一种晶体测试用载盘双头式微调结构的制作方法

1.本实用新型涉及石英晶体谐振器测试装置领域，尤其涉及一种晶体测试用载盘双头式微调结构。


背景技术：

2.石英晶体谐振器简称石英晶体或晶振，是利用石英晶体的压电效应，用来产生高精度振荡频率的一种电子元件，属于被动元件，该元件主要由石英晶片、基座、外壳、银胶、银等成分组成，根据引线状况可分为直插与表面贴装两种类型。
3.石英晶体谐振器的常温频率精度可以达到10ppm，甚至更高，这就需要高度可靠的微调，使之达到客户所需要的频率值，在晶体谐振器的生产过程中，常用手段是调整镀银层的厚度来调整频率值，通常在微调的过程中进行测试，现有的测试机器都是将整个托盘上的晶体谐振器放置在载具上，进行测试，由于晶体谐振器质量小，在托盘放置的过程中，稍有振动都会是晶体谐振器产生偏移，影响机器的测试。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种晶体测试用载盘双头式微调结构。
5.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种晶体测试用载盘双头式微调结构，包括测试机，所述测试机的顶部固定连接有壳体，所述壳体的内部设置有测试头，所述壳体的内部固定连接有载具，且载具设置在测试头的下方，所述载具的内部设置有放置槽，所述放置槽的内部设置有托盘，所述托盘的底部设置有支撑板，所述支撑板的底部设置有伸缩杆，且伸缩杆的底部固定连接在壳体的底部。
6.作为上述技术方案的进一步描述：
7.所述托盘的底部设置有对位槽，所述支撑板的顶部固定连接有对位块，且对位块设置在对位槽的内部。
8.作为上述技术方案的进一步描述：
9.所述放置槽的内部设置有支撑块，且支撑块设置在托盘的底部。
10.作为上述技术方案的进一步描述：
11.所述对位块包括限位块和导向块，所述导向块固定连接在限位块的顶部。
12.作为上述技术方案的进一步描述：
13.所述载具的顶部设置有安装轴，所述安装轴的上部转动连接有连接杆，所述连接杆的活动端螺纹连接有安装杆，所述安装杆的底部设置有压块。
14.作为上述技术方案的进一步描述：
15.所述安装杆的内部设置有弹簧，所述弹簧的底部固定连接有连接块，且连接块的底端与压块固定连接，所述连接块与安装杆滑动连接。
16.作为上述技术方案的进一步描述：
17.所述放置槽的一端设置有第一凹槽，所述放置槽的另一端设置有第二凹槽。
18.本实用新型具有如下有益效果：
19.1、与现有技术相比，该一种晶体测试用载盘双头式微调结构，通过在壳体内设置伸缩杆，伸缩杆的顶部设置支撑板，支撑板设置在放置槽的中部，可以将托盘放置在支撑板的顶部，伸缩杆收缩将托盘平稳的置于放置槽内。
20.2、与现有技术相比，该一种晶体测试用载盘双头式微调结构，通过在托盘的底部设置对位槽，支撑板的顶部设置对位块，对位块和对位槽的配合，方便推盘平稳的放置支撑板的中心。
21.3、与现有技术相比，该一种晶体测试用载盘双头式微调结构，通过在连接杆的活动端螺纹连接安装杆，安装杆可以在连接杆的活动端进行高度的调节，并且压块在连接块和弹簧的配合下进行高度上的变化，可以对因磨损造成的不同高度的托盘进行压边。
附图说明
22.图1为本实用新型提出的一种晶体测试用载盘双头式微调结构的立体图；
23.图2为本实用新型提出的一种晶体测试用载盘双头式微调结构的载具示意图；
24.图3为本实用新型提出的一种晶体测试用载盘双头式微调结构的支撑板示意图；
25.图4为本实用新型提出的一种晶体测试用载盘双头式微调结构的压块示意图。
26.图例说明：
27.1、测试机；2、壳体；3、测试头；4、托盘；5、载具；6、放置槽；7、支撑块；8、支撑板；9、对位块；10、限位块；11、导向块；12、对位槽；13、伸缩杆；14、安装轴；15、连接杆；16、安装杆；17、弹簧；18、连接块；19、压块；20、第一凹槽；21、第二凹槽。
具体实施方式
28.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
29.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
30.参照图1-4，本实用新型提供的一种晶体测试用载盘双头式微调结构：包括测试机1，测试机1的顶部固定连接有壳体2，壳体2的内部设置有测试头3，测试头3设置有两个，提高测试效率，壳体2的内部固定连接有载具5，且载具5设置在测试头3的下方，载具5的内部
设置有放置槽6，放置槽6设置有两个，放置槽6的一端设置有第一凹槽20，放置槽6的另一端设置有第二凹槽21，第一凹槽20和第二凹槽21用于手掌的穿过，便于放置槽6内托盘4的端起，放置槽6的内部设置有托盘4，放置槽6的内部设置有支撑块7，且支撑块7设置在托盘4的底部，支撑块7设置有四个，且沿着放置槽6的内壁排布，支撑块7的顶部设置有缓冲垫，用于减小托盘4的震动，托盘4的底部设置有支撑板8，支撑板8的底部设置有伸缩杆13，且伸缩杆13的底部固定连接在壳体2的底部，托盘4的底部设置有对位槽12，支撑板8的顶部固定连接有对位块9，且对位块9设置在对位槽12的内部，对位块9包括限位块10和导向块11，导向块11固定连接在限位块10的顶部，导向块11的形状为四棱台，上小下大，便于对接，限位块10的形状为长方体，长方体的竖直边与对接槽12卡合，避免托盘4晃动。
31.载具5的顶部设置有安装轴14，安装轴14设置有四个，四个安装轴14分别设置在放置槽6的对角上，安装轴14的上部转动连接有连接杆15，连接杆15的活动端螺纹连接有安装杆16，安装杆16的底部设置有压块19，安装杆16的内部设置有弹簧17，弹簧17的底部固定连接有连接块18，且连接块18的底端与压块19固定连接，压块19的形状为圆台状，增加了压块19和托盘4的接触面积，增加了稳定性，压块19的底部设置有橡胶垫，橡胶垫质软，耐磨损，避免压块19划过托盘4加速托盘4的磨损，并且橡胶垫和托盘4顶部具有摩擦力，避免托盘4在放置槽6内晃动，连接块18与安装杆16滑动连接，通过在连接杆15的活动端螺纹连接安装杆16，安装杆16可以在连接杆15的活动端进行高度的调节，并且压块19在连接块18和弹簧17的配合下可以进行高度上的变化，可以对因磨损造成的不同高度的托盘4进行压边。
32.工作原理：手持托盘4的两侧，将托盘4放置在支撑板8的顶端，托盘4底部的对位槽和导向块11和限位块10卡合，确定托盘4的位置，伸缩杆13收缩将托盘4放在放置槽6内的支撑块7上，转动连接杆15是压块19置于托盘4的顶部，转动安装杆16调节安装杆16的高度，进而调节压块19对托盘4的压力，保证托盘4在放置槽6内的稳定性，弹簧17通过压块19压紧托盘4，避免托盘4晃动，然后测试头3工作对托盘4上的晶体谐振器进行测试。
33.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。