一种半导体光敏元件测试装置的制作方法

1.本实用新型属于传感器测试设备技术领域，更具体地说，特别涉及一种半导体光敏元件测试装置。


背景技术：

2.传感器是一种检测装置，能够将感受到的被测信号转化为电信号或其他所需信息，并将该电信号或信息输出从而满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。
3.其中光电传感器，为光敏元件，其利用光电效应，将光信号转换为电信号；光电传感器通常以精度高，反应快等优点，特别是半导体光敏元件，且半导体光敏元件有灵敏度、探测率、光照率、光照特性、伏安特性、光谱特性、时间和频率响应特性以及温度特性等，它们主要由材料、结构和工艺决定，因此在半导体光敏元件生产初品时需要对其进行性能检测，从而根据需求改变所需的材料和工艺，现所使用的半导体光敏元件检测直接进行照射，无法改变其光线入射角度以及数量，对于一些对接受光线的玻璃盖片有改进光敏元件，则导致其检测结果不够精确。
4.于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种半导体光敏元件测试装置，以期达到更具有更加实用价值性的目的。


技术实现要素：

5.本实用新型提供一种半导体光敏元件测试装置，以解决对于一些对接受光线的玻璃盖片有改进光敏元件，现检测设备的检测结果不够精确的问题。
6.本实用新型一种半导体光敏元件测试装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：
7.一种半导体光敏元件测试装置，包括底座，所述底座中部垂直于长度方向开设有滑槽，所述底座上位于滑槽两边分别为输出区与感应区；
8.位于输出区的底座上设置有灯光放置组件；
9.位于感应区的底座上设置有信号采集器，所述信号采集器上电性连接有朝向输出区的光电传感器，输出区与感应区之间设置有遮光板，所述滑槽内滑动设置有承载板，所述遮光板放置在承载板上，所述承载板上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽，多个透光测试槽内开设有大小、密度各不相同的透光孔。
10.进一步的，所述灯光放置组件包括置光环，所述置光环两边分别设置有固定座与锁扣，所述置光环上方设置有可包围置光环的绑带，所述绑带一端绕设在固定座上，另一端卡设在锁扣内。
11.进一步的，所述信号采集器前端设置有圆形的连接插座，所述光电传感器插设在连接插座内，所述连接插座与所述光电传感器外套设有引光筒，所述引光筒一端抵接在遮光板上，另一端内部与连接插座周侧螺纹连接。
12.进一步的，所述承载板顶面设置有限位条，所述遮光板底端开设有与限位条对应
的卡槽。
13.进一步的，所述限位条阵列分布有多个。
14.进一步的，所述信号采集器上设置有显示屏。
15.与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：
16.1、底座上左右分为输出区与感应区，输出区上的灯光放置组件放置灯，灯光向感应区照射在遮光板上，遮光板上通过透光测试槽可将光线透出照射在光电传感器上，即可通过信号采集器对光电传感器进行检测，而遮光板可跟随承载板滑动，即可将不同的透光测试槽移动到光电传感器前方，从而可利用不同的入射光线对光电传感器进行检测，最适用于玻璃盖片改进的光电传感器检测。
17.2、通过引光筒的设置，引光筒可与遮光板接触，使得从透光测试槽射入的光线经过引光筒照射在光电传感器上，避免了周围环境光线对光电传感器的影响。
附图说明
18.图1是本实用新型一种半导体光敏元件测试装置的立体图。
19.图2是本实用新型一种半导体光敏元件测试装置的爆炸图。
20.图3是本实用新型中遮光板的结构示意图。
21.图中，部件名称与附图编号的对应关系为：
22.1、底座；2、信号采集器；3、显示屏；4、遮光板；5、固定座；6、绑带；7、置光环；8、锁扣；9、连接插座；10、引光筒；11、光电传感器；12、滑槽；13、承载板；14、限位条；16、透光测试槽；17、卡槽。
具体实施方式
23.下面结合附图和实施例对本实用新型的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不能用来限制本实用新型的范围。
24.在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
25.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
26.实施例：
27.如附图1至附图3所示：
28.本实用新型提供一种半导体光敏元件测试装置，包括底座1，底座1中部垂直于长度方向开设有滑槽12，底座1上位于滑槽12两边分别为输出区与感应区，输出区用于提供需要的特点光线，感应区用于安装检测光敏元件；
29.位于输出区的底座1上设置有灯光放置组件，在本实施例中，灯光放置组件包括置光环7，置光环7呈半圆形环，且有多个并排设置，用于放置一些柱体灯、电筒灯等，置光环7两边分别设置有固定座5与锁扣8，置光环7上方设置有可包围置光环7的绑带6，绑带6与置光环7相互配合可固定光源位置，使得光源能够直射感应区，且便于拆装光源，在本实施例中，绑带6一端绕设在固定座5上，另一端卡设在锁扣8内，可如背包带一样卡设调整绑带6的松紧。
30.位于感应区的底座1上设置有信号采集器2，信号采集器2上电性连接有朝向输出区的光电传感器11，光电传感器11将收集到的光信号转换为电信号提供给信号采集器2，从而可对光电传感器11进行检测，且信号采集器2上设置有显示屏3，可通过数值来判断光电传感器11的检测效果；
31.输出区与感应区之间设置有遮光板4，遮光板4用于遮挡输出区的光线，从而可对试验所需的光线进行调节；
32.滑槽12内滑动设置有承载板13，遮光板4放置在承载板13上，遮光板4可通过承载板13在滑槽12内滑动，可通过手动调节遮光板4位置，承载板13上位于输出区一面阵列分布有多个透光测试槽16，多个透光测试槽16内开设有大小、密度各不相同的透光孔，通过不同的透光测试槽16可将光源以不同形式入射在光电传感器11上，使得信号采集器2呈现不同数据，从而判断光电传感器11的精密度。
33.其中，信号采集器2前端设置有圆形的连接插座9，光电传感器11插设在连接插座9内，便于更换安装光电传感器11，连接插座9与光电传感器11外套设有引光筒10，引光筒10一端抵接在遮光板4上，另一端内部与连接插座9周侧螺纹连接，使得引光筒10安装更加便捷，引光筒10可与遮光板4接触，使得从透光测试槽16射入的光线经过引光筒10照射在光电传感器10上，避免了周围环境光线对光电传感器11的测试造成影响。
34.其中，承载板13顶面阵列分布有多个限位条14，遮光板4底端开设有与限位条14对应的卡槽17，限位条14的设置限制了遮光板4与承载板13水平的相对运动，避免遮光板4在承载板13上滑落，导致透光测试槽16位置降低影响入射光位置。
35.本实用新型的实施例是为了示例和描述起见而给出的，而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用，并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。