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一种测试系统、调变电路及待测组件的测试方法与流程

2022-12-06 22:48:15 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种测试系统,其包括:一控制电路,经组态以计算一待测组件的一功率值;及一调变电路,经组态以接收该控制电路所产生的一控制信号,且依据该控制信号提供一电压信号至该待测组件,其中该控制电路依据该功率值调整该控制信号的脉宽,该待测组件的该功率值保持恒定且该控制电路侦测该待测组件的一参数。2.根据权利要求1所述的测试系统,其中该待测组件包括:衬底;第一氮化物半导体层,其在所述衬底上;第二氮化物半导体层,其在所述第一氮化物半导体层上并且具有大于所述第一氮化物半导体层的带隙的带隙。3.根据权利要求1所述的测试系统,其中该调变电路包括:一驱动器,经组态以接收该控制信号;一第一开关组件,电连接至该驱动器的一第一输出;及一第二开关组件,电连接至该驱动器的一第二输出。4.根据权利要求3所述的测试系统,其中:当该控制信号为一第一逻辑电平时,该第一开关组件为导通,该第二开关组件为关闭;及当该控制信号为一第二逻辑电平时,该第一开关组件为关闭,该第二开关组件为导通。5.根据权利要求4所述的测试系统,其中该第一开关组件包括一第一晶体管,该第二开关组件包括一二极管。6.根据权利要求4所述的测试系统,其中该第一开关组件包括一第一晶体管,该第二开关组件包括一第二晶体管。7.根据权利要求6所述的测试系统,其中该第一晶体管的闸极电连接至该第一输出,该第一晶体管的源极电连接至一第一节点,该第二晶体管的闸极电连接至该第二输出,该第二晶体管的漏极电连接至该第一节点。8.根据权利要求7所述的测试系统,其中该调变电路包括:一电感,连接于该第一节点及一第二节点之间;及一第一电容,连接于该第二节点及一接地之间,其中该电感及该第一电容经组态以对该电压信号进行滤波。9.根据权利要求8所述的测试系统,其中该待测组件的闸极与源极电连接该第二节点。10.根据权利要求8所述的测试系统,其进一步包括:一电阻,电连接于该待测组件的漏极及该接地之间,其中该电阻经组态以采样该待测组件的电流,且测量该待测组件的该漏极及该源极之间的电压。11.根据权利要求8所述的测试系统,其该调变电路包括:一第二电容,电链接于一电压源及该接地之间,其中该第二电容经组态以对该电压源输入至该调变电路的输入电压进行稳压及滤波。12.根据权利要求11所述的测试系统,其中该控制电路包括:一电压调变器,电连接该控制电路及该电压源,其中该电压调变器经组态以对该测试系统进行供电。
13.根据权利要求10所述的测试系统,其中该控制电路将该电压及该电流相乘以获得该功率值。14.根据权利要求13所述的测试系统,其中当该功率值大于一功率阀值时,该控制电路降低该控制信号的该脉宽。15.根据权利要求13所述的测试系统,其中当该功率值小于一功率阀值时,该控制电路增加该控制信号的该脉宽。16.一种用于一待测组件的测试方法,其包括:产生一控制信号;依据该控制信号提供一电压信号至该待测组件;侦测该待测组件的一功率值;依据该功率值调整该控制信号以使该功率值保持恒定;及侦测该待测组件的一参数。17.根据权利要求16所述的测试方法,其中该控制信号包括一脉冲宽度调变(pwm,pulse width modulation)信号。18.根据权利要求17所述的测试方法,其进一步包括:当该功率值大于一功率阀值时,减少该控制信号的一脉宽;及当该功率值小于该功率阀值时,增加该控制信号的该脉宽。19.根据权利要求16所述的测试方法,其中该待测组件包括一氮化物基晶体管,且该氮化物基晶体管的一闸极电连接该氮化物基晶体管的一源极。20.根据权利要求19所述的测试方法,其进一步包括:提供该电压信号至该待测组件以产生一电流从该源极经过该氮化物基晶体管的该漏极;量测该电流以及该源极与该漏极的间的一电压;及依据该电流及该电压调整该控制信号。21.一种调变电路,其包括:一第一开关组件;一第二开关组件,电连接该第一开关组件;及一驱动器,依据一控制信号导通或关闭该第一开关组件及该第二开关组件,其中:当该控制信号为一第一逻辑电平时,该第一开关组件为导通且该第二开关组件为关闭,该调变电路施加一电压信号流经该第一开关组件至一待测组件;及当该控制信号为一第二逻辑电平时,该第一开关组件为关闭且该第二开关组件为导通,且该电压信号并未施加至该待测组件。22.根据权利要求21所述的调变电路,其中该调变电路直接电连接该待测组件。23.根据权利要求21所述的调变电路,其中该第一开关组件包括一第一nmos晶体管,该第二开关组件包括一第二nmos晶体管。24.根据权利要求22所述的调变电路,其中该第一逻辑电平为高电压电平,该第二逻辑电平为低电压电平。25.根据权利要求21所述的调变电路,其中该待测组件包括一氮化物基晶体管,且该氮化物基晶体管的一闸极电连接该氮化物基晶体管的一源极。

技术总结
本揭露提供了一种测试系统、调变电路及待测组件的测试方法。一种测试系统包含控制电路及调变电路。控制电路经组态以计算一待测组件的一功率值。调变电路经组态以接收控制电路所产生的一控制信号,且依据控制信号提供一电压信号至待测组件。控制电路依据功率值调整控制信号的脉宽,待测组件的功率值保持恒定且控制电路侦测待测组件的一参数。电路侦测待测组件的一参数。电路侦测待测组件的一参数。


技术研发人员:陈常 刘小明 马浩华
受保护的技术使用者:英诺赛科(珠海)科技有限公司
技术研发日:2022.09.01
技术公布日:2022/12/5
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