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用于显微镜观察的试样调平装置的制作方法

2022-12-21 13:39:41 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于包括:下底座(100),上端具有凸起的点接触结构(110),所述点接触结构(110)用于与试样(400)底面点接触;上压板套(200),具有供试样(400)嵌入的嵌入空间(201),与下底座(100)可拆卸连接;弹性压件(300),连接于上压板套(200)上端,部分伸入嵌入空间(201)或嵌入空间(201)上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样(400)上表面弹性接触。2.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述点接触结构(110)上端具有球面,所述球面的中心位于所述竖向轴线上。3.根据权利要求2所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述下底座(100)上端设有螺纹圆柱(120),所述螺纹圆柱(120)周壁设有外螺纹,所述嵌入空间(201)周壁设有与螺纹圆柱(120)适配的内螺纹,所述上压板套(200)与螺纹圆柱(120)螺纹连接,所述点接触结构(110)凸起于螺纹圆柱(120)的上端面。4.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性压件(300)包括连接部(310)和与连接部(310)连接的弹性接触部(320),所述连接部(310)与上压板套(200)上端固定连接,所述弹性接触部(320)伸入嵌入空间(201)或嵌入空间(201)上方,所述弹性接触部(320)能相对连接部(310)弹性变形以与试样(400)上表面弹性接触。5.根据权利要求4所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性接触部(320)相对连接部(310)朝下弯折设置。6.根据权利要求5所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述弹性接触部(320)外端朝上弯曲翘起。7.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述上压板套(200)上端面具有供连接部(310)嵌入的嵌槽(210)。8.根据权利要求7所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)内壁设有对应的孔位以通过紧固件连接固定。9.根据权利要求7所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)内壁通过焊接连接固定。10.根据权利要求7至9任一项所述的用于显微镜观察的试样调平装置,其特征在于:所述连接部(310)与嵌槽(210)的宽度适配。

技术总结
本申请实施例公开了用于显微镜观察的试样调平装置,包括:下底座,上端具有凸起的点接触结构,点接触结构用于与试样底面点接触;上压板套,具有供试样嵌入的嵌入空间,与下底座可拆卸连接;弹性压件,连接于上压板套上端,部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方,沿一竖向轴线环绕排列有至少三个,用于与试样上表面弹性接触。本申请通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触,能实现对试样固定;利用试样底面与点接触结构点接触可实现试样的旋转活动,再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触,实现对试样上表面的调平,避免与试样上下表面的面接触,调平效果好,操作简单。操作简单。操作简单。


技术研发人员:彭德民 吕闯 谢高峰 王馨郁 田谱 禹林 何祖海 刘托剑 张聪
受保护的技术使用者:湖南中机申亿检测技术有限公司
技术研发日:2022.10.20
技术公布日:2022/12/20
再多了解一些

本文用于创业者技术爱好者查询,仅供学习研究,如用于商业用途,请联系技术所有人。

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