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监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质与流程

2022-11-16 16:30:20 来源:中国专利 TAG:


1.本发明属于芯片测试技术领域,涉及一种监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质。


背景技术:

2.目前fpga(field programmable gate array)已广泛应用于人工智能、航空、军事、工业等各个领域,因此fpga的可靠性成为其重要的应用指标。老炼测试作为集成电路可靠性测试的重要手段之一,本质上是模仿dut(device under test)的工作寿命,将其置于特定的老炼测试装置内,在指定的电压和高温环境下运行特定时间,采集并分析测试数据剔除存在缺陷且早期失效的器件。随着器件种类和数量及老炼测试装置数量不断增加的趋势,现有老炼测试监控只支持监控一款器件且一个批次的测试,导致老炼测试装置使用率、测试效率大幅降低,已不能满足现实生产需求。


技术实现要素:

3.基于此,本发明提供了一种监控老炼测试的方法、装置、设备及存储介质,解决了现有老炼测试监控只支持一种器件一个批次的测试,导致老炼测试装置使用率、测试效率低的问题。
4.本发明提供的一种监控老炼测试的方法,包括:
5.接收测试数据并进行校验;
6.解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;
7.由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;
8.匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。
9.进一步地,所述由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件,包括:
10.通过所述第一匹配信息,将所述测试数据匹配至测试工件,然后根据测试工件匹配出测试设备;
11.根据所述测试设备确定第二匹配信息,通过第二匹配信息获取所述测试设备对应的具体的待测试件,根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次。
12.进一步地,所述通过所述第一匹配信息,将所述测试数据匹配至测试工件,然后根据测试工件匹配出测试设备之前,还包括:
13.建立所述第一匹配信息、测试设备和测试工件之间的映射关系。
14.进一步地,所述根据所述测试设备确定第二匹配信息,通过第二匹配信息获取所述测试设备对应的具体的待测试件,根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次之前,还包括:
15.建立所述待测件类型、生产批次与所述测试设备之间的映射关系;
16.建立所述待测件类型、生产批次中所述具体的待测试件与所述测试工件之间的映射关系。
17.进一步地,所述匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果之后,还包括:
18.将所述具体的待测试件的测试结果进行可视化处理。
19.进一步地,匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果之后,还包括:
20.存储所述具体的待测试件的测试数据及测试结果。
21.进一步地,所述匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果之后,还包括:
22.接收所述测试设备、测试工件的测试环境参数,若所述测试环境参数超过设定的阈值,则发送指令至所述测试设备、测试工件,使所述测试设备、测试工件自动断电。
23.本发明还提供了一种监控老炼测试的装置,所述装置包括:
24.接收模块,用于接收测试数据并进行校验;
25.第一匹配信息获取模块,用于解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;
26.第二匹配信息获取模块,用于由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;
27.测试结果获取模块,用于匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。
28.本发明还提供了一种终端设备,所述终端设备包括:
29.存储器:用于存储计算机程序;
30.处理器:用于执行所述计算机程序以实现上述任一项所述的监控老炼测试的方法。
31.本发明还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一项所述的监控老炼测试的方法。
32.本发明实施例提供的一种监控老炼测试的方法,通过接收测试数据并进行校验;解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。实现了监控多种器件、多批次同时测试;提高了老炼测试设备利用率,减少了上位机的部署数量,降低了测试成本。本发明提供的监控老炼测试的装置、设备及存储介质,也可实现上述效果。
附图说明
33.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附
图。
34.图1为本发明实施例提供的一种老炼测试系统的结构框图;
35.图2为本发明实施例提供的一种监控老炼测试的方法的流程示意图;
36.图3为步骤s3的流程示意图;
37.图4为本发明实施例提供的另一种监控老炼测试的方法的流程示意图;
38.图5为本发明实施例提供的一种监控老炼测试的装置的结构框图;
39.图6为第二匹配信息获取模块的结构框图;
40.图7为本发明实施例提供的另一种监控老炼测试的装置的结构框图;
41.图8为本发明实施例公开的一种终端设备的结构示意图;
42.图9为本发明实施例公开了一种计算机存储介质的结构示意图。
具体实施方式
43.除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同;本文中在申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本技术;本技术的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。本技术的说明书和权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。
44.在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
45.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
46.在后续的描述中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本技术的说明,其本身并没有特定的意义。
47.请参阅图1,图1是本发明实施例提供的一种老炼测试系统的结构框图,该老炼测试系统包括:上位机、下位机、老炼温箱、老炼测试板、交换机等。其中老炼温箱中可放置多块老炼测试板,老炼测试板上设计有主控芯片,主控芯片烧录有下位机主控程序,所述下位机采用串口协议解析和接收老炼测试数据,并与上位机通信。老炼测试板上不同类型器件的测试工位数量不同,所述测试工位用于放置该老炼测试板对应的dut(device under test)。各老炼测试板配置有以太网通讯接口,所述老炼测试板拥有独立的mac地址,所述mac地址用于上传测试数据至上位机时,区别该数据归属于哪一块老炼测试板。温箱内部各老炼测试板之间、各老炼温箱之间通过以太网交换机将测试数据按协议组包后上传至上位机。
48.在本发明实施例中,所述上位机可以为计算机,比如台式计算机、笔记本电脑、服务器等,该计算机的系统可以是linux操作系统,或者windows操作系统,或者macos操作系
统等。上位机包括一个或者多个处理器以及存储器,处理器和存储器可以通过总线或者其他方式连接。处理器可以为一个或者一个以上微处理器或者某一其他类型的控制电路,例如一个或一个以上专用集成电路。存储器作为一种非易失性计算机可读存储介质,可用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块,例如,监控老炼测试软件。
49.其中,所述上位机不仅可以控制所述芯片老炼测试的过程,还可以接收并存储和显示所述芯片老炼测试的结果,便于对所述芯片老炼测试历史结果的回顾和分析,有助于优化和改进所述芯片的架构设计、制成工艺以及芯片生产过程其他的环节。
50.如图2所示,为本发明实施例提供的一种监控老炼测试的方法的流程示意图,所述方法可以在所述监控老炼测试软件内运行,所述方法包括:
51.步骤s1:接收测试数据并进行校验;
52.图1所示的下位机接收到测试指令后,控制所述老炼温箱及老炼测试板进行工作,对待测试件进行测试,获取测试数据,然后将测试数据传输至下位机,下位机将测试数据按照预设的数据格式协议进行组合,组合完成之后,将组合后的数据传输至上位机。上位机接收到所述测试数据之后,对所述测试数据进行验证,若所述测试数据通过验证,则进行步骤s2,若所述数据验证不通过,则将其丢弃。
53.其中,预设的数据格式可以根据实际需要进行调整,在本实施例中,优选地为,将所述老炼测试板的mac地址、老炼测试板上待测件的测试进行测试得到的测试数据进行编码,编码完成后发送至所述上位机,本发明中,待测试件以芯片为例进行说明,其中,所述mac地址包含目标地址、数据源地址,所述测试数据包括芯片的测试复位次数、芯片测试是否通过、芯片标识编号、芯片测试数据是否正常、芯片是否正常通电、及芯片测试的电压和温度;编码可通过c 程序设计语言实现。
54.步骤s2:解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;
55.具体地,图1中所示的上位机将通过验证之后的测试数据进行解析,如对上述实施例中的编码测试数据进行解码,解码之后,找到所述第一匹配信息,在本实施例中所述老炼测试板的mac地址为第一匹配信息。
56.步骤s3:由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;
57.在一些实施例中,如图3所示,所述步骤s3包括:
58.步骤s31:通过所述第一匹配信息,将所述测试数据匹配至测试工件,然后根据测试工件匹配出测试设备;
59.具体地,在本实施例中,获取第一匹配信息述mac地址后,根据所述mac地址匹配所述mac地址对应的所述老炼测试板,然后根据所述老炼测试板匹配出所述老炼温箱。
60.在一些实施例中,如图3所示,所述步骤s31之前还包括:
61.步骤s301:建立所述第一匹配信息、测试设备和测试工件之间的映射关系。
62.具体地,在测试之前,可以先建立第一匹配信息、测试设备和测试工件之间的映射关系,即本实施例中所述mac地址、所述老炼温箱和所述老炼测试板之间的映射关系,优选地,通过字典映射模型建立所述述mac地址、所述老炼温箱和所述老炼测试板之间的映射关系。
63.进一步地,为使整个过程更加便捷,可以先对所述老炼温箱和所述老炼测试板进
行标号,所述mac地址、标号的老炼温箱和所述老炼测试板之间通过映射模型进行映射,使其具有唯一的映射关系,当查询到所述mac地址之后,就可以找到与其对应的老炼测试板标号和老炼温箱标号,然后找到标号对应的老炼测试板和老炼温箱。
64.步骤s32:根据所述测试设备确定第二匹配信息,通过第二匹配信息获取所述测试设备对应具体的待测试件,根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次。
65.具体地,在本实施例中,所述第二匹配信息为所述老炼测试板标号和老炼温箱标号,根据匹配出的所述老炼测试板标号和老炼温箱标号确定出所述老炼测试板进行测试的每个芯片,然后根据每个芯片匹配出芯片的类型及具体的生产批次。
66.在一些实施例中,如图3所示,所述步骤s32之前还包括:
67.步骤s302:建立所述待测件类型、生产批次与所述测试设备之间的映射关系;
68.建立所述待测件类型、生产批次中所述具体的待测试件与所述测试工件之间的映射关系。
69.具体地,在本实施例中,在进行芯片测试之前,先可以对所述芯片的类型、生产批次、具体芯片进行标号,将其与所述老炼温箱标号之间形成唯一的映射关系;然后将所述老炼温箱中所述老炼测试板与所述芯片的类型、生产批次中具体芯片标号之间形成唯一映射关系。在找到所述老炼测试板标号后,就可以找到所述老炼测试板上的具体的待测试芯片的标号,根据待测试芯片的标号找到所述待测芯片类型标号和生产批次标号,进而得到所述待测试芯片的类型和生产批次。
70.步骤s4:匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。
71.具体地,通过所述待测试件与所述测试数据之间进行匹配,可以得到所述具体的待测试件的测试结果,进而达到对所述芯片测试结果的监控。其中,对芯片的测试结果中包含测试电压、测试温度、测试时长和芯片测试通过与否的结果。
72.应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
73.在一些实施例中,如图4所示,在步骤s4之后还包括:
74.步骤s5:将所述具体的待测试件的测试结果进行可视化处理。
75.具体地,将所述待测试件的测试结果进行可视化处理,用户可根据实际需求和情形进行可视化显示,如通过可视化处理软件对待测试件的测试结果进行处理,得到可视化图形,便于用于直接观察到待测试件中的不良品。
76.在一些实施例中,如图4所示,在步骤s4之后还包括:
77.步骤s6:存储所述具体的待测试件的测试数据及测试结果。
78.具体地,将所述测试数据及测试结果可以生成预设的数据格式进行保存,方便回溯待测件的测试过程,为分析和定位待测试件测试失败的原因提供依据,进而提升待测件的质量,方便剔除不良品。
79.在一些实施例中,如图4所示,在步骤s4之后还包括:
80.步骤s7:接收所述测试设备、测试工件的测试环境参数,若所述测试环境参数超过
设定的阈值,则发送指令至所述测试设备、测试工件,使所述测试设备、测试工件自动断电。
81.具体地,通过对所述测试设备和测试工件的测试环境进行监测,使所述测试设备和测试工件实现自动断电保护,进而提升测设备和测试工件的安全性。
82.本发明实施例提供的一种监控老炼测试的方法,通过接收测试数据并进行校验;解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。实现了监控多种器件、多批次同时测试;提高了老炼测试设备利用率,减少了上位机的部署数量,降低了测试成本。
83.如图5所示,为本发明实施例提供的一种监控老炼测试的装置500,所述装置500包括:接收模块501,用于接收测试数据并进行校验;第一匹配信息获取模块502,用于解析所述测试数据中通过校验的测试数据,获取第一匹配信息;第二匹配信息获取模块503,用于由所述第一匹配信息匹配出测试设备,通过所述测试设备获取第二匹配信息,由第二匹配信息匹配出具体的待测试件;测试结果获取模块504,用于匹配所述具体的待测试件与所述测试数据,获取所述具体的待测试件的测试结果。
84.如图6所示,在一些实施例中,所述第二匹配信息获取模块503包括:
85.测试设备匹配模块5031,用于通过所述第一匹配信息,将所述测试数据匹配至测试工件,然后根据测试工件匹配出测试设备;
86.待测件匹配模块5032,用于根据所述测试设备确定第二匹配信息,通过第二匹配信息获取所述测试设备对应的具体的待测试件,根据所述具体的待测试件确定所述待测件的器件类型、生产批次。
87.如图6所示,在一些实施例中,所述第二匹配信息获取模块503还包括:
88.第一映射模块5033,用于建立所述第一匹配信息、测试设备和测试工件之间的映射关系。
89.如图6所示,在一些实施例中,所述第二匹配信息获取模块503包括:
90.第二映射模块5034,用于建立所述待测件类型、生产批次与所述测试设备之间的映射关系;
91.建立所述待测件类型、生产批次中所述具体的待测试件与所述测试工件之间的映射关系。
92.如图7所示,在一些实施例中,所述装置500还包括:
93.可视化处理模块505,用于将所述具体的待测试件的测试结果进行可视化处理。
94.如图7所示,在一些实施例中,所述装置500还包括:
95.存储模块506,用于存储所述具体的待测试件的测试数据及测试结果。
96.如图7所示,在一些实施例中,所述装置500还包括:
97.监测模块507,用于接收所述测试设备、测试工件的测试环境参数,若所述测试环境参数超过设定的阈值,则发送指令至所述测试设备、测试工件,使所述测试设备、测试工件自动断电。
98.关于监控老炼测试的装置的具体限定可以参见上文中对于监控老炼测试的方法的限定,在此不再赘述。上述监控老炼测试的装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬
件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
99.如图8所示,是本发明实施例公开的一种终端设备的结构示意图,该计算机设备可以包括:
100.存储有可执行程序代码的存储器801;
101.与存储器801连接的处理器802;
102.处理器802调用存储器801中存储的可执行程序代码,执行本发明监控老炼测试方法中的步骤。
103.请参阅图9,本发明实施例公开了一种计算机存储介质901,计算机存储介质901存储有计算机指令,该计算机指令被调用时,用于执行本发明监控老炼测试方法中的步骤。
104.计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(read only memory;以下简称:rom)、可擦式可编程只读存储器(erasable programmable read only memory;以下简称:eprom)或闪存、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
105.计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括——但不限于——电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
106.计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括——但不限于——无线、电线、光缆、rf等等,或者上述的任意合适的组合。
107.可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本技术操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、smalltalk、c ,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(local area network;以下简称:lan)或广域网(wide area network;以下简称:wan)连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
108.在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
109.取决于语境,如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地,取决于语境,短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测(陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
110.在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
111.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明保护的范围之内。
再多了解一些

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