的产测效率是目前急需解决的问题。


技术实现要素：

4.本技术旨在提供一种转接电路、设备、方法和测试方法，以解决在同批次生产的poe电源适配器具有相同从机地址的情况下，如何提高poe电源适配器的产测效率的问题。
5.而本技术为解决上述技术问题所采用了以下方案。
6.第一方面，本技术提供一种转接电路，包括：
7.接入单元，用于接入测试设备；
8.输出单元，包括多个输出接口，每一所述输出接口用于与待测设备连接；其中，所述多个输出接口为相同类型的通信接口；
9.转接单元，设置在所述输出单元以及所述接入单元之间，用于将所述接入单元选择性地与所述多个输出接口中的目标输出接口连接。
10.在本技术的部分实施例中，所述接入单元包括第一接入接口及第二接入接口，所述第一接入接口用于接入所述测试设备，所述第二接入接口用于接入其他转接电路。
11.在本技术的部分实施例中，所述转接电路还包括地址切换单元，所述地址切换单元和所述转接单元连接；所述地址切换单元被配置为输出电平信号至所述转接单元，以触发所述转接单元根据所述电平信号输出地址信号至所述测试设备；其中，所述地址信号用于标识所述转接电路。
12.在本技术的部分实施例中，所述转接单元具有接收端子，所述地址切换单元包括偏置电源和偏置电阻，所述偏置电阻的一端连接所述偏置电源、另一端接地；
13.其中，所述接收端子与所述偏置电源和所述偏置电阻之间的连接点或所述偏置电阻远离所述偏置电源的一端连接，所述地址切换单元用于通过所述接收端子将所述电平信号输出至所述转接单元，所述转接单元用于根据全部所述接收端子接收到的电平信号生成地址信号。
14.在本技术的部分实施例中，所述输出接口以及所述第一接入接口均为i2c通信接
口；所述第二接入接口为级联接口。
15.在本技术的部分实施例中，所述转接电路还包括电源接入单元，所述电源接入单元用于连接所述测试设备，以为所述转接单元供电；所述电源接入单元包括第一电源接口和第二电源接口，所述第一电源接口用于与所述测试设备连接，所述第二电源接口用于与另一转接电路连接。
16.在本技术的部分实施例中，所述电源接入单元包括显示灯，所述显示灯串联设置在所述第一电源接口和所述转接单元之间，且所述显示灯是否点亮与所述电源接入单元是否处于正常的供电状态关联对应。
17.第二方面，本技术还提供一种转接设备，上述的转接电路集成在所述转接设备上。
18.第三方面，本技术还提供一种转接方法，应用于上述的转接设备，所述测试方法包括：
19.接收测试设备发出的测试连接信号；
20.根据所述测试连接信号从与所述转接设备连接的多个待测设备中确定目标待测设备，并将所述测试设备与所述目标待测设备连接。
21.第四方面，本技术还提供一种测试方法，应用于测试系统，
22.所述测试系统包括测试设备、多个如上述的转接设备、以及与每个所述转接设备连接的多个待测设备；所述测试方法包括：
23.所述测试设备接收多个所述转接设备发送的地址信号，并根据所述地址信号从多个所述转接设备中确定目标转接设备；
24.所述测试设备向所述目标转接设备发送测试信号；
25.所述目标转接设备接收所述测试信号，并将所述测试信号发送至目标待测设备，以使所述目标待测设备根据所述测试信号进行功能测试；其中，所述目标待测设备为所述目标转接设备接收到所述测试设备发送的测试连接信号后，从与所述目标转接设备连接的多个待测设备中确定的需要与所述测试设备连接的待测设备，所述测试连接信号用于将所述测试设备与所述目标待测设备连接。
26.本技术所提供的一种转接电路、设备、方法和测试方法，该转接电路包括用于接入测试设备的接入单元、用于连接待测设备的输出单元和连接在接入单元与输出单元之间的转接单元。本技术中的输出单元包括多个输出接口，可同时连接多个待测设备；通过设置转接单元能够将接入单元选择性地与多个输出接口中的目标输出接口连接，可以使测试设备准确地从多个待测设备中确定目标待测设备，然后与目标待测设备连接，以实现对目标待测设备的功能进行测试。由此，通过本技术提供的技术方案可以使测试主机一次性连接多个具有相同从机地址的待测设备，并分别对每个待测设备进行测试，而不需要手动将每个待测设备分别与测试设备进行连接以进行测试。从而有效提高了具有相同从机地址的待测设备的产测效率，并且降低了具有相同从机地址的待测设备的产测的时间和人力成本。
附图说明
27.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附
图。
28.图1为本技术的一实施例提供的转接电路的结构框图；
29.图2为本技术的另一实施例提供的转接电路的结构框图；
30.图3为本技术的图2提供的一实施例中的转接电路的电路图；
31.图4为本技术的图2提供的另一实施例中的转接电路的电路图；
32.图5为本技术的又一实施例提供的转接电路的结构框图；
33.图6为本技术的再一实施例中的转接电路的结构框图；
34.图7为本技术的又另一实施例中的转接电路的结构框图；
35.图8为本技术的一实施例提供的电源接入单元的电路图；
36.图9为本技术的一实施例提供的测试系统的结构框图；
37.图10为本技术的一实施例提供的转接方法的流程图；
38.图11为本技术的一实施例提供的测试方法的流程图。
39.主要元件符号说明：
40.100-转接电路，110-接入单元，111-第一接入接口，112-第二接入接口，120-转接单元，130-输出单元，131-输出接口，140-地址切换单元，150-电源接入单元，151-第一电源接口，152-第二电源接口，153-变压单元，154-显示灯，200-测试设备，300-待测设备，400-转接设备，500-测试系统。
具体实施方式
41.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，“多个”的含义为两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
42.在本技术中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本技术中被描述为示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为使本领域任何技术人员能够实现和使用本技术，给出了以下描述。在以下描述，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认为，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本技术。在其它实施例中，不会对已知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本技术的描述变得晦涩。因此，本技术并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本技术所公开的原理的最广范围相一致。
43.目前的电源适配器均需要测试合格后才能投入市场。为提高测试效率，可能会出现一套测试设备同时测试两台电源适配器的需求。但是例如对于poe电源适配器来说，同批次生产的poe电源适配器共用一个从机地址，并且不能更改。因此若同时接入多个poe电源适配器，测试设备在测试时无法从多个poe电源适配器中确定本次需要进行产测的poe电源适配器。
44.在相关技术中，可通过设置两个主机，分别连接不同的电源适配器，从而通过区分不同主机来达到区分不同电源适配器的目的。但是这样需要测试设备具备接口编程的能力，才能对不同的主机进行识别。在实际测试过程中操作难度大。
45.本技术基于此对目前的转接电路、设备、方法及测试方法进行了改进。
46.请参阅图1，本技术实施例提供一种转接电路100。该转接电路100包括接入单元110、输出单元130和转接单元120。
47.接入单元110用于接入测试设备200。通过接入单元110接入测试设备200，可实现测试设备200与转接电路100的信号传输。
48.输出单元130包括多个输出接口131，每一输出接口131用于与待测设备300连接。其中，多个输出接口131为相同类型的通信接口。也就是说，设置多个输出接口131可以连接多个待测设备300。通过输出接口131与待测设备300连接，以实现待测设备300与转接电路100之间的信号传输。例如，待测设备300可以是poe电源适配器。多个电源适配器可通过不同的输出接口131与转接单元120连接，进而共接到测试设备200上。
49.需要说明的是，在本技术提供的全部实施例中，多个均是指两个或两个以上。为方便后续进行介绍，在本技术相关实施例对应的附图中，以每个输出单元包括2个输出接口131为例进行解释说明。同时需要说明的是，在本技术实施例中，转接电路100中虽然包含多个输出接口131，但并不限定每个输出接口131必须连接有待测设备300。
50.转接单元120设置在输出单元130以及接入单元110之间，用于将接入单元110选择性地与多个输出接口131中的目标输出接口连接。也就是说，转接单元120可在多个输出接口131中择一建立连接。更为具体的是，测试设备200发出需要与某一待测设备300连接的指令给转接单元120，转接单元120基于该指令选择性地控制该待测设备300连接的输出接口131与自身建立连接，从而实现测试设备200与指定待测设备300之间的连接。
51.当前，由于在测试设备200上直接连接多个待测设备300时，若不对多个待测设备300进行区分标识，则无法分别对每一待测设备300进行测试。若对多个待测设备300进行区分标识，则需测试设备200编入标识功能的相关程序，以对不同接口上的待测设备300进行标识，具有较大的编程难度。并且测试设备200上连接待测设备300的数据接口数量有限，导致接入的待测设备300的数量也受到限制。
52.例如，测试设备200为电脑终端时，电脑终端上的数据接口自身并不具备对连接的多个测试线路进行编程标识的能力。并且电脑终端上的usb接口或其他接口数量有限，使接入的待测设备300的数量受到限制。
53.而本技术的实施例中通过设置转接电路100，转接电路100的一端连接测试设备200、另一端可以连接多个待测设备300，有利于减少对测试设备200的接口数量的需求，有利于降低测试设备200接入多个待测设备300并分别测试的难度。并且转接单元120能够将接入单元110选择性地与输出接口131中的一者连接，无需再对不同待测设备300进行标识，进一步降低了接入多个待测设备300并分别测试的难度。
54.更为具体地，例如在对poe电源适配器或其他类似的电源适配器进行测试时，通常需要建立i2c通信。因此需要在测试设备200和待测设备300之间接入i2c转换工具。当前技术中，需要在测试设备200与每一电源适配器之间分别设置i2c转换工具。而本技术的实施例中，仅需要在接入单元110和测试设备200之间接入一个i2c转换工具，通过转接电路100便可以接入多个待测试的电源适配器。
55.在一种可能的示例中，请参阅图2，接入单元110包括第一接入接口111和第二接入接口112。第一接入接口111用于接入测试设备200，第二接入接口112用于接入其他转接电
路。也就是说，第二接入接口112作为级联接口，当具有级联需求的时候，可以用连接线将多个转接电路100级联，实现多个转接电路100并接到测试设备200上。一些实施例中，另一转接电路的结构可以与转接电路100的结构相同。
56.例如图3中所示，转接单元120通过第一接入接口111(对应图3中接口con6)与测试设备200连接。另一转接电路100通过第二接入接口112(对应图3中接口con7)以及第一接入接口111和测试设备200连接。
57.在一些实施例中，第一接入接口111也可连接另一转接电路100，第二接入接口112也可连接测试设备200，此处仅为示例性的说明。
58.在一种可能的示例中，请参阅图2，转接电路100还包括地址切换单元140。该地址切换单元140和转接单元120连接。地址切换单元140被配置为输出电平信号至转接单元120，以触发转接单元120根据电平信号输出地址信号至测试设备200，地址信号用于标识转接电路100，以在当第二接入接口112连接有另一转接电路100时，测试设备200通过该地址信号可以将转接电路100与另一转接电路进行区分。
59.当前，通过待测设备300直接连接在测试设备200上，测试设备200需要对每一待测设备300进行标识。在本技术实施例中当存在多个转接电路100级联时，若不对每个转接电路100进行标识区分，测试设备200同样无法与所需连接的转接电路100建立连接。因此，为了使测试设备200可以区别每个转接电路100，转接电路100中包含的地址切换单元140会生成电平信号并将其发送至转接单元120，转接单元120会根据接收到的电平信号生成地址信号，之后转接单元120会将生成的地址信号发送至测试设备200。从而使得测试设备200可根据接收到的地址信号对级联的多个转接电路100进行区分。
60.在一些实施例中，转接单元120具有接收端子。地址切换单元140包括偏置电源和偏置电阻。偏置电阻一端连接偏置电源、另一端接地。地址切换单元140中存在预设数量的并联支路，每个并联支路上可设置上拉电阻或下拉电阻，从而根据设置的上拉电阻或下拉电阻每个并联支路上会产生的相应的电平信号。每个并联支路对应连接一个接收端子，可用于接收对应支路上偏置电阻产生的电平信号，最后转接单元120可根据每个接收端子接收到的电平信号确定该转接单元120所在转接支路100对应的地址信号。
61.在一些实施方式中，每个并联支路上对应的接收端子可以与当前并联支路上偏置电源和偏置电阻之间的连接点连接，或者与当前并联支路上偏置电阻远离偏置电源的一端连接。转接单元120用于通过接收端子接收地址切换单元140输出的电平信号，并根据所接收到的电平信号生成地址信号。
62.具体的，当接收端子与偏置电源和偏置电阻之间的连接点电连接时，偏置电阻作为上拉电阻，接收端子可接收到高电平信号。当接收端子与偏置电阻远离偏置电源的一端电连接时，偏置电阻作为下拉电阻，接收端子可接收到低电平信号。
63.当在转接电路100上级联有多个转接电路100时，每一转接电路100可通过识别自身的接收端子的信号为高电平或低电平信号，进而触发各自的转接单元120输出不同的地址信号，测试设备200通过接收到不同的地址信号以对不同的转接电路100进行区分。
64.在一种可能的示例中，偏置电阻和接收端子的数量为多个。多个偏置电阻一端共接于偏置电源、另一端共接于地。其中，接收端子与偏置电阻一一对应连接，转接单元120用于根据每一接收端子接收到的电平信号生成地址信号。
65.比如在转接电路100上级联有多个转接电路100时，每一转接电路100可识别自身的接收端子的信号为高电平或低电平信号。多个接收端子接收到高低不同的电平信号，然后触发转接单元120生成地址信号。由此，不同转接电路100可形成不同的地址信号，以供测试设备200识别匹配。
66.作为一种实施方式，地址切换单元140中可以包含三个并联的支路，每个支路上设置有一偏置电阻，转接单元120中包含分别与每个并联支路连接的接收端子。通过确定转接单元120中每一接收端子与对应的并联支路上的偏置电源和对应偏置电阻之间的位置连接关系，可以实现输出8种高低电平组合，即实现8种地址信号的配置。也就是说，若不同的转接电路100均基于前述地址切换单元140来生成标识自身的地址信号，则可标识8个不同的转接电路100，即最多可以级联8个转接电路。各个支路上产生的电平信号不同，转接单元120生成的地址信号也不同，三个并联支路可产生的8种高低电平组合具体如表1所示。
67.表1
68.支路1支路2支路3地址信号高电平高电平高电平地址信号1高电平高电平低电平地址信号2高电平低电平高电平地址信号3高电平低电平低电平地址信号4低电平高电平高电平地址信号5低电平高电平低电平地址信号6低电平低电平高电平地址信号7低电平低电平低电平地址信号8
69.示例性的，在图3所示的转接电路100中，转接单元120为芯片u2，其中u2中的引脚a0、引脚a1和引脚a2为接收端子。偏置电源选用3.3v；电阻r11、r12和r13为偏置电阻，三者共接于同一偏置电源上。引脚a0与电阻r11远离偏置电源的一端连接，引脚a0接收到低电平信号；引脚a1与电阻r12远离偏置电源的一端连接，引脚a1接收到低电平信号；引脚a2与电阻r13远离偏置电源的一端连接，引脚a2接收到低电平信号。依据引脚a0、引脚a1和引脚a2接收到的低电平信号形成地址信号a。在接入多个转接电路100的情况下，可使地址信号a有别于其他转接电路100的地址信号，以此来实现测试设备200对指定转接电路100的寻址识别。
70.示例性的，在图4中所示的另一转接电路100中，与图3相比图4中接收端子与偏置电阻的连接位置不同；图4所示的实施例中，电阻r18、电阻r19和电阻r20为偏置电阻，三者共接于同一偏置电源上。引脚a0和电阻r18与偏置电源的连接点连接，引脚a0接收到高电平信号；引脚a1和电阻r19与偏置电源的连接点连接，引脚a1接收到高电平信号；引脚a2和电阻r20与偏置电源的连接点连接，引脚a2接收到高电平信号。依据引脚a0、引脚a1和引脚a2接收到的高电平信号形成地址信号b。图4所示的实施例中地址信号b有别于图3所示的示例中地址信号a，在测试设备200连接不同的转接电路100时，不同的转接电路100可配置不同的地址信号，有利于测试设备200对不同的转接电路100进行区分。
71.更为具体地，支路1中的偏置电阻可设置在r11或r18的位置上，进而引脚a0可接收到低电平或高电平信号；支路2中的偏置电阻可设置在r12或r19的位置上，进而引脚a1可接
收到低电平或高电平信号；支路3中的偏置电阻可设置在r13或r20的位置上，进而引脚a2可接收到低电平或高电平信号。
72.在本技术的实施例中，多个转接电路100级联后，通过其中一个转接电路100实现与测试设备200的连接。不同的转接电路输出不同的地址信号，地址信号可选自前述实施例中的地址信号1、地址信号2、
……
、地址信号8。
73.在一种可能的示例中，请参阅图1，输出接口131的数量为两个，可同时接入两个待测设备300。图3及图4中还分别示出了转接电路100的示例电路图。其中，芯片u2作为转接单元120，接口con6和接口con7作为接入单元110，接口con8和接口con9作为输出接口131。其中的信号流向为，接口con6或接口con7接收测试设备200发出的指令，并触发芯片u2根据该指令来选择性地与接口con8或接口con9建立连接。需要解释的是，测试设备200发出不同的指令与不同的输出接口131建立连接。图3及图4中的con8接口和con9接口均为输出接口131。结合前述实施例中能够级联8个转接电路100的方案后，本实施例中的测试设备200可同时接入16个待测设备300。
74.其中，接口con6可作为第一接入接口111与测试设备200连接，con7可作为第二接入接口112与其他转接设备连接。
75.在一些实施例中，请参阅图5，转接电路100还包括电源接入单元150，电源接入单元150用于连接测试设备200，以为转接单元120供电。也就是说，转接电路100可直接与测试设备200连接，无需借助其他外部电源设备进行供电。
76.在更为具体的实施例中，请参阅图6，电源接入单元150包括第一电源接口151和第二电源接口152，第一电源接口151用于与测试设备200连接，第二电源接口152用于与另一转接电路连接。在连接有其他转接电路100时，可通过第二电源接口152为其他转接电路供电。
77.在另一实施例中，多个转接电路100相互级联设置，且其中一个转接电路100与测试设备200连接；该其中一个转接电路100上的第二电源接口152可连接其他的转接电路100，并用于给其他的转接电路100供电。
78.在本技术的部分实施例中，输出接口131以及第一接入接口111均为i2c通信接口；第二接入接口112为级联接口。
79.在更为具体的实施例中，请参阅图7，电源接入单元150还可以包括变压单元153，变压单元153设置在第一电源接口151和第二电源接口152之间，用于将测试设备200的电压转换成转接单元120所需的电压。例如，测试设备200的输出电压为5v，经过变压单元153后输入到转接单元120上的电压为3.3v。
80.图8中示出了电源接入单元150的电路图，其中电源接入单元150包括芯片u1，本实施例中的芯片u1可作为变压单元153。例如芯片u1一侧的输入的电压为5v，芯片u1将5v转换为3.3v后输出到转接单元120上。
81.在一些可能的示例中，变压单元153通过usb供电线路与测试设备200电连接。
82.在本技术的部分实施例中，请再次参阅图7，电源接入单元150还可以包括显示灯154，显示灯154串联设置在第一电源接口151和转接单元120之间，且显示灯154是否点亮与电源接入单元150是否处于正常的供电状态关联对应。也就是说，能够依据显示灯154的开闭检测到电源接入单元150是否供电正常。
83.例如，当显示灯154点亮时，电源接入单元150处于正常的供电状态；当显示灯154熄灭时，电源接入单元150处于异常的供电状态。由此，能够依据显示灯154的亮灭获知到电源接入单元150是否供电正常。
84.在一些可能的实施例中，显示灯154为led灯(对应图8中的led1)。显示灯154串联设置在转接单元120和第二电源接口152之间。
85.在一些实施例中，测试设备200和第一接入接口111和/或第二接入接口112之间通过i 2c系统总线连接。不同输出接口131与其所对应的待测设备300采用不同的i 2c总线连接。
86.基于同一发明构思，请参阅图9，在本技术的实施例中还提供一种转接设备400，上述的转接电路100集成在转接设备400上。
87.进一步的，转接设备400可以为板状结构。
88.在一些实施例中，转接设备400的数量为多个，多个转接设备400相互级联，且多个转接设备400的其中一者与测试设备200连接；其中，不同的转接设备400产生不同的地址信号，测试设备200根据地址信号对不同转接设备400进行区分。级联设置有多个转接设备400，每一个转接设备400发出不同的地址信号，测试设备200根据不同的地址信号寻址指定的转接设备400进行数据传输。
89.基于同于发明构思，如图10所示，本技术实施例提供了一种转接方法的流程图，该转接方法应用于上述的转接设备，该测试方法至少包括步骤s110至步骤s120。
90.在步骤s110中，接收测试设备200发出的测试连接信号。
91.具体的，测试连接信号可以理解为用于触发测试设备200和目标待测设备300的信号，转接设备400接收到测试连接信号后，可根据测试连接信号确定测试设备200需要与哪一待测设备300连接。
92.在步骤s120中，根据测试连接信号从与转接设备400连接的多个待测设备300中确定目标待测设备300，并将测试设备200与目标待测设备300连接。
93.其中，目标待测设备是指在多个待测设备300中，测试设备200本次想要进行测试的待测设备300。具体地，转接设备400接收到测试连接信号，可依据该测试连接信号从自身连接的多个待测设备300中确定出目标待测设备300，并控制测试设备200与目标待测设备300连接，即使测试设备200可以与目标待测设备300进行通信连接。在测试设备200和目标待测设备300连接后，测试设备200可对目标待测设备300的功能进行检测。
94.基于同一发明构思，如图11所示，本技术的实施例还提供了一种测试方法的流程图，该测试方法应用于测试系统500，测试系统500包括测试设备200、多个上述的转接设备400、以及与每个转接设备400连接的多个待测设备300。其中，测试设备200与多个级联的转接设备400中的一个进行连接。该测试方法至少包括步骤s210至步骤s230。
95.在步骤s210中，测试设备200接收多个转接设备400发送的地址信号，并根据地址信号从多个转接设备400中确定目标转接设备400。
96.其中，目标转接设备是指多个转接设备400中，测试设备200本次想要进行测试的待测设备300所连接的转接设备400。具体地，每一转接设备400可向测试设备200发送用以标识自身的地址信号，测试设备200可根据接收到的地址信号对不同的转接设备400进行区分。
97.在步骤s220中，测试设备200向目标转接设备400发送测试信号。
98.具体的，在确定好目标转接设备400后，测试设备200即可向该目标转接设备400发送测试信号，以对与目标转接设备400相连的目标待测设备300进行功能测试。
99.在步骤s230中，目标转接设备400接收测试信号，并将测试信号发送至目标待测设备300，以使目标待测设备300根据测试信号进行功能测试。
100.在本技术实施例中，目标待测设备300为目标转接设备400接收到测试设备200发送的测试连接信号后，从与目标转接设备400连接的多个待测设备300中确定的需要与测试设备200连接的待测设备300，测试连接信号用于将测试设备200与目标待测设备300连接。
101.当不存在级联的转接设备400，即只存在一个转接设备400时，该转接设备400即为目标转接设备，可直接进行步骤s220和步骤s230。即，测试设备200直接向转接设备400发送测试信号；然后转接设备400接收到测试信号，并将测试信号发送至待测设备300，以使待测设备300根据测试信号进行功能测试。
102.在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
103.上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述详细披露仅仅作为示例，而并不构成对本技术的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本技术进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本技术中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本技术示范实施例的精神和范围。
104.同时，本技术使用了特定词语来描述本技术的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本技术至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一个替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本技术的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。
105.同理，应当注意的是，为了简化本技术披露的表述，从而帮助对一个或多个发明实施例的理解，前文对本技术实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本技术对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。
106.相应地，在一些实施例中，说明书和权利要求中使用的数值参数均为近似值，该近似值根据个别实施例所需特点可以发生改变。在一些实施例中，数值参数应考虑规定的有效数位并采用一般位数保留的方法。尽管本技术一些实施例中用于确认其范围广度的数值域和参数为近似值，在具体实施例中，此类数值的设定在可行范围内尽可能精确。
107.针对本技术引用的每个专利、专利申请、专利申请公开物和其他材料，如文章、书籍、说明书、出版物、文档等，特此将其全部内容并入本技术作为参考，但与本技术内容不一致或产生冲突的申请历史文件除外，对本技术权利要求最广范围有限制的文件(当前或之后附加于本技术中的)也除外。需要说明的是，如果本技术附属材料中的描述、定义、和/或术语的使用与本技术内容有不一致或冲突的地方，以本技术的描述、定义和/或术语的使用为准。
108.以上对本技术实施例所提供的技术方案进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方
法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。