一种芯片内通信模块的测试系统、方法、设备及存储介质与流程

1.本发明属于计算机领域，具体涉及一种芯片内通信模块的测试系统、方法、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.基板管理控制芯片是服务器上的常见芯片，用于对服务器的运行状态进行监控和管理。而网络功能是基板管理控制芯片中必备的功能，并且一般的基板管理控制芯片中都至少包含两个网络模块（emac1和emac2），emac1是基板管理控制芯片的专用网卡，可以正常的与外部网络进行正常通信。emac2是用于对服务器（主机端）的网卡进行管理配置。在高级的基板管理控制芯片中，包含更多的网络模块，比如4个。
3.网络模块（emac，ethernet media access controller）本身的功能就很强大，所占的芯片资源和面积就很大，同时网络模块的寄存器众多，因此芯片流片回来之后，驱动对于网络模块的调试比较复杂，调试周期较长，且芯片调试主要是驱动/软件人员调试，而emac的开发则是芯片设计人员在设计，驱动人员对emac内部的内部架构及寄存器功能的理解肯定不如芯片设计人员，因此这无形中更延长了网络功能的调试周期。
4.尤其将多个网络模块放到一个基板管理控制芯片中，给芯片的综合约束，布局布线，封装制造带来极大的风险，因此有可能会造成流片之后的芯片中网络功能的失效，网络功能不通，在此时驱动人员更没法确定是芯片本身的功能错误还是芯片外围的phy（physical，端口物理层，一个以太网phy是一个芯片，可以发送和接收以太网的数据帧（frame））芯片本身或者是pcb板卡有问题，这将极大的延长网络功能的调试周期。
5.因此，亟需一种有效手段以解决现有的bmc芯片设计时的调试效率问题。


技术实现要素：

6.为解决上述问题，本发明提出一种芯片内通信模块的测试系统，包括自检测模块、测试数据连接模块，其中：所述自检测模块配置用于向所述测试数据连接模块发送第一测试数据并接收所述测试数据连接模块发送的第二测试数据，基于所述第一测试数据和第二测试数据的对比验证所述测试模块的功能；所述测试数据连接模块配置用接收所述自检测模块的第一测试数据并将所述第一测试数据转发到所述测试模块，并将所述测试模块发出的第二测试数据发送到所述自检测模块。
7.在本发明的一些实施方式中，自检测模块包括：测试使能寄存器，所述测试使能寄存器配置用于接收cpu的控制信号并对所述自检测模块的功能进行使能或关闭。
8.在本发明的一些实施方式中，自检测模块还包括：测试状态寄存器，所述测试状态寄存器配置用存储所述基于所述第一测试数据和
第二测试数据的对比验证结果。
9.在本发明的一些实施方式中，自检测模块还包括：第一存储模块，所述第一存储模块配置用于保存所述第一测试数据以及响应于测试开始向所述测试模块提供第一测试数据；第二存储模块，所述第二存储模块配置用于接收并保存所述第二测试数据。
10.在本发明的一些实施方式中，自检测模块还包括：对比模块，所述对比模块配置用于从所述第一存储模块和第二存储模块中读取第一测试数据和第二测试数据，并将所述第一测试数据和第二测试数据进行对比，以及将所述对比结果更新到测试状态寄存器中。
11.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：配置数据连接模块，所述配置数据连接模块配置用从所述自检测模块获取配置数据，并基于所述配置数据配置所述测试模块的功能。
12.在本发明的一些实施方式中，自检测模块还包括：测试配置模块，所述测试配置模块配置用于通过所述配置数据连接模块对所述测试模块的功能进行初始化。
13.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：测试数据回环模块，所述测试数据回环模块配置用于将所述测试模块的对外输出的接口和输入接口相连，并获取所述测试模块的输出数据，以及将所述输出数据作为第二测试数据通过所述测试数据连接模块发送到所述自检测模块。
14.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：测试模块控制寄存器，所述测试模块控制寄存器配置用于切换所述测试模块的功能以及数据连接方式。
15.本发明的另一方面还提出一种芯片内通信模块测试方法，包括：向测试模块发送第一测试数据，并收集所述测试模块发出的第二测试数据；将所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比，并判断对比结果是否相同；响应于所述对比结果为相同则判定所述测试模块功能为正常；响应于所述对比结果为不同则判定所述测试模块的功能为异常。
16.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：将所述第一测试数据预先存储到第一存储模块，响应于测试开始，从所述第一存储模块中读取所述第一测试数据发送到所述测试模块；将所述第二测试数据保存到第二存储模块，响应于第二测试数据收集完成，分别从所述第一存储模块和所述第二存储模块读取对应的所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比。
17.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：在所述测试模块的对外输出接口和对外输入接口之间根据接口类型添加测试数据回环模块，并通过所述测试数据回环模块将所述输出接口的数据发送到输入接口；获取所述测试模块对内的输出接口输出的数据作为第二测试数据。
18.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：通过所测试数据回环模块获取所述测试模块对外的输出接口输出的数据作为所
述第二测试数据。
19.本发明的又一方面还提出一种计算机设备，包括：至少一个处理器；存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述指令由所述处理器执行时实现上述实施方式中任意一项所述方法的步骤。
20.本发明的再一方面还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施方式中任意一项所述方法的步骤。
21.本方案在传统方案基础上进行了优化，通过运行芯片中的自检测模块，可以完成测试模块重要寄存器的配置，通过使能测试模块的tx接口和rx接口反接功能，同时利用两个存储模块，从第一存储模块中读第一测试数据，通过测试模块的数据接口发送至测试模块的tx接口，然后回环之后，通过测试模块的rx接收回来，写到第二存储模块，利用校验比较模块，比较收发数据是否一致，供驱动进行对测试模块的基本状态进行判断，大大提高了网络功能的调试速度。
附图说明
22.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
23.图1为本发明实施例提供的一种芯片内通信模块的测试系统的结构示意图；图2为本发明实施例提供的一种芯片内通信模块的测试系统实施例的结构示意图；图3为本发明实施例提供的一种芯片内通信模块的测试系统实施实例图；图4为本发明实施例提供的一种芯片内通信模块测试方法的方法流程图；图5为本发明实施例提供的传统的基板管理器芯片的设计流程示意图；图6为本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图；图7为本发明实施例提供的一种计算机存储介质的结构示意图。
具体实施方式
24.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明实施例进一步详细说明。
25.需要说明的是，本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本发明实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
26.本发明实施例旨在解决传统的基板管理控制芯片中网络模块的调试周期长。调试时出问题的故障点难以发现的问题。在传统的基板管理控制芯片中网络模块的调试流程如图5所示，首先芯片设计人员进行emac功能的rtl（硬件开发语言）代码开发，或者是购买现存的ip（知识产权核）进行代码分析，然后是基板管理芯片整体的代码开发（soc系统），同时
进行系统仿真。然后进行芯片的后端设计，包括芯片的综合，布局布线，芯片生产，封装测试等。芯片流片回来之后，驱动人员进行emac功能的测试。但是需要驱动开发人员参考芯片设计人员给出的设计方案，尤其是各寄存器的功能介绍进行emac功能调试，调试周期较长。并且一旦网络功能不通，驱动人员更没法确定是芯片本身的功能错误还是芯片外围的phy芯片本身或者是pcb板卡有问题，这将极大的延长网络功能的调试周期。
27.因此传统方案弊端就是芯片流片回来之后的驱动测试周期较长，容易耽误项目进展，并且网络模块是基板管理控制芯片中的基础模块，很多的上层应用都要基于网络模块功能正常的情况下进行，因此一旦驱动调试的时间长，很容易使得整个项目延期，尤其是像面临产品上市或者是国家重大专项时，将是一个巨大的隐患。
28.如图1所示，为解决上述问题，本发明提出一种芯片内通信模块的测试系统，包括自检测模块1、测试数据连接模块2，其中：所述自检测模块1配置用于向所述测试数据连接模块2发送第一测试数据并接收所述测试数据连接模块2发送的第二测试数据，基于所述第一测试数据和第二测试数据的对比验证所述测试模块12的功能；所述测试数据连接模块2配置用接收所述自检测模块1的第一测试数据并将所述第一测试数据转发到所述测试模块12，并将所述测试模块12发出的第二测试数据发送到所述自检测模块1。
29.在本实施例中，本发明以基板管理控制器芯片中的emac模块的测试为例，测试模块则为基板管理控制芯片中的emac模块，如前所述emac是基板管理芯片的网络模块。在本实施例中，本发明提出的自检测模块1则通过测试数据连接模块2将预定的测试数据以模拟正常的数据网络数据发送的方式基于基板控制芯片中对应的总线发送到emac模块，或者由emac通过测试数据连接模块2借助对应的总线从自检测模块1中读取对应的第一测试数据。
30.在本发明中，测试数据连接模块2则是与测试模块12相连的数据接口转换模块，测试数据连接模块2在测试模式下实现自检测模块1和测试模块12的数据交互，即向测试模块12发送第一测试数据，并将测试模块12发出的第二测试数据发送到自检测模块。在正常的工作模式中，测试数据连接模块2则直接连接到基板管理控制器芯片的总线上，从内存或cpu中获取对应的数据发送给测试模块。
31.第二测试数据是由测试模块对外发出的数据，在本实施例中是指由emac模块发出的数据，通过phy接口后便可通过网络发出。因此在本实施例中，将emac模块发出的数据作为第二测试数据，然后借助测试数据连接模块2反馈给自检测模块1。
32.自检测模块2在接收完或接收到对应的第二测试数据后，便将第二测试数据与第一测试数据进行对比，如果第一测试数据和第二测试数据的内容一致则认为测试模块12的功能是正常的，实现了设计目的。如果第一测试数据和第二数据的内容不一致，则认为测试模块12中存在相应的异常，某些设计的功能未实现。
33.在此需要说明的是，第一测试数据和第二测试数据可能在形式上并不相同，因为发送给测试模块的数据所采用的数据总线和测试模块12输出接口所采用的数据链路并不相同，因此第一测试数据和第二测试数据的形式并可能不相同。本技术一般情况下对比的是第一测试数据和第二测试数据的关键的内容信息，以emac模块的自检测为例，第二测试数据则应该是emac发送给phy模块的数据，在形式上第一测试数据和第二测试数据应该不
同，但在对比时则对比的是数据内容本身以及对emac的相关配置信息，相关配置信息是根据emac对应的功能相关的配置信息，例如ip地址、ip报文信息等。
34.在本发明的一些实施例中，可以根据测试模块12的输出数据的形式以及测试模块12的相关配置信息预先生成对应的伪第二测试数据（在形式上满足测试模块12发出的第二测试数据），然后将伪第二测试数据保存到第一存储模块5中，当向测试模块12提供第一测试数据时，则将伪第二测试数据中的内容部分发送给测试模块12。进一步在接收到通过测试数据连接模块2发送的第二测试数据，将第二测试数据与伪第二测试数据（第一测试数据，形式上与第二测试数据匹配，若果内容相同可直接对比）进行直接对比。
35.在本发明的一些实施方式中，自检测模块包括：测试使能寄存器3，所述测试使能寄存器3配置用于接收cpu的控制信号并对所述自检测模块1的功能进行使能或关闭。
36.在本实施例中，测试使能寄存器3是用于控制自检测模块1的寄存器，cpu可访问和修改测试使能寄存器3的值，当测试使能寄存器3的值为1时，自检测模块1使能工作，当测使能寄存器3的值为0时关闭自检测模块1。
37.在本发明的一些实施方式中，自检测模块1还包括：测试状态寄存器4，所述测试状态寄存器4配置用存储所述基于所述第一测试数据和第二测试数据的对比验证结果。
38.在本实施例中，与上述测试使能寄存器3类似，测试状态寄存器4也可以被cpu访问和修改，测试状态寄存器4则是用于保存自检测模块1对测试模块12的测试结果。如果自检测模块1通过对第一测试数据和第二测试数据的对比结果一致，测试通过，自检测模块1将测试状态寄存器4的值修改为1，cpu通过相应总线读取到测试状态寄存器4的值为1后便可获知自检测模块1对测试模块12的检测结果为通过，相反地，如果对比不一致，自检测模块1将测试状态寄存器4的值修改为0，cpu通过相应总线读取到测试状态寄存器4的值为0后便可获知自检测模块1对测试模块12的检测结果为不通过。
39.在本发明的一些实施方式中，自检测模块1还包括：第一存储模块5，所述第一存储模块5配置用于保存所述第一测试数据以及响应于测试开始向所述测试模块提供第一测试数据；第二存储模块6，所述第二存储模块6配置用于接收并保存所述第二测试数据。
40.在本实施例中，自检测模块1中设有用于预先保存第一测试数据的第一存储模块5，并且被设计为可被测试模块通过测试数据连接模块2读取，可以理解为，在测试模式时，测试模块12的数据来源被切换到了第一存储模块5中。
41.另外，在自检测模块1中还设有用于保存测试模块12发出的第二测试数据的第二存储模块6，在收集到第二测试数据或者收集完成第二测试数据时自检测模块1便读取第一存模块5和第二存储模块6中对应的第一测试数据和第二测试数据进行比较。
42.在本发明的一些实施方式中，自检测模块1还包括：对比模块7，所述对比模块7配置用于从所述第一存储模块和第二存储模块中读取第一测试数据和第二测试数据，并将所述第一测试数据和第二测试数据进行对比，以及将所述对比结果更新到测试状态寄存器4中。
43.在本实施例中，对比模块7是自检测模块1的判断测试模块12是功能是否正常的判
断模块，通过从第一存储模块5获取对应的第一测试数据和第二存储模块6中获取对应的第二测试数据进行对比，并将对比结果更新到测试状态寄存器4中。具体地如果对比结果一致，则向测试状态寄存器写1，反之则向测试状态寄存器写0。
44.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：配置数据连接模块9，所述配置数据连接模块9配置用从所述自检测模块1获取配置数据，并基于所述配置数据配置所述测试模块12的功能。
45.在本实施例中，配置数据连接模块9与测试模块12相连或者说在一定程度上控制着测试模块12，目的是获取测试模块对应的配置数据对测试模块12的功能进行相应的配置。
46.在本发明的一些实施方式中，自检测模块1还包括：测试配置模块8，所述测试配置模块8配置用于通过所述配置数据连接模块9对所述测试模块12的功能进行初始化。
47.在本实施例中，测试配置模块8包含有测试模块12必备的相关配置信息，以基板管理控制芯片的emac测试为例，测试配置模块8包含有emac正常工作必备的寄存器数据，在对emac进行测试时，配置数据连接模块9可从测试配置模块8获取对应的emac上的各个寄存器（emac内部功能实现必备的寄存数据，比如使能接收，使能发送，使能burst操作，配置ip等）的数据，并将对应的寄存器数据写入到对应的寄存器中以实现对测试模块12功能的初始化。
48.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：测试数据回环模块10，所述测试数据回环模块10配置用于将所述测试模块12的对外输出的接口和输入接口相连，并获取所述测试模块的输出数据，以及将所述输出数据作为第二测试数据通过所述测试数据连接模块发送到所述自检测模块。
49.在本实施例中，测试数据回环模块10是将测试模块12的对外的发送端与测试模块12的接收端相连，将所述测试模块12发出的数据反馈到测试模块12的接收端。
50.在本发明的一些实施方式中，系统还包括：测试模块控制寄存器11，所述测试模块控制寄存器11配置用于切换所述测试模块的功能以及数据连接方式。
51.在本实施例中，测试模块控制器寄存器11用于控制测试模块的工作模式，当其值为1时，表示测试模块12切换到测试模式。
52.如图3所示，本发明的另一方面还提出一种芯片内通信模块测试方法，包括：步骤s1、向测试模块发送第一测试数据，并收集所述测试模块发出的第二测试数据；步骤s2、将所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比，并判断对比结果是否相同；步骤s3、响应于所述对比结果为相同则判定所述测试模块功能为正常；步骤s4、响应于所述对比结果为不同则判定所述测试模块的功能为异常。
53.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：将所述第一测试数据预先存储到第一存储模块，响应于测试开始，从所述第一存储模块中读取所述第一测试数据发送到所述测试模块；
将所述第二测试数据保存到第二存储模块，响应于第二测试数据收集完成，分别从所述第一存储模块和所述第二存储模块读取对应的所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比。
54.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：在所述测试模块的对外输出接口和对外输入接口之间根据接口类型添加测试数据回环模块，并通过所述测试数据回环模块将所述输出接口的数据发送到输入接口；获取所述测试模块对内的输出接口输出的数据作为第二测试数据。
55.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：通过所测试数据回环模块获取所述测试模块对外的输出接口输出的数据作为所述第二测试数据。
56.在本发明的一些实施例中，如图3所示，图3示出的本发的一个以基板管理控制芯片的emac网络模块进行自检测测试的实施例。
57.首先，在基板管理控制芯片网络功能正式调试之前，由驱动和/或用户下发网络硬件功能自检测的使能（设置寄存器）。即使能emac（相当于测试模块12）和emac_hard_ware_test（emac硬件测试模块，相当于自检测模块11），所述使能是指将对应的寄存器的数据分别下发给emac和emac_hard_ware_test模块，值得注意的是相比较于传统方案，本发明创造性的在芯片的硬件架构中新增emac_hard_ware_test模块（相当于上述自检测模块），并且该模块也是要挂载在基板管理控制芯片的系统总线上，cpu可以访问且控制该模块。emac_hard_wre_test中各个子模块介绍如下： test_en（相当于测试使能寄存器3）&test_state（相当于测试状态寄存器4），这是两个寄存器，test_en寄存器可以接收cpu的配置，开启/关闭网络硬件自测试功能。
58.test_en=1时候，使能网络硬件自测试功能。
59.test_en=0时候，关闭网络硬件自测试功能。
60.test_state寄存器存储的是完成网络硬件自测试功能后的状态，test_state=1，表示网络硬件自测试通过，test_state=0，表示网络硬件自测试失败。
61.进一步，emac_hard_wre_test内还包括hard_cfg_gen（相当于测试配置模块8）子模块，该子模块下发emac正常工作必备（基础的）的寄存器（比如使能接收，使能发送，使能burst操作，配置ip等）。然后下发至emac模块。
62.ram_a（相当于第一存储模块5），存储的是要发送的数据，经过hard_cfg_gen的配置之后，emac可以通过数据接口读取ram_a中的数据。
63.ram_b（相当于第二存储模块6），存储的是接收的数据，经过hard_cfg_gen的配置之后，emac可以通过数据接口将数据写到ram_b。
64.comp（相当于对比模块7），比较模块用于读取ram_a和ram_b中的数据，进行比较，如果收发一致，则表示emac基本功能正常，硬件自测试通过，然后将test_state置为1。
65.如果收发不一致，则表示emac功能不正常，硬件自测试通过，将test_state置为0。
66.emac模块相比较于传统方案，也有改动，主要是test_mode寄存器（相当于测试模块控制寄存器11），data_intf_switch（相当于测试数据连接模块）、cfg_intf_switch（相当于配置数据连接模块9）、connect_mdy（测试数据回环模块10）子模块。
67.test_mode寄存器，接收cpu的配置，当该寄存器=1时候，表示使能emac的硬件自测
试功能，即此时emac的与芯片内部data_intf_switch的通信切换到emac_hard_wre_test模块，即从ram_a中读取数据，并将emac的环回的数据再发送到ram_b保存。
68.data_intf_switch子模块（相当于测试数据连接模块2），是emac的数据接口转换模块，因传统方案中，emac的数据接口是连接系统总线，从ddr中获取要发送的数据，在本发明中，data_intf_switch子模块作为数据接口不仅要接收来自于ddr的数据（常规模式，不使能硬件自测试功能），还有接收来自于emac_hard_ware_test的发送数据（测试模式，使能硬件自测试功能）。相同的，在传统方案中，数据接口要将接收到的数据写到ddr，而在本发明中，该数据接口不仅可以将数据写到ddr（常规模式，不使能硬件自测试功能），也可以将数据写到emac_hard_ware_test（测试模式，使能硬件自测试功能）。
69.cfg_intf_switch子模块（相当于配置数据连接模块9），是emac的配置接口转换模块，因传统方案中，emac的配置接口是连接系统总线，由cpu下发配置，在本发明中，cfg_intf_switch子模块不仅要接收来自于cpu的配置（常规模式，不使能硬件自测试功能），还有接收来自于emac_hard_ware_test的配置信息（测试模式，使能硬件自测试功能）。
70.connect_mdy子模块（相当于上述测试数据回环模块10），该子模块的功能是在使能测试模块的时候，将emac的tx和rx的数据接口进行反接，即loopback，回环。即将emac本身的发送数据通过发送接口，直接发到emac的接收数据接口上，传统方案下的连接方式是，tx接口的数据经过phy芯片，然后通过网线传递到远端。rx接口接收的远端通过网线，走phy芯片的数据。
71.网络硬件自测试完成后，产生中断，上报cpu，并且根据测试状态置位test_state寄存器，驱动通过读取test_state的值来判断硬件自测试结果。
72.如果test_state的值为1，表示硬件自测试通过，驱动可以正常展开详细的emac功能调试和上层应用程序的调试。如果test_state的值为0，表示基板管理控制芯片中的网络功能失效，驱动无法调试。
73.本方案在传统方案基础上进行了优化，通过运行emac功能硬件自检测模块，利用该自检测模块，可以完成emac重要寄存器的配置，比如tx/rx功能使能，burst功能使能，使能emac tx接口和rx接口反接功能，同时利用两个ram，从ram_a中读数据，通过emac的数据接口发送至emac的tx接口，然后回环之后，通过emac的rx接收回来，写到ram_b，利用校验比较模块，比较收发数据是否一致，这样就完成了基板管理控制芯片中网络功能的硬件自测试，同时设置状态寄存器，供驱动进行对emac的基本状态进行判断，大大提高了网络功能的调试速度。
74.如图6所示，本发明的又一方面还提出一种计算机设备，包括：至少一个处理器21；存储器22，所述存储器21存储有可在所述处理器21上运行的计算机指令23，所述指令23由所述处理器21执行时实现一种芯片内通信模块测试方法，包括：向测试模块发送第一测试数据，并收集所述测试模块发出的第二测试数据；将所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比，并判断对比结果是否相同；响应于所述对比结果为相同则判定所述测试模块功能为正常；响应于所述对比结果为不同则判定所述测试模块的功能为异常。
75.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：
将所述第一测试数据预先存储到第一存储模块，响应于测试开始，从所述第一存储模块中读取所述第一测试数据发送到所述测试模块；将所述第二测试数据保存到第二存储模块，响应于第二测试数据收集完成，分别从所述第一存储模块和所述第二存储模块读取对应的所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比。
76.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：在所述测试模块的对外输出接口和对外输入接口之间根据接口类型添加测试数据回环模块，并通过所述测试数据回环模块将所述输出接口的数据发送到输入接口；获取所述测试模块对内的输出接口输出的数据作为第二测试数据。
77.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：通过所测试数据回环模块获取所述测试模块对外的输出接口输出的数据作为所述第二测试数据。
78.如图7所示，本发明的再一方面还提出一种计算机可读存储介质401，所述计算机可读存储介质401存储有计算机程序402，所述计算机程序402被处理器执行时实现一种芯片内通信模块测试方法，包括：向测试模块发送第一测试数据，并收集所述测试模块发出的第二测试数据；将所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比，并判断对比结果是否相同；响应于所述对比结果为相同则判定所述测试模块功能为正常；响应于所述对比结果为不同则判定所述测试模块的功能为异常。
79.在本发明的一些实施方式中，方法还包括：将所述第一测试数据预先存储到第一存储模块，响应于测试开始，从所述第一存储模块中读取所述第一测试数据发送到所述测试模块；将所述第二测试数据保存到第二存储模块，响应于第二测试数据收集完成，分别从所述第一存储模块和所述第二存储模块读取对应的所述第一测试数据和所述第二测试数据进行对比。
80.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：在所述测试模块的对外输出接口和对外输入接口之间根据接口类型添加测试数据回环模块，并通过所述测试数据回环模块将所述输出接口的数据发送到输入接口；获取所述测试模块对内的输出接口输出的数据作为第二测试数据。
81.在本发明的一些实施方式中，收集所述测试模块发出的第二测试数据包括：通过所测试数据回环模块获取所述测试模块对外的输出接口输出的数据作为所述第二测试数据。
82.以上是本发明公开的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求，但除非明确限制为单数，也可以理解为多个。
83.应当理解的是，在本文中使用的，除非上下文清楚地支持例外情况，单数形式“一个”旨在也包括复数形式。还应当理解的是，在本文中使用的“和/或”是指包括一个或者一个以上相关联地列出的项目的任意和所有可能组合。
84.上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
85.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
86.所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明实施例公开的范围（包括权利要求）被限于这些例子；在本发明实施例的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本发明实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。