芯片功率器件测试台的制作方法

1.本实用新型属于功率器件测试技术领域，具体涉及芯片功率器件测试台。


背景技术：

2.芯片是半导体元件产品的统称；目前在半导体功率器件的生产流程中，在晶圆装载工位将晶圆粘贴在蓝膜上，通过晶圆切割工位将整片晶圆切割成一个个独立的芯片，芯片粘贴工位再把芯片粘接在框架上，框架上的芯片上的垫块式焊点再用高纯度的金属丝在芯片焊线工位焊接连接在框架上的指定引线脚上，接下来整体热硬化和注塑固化，电镀管脚切筋成型后的芯片放置到管子里面去后再分粒测试良品打印包装，在测试时需要借助测试台对芯片功率器件进行支撑定位，以便于测试工作的进行。
3.如申请号为cn201811242619.8的发明专利公开了半导体功率器件的并行测试方法，其用于在封装测试工序中，通过芯片封装测试装置对整条引线框架上的半导体功率器件进行并行测试，所述芯片封装测试装置包括测试头(100)、测试支架(110)、和操作机台(111)。所述并行测试方法包括以下步骤：预切筋步骤s1，芯片固定步骤s2，探针排列步骤s3，回路建立步骤s3，器件分组步骤s4，并行测试步骤s5：所述开关控制模块(108)的开关控制位按乒乓测试模式控制对在所述a组测试站上的半导体功率器件进行并行测试；在完成a组测试后，所述开关控制模块(108)的开关控制位按乒乓测试模式控制对在所述b组测试站上的半导体功率器件进行并行测试。本发明达到了提高测试效率的技术效果；但是该技术方案中并未公开芯片功率器件测试台的具体结构，在实际操作过程中，由于检测台的高度不便于调节，导致工作人员操作不够方便，因此提出了芯片功率器件测试台。


技术实现要素：

4.本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供芯片功率器件测试台，以解决上述背景技术中提出的在实际操作过程中，由于检测台的高度不便于调节，导致工作人员操作不够方便的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：芯片功率器件测试台，包括底板，所述底板顶部的两侧均固定连接有套板，所述套板的内侧均滑动连接有插板，所述插板的顶部均与台板固定连接，所述底板的顶部设置有升降机构，所述台板顶部设置有定位槽，所述台板顶部位于定位槽的一侧固定连接有竖直导轨，所述竖直导轨外侧位于定位槽的正上方滑动连接有测试板，所述测试板底部设置有测试头，所述台板顶部位于定位槽的一侧固定连接有芯片测试装置，所述测试头与芯片测试装置电性连接。
6.优选的，所述升降机构包括电机，所述电机的两输出端均通过齿轮传动盒传动连接有螺杆一，所述齿轮传动盒固定连接于底板的顶部，所述螺杆一均转动连接于套板相互靠近的一侧，所述螺杆一外侧螺纹连接有连接板，所述连接板与插板固定连接。
7.优选的，所述套板相互靠近的一侧均开设有滑槽，所述滑槽内侧滑动连接有连接板。
8.优选的，所述竖直导轨顶部固定连接有马达，所述马达的输出端固定连接有螺杆二，所述螺杆二转动连接于竖直导轨的内侧，所述螺杆二外侧位于竖直导轨的内侧螺纹连接有滑块，所述滑块与测试板固定连接。
9.优选的，所述测试板顶部固定连接有显示器，所述显示器与芯片测试装置电性连接。
10.优选的，所述底板的底端四角处均固定连接有万向轮。
11.优选的，所述定位槽与芯片功率器相互配合，所述定位槽与台板卡合连接。
12.与现有技术相比，本实用新型提供了芯片功率器件测试台，具备以下有益效果：
13.1、本实用新型通过设置升降机构，使升降机构带动插板在套板的内侧滑动，通过插板对台板起到抬升的效果，进而达到了对台板顶部的定位槽进行高度调节的效果，使工作人员在操作时更加舒适方便，使用更加灵活；
14.2、本实用新型通过设置定位槽，将芯片功率器放置在台板顶部的定位槽内侧，通过定位槽与芯片功率器配合进行定位放置，然后使测试板沿着竖直导轨向下滑动，当测试板下降一定距离后，测试板底部的测试头与芯片功率器的测试端接触，进而通过测试头将台板顶部的芯片测试装置与芯片功率器接通，使芯片测试装置对芯片功率器进行测试。
15.该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型结构科学合理，使用安全方便，为人们提供了很大的帮助。
附图说明
16.附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中：
17.图1为本实用新型提出的芯片功率器件测试台一侧的轴测结构示意图；
18.图2为本实用新型提出的芯片功率器件测试台另一侧的轴测结构示意图；
19.图3为本实用新型提出的芯片功率器件测试台的主视结构示意图；
20.图4为本实用新型提出的芯片功率器件测试台的爆炸结构示意图；
21.图中：底板1、套板2、插板3、台板4、定位槽5、竖直导轨6、测试板7、测试头8、芯片测试装置9、电机10、齿轮传动盒11、螺杆一12、连接板13、滑槽14、马达15、螺杆二16、显示器17、万向轮18。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
23.请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：芯片功率器件测试台，包括底板1，底板1顶部的两侧均固定连接有套板2，套板2的内侧均滑动连接有插板3，插板3的顶部均与台板4固定连接，底板1的顶部设置有升降机构，台板4顶部设置有定位槽5，使升降机构带动插板3在套板2的内侧滑动，通过插板3对台板4起到抬升的效果，进而达到了对台板4顶部的定位槽5进行高度调节的效果，使工作人员在操作时更加舒适方便，使用更加灵活；台板4顶
部位于定位槽5的一侧固定连接有竖直导轨6，竖直导轨6外侧位于定位槽5的正上方滑动连接有测试板7，测试板7底部设置有测试头8，台板4顶部位于定位槽5的一侧固定连接有芯片测试装置9，测试头8与芯片测试装置9电性连接，将芯片功率器放置在台板4顶部的定位槽5内侧，通过定位槽5与芯片功率器配合进行定位放置，然后使测试板7沿着竖直导轨6向下滑动，当测试板7下降一定距离后，测试板7底部的测试头8与芯片功率器的测试端接触，进而通过测试头8将台板4顶部的芯片测试装置9与芯片功率器接通，使芯片测试装置9对芯片功率器进行测试。
24.本实用新型中，优选的，升降机构包括电机10，电机10的两输出端均通过齿轮传动盒11传动连接有螺杆一12，齿轮传动盒11固定连接于底板1的顶部，螺杆一12均转动连接于套板2相互靠近的一侧，螺杆一12外侧螺纹连接有连接板13，连接板13与插板3固定连接，通过升降机构中的电机10带动两输出端的螺杆一12转动，螺杆一12通过齿轮传动盒11与电机10的输出端传动连接，并且螺杆一12转动在套板2的相对内侧，当螺杆一12转动时会驱动外侧螺纹连接的连接板13升降，进而使连接板13带动插板3在套板2的内侧滑动，通过插板3对台板4起到抬升的效果。
25.本实用新型中，优选的，套板2相互靠近的一侧均开设有滑槽14，滑槽14内侧滑动连接有连接板13，通过滑槽14以保证连接板13可以从套板2的顶部滑动到底部。
26.本实用新型中，优选的，竖直导轨6顶部固定连接有马达15，马达15的输出端固定连接有螺杆二16，螺杆二16转动连接于竖直导轨6的内侧，螺杆二16外侧位于竖直导轨6的内侧螺纹连接有滑块，滑块与测试板7固定连接，通过马达15驱动输出端的螺杆二16转动，使螺杆二16驱动外侧螺纹连接的滑块在竖直导轨6的内侧滑动，进而使滑块带动测试板7向芯片功率器靠近。
27.本实用新型中，优选的，测试板7顶部固定连接有显示器17，显示器17与芯片测试装置9电性连接，测试的结果可通过显示器17进行显示，显示器17设置在测试板7的顶部，进而便于工作人员观察测试结果。
28.本实用新型中，优选的，底板1的底端四角处均固定连接有万向轮18，便于移动使用。
29.本实用新型中，优选的，定位槽5与芯片功率器相互配合，定位槽5与台板4卡合连接，便于根据芯片功率器的类型进行更换使用，以保证定位槽5的定位效果。
30.本实用新型的工作原理及使用流程：使用时，将芯片功率器放置在台板4顶部的定位槽5内侧，通过定位槽5与芯片功率器配合进行定位放置，然后通过马达15驱动输出端的螺杆二16转动，使螺杆二16驱动外侧螺纹连接的滑块在竖直导轨6的内侧滑动，进而使滑块带动测试板7向芯片功率器靠近，当测试板7下降一定距离后，测试板7底部的测试头8与芯片功率器的测试端接触，进而通过测试头8将台板4顶部的芯片测试装置9与芯片功率器接通，使芯片测试装置9对芯片功率器进行测试，测试的结果可通过显示器17进行显示，显示器17设置在测试板7的顶部，进而便于工作人员观察测试结果，测试后再通过马达15将测试板7抬回至原点即可，当需要对定位槽5的高度进行调节时，通过升降机构中的电机10带动两输出端的螺杆一12转动，螺杆一12通过齿轮传动盒11与电机10的输出端传动连接，并且螺杆一12转动在套板2的相对内侧，当螺杆一12转动时会驱动外侧螺纹连接的连接板13沿着滑槽14升降，进而使连接板13带动插板3在套板2的内侧滑动，通过插板3对台板4起到抬
升的效果，进而达到了对台板4顶部的定位槽5进行高度调节的效果。
31.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。