一种芯片的缺陷检测装置

技术特征：
1.一种芯片的缺陷检测装置，包括传送机构、控制面板和检测摄像头，所述传送机构包括机体、电机、齿轮和附件链条，其特征在于：所述附件链条上设有若干组搭载机构；所述搭载机构包括载板、夹持组件和吸附组件，所述载板通过连接耳与所述附件链条连接，所述夹持机构设于所述载板上端，所述吸附组件设于所述载板和所述载板和所述机体之间；所述夹持组件由四个夹持器组成并呈矩形分布设于所述载板上端，所述夹持器包括弹簧式电磁阀和夹块，所述载板上端开有与所述夹持器相匹配的活动槽，所述弹簧式电磁阀嵌设于所述载板内且输出轴滑动伸入所述活动槽内，所述夹块滑动设于所述活动槽内并与所述弹簧式电磁阀的输出轴连接；所述吸附组件包括吸气杆和环吸器，所述载板内开有吸气道，所述载板上端均匀开有若干与所述吸气道连通的吸附孔，所述环吸器设于所述机体侧面，所述吸气杆与所述连接耳固定连接并与所述吸气道连通，所述吸气杆另一端与所述环吸器连通。2.根据权利要求1所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述环吸器包括环形板和环形橡胶带，所述环形板与所述机体侧面固定连接并与外部真空抽吸机构连通，所述环形板垂直剖面呈u形结构，所述环形橡胶带与所述环形板的开口相同并与开口滑动密封连接形成内腔，若干所述吸附组件的吸气杆与所述环形橡胶带连接并与所述环形板的内腔连通，所述环形橡胶带与所述附件链条连接。3.根据权利要求2所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述载板还设有翻转组件，所述载板与所述连接耳为转动连接，所述翻转组件包括卷簧盒、延长轴和传动器，所述载板的转轴与所述延长轴连接，所述卷簧盒设于所述延长轴并与所述连接耳固定连接，所述传动器与所述延长轴另一端固定连接，所述机体侧面设有与所述传动器相匹配的齿条，所述齿条位置与所述检测摄像头位置相匹配。4.根据权利要求3所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述传动器包括外轮、若干啮合齿和若干弹性伸缩杆，所述外轮与所述延长轴同心固定连接，所述外轮内开有环形腔，若干所述弹性伸缩杆均匀设于所述环形腔内，若干所述啮合齿与若干所述弹性伸缩杆一一对应连接并滑动伸出所述环形腔。5.根据权利要求4所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述连接耳设有与所述地面平行的限位条，所述载板设有与所述限位条相匹配的挡条。6.根据权利要求5所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述搭载机构还包括有与所述载板相匹配的通断组件，所述通断组件包括两个导电片和一个通断杆，两个所述导电片均设于所述载板远离所述传动器一侧，若干所述夹持器均与所述导电片电性连接，所述机体上端设有与所述检测摄像头相匹配的导电槽，所述通断杆包括杆体和塞体，靠近所述吸附组件一侧的所述活动槽开有与所述吸气道相连通的横槽，所述杆体与所述夹块连接并伸入所述横槽内，所述塞体与所述杆体连接并与所述横槽滑动密封连接，所述杆体的长度与所述弹簧式电磁阀的最小收缩长度相匹配，即当所述弹簧式电磁阀收缩时，所述塞体将切断所述吸气杆与所述吸气道之间的连接。7.根据权利要求6所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：所述检测摄像头的数量可为两个，两个所述检测摄像头通过外部支架间隔设于所述机体上侧，所述机体还设有两个引导斜板，相对于所述传送机构的输送方向，第二个所述检测摄像头与第一个引导斜
板对应，所述齿条的长度大于第一个所述检测摄像头到最后一个引导斜板之间的间距。8.根据权利要求7所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：设于所述机体上的导电槽数量和位置均与所述检测摄像头对应。9.根据权利要求8所述的一种芯片的缺陷检测装置，其特征在于：相对于所述传送机构的输送方向，所述机体上侧头部还设有一个与所述载板相匹配的平衡板。

技术总结
本发明属于检测设备技术领域，具体涉及一种芯片的缺陷检测装置，通过传送机构和搭载机构的设置与配合，在对芯片进行缺陷检测时，能够自动对芯片进行输送并保持芯片的输送稳定，适应不同批次中不同尺寸大小的芯片固定需要，达到高效生产检测的需要；进一步的通过翻转组件的设置，能够在芯片自动移动检测的同时，使得芯片到达指定位置后自动翻转，以便于检测摄像头对芯片的另一面进行检测，无需二次检测，进一步提高便利性，而通过通断组件的进一步配合，能够在对芯片检测完成后，根据芯片存在的缺陷进行自动分类卸料，减少生产的繁琐步骤提高连续性和流畅性。高连续性和流畅性。高连续性和流畅性。


技术研发人员：章蕊 朱世宇 王慧英 刘逸琛 李发陵 廖宁 冉程好 杨毅
受保护的技术使用者：重庆工程学院
技术研发日：2022.10.31
技术公布日：2023/1/31