一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质与流程

技术特征：
1.一种获取发射机色散眼图闭合代价tdec的方法，其特征在于，包括：接收发射机发送的光信号；将所述光信号转换为电信号，并使用均衡器对所述电信号进行均衡处理，获得均衡处理后的采样电信号；根据所述采样电信号的电平幅度和预设的初始噪声比例参数，获得所述采样电信号对应的第一噪声量；获得理想电信号对应的第二噪声量；根据所述第一噪声量和所述第二噪声量，获得发射机色散眼图闭合代价tdec。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，所述最大噪声量为最大电平的所述采样电信号对应的噪声量，所述最小噪声量为最小电平的所述采样电信号对应的噪声量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样电信号的电平幅度和预设的初始噪声比例参数，获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述插值计算采用的插值算法包括如下插值算法中的任一种：线性插值算法，最邻近插值算法和双线性插值算法。5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样电信号的电平幅度和预设的初始噪声比例参数，获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：根据所述采样电信号的电平幅度，预设的初始噪声比例参数，所述均衡器对应的均衡参数和平均光功率，获得所述采样电信号对应的第一噪声量。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述均衡参数包括所述均衡器的抽头长度和所述均衡器的抽头系数。7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述平均光功率为所述采样电信号在不同电平幅度下的光功率平均值。8.根据权利要求5-7任一所述的方法，其特征在于，根据所述采样电信号的电平幅度，预设的初始噪声比例参数，所述均衡器对应的均衡参数和平均光功率，获得所述采样电信号对应的第一噪声量，包括：根据所述均衡参数获取噪声增强因子，其中，所述噪声增强因子用于表征所述均衡器对噪声的增强程度；根据所述采样电信号的电平幅度，预设的初始噪声比例参数，所述噪声增强因子和平均光功率，获得所述均衡后的采样电信号对应的第一噪声量。9.根据权利要求1-8中任一项所述的方法，其特征在于，获得理想电信号对应的第二噪声量，包括：根据所述初始噪声比例参数和所述理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，其中，所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度。10.根据权利要求1-9任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一噪声量和所述第二噪声量，获得发射机色散眼图闭合代价tdec，包括：使用所述第一噪声量和所述第二噪声量计算所述发射机色散眼图闭合代价tdec。
11.一种获取发射机色散眼图闭合代价tdec的装置，其特征在于，包括接收器和处理器；所述接收器，用于接收所述光发射机发送的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述处理器，用于对所述电信号进行均衡处理，获得均衡处理后的采样电信号；根据所述采样电信号的电平幅度和预设的初始噪声比例参数，获得所述采样电信号对应的第一噪声量；获得理想电信号对应的第二噪声量；根据所述第一噪声量和所述第二噪声量，获得发射机色散眼图闭合代价tdec。12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，所述最大噪声量为最大电平的所述采样电信号对应的噪声量，所述最小噪声量为最小电平的所述采样电信号对应的噪声量。13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述处理器，还用于以所述最大噪声量和所述最小噪声量作为插值条件，根据所述初始噪声比例参数对所述采样电信号的电平幅度进行插值计算，得到所述第一噪声量。14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述插值计算采用的插值算法包括如下插值算法中的任一种：线性插值算法，最邻近插值算法和双线性插值算法。15.根据权利要求11-14任一所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于：根据所述采样电信号的电平幅度，预设的初始噪声比例参数，所述均衡器对应的均衡参数和平均光功率，获得所述采样电信号对应的第一噪声量。16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述均衡参数包括所述均衡器的抽头长度和所述均衡器的抽头系数。17.根据权利要求15或16所述的装置，其特征在于，所述平均光功率为所述采样电信号在不同电平幅度下的光功率平均值。18.根据权利要求15-17任一所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于：根据所述均衡参数获取噪声增强因子，其中，所述噪声增强因子用于表征所述均衡器对噪声的增强程度；根据所述采样电信号的电平幅度，预设的初始噪声比例参数，所述噪声增强因子和平均光功率，获得所述均衡后的采样电信号对应的第一噪声量。19.根据权利要求11-18中任一项所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于：根据所述初始噪声比例参数和所述理想电信号的电平幅度获得所述理想电信号对应的第二噪声量，其中，所述理想电信号与所述采样电信号具有相同的光学调制幅度。20.根据权利要求11-19任一所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于，使用所述第一噪声量和所述第二噪声量计算所述发射机色散眼图闭合代价tdec。

技术总结
本申请实施例公开了一种获取发射机测试参数的方法和装置以及存储介质，能够获得采样电信号的电平幅度对应的噪声量，不限制使用发射测试参数进行发射机一致性测试的接收机类型。该方法包括：对发射机发送的光信号进行波形采样，以得到采样电信号；根据预设的初始噪声比例参数和采样电信号的电平幅度获得采样电信号对应的第一噪声量，其中，采样电信号的电平幅度大于最小电平且小于最大电平，初始噪声比例参数为最大噪声量与最小噪声量之间的比值，第一噪声量为大于最小噪声量且小于最大噪声量的噪声量；根据初始噪声比例参数和理想电信号的电平幅度获得理想电信号对应的第二噪声量；第一噪声量和第二噪声量用于对发射机进行一致性测试。进行一致性测试。进行一致性测试。


技术研发人员：张阔 周雷 李博睿 李胜平
受保护的技术使用者：华为技术有限公司
技术研发日：2019.08.31
技术公布日：2022/12/5