检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置的制作方法

技术特征：
1.一种检测产品静态电流损耗的检测电路，其特征在于，包括mcu、霍尔线性芯片、第一运算放大器和第二运算放大器，所述霍尔线性芯片的电源端接直流电源，所述霍尔线性芯片的接地端端接地，所述霍尔线性芯片的输出端分别连接所述mcu的pa2引脚、所述第一运算放大器的同向端以及所述第二运算放大器的反向端，所述第一运算放大器的反向端、所述第二运算放大器的正向端、所述mcu的pa4引脚互连，所述第一运算放大器的输出端与所述mcu的pa5引脚互连，所述第二运算放大器的输出端与所述mcu的pa7引脚连接。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括连接在所述第一运算放大器的电源端的第一滤波元件、以及连接在所述第一运算放大器的输出端和所述mcu的pa5引脚之间的第一滤波电路。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一滤波元件为第一电容，所述第一滤波电路包括第二电容和第一电阻；所述第一电容的一端与所述第一运算放大器的电源端连接并接所述直流电源，所述第一电容的另一端接地，所述第一电阻的一端与所述第一运算放大器的输出端连接，所述第一电阻的另一端、所述第二电容的一端、所述mcu的pa5引脚互连，所述第二电容的另一端、所述第一运算放大器的接地端、所述第一运算放大器的参考端互连并接地。4.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，还包括连接在所述第二运算放大器的电源端的第二滤波元件、以及连接在所述第二运算放大器的输出端和所述mcu的pa7引脚之间的第二滤波电路。5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第二滤波元件为第三电容，所述第二滤波电路包括第四电容和第二电阻；所述第三电容的一端与所述第二运算放大器的电源端连接并接所述直流电源，所述第三电容的另一端接地，所述第二电阻的一端与所述第二运算放大器的输出端连接，所述第二电阻的另一端、所述第四电容的一端、所述mcu的pa7引脚互连，所述第四电容的另一端、所述第二运算放大器的接地端、所述第二运算放大器的参考端互连并接地。6.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述mcu内置arm处理器。7.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述mcu的型号为gd32f350cbt6。8.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述直流电源为5v。9.一种检测产品静态电流损耗的检测装置，其特征在于，由权利要求1-8任意一种所述的检测电路组成。10.根据权利要求9所述的检测装置，其特征在于，所述产品为电子雾化装置，所述检测装置以所述霍尔线性芯片所在的一端作为探测端从所述电子雾化装置外部检测其内部的静态电流损耗。

技术总结
本实用新型描述一种检测产品静态电流损耗的检测电路及检测装置，该检测电路包括MCU、霍尔线性芯片、第一运算放大器和第二运算放大器，所述霍尔线性芯片的电源端接直流电源，所述霍尔线性芯片的接地端端接地，所述霍尔线性芯片的输出端分别连接所述MCU的PA2引脚、所述第一运算放大器的同向端以及所述第二运算放大器的反向端，所述第一运算放大器的反向端、所述第二运算放大器的正向端、所述MCU的PA4引脚互连，所述第一运算放大器的输出端与所述MCU的PA5引脚互连，所述第二运算放大器的输出端与所述MCU的PA7引脚连接。由此，通过该检测电路及检测装置，能够方便从产品外部检测产品是否存在电流损耗问题。是否存在电流损耗问题。是否存在电流损耗问题。


技术研发人员：朱旦 周勇 陈飞龙 郭国义 牛彦明
受保护的技术使用者：深圳市吉迩科技有限公司
技术研发日：2022.06.02
技术公布日：2022/12/2