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矿物分选装置及矿物分选方法

2022-11-13 11:35:58 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种矿物分选装置,其特征在于,包括:输送机构、位于所述输送机构上方的第一光源组件、位于所述输送机构下方的第一探测器组件以及分选机构;所述第一光源组件用于发射照射矿物的中子射线和x射线;所述第一探测器组件用于探测并获取x射线在被矿物衰减和不被矿物衰减下的探测数据、中子射线在被矿物衰减和不被矿物衰减下的探测数据;所述分选机构用于分离所述矿物。2.根据权利要求1所述的矿物分选装置,其特征在于,所述第一光源组件包括相互独立的第一光源和第二光源,所述第一光源用于发射照射矿物的中子射线,所述第二光源用于发射照射矿物的x射线,所述第一光源和所述第二光源在所述输送机构的输送方向上依次设置。3.根据权利要求1所述的矿物分选装置,其特征在于,所述第一探测器组件包括相互独立的中子探测器和x射线探测器。4.根据权利要求1所述的矿物分选装置,其特征在于,还包括设置在所述输送机构的输送方向的一侧方的第二光源组件和另一侧方的第二探测器组件。5.根据权利要求1-4任一项所述的矿物分选装置,其特征在于,所述分选机构为喷吹装置,所述喷吹装置设置为将离开所述输送机构的矿物进行分离。6.根据权利要求5所述的矿物分选装置,其特征在于,所述喷吹装置包括高压喷嘴,所述高压喷嘴包括阵列分布的喷气孔。7.一种矿物分选方法,其特征在于,适用于矿物分选系统,所述矿物分选系统包括如权利要求1-6任一项所述的矿物分选装置和控制器,所述方法包括如下步骤:s10:对矿物照射中子和x射线进行双模成像;s20:根据双模成像结果将所述矿物区分为不同品位的矿物;s30:分离所述不同品位的矿物。8.根据权利要求7所述的矿物分选方法,其特征在于,步骤s10包括如下步骤:s11:利用探测器组件探测x射线在被矿物衰减和不被矿物衰减下的探测数据、中子射线在被矿物衰减和不被矿物衰减下的探测数据,获得x射线无矿物探测数据、x射线有矿物探测数据、中子无矿物探测数据和中子有矿物探测数据;s12:根据x射线无矿物探测数据、x射线有矿物探测数据、中子无矿物探测数据和中子有矿物探测数据,确定所述矿物中每个像素点处的元素对于中子和x射线的微分截面的比值,基于所述比值进行双模成像。9.根据权利要求7所述的矿物分选方法,其特征在于,步骤s20包括如下步骤:s21:基于每个像素点处的元素对于中子和x射线的微分截面的所述比值,确定每个像素点处的元素种类;s22:基于各个像素点处的元素种类确定出目标元素的分布,计算出所述目标元素在所述矿物中的占比,将所述占比作为所述目标元素的品位;s23:根据所述目标元素的所述品位确定所述矿物是精矿还是贫矿。10.根据权利要求9所述的矿物分选方法,其特征在于,所述步骤s23包括:将所述目标元素的所述品位与预设的品位阈值相比较,基于预设的品位阈值与精矿、贫矿的对应关系,确定所述矿物是精矿还是贫矿。

技术总结
本发明公开一种矿物分选装置及矿物分选方法。矿物分选装置包括输送机构、位于输送机构上方的第一光源组件、位于输送机构下方的第一探测器组件以及分选机构。矿物分选方法包括:对矿物照射中子和X射线进行双模成像;根据双模成像结果将矿物区分为不同品位的矿物;分离不同品位的矿物。根据本发明矿物分选装置及分选方法,能够完成矿物、特别是锂矿或硼矿的分选,减小环境污染、降低耗水、降低选矿成本且降低能耗,并确保选矿产品质量的稳定可靠。并确保选矿产品质量的稳定可靠。并确保选矿产品质量的稳定可靠。


技术研发人员:李元景 孙尚民 明申金 刘必成 王东宇 党永乐 杨祎罡 宗春光 崔桐源 于洋懿
受保护的技术使用者:清华大学
技术研发日:2022.09.01
技术公布日:2022/11/11
再多了解一些

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