闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质与流程

1.本技术涉及非易失性存储器技术领域，具体而言，涉及闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质。


背景技术：

2.挂起（suspend）命令是非易失性存储器的一种常见命令，但是要确保该功能正常，需要进行大量的专项验证。
3.现有的挂起功能的验证方法，一般是通过在相应挂起功能可插入运行的算法中的每一个流程状态发送挂起命令，然后根据对应的状态跳转和算法操作获取的仿真结果来验证芯片挂起功能是否正常，若验证结果正常，即认为该芯片的挂起功能正常，但实际上在算法过程中，对每一个流程状态发送挂起（suspend），闪存芯片都会进行不同的状态跳转和算法操作，而且在同一流程状态中不同的验证时刻发送挂起命令也可能产生不同的状态跳转和算法操作，所以现有的验证方法即使验证成功，也会由于发送验证时刻的不同存在验证疏漏，难以确保挂起功能在使用期间能正常使用。
4.针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。


技术实现要素：

5.本技术的目的在于提供闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。
6.第一方面，本技术提供了一种闪存芯片挂起功能的验证方法，方法包括以下步骤：s1、基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；s2、向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；s3、在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，返回步骤s1，在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
7.本技术通过利用循环次数设定验证时间间隔，每次循环都是在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送一个挂起及恢复命令，使得每次都验证目标状态机的一个时间阶段的挂起功能，相当于是对多个时间阶段的独立验证，即每次验证挂起功能都互不干扰，而且所有验证时刻结合起来基本上覆盖了目标状态机运行的各个时间阶段，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。
8.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，发送挂起及恢复命令的时刻为时钟的上升沿的时刻。
9.通过将发送挂起及恢复命令的时刻设置为时钟的上升沿能准确地验证挂起功能。
10.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，算法指令包括若干个目标状态机。
11.本技术通过验证算法指令在多个目标状态机阶段中的挂起功能，能节省时间。
12.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，目标状态机为闪存芯片中最底层命令的算法状态机。
13.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，发送挂起及恢复命令的步骤包括：发送挂起命令，并在预设恢复间隔后发送恢复命令。
14.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，算法指令基于以下情况结束：算法指令在挂起及恢复命令执行结束经过预设重置间隔后基于重置指令重置算法指令时结束，或是在算法指令运行完毕时结束。
15.可选地，本技术的闪存芯片挂起功能的验证方法，验证时间间隔与循环次数正相关的关系式为一元一次函数。
16.第二方面，本技术还提供闪存芯片挂起功能的验证装置，装置包括：设定模块，用于基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；发送模块，用于向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；循环模块，用于在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，再次启动设定模块、发送模块和循环模块，否则启动检查模块；检查模块，用于在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
17.第三方面，本技术还提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，存储器存储有计算机可读取指令，当计算机可读取指令由处理器执行时，运行如上述第一方面提供的方法中的步骤。
18.第四方面，本技术提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时运行如上述第一方面提供的方法中的步骤。
19.由上可知，本技术提供了一种闪存芯片挂起功能的验证方法、装置、设备及介质，其中，方法通过利用循环次数设定验证时间间隔，每次循环都是在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送一个挂起及恢复命令，使得每次都验证目标状态机的一个时间阶段的挂起功能，相当于是对多个时间阶段的独立验证，即每次验证挂起功能都互不干扰，而且所有验证时刻结合起来基本上覆盖了目标状态机运行的各个时间阶段，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。
附图说明
20.图1为本技术实施例提供的闪存芯片挂起功能方法的一种流程图。
21.图2为本技术实施例提供的闪存芯片挂起功能装置结构示意图。
22.图3为本技术实施例提供的电子设备结构示意图。
23.附图标记：201、设定模块；202、发送模块；203、循环模块；204、检查模块； 31、处理器；32、存储器；33、通信总线。
具体实施方式
24.下面将结合本技术实施例中附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
25.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
26.第一方面，如图1所示，本技术提供了一些实施例的闪存芯片挂起功能的验证方法，该方法包括以下步骤：s1、基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；s2、向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；s3、在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，返回步骤s1，在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
27.具体地，向闪存芯片执行算法指令到发送挂起及恢复命令的时间段为验证时间间隔；验证时间间隔与循环次数正相关是指验证时间间隔随着循环次数增大而增大。
28.具体地，算法指令是按照时序切换的状态机来运行的；目标状态机是需要验证的状态机，一般而言，算法指令在执行挂起及恢复命令后出错的情况主要集中在某些状态机上，目标状态机一般是基于执行挂起功能时出错较多的状态机、或是对挂起功能验证完备性要求较高的状态机、或是涉及多个状态跳转的状态机等等来选定的；挂起及恢复命令包括挂起命令和恢复命令，两者为配套使用的命令，在执行挂起功能时会暂停当前的算法指令，并在执行恢复命令后，继续执行该算法指令。
29.具体地，验证挂起功能实际上是验证目标状态机进行挂起及恢复命令处理之后闪存芯片运行到某些状态机中有没有出现不正常的跳转或是有没有出现卡死的情况，以确保挂起功能能正常操作。
30.具体地，应当理解的是，本技术实施例的方法通过监控闪存芯片执行挂起及恢复命令前后算法的跳转情况，或基于闪存芯片运行生成的log数据，或基于闪存芯片执行挂起及恢复命令前后电压的变化情况，或通过外部连接的逻辑分析仪进行逻辑分析来检查闪存芯片的运行结果，判断挂起及恢复命令是否正常执行，即验证挂起功能是否正常。
31.具体地，本技术实施例基于循环次数来设定验证时间间隔，循环地向闪存芯片发送的算法指令是同一算法指令。
32.本技术通过利用循环次数设定验证时间间隔，每次循环都是在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送一个挂起及恢复命令，使得每次都验证目标状态机的一个时间阶段的挂起功能，相当于是对多个时间阶段的独立验证，即每次验证挂起功能都互不干扰，而且所有验证时刻结合起来基本上覆盖了目标状
态机运行的各个时间阶段，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。
33.在一些优选的实施方式中，验证时间间隔与循环次数正相关的关系式为一元一次函数、指数函数等等；本技术实施例优选为验证时间间隔与循环次数正相关的关系式为一元一次函数，一元一次函数的关系式优选为y=kx(k》0),其中，x为循环次数，y为验证时间间隔，k为比例常数；例如，一开始循环次数为零时，设定时间间隔为零，即向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行时，发送挂起及恢复命令。
34.在一些优选的实施方式中，由实际经验可知，芯片自身执行算法指令是依赖时钟变化进行的，一般情况下算法指令在时钟变化的时机下执行挂起功能更容易出错，即闪存芯片在执行挂起时，一般是在时钟上升沿和下降沿更容易出现不正常的跳转和卡死的情况，可以基于时钟变化的上升沿和/或下降沿的时刻发送挂起及恢复命令；具体地，一般将发送挂起及恢复命令的时刻设置为时钟的上升沿时刻或下降沿时刻，能验证更完备；其中，因为芯片运行是基于上升沿发送命令或者触发状态机切换的，所以将发送挂起及恢复命令的时刻优选采用为时钟上升沿的时刻，既能节省设备资源，也能完备验证。
35.在一些优选的实施方式中，发送挂起及恢复命令的步骤包括：发送挂起命令，并在预设恢复间隔后发送恢复命令。
36.具体地，预设恢复间隔为闪存芯片执行挂起命令所需要的时间，向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行该算法指令至目标状态机运行，而且运行至s1步骤中基于循环次数所设定的验证时刻，发送一挂起命令，在预设恢复间隔之后发送恢复命令。
37.在一些优选的实施方式中，算法指令可以是基于以下情况结束：算法指令在挂起及恢复命令执行结束经过预设重置间隔后基于重置指令重置算法指令时结束，或是在算法指令运行完毕时结束。
38.具体地，预设重置间隔为发起挂起及恢复命令之后至基于重置指令重置算法时所用的时间，预设重置间隔大于预设恢复间隔，预设重置间隔需要根据验证所设定。
39.具体地，本技术实施例的算法指令结束可以是向闪存芯片发送算法指令，闪存芯片执行该算法指令至目标状态机运行了s1步骤中基于循环次数设定的验证时间间隔后，发送挂起命令，在预设恢复间隔后发送恢复命令，直到该算法指令运行完毕之后结束，循环次数加一，若循环次数小于预设阈值时，则返回步骤s1，若循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果；算法指令结束还可以是向闪存芯片发送算法指令，闪存芯片执行该算法指令至目标状态机运行了s1步骤中基于循环次数设定的验证时间间隔时，发送挂起命令，在预设恢复间隔后发送恢复命令，并经过预设重置间隔之后，基于重置指令重置该算法指令结束；本技术实施例优选算法指令在挂起及恢复命令执行结束经过预设重置间隔后基于重置指令重置算法指令结束，可节省时间。
40.在一些优选的实施方式中，算法指令包括若干个目标状态机。
41.具体地，目标状态机需要根据验证所设定，当一个算法指令中包含多个目标状态机时，可以是一次性对多个目标状态机执行上述s1-s3步骤，但还需要注意的是，此时算法指令结束情况是基于该算法指令运行完毕之后再结束；还可以是对第一个目标状态机循环次数大于预设阈值时，再对下一个目标状态机执行上述s1-s3步骤。
42.具体地，多个目标状态机可以是连续的，也可以是不连续的。
43.在一些优选的实施方式中，目标状态机为闪存芯片中最底层命令的算法状态机。
44.具体地，一个算法指令包含多层状态机，上层状态机由底层状态机进行触发的，也就是说明底层状态机是否正常运行决定了上层状态机是否能正常运行，而且根据状态机的分布，越底层的状态机类型最多，所以利用最底层命令的算法状态机作为本技术实施例的目标状态机，能更加准确的验证挂起功能。
45.第二方面，如图2所示，为本技术实施例的闪存芯片挂起功能的验证装置结构示意图，装置包括：设定模块201，用于基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；发送模块202，用于向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；循环模块203，用于在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，再次启动设定模块、发送模块和循环模块，否则启动检查模块；检查模块204，用于在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
46.本技术实施例的闪存芯片挂起功能的验证装置通过利用循环次数设定验证时间间隔，每次循环都是在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送一个挂起及恢复命令，使得每次都验证目标状态机的一个时间阶段的挂起功能，相当于是对多个时间阶段的独立验证，即每次验证挂起功能都互不干扰，而且所有验证时刻结合起来基本上覆盖了目标状态机运行的各个时间阶段，提高了对闪存芯片挂起功能验证的完备性。
47.具体地，设定模块201先基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关，再通过发送模块202向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，再通过循环模块203在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，再次启动设定模块、发送模块和循环模块，否则启动检查模块。
48.第三方面，参照图3，图3所示为本技术提供的一种电子设备，包括：处理器31和存储器32，处理器31和存储器32通过通信总线33和/或其他形式的连接机构（未标出）互连并相互通讯，存储器32存储有处理器31可执行的计算机程序，当电子设备运行时，处理器31执行该计算机程序，以执行上述实施例的任一项可选的实现方式，以实现以下功能：s1、基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；s2、向闪存芯片发送算法指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；s3、在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，返回步骤s1，在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
49.第四方面，本技术提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器31执行时，执行上述实施例的任一项可选的实现方式中的方法，以实现以下功能：s1、基于循环次数设定验证时间间隔，验证时间间隔与循环次数正相关；s2、向闪存芯片发送算法
指令，在闪存芯片执行算法指令至目标状态机运行且目标状态机运行了验证时间间隔时，发送挂起及恢复命令，目标状态机为待验证挂起功能的状态机；s3、在算法指令结束后，令循环次数加一，在循环次数小于预设阈值时，返回步骤s1，在循环次数大于或等于预设阈值时，检查闪存芯片的运行结果。
50.在本技术所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
51.另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
52.再者，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
53.在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
54.以上仅为本技术的实施例而已，并不用于限制本技术的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。