一种薄膜配向角及质量缺陷检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及薄膜测试技术领域，尤其是涉及一种薄膜配向角及质量缺陷检测装置。


背景技术：

2.在光学膜制备过程中，受限于生产工艺和生产设备的原因，如受风速、温度和拉伸比等因素的影响，光学膜经横向拉伸后会出现薄膜侧边部与中部的配向角不一致的情况，以及光学膜制备过程中还会出现蹭印、划伤、硌印及凹凸形变、晶点或静电点等表观弊病，表观弊病为薄膜形变的应力点，因此，上述缺陷均会影响产品的使用效果。
3.为检测薄膜产品的配向角，常规方法在薄膜沿横向拉伸方向画线即线条垂直纵向生产的方向，再经横向拉伸后收卷，最后裁取画线部分的薄膜，检测薄膜的配向角。上述方法虽能检测薄膜的拉伸配向角，但该方法在生产线上划线易造成薄膜大量浪费，对画线位置和线条等要求高，且该方法不能对聚酯薄膜进行随时的检测，不具有代表性。
4.cn113533036薄膜配向角及质量缺陷检测装置的专利公开了一种测试薄膜配向角的方法和装置，装置包括含有上偏光片的固定框i、含有下偏光片的固定框ii、固定片；上偏光片和下偏光片处于正交状态；固定片为圆环形结构用于固定待测薄膜，待测薄膜置于上偏光片和下偏光片之间，且三者相互平行；固定框i和/或固定框ii为矩形框；固定片与固定框ii滑动连接使固定片在固定框ii上以待测薄膜的对称中心转动；方法为：将待测薄膜按设定方向（薄膜的md方向与处于正交状态时的上偏光片的正交方向平行）放在两块处于正交状态时的偏光片之间，在一个偏光片的外侧照射入射光时，旋转待测薄膜直至另一个偏光片的外侧为全黑状态，旋转角度即为待测薄膜的配向角。该方法简单快速地测试出薄膜不同位置的配向角。
5.现有技术存在的缺陷在于：
6.该配向角检测装置检测薄膜质量项目单一，虽然解决了配向角检测，但蹭印、划伤、硌印及凹凸形变、晶点或静电点等表观弊病未能检测，仍存在缺陷检测不充分的问题；薄膜通过胶带与固定片固定，检测后的薄膜将造成损伤，不能重复使用造成浪费。
7.因此，有必要对现有技术中的薄膜配向角及质量缺陷检测装置进行改进。


技术实现要素：

8.本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的缺陷，提供一种薄膜配向角及质量缺陷检测装置，通过膜上偏光片组包括的单元偏光片可移除切换，并与膜下偏光片配合测定薄膜的配向角和质量，实现薄膜质量检测多样化。
9.为实现上述技术效果，本实用新型的技术方案为：一种薄膜配向角及质量缺陷检测装置，包括沿第一方向正对且依次设置的膜上偏光片组、薄膜固定框、膜下偏光片和光源，所述膜上偏光片组包括至少两个沿第一方向相互平行的单元偏光片，所述单元偏光片可移除设置于所述薄膜固定框的侧方。
10.为了实现膜上偏光片组灵活地切换，与膜下偏光片配合检测薄膜的不同质量性能，优选的技术方案为，还包括基座，所述膜上偏光片组还包括用于固定所述单元偏光片的偏光片固定座，所述偏光片固定座与所述基座可拆卸固定连接；和/或所述单元偏光片与所述偏光片固定座可拆卸固定连接。
11.为了实现膜上偏光片组灵活地切换，与膜下偏光片配合检测薄膜的不同质量性能，优选的技术方案为，还包括基座，所述膜上偏光片组还包括用于固定所述单元偏光片的偏光片固定座，所述偏光片固定座与所述基座转动连接。
12.为了实现检测同一质量项目时，保持单元偏光片和膜下偏光片正对的位置，便捷地更换薄膜，或检测同一薄膜不同的配向角，优选的技术方案为，所述薄膜固定框与所述基座可拆卸固定连接或转动连接。
13.为了实现检测同一薄膜不同的配向角，优选的技术方案为，所述薄膜固定框包括与所述光源沿第一方向正对的薄膜安装件，所述薄膜安装件沿其第一方向的轴心线与所述薄膜固定框转动连接。
14.为了实现薄膜安装件的旋转，进而检测同一薄膜不同的配向角，优选的技术方案为，所述薄膜安装件设置有通孔，所述薄膜安装件与薄膜固定框之间设置有凹凸配合的导向件，所述导向件的轴心线与所述薄膜安装件沿其第一方向的轴心线相重合。
15.为了稳固薄膜在薄膜安装件上的位置，以免影响质量检测的准确性，优选的技术方案为，所述薄膜安装件包括成对设置的支撑板，所述支撑板分设于所述通孔的两侧。
16.为了降低对检测薄膜的损伤，薄膜也可重复使用或检测，优选的技术方案为，所述支撑板包括膜上磁吸件和与所述膜上磁吸件磁吸配合的膜下磁吸件，所述膜上磁吸件可移除设置。
17.优选的技术方案为，所述薄膜固定框设置有刻度。
18.为了优化基座的结构，优选的技术方案为，所述基座为不透光的箱体，所述膜下偏光片设置于所述箱体的顶面，所述光源设置于所述箱体中，所述光源的入射方向朝向所述膜下偏光片。
19.本实用新型的优点和有益效果在于：
20.该薄膜配向角及质量缺陷检测装置的结构合理，通过膜上偏光片组包括的单元偏光片可移除，实现膜上偏光片组灵活地切换，并与膜下偏光片配合检测薄膜的配向角和质量，实现薄膜质量检测多样化，更具有说服力，且实现检测装置的多功能化。
附图说明
21.图1是本实用新型实施例1的侧视结构示意图；
22.图2是本实用新型实施例1的立体结构示意图；
23.图3是本实用新型实施例1的另一立体结构示意图；
24.图4是本实用新型实施例1的薄膜固定框结构示意图；
25.图5是本实用新型实施例2的结构示意图；
26.图6是本实用新型实施例2的立体结构示意图；
27.图7是本实用新型实施例2的另一立体结构示意图。
28.图中：1、膜上偏光片组；2、薄膜固定框；3、膜下偏光片；4、基座；1-a、第一单元偏光
片；1-b、第二单元偏光片；10、偏光片固定座；20、刻度；21、薄膜安装件；200、通孔；210、支撑板；211、膜上磁吸件。
具体实施方式
29.下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
[0030]“顶面”以薄膜配向角及质量缺陷检测装置正常使用状态为参考，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
[0031]
第一方向
[0032]
为任意方向。
[0033]
膜上偏光片组
[0034]
包括两个沿第一方向相互平行的单元偏光片，单元偏光片之一为全偏光片，另一为1/4λ偏光片；第二单元偏光片为全偏光片，第二单元偏光片与膜下偏光片处于正交状态，第二单元偏光片、薄膜固定框、膜下偏光片和光源组合检测薄膜的配向角；第一单元偏光片为1/4λ偏光片，第一单元偏光片、薄膜固定框、膜下偏光片和光源组合检测薄膜的晶点、静电点和凹凸形变。
[0035]
偏光片固定座
[0036]
偏光片固定座的外形为正方形、圆形和弧形中的一种。
[0037]
单元偏光片与偏光片固定座固定连接，偏光片固定座与基座插接或磁吸固定连接；和/或偏光片固定座与基座固定连接，单元偏光片与偏光片固定座插接或磁吸固定连接。
[0038]
偏光片固定座通过转轴与基座转动连接，转轴和/或基座设置有限位件，限位件用于固定单元偏光片沿转轴周向旋转的角度，保证薄膜在检测中，依次设置的膜上偏光片组、薄膜固定框、膜下偏光片和光源沿第一方向正对。
[0039]
薄膜安装件
[0040]
薄膜安装件的外形为环形，环形的薄膜安装件设置有滑块，薄膜固定框设置有与滑块凹凸配合的导轨，导轨包括但不限于u型导轨、l型导轨和t型导轨中的一种；
[0041]
薄膜安装件的外形为环形，环形的薄膜安装件设置有导轨，薄膜固定框设置有与导轨凹凸配合的滑块；
[0042]
进一步的，滑块与导轨之间设置有滚珠。
[0043]
支撑板
[0044]
包括但不限于弓形支撑板或长方形支撑板；为了增大薄膜与支撑板的固定面积，及趋大设置通孔的面积，弓形支撑板的直边朝向通孔的孔心；或长方形支撑板的长边朝向通孔的孔心。
[0045]
磁吸件
[0046]
支撑板包括膜上磁吸件和与膜上磁吸件磁吸配合的膜下磁吸件，膜上磁吸件可移除设置。支撑板为马氏不锈钢材质，膜上磁吸件为纽扣磁铁；或支撑板为塑料材质，膜上磁
吸件和膜下磁吸件均为纽扣磁铁。
[0047]
刻度
[0048]
初始状态时，薄膜的纵向延伸方向与0
°
刻度线对齐。
[0049]
基座
[0050]
基座为不透光的箱体，箱体的材质为pvc或abs塑料。
[0051]
实施例1
[0052]
如图1~4所示，薄膜配向角及质量缺陷检测装置包括沿第一方向正对且依次设置的膜上偏光片组1、薄膜固定框2、膜下偏光片3和光源，膜上偏光片组1包括两个沿第一方向相互平行的单元偏光片，第二单元偏光片1-b为全偏光片，第一单元偏光片1-a为1/4λ偏光片；单元偏光片可移除设置于薄膜固定框2的侧方。还包括基座4，基座4为不透光pvc塑料材质的箱体，膜下偏光片3设置于箱体的表面，光源设置于箱体中，光源的入射方向朝向膜下偏光片3。膜上偏光片组1还包括用于固定单元偏光片的偏光片固定座10，偏光片固定座10的外形为圆形，单元偏光片与偏光片固定座10固定连接，偏光片固定座10与基座4插接固定连接。薄膜固定框2与基座4固定连接。
[0053]
薄膜固定框2包括与光源沿第一方向正对的薄膜安装件21，薄膜安装件21沿其第一方向的轴心线与薄膜固定框2转动连接。
[0054]
薄膜安装件21设置有通孔200，薄膜安装件21为环形，环形的薄膜安装件21设置有导轨，薄膜固定框2设置有与导轨凹凸配合的滑块，导轨的轴心线与薄膜安装件21沿其第一方向的轴心线相重合。薄膜固定框2设置有刻度20。
[0055]
薄膜安装件21包括成对设置的支撑板210，支撑板210分设于环形薄膜安装件21的两侧。支撑板210为马氏不锈钢材质，支撑板210作为膜下磁吸件，膜上磁吸件211为纽扣磁铁。
[0056]
实施例2
[0057]
如图5~7所示，实施例2基于实施例1，区别在于，单元偏光片与偏光片固定座10固定连接，偏光片固定座10与基座4转动连接。薄膜固定框2与基座4转动连接。
[0058]
使用实施例2的薄膜配向角及质量缺陷检测装置时，打开电源，光源的入射方向朝向膜下偏光片3，将薄膜样品铺放在薄膜安装件21成对设置的支撑板210上，再用膜上磁吸件211与膜下磁吸件支撑板210磁吸作用固定薄膜样品的位置，初始状态，薄膜样品的纵向延伸方向与薄膜固定框2设置的0
°
刻度线对齐，先旋转膜上偏光片组1中第二单元偏光片1-b沿第一方向与薄膜固定框2、膜下偏光片3和光源正对，第二单元偏光片1-b与膜下偏光片3处于正交状态，测定薄膜样品的配向角；薄膜安装件21沿其第一方向的轴心线转动，带动薄膜样品旋转，直至第二单元偏光片1-b处于全黑状态，薄膜样品的纵向延伸方向与薄膜固定框2对应的刻度200数值即为待测薄膜样品的配向角；再转出第二单元偏光片1-b，旋转膜上偏光片组1中第一单元偏光片1-a，沿第一方向与薄膜固定框2、膜下偏光片3和光源正对，测定薄膜样品晶点、静电点，凹凸形变的缺陷。进行下一个薄膜样品的配向角及质量检测时，转出薄膜固定框2，移除膜上磁吸件211，更换薄膜样品，保持薄膜样品的纵向延伸方向与薄膜固定框2设置的0
°
刻度线对齐，后续操作如上述步骤一致。
[0059]
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改
进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。