一种真四线测试针模的制作方法

1.本实用新型涉及柔性电路板加工测试技术领域，尤其是涉及一种真四线测试针模。


背景技术：

2.随着科技的不断发展，越来越多的智能化电子产品随之产生。智能化电子产品也越来越多的采用柔性电路板作为其内部的核心部件。而针对柔性电路板的测试中，需要测试柔性电路板中的电阻阻值，或者柔性电路板线路的阻值。目前在微小宽度的b2b连接器的镀金面上测试阻值一般都是扎一根探针进行两线测试，或者假四线测试。但是随着柔性电路板设计时，电阻的阻值越来越小，现有的两线测试或者假四线测试的测试阻值精度无法满足现有柔性电路板的测试要求，而需要采用真四线的测试，以减少探针和测试线路对于阻值的影响。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于解决现有柔性电路板设计时的电阻阻值越来越小，传统的两线测试或者假四线测试无法满足其测试阻值的精度要求的缺点，提供一种真四线测试针模。
4.本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是：一种真四线测试针模，包括承载待测产品的针模模组以及设置于所述针模模组内的若干组可与所述待测产品接触的探针模组，所述待测产品上设置有连接器，所述连接器上设置有若干个测试触点，所述探针模组与所述测试触点一一对应设置；所述探针模组包括两根可同时接触同一所述测试触点的长探针以及两条分别与所述长探针电连接的针套线；所述针模模组包括由上至下依次叠加的第一针模、第二针模、针模夹层、第三针模、第四针模和第五针模，所述待测产品放置于所述第一针模的顶面，所述第一针模上设置有可供所述长探针伸出的第一安装孔。
5.进一步地，所述针模夹层固定于所述第三针模的顶部，所述针模夹层在靠近所述第三针模的一侧侧面上设置有安装凸起，于所述安装凸起上设置有若干个可供所述长探针穿设的第二安装孔。
6.具体地，所述第三针模在靠近所述针模夹层的一侧侧面设置有可供所述针模夹层的安装凸起插入的安装槽，于所述安装槽内设置有可供所述长探针穿设的第三安装孔。
7.具体地，所述第三针模和所述第二针模之间设置有若干个支撑柱，所述支撑柱的顶部与所述第二针模固定连接，所述支撑柱的底部与所述第三针模固定连接，所述针模夹层套设于所述支撑柱上。
8.具体地，所述第四针模和所述第五针模上均设置有可供所述针套线穿设的第四安装孔，所述针套线由下至上穿过所述第四针模后与所述长探针抵接。
9.进一步地，所述长探针包括由上至下依次连接的头端、中段和尾端，所述头端具有与所述待测产品的所述测试触点接触的尖端，所述中段的外表面设置有绝缘层，所述尾端
具有与所述中段固定连接的直线段以及位于所述直线段末端可与所述针套线抵接的球头。
10.具体地，所述长探针的头端穿设于所述第一针模和所述第二针模之间，所述头端的尖端可由所述第一针模的第一安装孔伸出。
11.具体地，所述头端的直径为0.07mm。
12.具体地，所述长探针的尾端的直线段穿设于所述第三针模内，所述尾端的球头位于所述第三针模靠近所述第四针模一侧的侧面上。
13.具体地，所述尾端的直线段直径为0.07mm，所述球头的直径为0.13mm。
14.本实用新型所提供的一种真四线测试针模的有益效果在于：具有针模模组和探针模组，每个探针模组中均具有两根长探针，两根长探针可以扎在宽度为240um的测试触点上，完成对于柔性电路板的真四线测试，尤其适用于电阻阻值小的柔性电路板的电阻测试中使用，提高测试的精确性，还可以控制接触的压力，不会在测试触点上产生压痕。
附图说明
15.图1是本实用新型提供的一种真四线测试针模的立体结构示意图；
16.图2是本实用新型提供的一种真四线测试针模所测试的待测产品的立体结构示意图；
17.图3是本实用新型提供的一种真四线测试针模的全剖视图；
18.图4是本实用新型提供的一种真四线测试针模中长探针的正视图。
19.图中：100-真四线测试针模、10-针模组件、11-第一针模、111-第一安装孔、12-第二针模、13-针模夹层、131-安装凸起、132-第二安装孔、14-第三针模、141-安装槽、142-第三安装孔、15-第四针模、16-第五针模、17-支撑柱、18-第四安装孔；20-探针组件、21-长探针、211-头端、2111-尖端、212-中段、213-尾端、2131-直线段、2132-球头；30-待测产品、31-连接器、32-测试触点。
具体实施方式
20.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
21.参见图1-图4，为本实用新型所提供的一种真四线测试针模100。该真四线测试针模100可以用于柔性电路板的电阻测试中使用，尤其适用于电阻阻值小的新型柔性电路板使用，并且可以在柔性电路板的连接器上的同一个镀金面上同时扎两根探针，以减少探针和测试线路对于连接器的电阻阻值影响，提高测试的精确性和稳定性，同时也不会对连接器的镀金面产生压痕。
22.进一步地，如图1所示，为本实用新型所提供的一种真四线测试针模100的立体结构示意图。本实用新型所提供的一种真四线测试针模100，包括承载待测产品30的针模模组10以及设置于针模模组10内的若干组可与待测产品30接触的探针模组20。该针模模组10设置于柔性电路板的测试设备中，可以对放置于其上的待测产品进行电阻阻值的测试。其中针模模组10用于承载和定位待测产品30，并在测试过程中，将探针模组20与待测产品30接触，从而完成测试过程。该探针模组20在非测试状态下，位于针模模组10内部，仅仅在测试
状态下，可以由下至上伸出，并与待测产品30接触实现电连接，从而完成对于待测产品30的电阻阻值的测试。
23.如图2所示，为本实用新型所提供的一种真四线测试针模100所测试的待测产品30的立体结构示意图。本实用新型所提供的真四线测试针模100中就是针对柔性电路板进行测试，尤其是针对柔性电路板上的连接器进行测试。如图2所示，该待测产品30上设置有连接器31，连接器31上设置有若干个测试触点32。如图2所示，该连接器31上同时具有两排测试触点32，并且每个测试触点32并列组成一排，每一排上同时具有16个测试触点32。每个测试触点32为同一个镀金面，该探针模组20需要接触到同一个镀金面上，完成测试。本实用新型所提供的真四线测试针模100中位于针模模组10内的探针模组20的数量与待测产品30相关，即待测产品30的连接器31上具有的测试触点32的数量与针模模组10中探针模组20的数量一致，并且该探针模组20与测试触点32一一对应设置，使得每个探针模组20的位置与其对应的测试触点32的位置上下对齐。如图3所示，为本实用新型所提供的一种真四线测试针模100的全剖视图。为了展示其内部结构，该真四线测试针模100中的探针模组20仅显示有一组，在实际测试工况下，该探针模组20与待测产品30上的测试触点32的数量一致，且位置上下对应。
24.进一步地，如图3所示，本实用新型所提供的真四线测试针模100中的探针模组20包括两根可同时接触同一测试触点32的长探针21以及两条分别与长探针21电连接的针套线22。每一组探针模组20中均包括两根长探针21以及与之电连接的针套线22。并且每一组探针模组20同时接触待测产品30中的同一测试触点32上，从而实现同一点位上具有两根探针进行测试的真四线测试。
25.进一步地，如图1所示，本实用新型所提供的一种真四线测试针模100中的针模模组10包括由上至下依次叠加的第一针模11、第二针模12、针模夹层13、第三针模14、第四针模15和第五针模16。该针模模组10中的第一针模11和第二针模12通过弹性导柱、浮动铜套以及直线轴承实现相对活动连接，并实现第一针模11和第二针模12之间的弹性连接，使得在测试状态下，可以将探针模组20由第一针模11的顶部伸出。而第三针模14、第四针模15和第五针模16三者通过连接件相对固定连接。该第二针模12和第三针模14之间通过支撑柱17固定连接，并在其中设置有针模夹层13。而本实用新型所提供的针模模组10中的针模夹层13固定于第三针模14的上表面，并通过螺钉、销钉等连接件与第三针模14固定连接。该针模夹层13可以根据连接件和垫片的配合实现相对于第二针模12的位置调整，从而通过针模夹层13控制探针模组20中的长探针21的弯曲变形量。利用针模模组10中的针模夹层13来控制长探针21的弯曲变形量可以有效地防止探针模组20中的两根长探针21之间发生接触而导致短路的问题，从而提高真四线测试针模100的测试的稳定性。
26.如图1所示，在第一针模11的顶面上设置有可供待测产品30放置的凹槽，该待测产品30放置于第一针模11的顶面的凹槽内，如图3所示，该第一针模11上设置有可供长探针21伸出的第一安装孔111。在测试状态下，异地针模11和第二针模12相互靠拢，从而将位于第一安装孔111内的长探针21由第一针模11的顶面伸出，并于位于第一针模11顶面的待测产品30接触而进行测试。
27.进一步地，如图3所示，本实用新型所提供的针模模组10中，该针模夹层13固定于第三针模14的顶部，针模夹层13在靠近第三针模14的一侧侧面上设置有安装凸起131，于安
装凸起131上设置有若干个可供长探针21穿设的第二安装孔132。该针模夹层13在长探针21穿设的区域内设置有安装凸起131，从而增加了长探针21的穿设长度，更多的控制长探针21的弯曲变形量。该安装凸起131上所设置的第二安装孔132由上至下穿设于针模夹层13上，并且该针模夹层13上所设置的第二安装孔132的数量与测试针模100中的所有探针模组20的总和一致。
28.具体地，如图3所示，针模模组10中的第三针模14在靠近针模夹层13的一侧侧面设置有可供针模夹层13的安装凸起131插入的安装槽141，于安装槽141内设置有可供长探针21穿设的第三安装孔142。该针模模组10中的安装槽141正是用于容纳针模夹层13中的安装凸起131，且该如图3所示，该安装槽141的深度大于该安装凸起131的高度，使得当针模夹层13在与第三针模14固定连接时，可以具有一定的调节空间，为针模夹层13控制长探针21提供一定的调节量。
29.具体地，如图3所示，该针模模组10中的第三针模14和第二针模12之间设置有若干个支撑柱17，支撑柱17的顶部与第二针模12固定连接，支撑柱17的底部与第三针模14固定连接，针模夹层13套设于支撑柱17上。针模夹层13可以在支撑柱17所在的竖直空间内调整其与第二针模12之间的相对位置。当针模夹层13固定于第三针模14的顶部时，可以在第三针模14和针模夹层13之间设置垫片等部件，来调整针模夹层13相对于第二针模12的距离，从而来调整长探针21在针模模组10内的位置，进而通过针模夹层13来控制长探针21在针模模组10中的弯曲量。
30.进一步地，如图3所示，该针模模组10中的第四针模15和第五针模16上均设置有可供针套线22穿设的第四安装孔18，针套线22由下至上穿过第四针模15后与长探针21抵接。该第四针模15的顶面上设置有凹槽，当第四针模15与第三针模14固定连接时，该凹槽为探针模组20中的长探针21和针套线22电连接的安装空间，其中该针套线22由下至上穿过第四针模15的第四安装孔18延伸至该凹槽内。而长探针21由上至下穿过第三针模14的第三安装孔142延伸至该凹槽内。长探针21和针套线22在该凹槽内接触而实现电连接。
31.进一步地，如图4所示，为本实用新型所提供的探针模组20中的长探针21的立体结构示意图。本实用新型所提供的长探针21包括由上至下依次连接的头端211、中段212和尾端213。如图4所示，该中段212的距离较长，因此省略标识。本实施例中，该长探针21的整体长度为30mm，其中头端211的总长度为3mm，尾端213的长度为0.2mm，而位于中段212的长度最大。
32.具体地，如图4所示，该长探针21的头端211具有与待测产品30的测试触点32接触的尖端2111，该尖端2111可以在测试时完全伸出第一针模11的第一安装孔111，并与待测产品30接触。而该长探针21的中段212的外表面设置有绝缘层，使得长探针21在相对移动或者接触待测产品30时，以为弯曲而两者相互触碰时，不会出现短路。该长探针21的尾端213具有与中段212固定连接的直线段2131以及位于直线段2131末端可与针套线22抵接的球头2132。该尾端213上的直线段2131外侧没有绝缘层，因此在测试时，若长探针21的弯曲量过大时，两根相邻的长探针21的直线段2131容易发生触碰而导致短路，因此通过针模夹层13来控制长探针21的弯曲量就可以有效地避免尾端213上发生触碰短路的问题。而该尾端213的球头2132可以增大长探针21与针套线22接触时的接触面积，确保长探针21与针套线22的电连接。
33.具体地，如图3所示，该探针模组20中的长探针21的头端211穿设于第一针模11和第二针模12之间，头端211的尖端2111可由第一针模11的第一安装孔111伸出。该头端211的直径为0.07mm，从而使得同一个探针模组20中的两根长探针21均可以扎在宽度为240um的连接器31的测试触点32上。
34.具体地，如图3所示，长探针21的尾端213的直线段2131穿设于第三针模14内，尾端213的球头2132位于第三针模14靠近第四针模15一侧的侧面上。该长探针21的尾端213位于第三针模14的底面，第三针模14的球头2132卡在第三针模14的第三安装孔142的底部，从而防止长探针21从针模模组10中松脱。其中，该长探针21的尾端213的直线段2131直径为0.07mm，球头2132的直径为0.13mm。该尾端213的球头2132与针套线22在第三针模14的底部接触实现电连接。
35.本实用新型所提供的一种真四线测试针模100，具有针模模组10和探针模组20，每个探针模组20中均具有两根长探针21，两根长探针21可以扎在宽度为240um的测试触点32上，完成对于柔性电路板的真四线测试，尤其适用于电阻阻值小的柔性电路板的电阻测试中使用，提高测试的精确性，还可以控制接触的压力，不会在测试触点32上产生压痕。
36.以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。