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显示装置及其检测电路和检测方法与流程

2022-11-30 16:37:52 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示装置及其检测电路和检测方法。


背景技术:

2.在显示领域,显示装置显示画面一般需要多个模块协作完成,现有的显示装置根据发光体的不同,一般分为lcd显示装置和oled显示装置。
3.lcd显示装置显示画面至少需要源极驱动(source drive)模块、栅极驱动(gate on array)模块输入相应的控制信号至像素电路;oled显示装置显示画面至少需要源极驱动模块、栅极驱动模块以及发光模块输入相应的控制信号至像素电路。如图1所示,栅极驱动模块20通过栅极线连接至像素单元30的薄膜晶体管t的控制端,源极驱动模块10通过源极线连接至薄膜晶体管t的第一导通端,在显示装置显示画面时栅极驱动模块20会通过栅极线(gate line)循序输出栅极控制信号至像素单元30,以按行选通像素单元30,在薄膜晶体管t为nmos管时,栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为高电平,在薄膜晶体管t为pmos管时,栅极驱动模块20输出的栅极控制信号为低电平。
4.现有技术会将栅极驱动模块、源极驱动模块以及发光模块等模块集成于同一块驱动芯片ic上,在显示装置画面异常时,需要厘清是哪个模块出现问题,现有的微(micro)显示装置并没有办法检测所有的栅极线和发光线(em line)传输的控制信号,只能通过抽查的方式来验证,以分辨率4k为例,有4000条栅极线和4000条发光线,目前只能抽查前中后数根栅极线和发光线传输的控制信号,当画面出现异常时,无法有效厘清是哪个模块出现了问题,因此有待提出一种新的技术方案以解决上述问题。


技术实现要素:

5.鉴于上述问题,本发明的目的在于提供一种显示装置及其检测电路和检测方法,从而可以在显示面板画面异常时快速准确的判别异常模块。
6.根据本发明的一方面,提供一种显示装置的检测电路,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,所述检测电路包括:逻辑输出模块,与所述显示面板上的多根所述信号线相连,用于读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;判断模块,用于接收所述检测信号,并将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。
7.可选地,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时,判定所述驱动模块工作正常。
8.可选地,所述判断模块设置为当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时,根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。
9.可选地,所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时
间。
10.可选地,所述逻辑输出模块包括:级联的多个或门电路,每个或门电路包括多个输入端,所述多个或门电路中的第一个的多个输入端分别与对应的信号线相连,所述多个或门电路中除第一个的其他或门电路的多个输入端中的一个与前一个或门电路的输出端连接,其余的输入端与对应的信号线相连,所述多个或门电路中的最后一个的输出端用于输出所述检测信号。
11.可选地,所述驱动模块为栅极驱动模块,所述栅极驱动模块用于按行通过栅极线循序输出栅极控制信号至所述像素单元的开关晶体管的控制端。
12.可选地,所述驱动模块为发光模块,所述发光模块用于按行通过发光线循序输出发光控制信号至所述像素单元的发光晶体管的控制端。
13.根据本发明的另一方面,提供一种显示装置的检测方法,所述显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元以及驱动模块,所述驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至所述像素单元,包括:读取每根所述信号线的控制信号,并输出检测信号;将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态。
14.可选地,所述将所述检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果判断所述驱动模块的工作状态包括:当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平完全相同时,判定所述驱动模块工作正常;当所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不相同时,根据所述检测信号的逻辑电平与所述预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。
15.可选地,所述预设时间为所述驱动模块输出所述控制信号至每根所述信号线的时间。
16.根据本发明的另一方面,提供一种显示装置,包括上述所述的显示装置的检测电路,用于执行如上述所述的显示装置的检测方法。
17.本发明提供的显示装置及其检测电路和检测方法,逻辑输出模块连接至用于传输循序控制信号的每根信号线,每根信号线输出高/低电平信号的时间为固定时间,逻辑输出模块读取信号线传输的控制信号,并输出检测信号,判断模块将检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果确定发生异常的信号线,可以在显示面板进行测试或者画面异常时快速准确判断发生异常的模块。
附图说明
18.通过以下参照附图对本发明实施例的描述,本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚,在附图中:
19.图1示出了根据现有技术的显示面板的结构示意图;
20.图2示出了根据本发明实施例的显示装置的检测电路的结构示意图;
21.图3a-3d示出了根据本发明实施例在不同状态下的栅极控制信号的时序图。
22.图4示出了根据本发明实施例的显示装置的检测方法的流程图。
具体实施方式
23.以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中,相同的元件或者模块采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。
24.应当理解,在以下的描述中,“电路”可包括单个或多个组合的硬件电路、可编程电路、状态机电路和/或能存储由可编程电路执行的指令的元件。当称元件或电路“连接到”另一元件或称元件或电路“连接在”两个节点之间时,它可以直接耦合或连接到另一元件或者可以存在中间元件,元件之间的连接可以是物理上的、逻辑上的,或者其结合。相反,当称元件“直接耦合到”或“直接连接到”另一元件时,意味着两者不存在中间元件。
25.同时,在本专利说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域普通技术人员应当可理解,硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本专利说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。
26.此外,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或者操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
27.在显示装置的显示面板画面出现异常时,需要对各个模块进行检测以确定显示面板画面异常的原因,微显示装置受限于现有技术没有办法对栅极驱动模块的每根栅极线传输的栅极控制信号以及发光模块的每根发光线传输的发光控制信号进行检测,为了解决上述问题,本发明实施例提供了一种显示装置的检测电路,用于检测按行或列通过信号线循序输出控制信号至像素单元的驱动模块。
28.图2示出了根据本发明实施例的显示装置的检测电路的结构示意图。下面以待检测的驱动模块为按行通过信号线循序输出控制信号至像素单元的驱动模块为例来说明本发明实施例提供的显示装置的检测电路。
29.如图2所示,显示装置包括显示面板,显示面板包括列驱动模块100、行驱动模块200以及排列成阵列的多个像素单元300,其中,列驱动模块100和行驱动模块200集成于同一块驱动芯片上。
30.每个像素单元300包括开关晶体管t1,液晶电容clc以及存储电容cs,开关晶体管t1的控制端连接至驱动芯片,第一导通端连接至驱动芯片,第二导通端连接至液晶电容clc的第一端和存储电容cs的第一端相连的节点a,液晶电容clc和存储电容cs的第二端接地。
31.列驱动模块100例如为源极驱动模块,通过源极线连接至开关晶体管t1的第一导通端,每列像素单元300对应一根源极线,列驱动模块100用于在显示面板显示画面时通过对应的源极线输出对应的数据电压至每个开关晶体管t1的第一导通端。
32.行驱动模块200例如为栅极驱动模块,通过栅极线连接至开关晶体管t1的控制端,每行像素单元300对应一条栅极线,栅极线的数量与显示面板的分辨率有关,例如720p分辨
率的显示面板设有720条栅极线,2k分辨率的显示面板设有2000条栅极线。行驱动模块200用于通过栅极线将栅极控制信号循序输入至开关晶体管t1的控制端,以按行选通像素单元300。栅极线共n条(n为正整数),分别为g1-gn,其中,g1为第一条栅极线,gn为最后一条信号线。
33.检测电路包括逻辑输出模块400,逻辑输出模块400与显示面板上的多条栅极线相连,用于读取每条栅极线上的栅极控制信号,并输出检测信号。
34.逻辑输出模块400例如包括级联的多个或门电路,多个或门电路与栅极线g1-gn的连接方式例如为栅极线g1连接至第一个或门电路的第一输入端,栅极线g2连接至第一个或门电路的第二输入端,栅极线g3连接至第一个或门电路的第三输入端,第一个或门电路的输出端连接至第二个或门电路的第一输入端,栅极线g4连接至第二个或门电路的第二输入端,栅极线g5连接至第二个或门电路的第三输入端,依此类推,最后一个或门电路的第一输入端与倒数第二个或门电路的输出端相连,栅极线gn-1连接至最后一个或门电路的第二输入端,栅极线gn连接至最后一个或门电路的第三输入端,最后一个或门电路的输出端输出检测信号g-tm用以检测每根栅极线传输的栅极控制信号是否正常,以确定发生异常的栅极线。
35.需要说明的是本技术对逻辑输出模块400内部的或门电路的输入端数量并不做具体限定,对与上一个或门电路的输出端相连的或门的输入端也不做具体限定,可根据实际情况进行调整。当然逻辑输出模块400也可以根据实际情况搭配不同输入端的或门电路,例如逻辑输出模块400部分使用三输入端的或门电路,部分使用二输入端的或门电路。
36.检测电路还包括判断模块500,判断模块500用于接收检测信号g-tm,并将检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,根据比较结果判断行驱动模块200的工作状态,当检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平完全相同时,判定行驱动模块200正常,当检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平不同时,根据检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线。预设时间为行驱动模块200输出栅极控制信号至每根栅极线的时间。预设的逻辑电平为栅极控制信号的逻辑电平。
37.根据开关晶体管t1使用的mos管的区别,行驱动模块200输出的栅极控制信号的逻辑电平不同,当开关晶体管t1为nmos管时,开关晶体管t1在高电平状态下导通,行驱动模块200在驱动芯片显示画面时循序输出高电平的栅极控制信号以按行选通像素单元300,此时预设的逻辑电平为高电平,多条栅极线g1-gn的时序图如图3a所示,每条栅极线处于高电平的时间是固定的,例如为预设时间t,所以在正常状态下检测信号g-tm会一直处于高电平,直至行驱动模块200停止输出栅极控制信号为止。在显示面板画面异常需要检测每根栅极线传输的栅极控制信号是否正常时,只需判断模块500检测检测信号g-tm的逻辑电平发生异常的时间,即可确定发生异常的栅极线,例如从起始预设时间1t开始计算,当检测到第3t时,检测信号g-tm的逻辑电平发生异常,由高电平突变为低电平,就代表栅极线g3发生异常,此时多根栅极线的栅极控制信号的时序图如图3b所示。
38.当开关晶体管t1为pmos管时,开关晶体管t1在低电平状态下导通,行驱动模块200在驱动芯片显示画面时循序输出低电平的栅极控制信号以按行选通像素单元300,此时预设的逻辑电平为低电平,多根栅极线g1-gn的时序图如图3c所示,每根栅极线处于低电平的
时间是固定的,例如为预设时间t,所以在正常状态下检测信号g-tm会一直处于高电平,直至行驱动模块200停止输出栅极控制信号为止。在显示面板画面异常需要检测每根栅极线传输的栅极控制信号是否正常时,只需判断模块500检测检测信号g-tm的逻辑电平发生异常的时间,即可确定发生异常的栅极线,例如从起始预设时间1t开始计算,当检测到第3t时,检测信号g-tm的逻辑电平发生异常,由低电平突变为高电平,就代表栅极线g3发生异常,此时多条栅极线传输的栅极控制信号的时序图如图3d所示。
39.进一步地,在oled显示装置中,行驱动模块200还可以为位于驱动芯片的发光模块,发光模块用于通过发光线循序输出发光控制信号以按行点亮有机发光二级管oled,每行像素单元300对应一根发光线,发光线的数量与栅极线一一对应,逻辑输出模块400中的或门电路按照上述所述的方法连接至每根发光线,在显示面板画面异常时,将最后一个或门电路输出的检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,即可得到发生异常的发光线,具体原理同上。预设的逻辑电平与发光模块循序输出的发光控制信号的逻辑电平一致。
40.进一步地,逻辑输出模块400内部的逻辑门不一定为或门电路,只要可以读取栅极线g1-gn传输的栅极控制信号,并以或关系将栅极控制信号从逻辑输出模块400输出即可。
41.根据本发明实施例提供的显示装置的检测电路,逻辑输出模块400连接至用于传输循序控制信号的每根信号线,每根信号线输出高/低电平信号的时间为固定值,逻辑输出模块400读取信号线传输的控制信号,并输出检测信号g-tm,判断模块500将检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,并根据比较结果确定发生异常的信号线,可以在显示面板画面异常时快速准确判断发生异常的模块。
42.进一步地,本发明实施例还提供了一种显示装置的检测方法,显示装置包括具有阵列排布的多个像素单元300以及驱动模块,驱动模块用于按行或列通过信号线循序输出控制信号至像素单元300,具体包括如下步骤:
43.s1:读取每根信号线上的控制信号,并输出检测信号g-tm;
44.s2:将检测信号g-tm的逻辑电平与预设的逻辑电平进行比较,根据比较结果判断驱动模块的工作状态。
45.在步骤s2中,预设的逻辑电平为控制信号的逻辑电平。
46.s3:当检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平完全相同时,判定驱动模块正常;
47.s4:当检测信号的逻辑电平与预设的逻辑电平不相同时,根据检测信号的逻辑电平和预设的逻辑电平不同的时间与预设时间的倍数关系确定出现异常的信号线;
48.在步骤s4中,预设时间为驱动模块输出控制信号至每根信号线的时间。
49.本发明实施例还提供了一种显示装置,包括上述所述的显示装置的检测电路,用于执行上述所述的显示装置的检测电路。
50.依照本发明的实施例如上文,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求及其等效物所界定的范围为准。
再多了解一些

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