终端测试方法、计算机装置及存储介质与流程

1.本技术涉及通信技术领域，尤其涉及一种终端测试方法、计算机装置及存储介质。


背景技术：

2.现有的移动终端测试技术中，多是利用“主板 精密测试仪器”的主流测试方法。但是这种测试方法所需的精密射频测试仪器的价格非常昂贵，测试前需要反复校准仪器和终端，耗费许多时间和人力，而且测试中可能会因仪器校准不到位或突然性失效而影响终端测试结果。


技术实现要素：

3.鉴于以上内容，有必要提供一种终端测试方法、计算机装置及存储介质，可以利用简易快捷的测试回路和测试系统，提高终端检测的准确性。
4.所述终端测试方法包括：确定预设数量的待测终端；利用预先建立的终端测试环境，对每个所述待测终端进行检测，获得所述预设数量的检测结果，在所述预先建立的终端测试环境中，测试终端、第一有线路径、衰减器、第二有线路径依序连接，每个所述检测结果包括一个所述待测终端的实际发射功率和/或接收信号强度；基于所述预设数量的检测结果所包括的所述实际发射功率获得第一拟合函数，和/或基于所述预设数量的检测结果所包括的所述接收信号强度获得第二拟合函数；及控制目标终端发射信号，利用所述第一拟合函数基于所述目标终端所发射的信号计算该目标终端的实际发射功率，和/或控制所述目标终端接收信号，利用所述第二拟合函数计算该目标终端的接收信号强度。
5.可选地，所述预设数量的待测终端和所述目标终端拥有相同的属性且支持同一有线信号传输协议。
6.可选地，在利用所述预先建立的终端测试环境对每个所述待测终端进行检测之前，所述方法还包括：利用矢量网络分析仪分别对所述第一有线路径、所述第二有线路径和所述衰减器进行检测，获得所述第一有线路径的第一衰减值s1、所述第二有线路径的第二衰减值s2和所述衰减器的第三衰减值s3。
7.可选地，所述方法还包括：计算所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径的总衰减值s，所述s的计算公式为：s＝s1 s2 s3。
8.可选地，所述利用所述终端测试环境对每个所述待测终端进行检测，获得所述预设数量的检测结果包括：获得所述预设数量的第一数据，包括：控制每个所述待测终端以第一初始发射功率x0发射第一信号，所述第一信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径衰减后到达所述测试终端；获取每个所述待测终端的所述第一信号的实际发射功率y，将每个所述待测终端的所述第一初始发射功率x0和所述第一信号的实际发射功率y作为所述第一数据；和/或获得所述预设数量的第二数据，包括：控制每个所述测试终端以第二初始发射功率t0发射第二信号，所述第二信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径衰减后到达每个所述待测终端；获取每个所述待测终端的所述第二
信号的接收信号强度f，将每个所述测试终端的第二初始发射功率t0和所述第二信号的接收信号强度f作为所述第二数据。
9.可选地，所述获取每个所述待测终端的所述第一信号的实际发射功率y包括：当所述测试终端接收到所述第一信号时，响应用户的操作，从所述测试终端对应的指令集中获取该测试终端的第一信号参数，所述第一信号参数包括所述第一信号的实际发射功率y；和/或所述获取每个所述待测终端的所述第二信号的接收信号强度f包括：当所述待测终端接收到所述第二信号时，响应用户的操作，从所述待测终端对应的指令集中获取该待测终端的第二信号参数，所述第二信号参数包括所述第二信号的接收信号强度f。
10.可选地，所述基于所述预设数量的检测结果所包括的所述实际发射功率获得第一拟合函数包括：按照预设的第一规则对所述预设数量的第一数据进行拟合，获得所述第一拟合函数，其中，所述预设的第一规则包括：计算所述第一信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径到达所述测试终端时，所述第一信号衰减后的功率x，所述功率x的计算公式为：x＝x0-s，获得所述预设数量的所述功率x；将所述功率x作为第一自变量，将所述第一信号的实际发射功率y作为与所述第一自变量对应的第一因变量进行拟合；和/或所述基于所述预设数量的检测结果所包括的所述接收信号强度获得第二拟合函数包括：按照预设的第二规则对所述预设数量的第二数据进行拟合，获得所述第二拟合函数，其中，所述预设的第二规则包括：计算所述第二信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径到达所述待测终端时，所述第二信号衰减后的功率t，所述功率t的计算公式为：t＝t0-s，获得所述预设数量的所述t；将所述功率t作为第二自变量，将所述第二信号的接收信号强度f作为与所述第二自变量对应的第二因变量进行拟合。
11.可选地，所述控制目标终端发射信号，利用所述第一拟合函数基于所述目标终端所发射的信号计算该目标终端的实际发射功率包括：控制所述目标终端发射第三信号，所述第三信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径衰减后到达所述测试终端，利用所述第一拟合函数，获得所述目标终端的所述第三信号的实际发射功率；和/或所述控制所述目标终端接收信号，利用所述第二拟合函数计算该目标终端的接收信号强度包括：控制所述测试终端发射第四信号，所述第四信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径衰减后到达所述目标终端，利用所述第二拟合函数，获得所述目标终端的所述第四信号的接收信号强度。
12.所述计算机可读存储介质存储有至少一个指令，所述至少一个指令被处理器执行时实现所述终端测试方法。
13.所述计算机装置包括存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有至少一个指令，所述至少一个指令被所述至少一个处理器执行时实现所述终端测试方法。
14.相较于现有技术，所述终端测试方法、计算机装置及存储介质，可以利用简易快捷的测试回路和测试系统替代昂贵且不易维护的射频测试仪器，降低时间成本和人工成本，提高终端检测的准确性。
附图说明
15.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本
申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
16.图1是本技术较佳实施例的终端测试方法的流程图。
17.图2是本技术较佳实施例的计算机装置的架构图。
18.图3举例说明利用终端测试环境对待测终端进行测试。
19.图4举例说明利用终端测试环境对目标终端进行测试。
20.主要元件符号说明
21.计算机装置3测试系统30存储器31处理器32通信模块33测试终端4第一有线路径5衰减器6第二有线路径7第一夹具8第二夹具9待测终端10目标终端11
22.如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。
具体实施方式
23.为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施例对本技术进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
24.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
25.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。
26.参阅图1所示，为本技术较佳实施例的终端测试方法的流程图。
27.在本实施例中，所述终端测试方法可以应用于计算机装置(例如图2所示的计算机装置3)中，对于需要进行终端测试的计算机装置，可以直接在计算机装置上集成本技术的方法所提供的用于终端测试的功能，或者以软件开发工具包(software development kit，sdk)的形式运行在计算机装置上。
28.如图1所示，所述终端测试方法具体包括以下步骤，根据不同的需求，该流程图中步骤的顺序可以改变，某些步骤可以省略。
29.步骤s1、计算机装置确定预设数量的待测终端。
30.在一个实施例中，所述待测终端可以是移动终端、终端主板、终端芯片等；所述预设数量的待测终端(例如，50个主板)中的所有待测终端属于同一生产厂商、同一批次(同一次投料、同一条生产线、同一班次)，具有相同的属性(例如，芯片型号、内部损耗参数等)。
31.在一个实施例中，所述待测终端的基带芯片厂商已知，例如，高通、联发科等，计算机装置响应用户的输入操作(例如，输入每个待测终端的芯片型号)，确定所述预设数量的待测终端。
32.步骤s2、计算机装置利用预先建立的所述终端测试环境，对每个所述待测终端进行检测，获得所述预设数量的检测结果，在所述预先建立的终端测试环境中测试终端4、第一有线路径5、衰减器6、第二有线路径7依序连接，每个所述检测结果包括一个所述待测终端的实际发射功率和/或接收信号强度。
33.在一个实施例中，例如图3所示，用户将测试终端4、第一有线路径5、衰减器6、第二有线路径7依序进行连接，获得所述预先建立的终端测试环境，其中所述第二有线路径7的一端与所述衰减器6连接，另一端用于连接待测终端。
34.在一个实施例中所述测试终端和所述待测终端支持同一有线信号传输协议；所述测试终端的基带芯片厂商已知，例如，高通、联发科等。
35.在一个实施例中，例如图3所示，测试终端4安置在第一夹具8内，所述第一夹具8为安置在其中的所述测试终端4供电，所述测试终端4通过所述第一夹具8的线路接口连接所述第一有线路径5；所述待测终端10安置在第二夹具9内，所述第二夹具9为安置在其中的所述待测终端10供电，所述待测终端10通过所述第二夹具9的线路接口连接所述第二有线路径7。所述第一有线路径5和所述第二有线路径7可以是射频测试线、信号线等。
36.在一个实施例中，在利用所述终端测试环境对每个所述待测终端进行检测之前，所述方法还包括：利用矢量网络分析仪分别对所述第一有线路径5、所述第二有线路径7和所述衰减器6进行检测，获得所述第一有线路径5的第一衰减值s1、所述第二有线路径7的第二衰减值s2和所述衰减器6的第三衰减值s3。
37.在一个实施例中，所述s1、所述s2为固定值。所述终端测试环境的测试范围为[-45分贝，24分贝]，所述衰减器的衰减值可以进行调节，以满足所述终端测试环境的测试范围；所述s3为所述衰减器根据所述测试范围调节后的值。所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径的总衰减s的计算公式为：s＝s1 s2 s3，其中，所述s1与所述s2的和为固定值。
[0038]
在一个实施例中，在利用所述终端测试环境对任一所述待测终端进行检测时，将该任一待测终端通过所述第二夹具与所述第二有线路径连接，形成终端测试回路，对所述任一待测终端进行检测，获得该任意待测终端的检测结果。
[0039]
具体地，当所述任一待测终端检测完成之后，用另一待测终端替换所述第二夹具中所述任一待测终端，即将该另一待测终端与所述第二有线路径的一端连接，形成新的终端测试回路，对所述另一待测终端进行检测；重复此过程，直至完成对所述预设数量的待测终端中的每个待测终端的检测，获得所述预设数量的检测结果。
[0040]
在一个实施例中，计算机装置获取预设数量的第一数据，包括：控制每个所述待测终端以第一初始发射功率x0发射第一信号，所述第一信号经由所述第二有线路径、所述衰
减器和所述第一有线路径衰减后到达所述测试终端。
[0041]
在一个实施例中，所述第一信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径衰减后到达所述测试终端后，还会因为所述测试终端的内部损耗而再次衰减，也即所述测试终端接收到的所述第一信号是经由所述测试终端的内部损耗而再次衰减后的第一信号。当所述测试终端接收到所述第一信号时，用户可以从所述测试终端的基带芯片厂商的信号的指令集中获取所述第一信号的参数(为便于描述，所述第一信号的参数称为“第一信号参数”)。所述第一信号参数可以是所述测试终端接收到的所述第一信号的信号功率，例如，所述第一信号的实际发射功率y。
[0042]
在一个实施例中，当所述待测终端发射所述第一信号时，会将第一初始发射功率x0记录在自己的寄存器中(例如，当x0＝24dbm时，转化为十六进制存储在待测终端寄存器的值为18hex)；当所述测试终端接收到所述第一信号时，会响应用户的操作将所述第一信号参数(即所述第一信号的实际发射功率y)记录在自己的寄存器中。
[0043]
在一个实施例中，计算机装置从所述待测终端的寄存器中获取所述x0，以及从所述测试终端的寄存器中获取所述y，并将所述x0和所述y作为所述第一数据进行保存。需要说明的是，计算机装置保存所述第一数据时，可以将其转化为十进制数字进行保存。
[0044]
在一个实施例中，计算机装置获取预设数量的第二数据，包括：控制每个所述测试终端以第二初始发射功率t0发射第二信号，所述第二信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径衰减后到达每个所述待测终端。
[0045]
在一个实施例中，所述第二信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径衰减后到达所述待测终端后，所述第二信号还会因为所述待测终端的内部损耗而再次衰减，也即所述待测终端接收到的所述第二信号是经由所述待测终端的内部损耗而再次衰减后的第二信号。当所述待测终端接收到所述第二信号时，用户可以从所述待测终端的基带芯片厂商的信号的指令集中获取所述第二信号的参数(为便于描述，所述第二信号的参数称为“第二信号参数”)。所述第二信号参数可以是所述待测终端接收到的所述第二信号的信号强度，例如，所述第二信号的接收信号强度f。
[0046]
在一个实施例中，当所述测试终端发射所述第二信号时，会将第二初始发射功率t0记录在自己的寄存器中(例如，当t0＝15dbm时，转化为十六进制存储在测试终端寄存器的值为0fhex)；当所述待测终端接收到所述第二信号时，会响应用户的操作将所述第二信号参数(即所述第二信号的接收信号强度f)记录在自己的寄存器中。
[0047]
在一个实施例中，计算机装置从所述测试终端的寄存器中获取所述t0，以及从所述待测终端的寄存器中获取所述f，并将所述t0和所述f作为所述第二数据进行保存。需要说明的是，计算机装置保存所述第二数据时，可以将其转化为十进制数字进行保存。
[0048]
根据上述描述可知，本案对每个待测终端进行检测所获得的检测结果，包括了对每个待测终端进行检测时所获得的所述第一数据和/或第二数据。
[0049]
步骤s3、计算机装置基于所述预设数量的检测结果所包括的所述实际发射功率获得第一拟合函数，和/或基于所述预设数量的检测结果所包括的所述接收信号强度获得第二拟合函数。
[0050]
在一个实施例中，计算机装置按照预设的第一规则对所述预设数量的第一数据进行拟合，获得所述第一拟合函数，其中，所述预设的第一规则包括：针对所述预设数量的待
测终端中的每个待测终端，计算所述第一信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径到达每个所述测试终端时，所述第一信号衰减后的功率x，所述功率x的计算公式为：x＝x0-s，由此，当对所述预设数量的待测终端中的每个待测终端检测完后，共获得所述预设数量的所述功率x。
[0051]
将所述功率x作为第一自变量，将所述第一信号的实际发射功率y作为与所述第一自变量x对应的第一因变量进行拟合，包括：计算机装置在xoy坐标系中(x，y)处标记点(为便于区分，将所标记的点称为“第一目标点”)，其中，o为坐标原点，在xoy中共标记得到所述预设数量个第一目标点，计算机装置根据所述预设数量个第一目标点的分布确定所述x与y为线性关系，计算机装置选取根据所述预设数量个第一目标点得到的拟合直线中拟合结果最好(直线上的所述第一目标点最多)的直线l1，并根据所述l1中的第一目标点的坐标计算获得所述l1的参数方程：y(x)＝m*x n，其中m、n为已知参数，所述l1的参数方程y(x)即所述第一拟合函数，所述第一拟合函数还可以写作：y＝m*(x0-s) n或y＝m*(x0-s1-s2-s3) n。需要说明的是，所述m、n即所述测试终端的内部损耗参数，由于所述第一拟合函数为线性方程，可以通过所述xoy中的两个第一目标点的坐标获得所述m和n的值，所述第一目标点的数量越多拟合结果越精准。在其他实施例中，当对所述待测终端进行其他检测时(例如，检测主板的内存频率、温度等)，所述第一拟合函数还可以是多次方程(大于或等于二次的方程)。
[0052]
在一个实施例中，计算机装置按照预设的第二规则对所述预设数量的第二数据进行拟合，获得所述第二拟合函数，其中，所述预设的第二规则包括：计算所述第二信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径到达所述待测终端时，所述第二信号衰减后的功率t，所述功率t的计算公式为：t＝t0-s，共获得所述预设数量的所述功率t。
[0053]
将所述功率t作为第二自变量，将所述第二信号的接收信号强度f作为与所述第二自变量t对应的第二因变量进行拟合，包括：计算机装置在tof坐标系中(t，f)处标记点(为便于区分，将所标记的点称为“第二目标点”)，其中，o为坐标原点，在tof中共标记得到所述预设数量个第二目标点，计算机装置根据所述预设数量个第二目标点的分布确定所述t与f为线性关系，计算机装置选取所述预设数量个第二目标点得到的拟合直线中拟合结果最好(直线上的所述第二目标点最多)的直线l2，并根据所述l2中的第二目标点的坐标计算获得所述l2的参数方程：f(t)＝p*t q，其中p、q为已知参数，所述l2的参数方程f(t)即所述第二拟合函数，所述第二拟合函数还可以写作：f＝p*(t0-s) q或f＝p*(t0-s1-s2-s3) q。需要说明的是，所述p、q即所述待测终端的内部损耗参数，由于所述第二拟合函数为线性方程，可以通过所述tof中的两个第二目标点的坐标获得所述p和q的值，所述第二目标点的数量越多拟合结果越精准。在其他实施例中，当对所述待测终端进行其他检测时(例如，检测主板的内存频率、温度等)，所述第二拟合函数还可以是多次方程(大于或等于二次的方程)。
[0054]
步骤s4、计算机装置控制目标终端发射信号，利用所述第一拟合函数基于所述目标终端所发射的信号计算该目标终端的实际发射功率，和/或控制所述目标终端接收信号，利用所述第二拟合函数计算该目标终端的接收信号强度。
[0055]
在一个实施例中，所述目标终端和所述预设数量的待测终端(例如，50个主板)属于同一生产厂商、同一批次(同一次投料、同一条生产线、同一班次)，具有相同的属性(例如，芯片型号、内部损耗参数等)。在利用所述终端测试环境对所述目标终端进行检测时，例
如图4所示，将所述目标终端11通过第二夹具9与所述第二有线路径7连接，形成终端测试回路，对所述目标终端11进行检测。所述目标终端可以是移动终端、终端主板、终端芯片等。
[0056]
在一个实施例中，计算机装置控制所述目标终端发射初始功率为第三初始发射功率x10的第三信号，所述第三信号经由所述第二有线路径、所述衰减器和所述第一有线路径衰减后到达所述测试终端，此时衰减后的所述第三信号的功率为x1＝x10-s，计算机装置利用所述第一拟合函数，获得所述目标终端的所述第三信号的实际发射功率y1：y1＝m*x1 n。
[0057]
在一个实施例中，计算机装置控制所述测试终端发射初始功率为第四初始发射功率t10的第四信号，所述第四信号经由所述第一有线路径、所述衰减器和所述第二有线路径衰减后到达所述目标终端，此时衰减后的所述第四信号的功率为t1＝t10-s，计算机装置利用所述第二拟合函数，获得所述目标终端的所述第四信号的接收信号强度f1：f1＝p*t1 q。
[0058]
上述图1详细介绍了本技术的终端测试方法，下面结合图2，对实现所述终端测试方法的硬件装置架构进行介绍。
[0059]
应该了解，所述实施例仅为说明之用，在专利申请范围上并不受此结构的限制。
[0060]
参阅图2所示，为本技术较佳实施例提供的计算机装置的结构示意图。在本技术较佳实施例中，所述计算机装置3包括存储器31、至少一个处理器32、通信模块33。本领域技术人员应该了解，图2示出的计算机装置的结构并不构成本技术实施例的限定，既可以是总线型结构，也可以是星形结构，所述计算机装置3还可以包括比图示更多或更少的其他硬件或者软件，或者不同的部件布置。
[0061]
在一些实施例中，所述计算机装置3包括一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的终端，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路、可编程门阵列、数字处理器及嵌入式设备等。
[0062]
需要说明的是，所述计算机装置3仅为举例，其他现有的或今后可能出现的电子产品如可适应于本技术，也应包含在本技术的保护范围以内，并以引用方式包含于此。
[0063]
在一些实施例中，所述存储器31用于存储程序代码和各种数据。例如，所述存储器31可以用于存储本地路径，还可以存储安装在所述计算机装置3中的测试系统30，并在计算机装置3的运行过程中实现高速、自动地完成程序或数据的存取。所述存储器31包括只读存储器(read-only memory，rom)、可编程只读存储器(programmable read-only memory，prom)、可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read-only memory，eprom)、一次可编程只读存储器(one-time programmable read-only memory，otprom)、电子擦除式可复写只读存储器(electrically-erasable programmable read-only memory，eeprom)、只读光盘(compact disc read-only memory，cd-rom)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者任何其他能够用于携带或存储数据的计算机可读的存储介质。
[0064]
在一些实施例中，所述至少一个处理器32可以由集成电路组成，例如可以由单个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，包括一个或者多个中央处理器(central processing unit，cpu)、微处理器、数字处理芯片、图形处理器及各种控制芯片的组合等。所述至少一个处理器32是所述计算机装置3的控制核心(control unit)，利用各种接口和线路连接整个计算机装置3的各个部件，通过运行或执行存储在所述存储器31内的程序或者模块，以及调用存储在所述存储器31内的数据，以执行计算机装置3的各种功能和处理数据，例如执行终端测试的功能。
[0065]
在一些实施例中，所述测试系统30运行于计算机装置3中。所述测试系统30可以包括多个由程序代码段所组成的功能模块。所述测试系统30中的各个程序段的程序代码可以存储于计算机装置3的存储器31中，并由至少一个处理器32所执行，以实现图1所示的对终端进行测试的功能。
[0066]
在一个实施例中，所述通信模块33可以是wi-fi模块，所述计算机装置3可以通过所述通信模块33控制所述测试终端4、所述待测终端10或所述目标终端11发射信号；所述计算机装置3可以通过所述通信模块33获取所述测试终端4和所述待测终端10中的寄存器中的数据，例如，x0、t0等。
[0067]
尽管未示出，所述计算机装置3还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池)，优选的，电源可以通过电源管理装置与所述至少一个处理器32逻辑相连，从而通过电源管理装置实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电装置、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。所述计算机装置3还可以包括多种传感器、蓝牙模块、wi-fi模块等，在此不再赘述。
[0068]
应该了解，所述实施例仅为说明之用，在专利申请范围上并不受此结构的限制。
[0069]
上述以软件功能模块的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机装置(可以是服务器、个人电脑等)或处理器(processor)执行本技术各个实施例所述方法的部分。
[0070]
在进一步的实施例中，结合图2，所述至少一个处理器32可执行所述计算机装置3的操作系统以及安装的各类应用程序(如所述的测试系统30)、程序代码等，例如，上述的各个模块。
[0071]
在本技术的一个实施例中，所述存储器31存储一个或多个指令(即至少一个指令)，所述至少一个指令被所述至少一个处理器32所执行以实现图1所示的终端测试的目的。
[0072]
在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。
[0073]
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
[0074]
另外，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能模块的形式实现。
[0075]
对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此
外，显然“包括”一词不排除其他单元或，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。
[0076]
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施例对本技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本技术的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本技术技术方案的精神和范围。