异常电芯的检测方法、装置及系统与流程

1.本技术涉及锂离子电池技术领域，尤其涉及一种异常电芯的检测方法、装置及系统。


背景技术：

2.锂离子电池的电芯单体经多次串并联可以组装为电池模组或电池包。在电池模组或电池包中，若某个电芯的自放电率较大，会导致整个电池模组或整个电池包的自放电一致性变差，并且，随着使用时长的增加，电池模组或电池包的自放电一致性会变得越来越差，严重影响了电池模组或电池包的使用性能。更甚者，有些电芯的自放电率较大是由于电芯中含有的金属杂质导致的，随着使用时长的增加，这些电芯的内部压力会逐渐增大，金属杂质会有刺穿隔膜造成电芯短路的风险，具有极大的安全隐患。所以，现有的，电芯的生产商在电芯出厂前会对电芯进行自放电测试，对自放电异常的电芯进行筛除，然后将合格电芯交付给电池模组或电池包的生产商。
3.然而，电芯在从电芯的生产商所在地运输至电池模组或电池包的生产商所在地的过程中，可能会有部分电芯出现自放电异常。由于电芯的自放电测试的测试周期较长，电池模组或电池包的生产商一般不会对电芯进行自放电测试，所以现有电池模组或电池包的生产商生产出的电池模组或电池包的使用性能较差，且仍具有安全隐患。因此，如何在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期，成为了亟待解决的技术问题。


技术实现要素：

4.本技术提供一种异常电芯的检测方法、装置及系统，可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期。
5.为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：
6.第一方面，本技术提供一种异常电芯的检测方法，应用于第一电子设备，第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商，该方法可以包括：接收第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商；n为正整数；获取上线测试参数集；上线测试参数集包括n个待测电芯在第二测试时刻的开路电压；第二测试时刻在第一测试时刻之后；基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。
7.本技术提供的技术方案中，电池模组或电池包的生产商对应的第一电子设备可以接收到电芯的生产商对应的第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图。其中，下线测试参数集由电芯的生产商在出厂n个待测电芯前，在第一测试时刻对n个待测电芯进行开路电压检测得到。电池模组或电池包的生产商在接收到电芯的生产商交付的n
个待测电芯后，可以在第二测试时刻对n个待测电芯进行开路电压检测，得到上线测试参数集。之后，第一电子设备可以基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。由于n个待测电芯的电芯型号为目标型号，而标准开路电压变化图可以表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围。所以根据下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，可以确定出n个待测电芯从第一测试时刻到第二测试时刻的开路电压变化情况是否满足标准开路电压变化图中对应的开路电压变化阈值范围，从而可以从n个待测电芯中筛选出异常电芯。另外，由于第二测试时刻和第一测试时刻的时间差可以表征n个待测电芯的交付周期，该交付周期也即是测试时长，所以本技术提供的技术方案中，电池模组或电池包的生产商可以直接利用n个待测电芯在交付周期中开路电压的变化情况来进行异常电芯的筛选。可以看出，本技术提供的技术方案中，电池模组或电池包的生产商只需在电芯交付后进行一次检测，即可筛选出异常电芯。因此，本技术可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，充分利用电芯从电芯的生产商交付到电池模组或电池包的生产商的运输时间，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期，从而可以保证电池模组或电池包的使用性能，减少安全隐患。
8.第二方面，本技术提供一种异常电芯的检测方法，应用于第二电子设备，第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商，该方法可以包括：获取m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压；m个样本电芯的荷电状态为预设荷电状态，且m个样本电芯的电芯型号为目标型号；m为正整数；分别获取m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压；k个测试时刻为在第三测试时刻之后的k个不同时刻；k为正整数；基于m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压和m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压，确定m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值；k个测试时长中的测试时长与k个测试时刻中的测试时刻一一对应；基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定目标型号的标准开路电压变化图；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；获取下线测试参数集；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；向第一电子设备传输下线测试参数集和标准开路电压变化图；第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商。
9.本技术提供的技术方案中，电芯的生产商可以通过对m个样本电芯进行测试，确定出用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围的标准开路电压变化图。电芯的生产商在对m个样本电芯进行测试得到标准开路电压变化图后，只需在待测电芯出厂前进行一次检测，然后将待测电芯交付给电池模组或电池包的生产商，由电池模组或电池包的生产商再进行一次检测，电池模组或电池包的生产商即可基于两次的检测结果对比标准开路电压变化图筛选出异常电芯。因此，本技术可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期。
10.第三方面，本技术提供一种异常电芯的检测装置，可以应用于第一电子设备，第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商，该装置包括：接收模块、获取模块以及检测模块；
11.具体的，接收模块，用于接收第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的
电芯型号为目标型号；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商；n为正整数；获取模块，用于获取上线测试参数集；上线测试参数集包括n个待测电芯在第二测试时刻的开路电压；第二测试时刻在第一测试时刻之后；检测模块，用于基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。
12.第四方面，本技术提供一种异常电芯的检测装置，可以应用于第二电子设备，第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商，该装置可以包括获取模块、确定模块和发送模块；
13.具体的，获取模块，用于获取m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压；m个样本电芯的荷电状态为预设荷电状态，且m个样本电芯的电芯型号为目标型号；m为正整数；获取模块，还用于分别获取m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压；k个测试时刻为在第三测试时刻之后的k个不同时刻；k为正整数；确定模块，用于基于m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压和m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压，确定m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值；k个测试时长中的测试时长与k个测试时刻中的测试时刻一一对应；确定模块，还用于基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定目标型号的标准开路电压变化图；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；获取模块，还用于获取下线测试参数集；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；发送模块，用于向第一电子设备传输下线测试参数集和标准开路电压变化图；第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商。
14.第五方面，本技术提供一种电子设备，该电子设备可以是第一电子设备，也可以是第二电子设备，该电子设备可以包括存储器、处理器、总线和通信接口；存储器用于存储计算机执行指令，处理器与存储器通过总线连接；当电子设备运行时，处理器执行存储器存储的计算机执行指令，以使电子设备执行如上述第一方面或第二方面提供的异常电芯的检测方法。
15.第六方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当计算机执行指令时，使得计算机执行如第一方面或第二方面提供的异常电芯的检测方法。
16.第七方面，本技术提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机指令，当计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行如第一方面或第二方面提供的异常电芯的检测方法。
17.第八方面，本技术提供一种异常电芯的检测系统，包括第一电子设备和第二电子设备；其中，第一电子设备，用于执行如第一方面提供的异常电芯的检测方法；第二电子设备，用于执行如第二方面提供的异常电芯的检测方法。
18.需要说明的是，上述计算机指令可以全部或者部分存储在计算机可读存储介质上。其中，计算机可读存储介质可以与电子设备的处理器封装在一起的，也可以与电子设备的处理器单独封装，本技术对此不做限定。
19.本技术中第三方面至第八方面的描述，可以参考第一方面或第二方面的详细描述；并且，第三方面至第八方面的描述的有益效果，可以参考第一方面或第二方面的有益效
果分析，此处不再赘述。
20.在本技术中，对于上述涉及到的设备或功能模块的名称不构成限定，在实际实现中，这些设备或功能模块可以以其他名称出现。只要各个设备或功能模块的功能和本技术类似，均属于本技术权利要求及其等同技术的范围之内。
21.本技术的这些方面或其他方面在以下的描述中会更加简明易懂。
附图说明
22.图1为本技术实施例提供的一种异常电芯的检测系统的架构示意图；
23.图2为本技术实施例提供的一种异常电芯的检测方法的流程示意图；
24.图3为本技术实施例提供的一种标准开路电压变化图的示意图；
25.图4为本技术实施例提供的另一种异常电芯的检测方法的流程示意图；
26.图5为本技术实施例提供的一种异常电芯的检测装置的结构示意图；
27.图6为本技术实施例提供的另一种异常电芯的检测装置的结构示意图；
28.图7为本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
29.下面结合附图对本技术实施例提供的异常电芯的检测方法、装置及系统进行详细地描述。
30.本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。
31.本技术的说明书以及附图中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同的对象，或者用于区别对同一对象的不同处理，而不是用于描述对象的特定顺序。
32.此外，本技术的描述中所提到的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选的还包括其他没有列出的步骤或单元，或可选的还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
33.需要说明的是，本技术实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本技术实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
34.在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指两个或两个以上。
35.另外，本技术技术方案中对数据的获取、存储、使用、处理等均符合国家法律法规的相关规定。
36.现有的，电芯的生产商在电芯出厂前会对电芯进行自放电测试，对自放电异常的电芯进行筛除，然后将合格电芯交付给电池模组或电池包的生产商。然而，电芯在从电芯的生产商所在地运输至电池模组或电池包的生产商所在地的过程中，可能会有部分电芯出现自放电异常。由于电芯的自放电测试的测试周期较长，电池模组或电池包的生产商一般不会对电芯进行自放电测试，所以现有电池模组或电池包的生产商生产出的电池模组或电池包的使用性能较差，且仍具有安全隐患。因此，如何在保证电池模组或电池包的使用性能的
同时，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期，成为了亟待解决的技术问题。
37.针对上述现有技术中存在的问题，本技术实施例提供了一种异常电芯的检测方法，该方法中，电池模组或电池包的生产商只需在电芯交付后进行一次检测，即可筛选出异常电芯。因此，本技术可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，充分利用电芯从电芯的生产商交付到电池模组或电池包的生产商的运输时间，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期。
38.本技术实施例提供的异常电芯的检测方法可以由本技术实施例提供的异常电芯的检测装置来执行，该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现，并集成在执行本方法的电子设备(第一电子设备或第二电子设备)中。
39.本技术实施例提供的异常电芯的检测方法可以适用于异常电芯的检测系统。图1示出了该异常电芯的检测系统的一种结构。如图1所示，异常电芯的检测系统可以包括第一电子设备01和第二电子设备02。第一电子设备01和第二电子设备02直接可以直接通信连接，或者，第一电子设备01和第二电子设备02可以通过数据传输设备间接通信连接。
40.下面结合上述图1示出的异常电芯的检测系统对本技术实施例提供的异常电芯的检测方法进行说明。
41.参照图2，本技术实施例提供了一种异常电芯的检测方法，该方法可以应用于图1中的第一电子设备，第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商。如图2所示，该方法可以包括s201-s203：
42.s201、接收第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图。
43.在一种可能的实现方式中，本技术实施例中的第一电子设备可以与第一电压检测装置连接，用于获取第一电压检测装置对电芯的开路电压的检测结果。第二电子设备可以与第二电压检测装置连接，用于获取第二电压检测装置对电芯的开路电压的检测结果。或者，在另一种可能的实现方式中，也可以在第一电子设备和第二电子设备中集成电压检测装置的功能。
44.其中，下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商；n为正整数。
45.本技术实施例中，下线测试参数集由电芯的生产商对n个待测电芯进行开路电压检测得到，具体的，电芯的生产商测试得到下线测试参数集的时间，应该与电芯的生产商对样本电芯进行首次测试的时间一致。示例性的，电芯的生产商将电芯交付给电池模组或电池包的生产商之前，一般会按照电池模组或电池包的生产商的需求将电芯的荷电状态调整为需求的预设荷电状态。那么。第一测试时刻可以是在将n个待测电芯的荷电状态(state of charge，soc)调整为预设荷电状态后4小时对应的时刻，第三测试时刻可以是将样本电芯的荷电状态调整为预设荷电状态后4小时对应的时刻。预设荷电状态可以是事先确定的荷电状态，比如预设荷电状态可以是70％soc。
46.标准开路电压变化图，是由电芯的生产商对样本电芯进行测试得到的。示例性的，参照图3，提供了一种标准开路电压变化图的示意图。如图3所示，标准开路电压变化图的横
坐标可以是测试时长，单位为天，纵坐标可以是开路电压变化值，单位是毫伏(mv)，标准开路电压变化图中包括两条折线，一条折线用于表征在不同测试时长下的开路电压变化上限阈值，另一条用于表征在不同测试时长下的开路电压变化下限阈值。
47.s202、获取上线测试参数集。
48.其中，上线测试参数集包括n个待测电芯在第二测试时刻的开路电压；第二测试时刻在第一测试时刻之后。本技术实施例中，上线测试参数集由电池模组或电池包的生产商在接收到电芯的生产商交付的n个待测电芯后，且在根据n个待测电芯生产电池模组或电池包之前，对n个待测电芯进行开路电压检测得到。第二测试时刻与第一测试时刻的间隔是由运输时长等因素决定的。
49.s203、基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。
50.异常电芯也即是自放电率较大或者自放电率与同批的电芯差距较大的电芯，本技术实施例中，可以用开路电压的变化值来表征自放电率，一定时长内，电芯的开路电压的变化值越大，表示自放电率越大；电芯的开路电压的变化值越小，表示自放电率越小。在电池模组或电池包中，若某个电芯的自放电率与其他电芯的差距较大，也即是电池模组或电池包的自放电一致性较差，会极大程度的影响容量及安全，所以，及时的将自放电率与其他电芯差距较大的异常电芯排出，可以有助于提高电池模组或电池包的整体寿命，降低产品的不良率。
51.可选的，基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯可以包括：基于第一测试时刻和第二测试时刻，确定当前测试时长；基于第一电芯在第一测试时刻的开路电压和第一电芯在第二测试时刻的开路电压，确定第一电芯在当前测试时长下的当前开路电压变化值；第一电芯为n个待测电芯中的任一个电芯；基于标准开路电压变化图，确定目标型号的电芯对应于当前测试时长下的开路电压变化阈值范围；基于当前测试时长下的开路电压变化阈值范围和当前开路电压变化值，确定第一电芯是否为异常电芯。
52.可选的，当前测试时长下的开路电压变化阈值范围包括当前测试时长下的开路电压变化上限阈值和当前测试时长下的开路电压变化下限阈值；基于当前测试时长下的开路电压变化阈值范围和当前开路电压变化值，确定第一电芯是否为异常电芯，可以包括：在确定当前开路电压变化值大于当前测试时长下的开路电压变化上限阈值，或者当前开路电压变化值小于当前测试时长下的开路电压变化下限阈值的情况下，确定第一电芯为异常电芯。
53.示例性的，以图3提供的标准开路电压变化图为例。在图3中，测试时长为3天时，开路电压变化上限阈值为5.4mv，开路电压变化下限阈值为2.5mv；测试时长为6天时，开路电压变化上限阈值为13.5mv，开路电压变化下限阈值为6.8mv；测试时长为9天时，开路电压变化上限阈值为17.1mv，开路电压变化下限阈值为8.9mv；测试时长为12天时，开路电压变化上限阈值为20.1mv，开路电压变化下限阈值为10.5mv；测试时长为15天时，开路电压变化上限阈值为24.1mv，开路电压变化下限阈值为12.8mv；测试时长为22天时，开路电压变化上限阈值为31.2mv，开路电压变化下限阈值为16.7mv；测试时长为29天时，开路电压变化上限阈值为38.2mv，开路电压变化下限阈值为20.7mv；测试时长为36天时，开路电压变化上限阈值
为44.2mv，开路电压变化下限阈值为24.1mv；测试时长为43天时，开路电压变化上限阈值为49.8mv，开路电压变化下限阈值为27.4mv；测试时长为50天时，开路电压变化上限阈值为56mv，开路电压变化下限阈值为31mv。
54.若第一测试时刻为xxxx年7月1日10时10分，第二测试时刻为xxxx年7月23日10时10分，则可以确定当前测试时长为22天。比如，第一电芯在第一测试时刻的开路电压为3.81653v，第一电芯在第二测试时刻的开路电压为3.78020v，则可以确定第一电芯在当前测试时长下的当前开路电压变化值为36.33mv.。此时，第一电芯在22天测试时长下的当前开路电压变化值36.33mv大于22天测试时长对应的开路电压变化上限阈值31.2mv，则可以确定第一电芯为异常电芯。
55.综合以上描述，本技术实施例提供的异常电芯的检测方法中，电池模组或电池包的生产商对应的第一电子设备可以接收到电芯的生产商对应的第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图。其中，下线测试参数集由电芯的生产商在出厂n个待测电芯前，在第一测试时刻对n个待测电芯进行开路电压检测得到。电池模组或电池包的生产商在接收到电芯的生产商交付的n个待测电芯后，可以在第二测试时刻对n个待测电芯进行开路电压检测，得到上线测试参数集。之后，第一电子设备可以基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。由于n个待测电芯的电芯型号为目标型号，而标准开路电压变化图可以表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围。所以根据下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，可以确定出n个待测电芯从第一测试时刻到第二测试时刻的开路电压变化情况是否满足标准开路电压变化图中对应的开路电压变化阈值范围，从而可以从n个待测电芯中筛选出异常电芯。另外，由于第二测试时刻和第一测试时刻的时间差可以表征n个待测电芯的交付周期，该交付周期也即是测试时长，所以本技术实施例提供的异常电芯的检测方法中，电池模组或电池包的生产商可以直接利用n个待测电芯在交付周期中开路电压的变化情况来进行异常电芯的筛选。可以看出，本技术实施例提供的异常电芯的检测方法中，电池模组或电池包的生产商只需在电芯交付后进行一次检测，即可筛选出异常电芯。因此，本技术实施例可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，充分利用电芯从电芯的生产商交付到电池模组或电池包的生产商的运输时间，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期，从而可以保证电池模组或电池包的使用性能，减少安全隐患。
56.参照图4，本技术实施例还提供了一种异常电芯的检测方法，该方法可以应用于图1中的第二电子设备，第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商。如图4所示，该方法可以包括s401-s406：
57.s401、获取m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压。
58.其中，m个样本电芯的荷电状态为预设荷电状态，且m个样本电芯的电芯型号为目标型号；m为正整数。
59.可选的，第三测试时刻可以为，将m个样本电芯的荷电状态调整为预设荷电状态预设时长后的时刻。
60.预设时长可以是事先确定的时长，比如可以是4小时。
61.在对电芯进行荷电状态调整后，电芯的开路电压在调整后的初始时期处于不稳定状态。所以，本技术实施例中，为了获取更为准确的开路电压，在将m个样本电芯的荷电状态
调整为预设荷电状态后，先不进行开路电压检测，而是等预设时长后再进行检测。
62.s402、分别获取m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压。
63.k个测试时刻为在第三测试时刻之后的k个不同时刻；k为正整数。示例性的，k可以为10。k个测试时刻可以是与第三测试时刻分别间隔3天、6天、9天、12天、15天、22天、29天、36天、43天和50天对应的时刻。
64.s403、基于m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压和m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压，确定m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值。
65.其中，k个测试时长中的测试时长与k个测试时刻中的测试时刻一一对应。
66.s404、基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定目标型号的标准开路电压变化图。
67.可选的，基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定目标型号的标准开路电压变化图可以包括：基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，从m个样本电芯中筛选出w个样本电芯；基于w个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化均值和w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化标准差；基于w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化均值和w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化标准差，确定w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化阈值范围；基于k个开路电压变化阈值范围，确定标准开路电压变化图。
68.其中，w个样本电芯不是异常电芯。
69.由于样本电芯中可能存在异常电芯，所以，本技术实施例中，可以基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，从m个样本电芯中筛选出不包含异常电芯的w个样本电芯，以不包含异常电芯的w个样本电芯作为样本确定标准开路电压变化图，可以进一步提高确定出的标准开路电压变化图中开路电压变化阈值范围的准确度，从而提高检测异常电芯的准确度。
70.可选的，基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，从m个样本电芯中筛选出w个样本电芯可以包括：基于m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化值，确定m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化均值和m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化标准差；若第二电芯的第一数值小于第二数值，则将第二电芯确定为w个样本电芯中的电芯。
71.其中，目标测试时长与k个测试时刻中的目标测试时刻对应，目标测试时刻为k个测试时刻中的最后一个测试时刻；第一数值为第二电芯在目标测试时长下的开路电压变化值与m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化均值的差值；第二数值为m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化标准差的三倍；第二电芯为m个样本电芯中的任一个电芯。
72.示例性的，本技术实施例中，电芯的生产商在将450个样本电芯的荷电状态调整为预设荷电状态4小时后，可以在此时对应的第三测试时刻对这450个样本电芯进行开路电压检测。之后，可以在分别与第三测试时刻间隔3天、6天、9天、12天、15天、22天、29天、36天、43天和50天的10个不同时刻(即本技术实施例中的k个测试时刻)对450个样本电芯进行开路电压检测。分别计算每个样本电芯在间隔3天、6天、9天、12天、15天、22天、29天、36天、43天
和50天对应的10个测试时长下的开路电压变化值，并且可以计算这450个样本电芯在间隔50天对应的测试时长下的开路电压变化均值和开路电压变化标准差。比如，若这450个样本电芯中，编号为450的样本电芯在第三测试时刻的开路电压为3.82256v，在间隔50天后测得的开路电压3.76056v，则该编号为450的样本电芯在间隔50天对应的测试时长下的开路电压变化值为62mv。若这450个样本电芯在间隔50天对应的测试时长下的开路电压变化均值为43.5mv，开路电压变化标准差为4.17mv，则编号为450的样本电芯的第一数值18.5mv(62mv-43.5mv)大于第二数值12.51mv(4.17mv
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3)。若剩余的449个样本电芯均不是异常电芯，则可以将编号为450的样本电芯从450个样本电芯中剔除，基于剩余的449个样本电芯在10个测试时长下的开路电压变化值确定标准开路电压变化图。
73.具体的，可以先分别确定剩余的449个样本电芯在10个测试时长下的10个开路电压变化均值和10个开路电压变化标准差；然后基于这10个开路电压变化均值和10个开路电压变化标准差确定k个开路电压变化阈值范围。比如，在间隔50天对应的测试时长下的开路电压变化均值为43.5mv，且开路电压变化标准差为4.17mv，则可以将43.5mv-3
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4.17mv＝30.99mv确定为间隔50天对应的测试时长对应的开路电压变化下限阈值，然后，可以将43.5mv 3
×
4.17mv＝56.01mv确定为间隔50天对应的测试时长对应的开路电压变化上限阈值。类似的，可以分别确定出间隔3天、6天、9天、12天、15天、22天、29天、36天、43天和50天的10个测试时长下的开路电压变化下限阈值和开路电压变化上限阈值，然后，可以在如图3所示的坐标图中进行描点，即可以得到标准开路电压变化图中的两条折线，一条用于表征开路电压变化上限阈值，另一条用于表征开路电压变化下限阈值。
74.s405、获取下线测试参数集。
75.s406、向第一电子设备传输下线测试参数集和标准开路电压变化图。
76.需要说明的是，本技术实施例中涉及的开路电压变化值及差值，均为正值。
77.本技术实施例中，电芯的生产商可以通过对m个样本电芯进行测试，确定出用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围的标准开路电压变化图。电芯的生产商在对m个样本电芯进行测试得到标准开路电压变化图后，只需在待测电芯出厂前进行一次检测，然后将待测电芯交付给电池模组或电池包的生产商，由电池模组或电池包的生产商再进行一次检测，电池模组或电池包的生产商即可基于两次的检测结果对比标准开路电压变化图筛选出异常电芯。因此，本技术实施例可以在保证电池模组或电池包的使用性能的同时，缩短电池模组或电池包的生产商对电芯自放电测试的测试周期。
78.如图5所示，本技术实施例还提供了一种异常电芯的检测装置，该装置可以集成在执行图1所示的第一电子设备中，该装置可以包括：接收模块11、获取模块12以及检测模块13。
79.其中，接收模块11执行上述方法实施例中的s201，获取模块12执行上述方法实施例中的s202，检测模块13执行上述方法实施例中的s203。
80.具体的，接收模块11，用于接收第二电子设备传输的下线测试参数集及标准开路电压变化图；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；第二电子设备对应的使用用户为电芯的生产商；n为正整数；获取模块12，用于获取上线测试参数集；上线测试参数集包括n个待测电芯在第二测试时刻
的开路电压；第二测试时刻在第一测试时刻之后；检测模块13，用于基于下线测试参数集、上线测试参数集以及标准开路电压变化图，从n个待测电芯中检测出异常电芯。
81.可选的，在一种可能的设计方式中，检测模块13具体用于：
82.基于第一测试时刻和第二测试时刻，确定当前测试时长；基于第一电芯在第一测试时刻的开路电压和第一电芯在第二测试时刻的开路电压，确定第一电芯在当前测试时长下的当前开路电压变化值；第一电芯为n个待测电芯中的任一个电芯；基于标准开路电压变化图，确定目标型号的电芯对应于当前测试时长下的开路电压变化阈值范围；基于当前测试时长下的开路电压变化阈值范围和当前开路电压变化值，确定第一电芯是否为异常电芯。
83.可选的，在另一种可能的设计方式中，当前测试时长下的开路电压变化阈值范围包括当前测试时长下的开路电压变化上限阈值和当前测试时长下的开路电压变化下限阈值，检测模块13具体还用于：
84.在确定当前开路电压变化值大于当前测试时长下的开路电压变化上限阈值，或者当前开路电压变化值小于当前测试时长下的开路电压变化下限阈值的情况下，确定第一电芯为异常电芯。
85.可选的，异常电芯的检测装置还可以包括存储模块，存储模块用于存储该异常电芯的检测装置的程序代码等。
86.如图6所示，本技术实施例还提供了一种异常电芯的检测装置，该装置可以集成在执行图1所示的第二电子设备中，该装置可以包括：获取模块21、确定模块22以及发送模块23。
87.其中，获取模块21执行上述方法实施例中的s401、s402和s405，确定模块22执行上述方法实施例中的s403和s404，发送模块23执行上述方法实施例中的s406。
88.具体的，获取模块21，用于获取m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压；m个样本电芯的荷电状态为预设荷电状态，且m个样本电芯的电芯型号为目标型号；m为正整数；获取模块21，还用于分别获取m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压；k个测试时刻为在第三测试时刻之后的k个不同时刻；k为正整数；确定模块22，用于基于m个样本电芯在第三测试时刻的开路电压和m个样本电芯在k个测试时刻的开路电压，确定m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值；k个测试时长中的测试时长与k个测试时刻中的测试时刻一一对应；确定模块22，还用于基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定目标型号的标准开路电压变化图；标准开路电压变化图，用于表征目标型号的电芯在不同测试时长下的开路电压变化阈值范围；获取模块21，还用于获取下线测试参数集；下线测试参数集包括n个待测电芯在第一测试时刻的开路电压；n个待测电芯的电芯型号为目标型号；发送模块23，用于向第一电子设备传输下线测试参数集和标准开路电压变化图；第一电子设备对应的使用用户为电池模组或电池包的生产商。
89.可选的，在一种可能的设计方式中，确定模块22具体用于：
90.基于m个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，从m个样本电芯中筛选出w个样本电芯；w个样本电芯不是异常电芯；基于w个样本电芯在k个测试时长下的开路电压变化值，确定w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化均值和w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化标准差；基于w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变
化均值和w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化标准差，确定w个样本电芯在k个测试时长下的k个开路电压变化阈值范围；基于k个开路电压变化阈值范围，确定标准开路电压变化图。
91.可选的，在另一种可能的设计方式中，确定模块22具体还用于：
92.基于m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化值，确定m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化均值和m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化标准差；目标测试时长与k个测试时刻中的目标测试时刻对应，目标测试时刻为k个测试时刻中的最后一个测试时刻；若第二电芯的第一数值小于第二数值，则将第二电芯确定为w个样本电芯中的电芯；第一数值为第二电芯在目标测试时长下的开路电压变化值与m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化均值的差值；第二数值为m个样本电芯在目标测试时长下的开路电压变化标准差的三倍；第二电芯为m个样本电芯中的任一个电芯。
93.可选的，在另一种可能的设计方式中，第三测试时刻为，将m个样本电芯的荷电状态调整为预设荷电状态预设时长后的时刻。
94.可选的，异常电芯的检测装置还可以包括存储模块，存储模块用于存储该异常电芯的检测装置的程序代码等。
95.如图7所示，本技术实施例还提供一种电子设备，该电子设备可以是本技术实施例中的第一电子设备，也可以是本技术实施例中的第二电子设备。该电子设备包括存储器41、处理器42(42-1和42-2)、总线43和通信接口44；存储器41用于存储计算机执行指令，处理器42与存储器41通过总线43连接；当电子设备运行时，处理器42执行存储器41存储的计算机执行指令，以使电子设备执行如上述实施例提供的异常电芯的检测方法。
96.在具体的实现中，作为一种实施例，处理器42可以包括一个或多个中央处理器(central processing unit，cpu)，例如图7中所示的cpu0和cpu1。且作为一种实施例，电子设备可以包括多个处理器42，例如图7中所示的处理器42-1和处理器42-2。这些处理器42中的每一个cpu可以是一个单核处理器(single-cpu)，也可以是一个多核处理器(multi-cpu)。这里的处理器42可以指一个或多个设备、电路、和/或用于处理数据(例如计算机程序指令)的处理核。
97.存储器41可以是只读存储器41(read-only memory，rom)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，随机存取存储器(random access memory，ram)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器(electrically erasable programmable read-only memory，eeprom)、只读光盘(compact disc read-only memory，cd-rom)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。存储器41可以是独立存在，通过总线43与处理器42相连接。存储器41也可以和处理器42集成在一起。
98.在具体的实现中，存储器41，用于存储本技术中的数据和执行本技术的软件程序对应的计算机执行指令。处理器42可以通过运行或执行存储在存储器41内的软件程序，以及调用存储在存储器41内的数据，电子设备的各种功能。
99.通信接口44，使用任何收发器一类的装置，用于与其他设备或通信网络通信，如控
制系统、无线接入网(radio access network，ran)，无线局域网(wireless local area networks，wlan)等。通信接口44可以包括接收单元实现接收功能，以及发送单元实现发送功能。
100.总线43，可以是工业标准体系结构(industry standard architecture，isa)总线、外部设备互连(peripheral component interconnect，pci)总线或扩展工业标准体系结构(extended industry standard architecture，eisa)总线等。该总线43可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图7中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
101.作为一个示例，结合图6，异常电芯的检测装置中的获取模块实现的功能与图7中的接收单元实现的功能相同，异常电芯的检测装置中的确定模块实现的功能与图7中的处理器实现的功能相同，异常电芯的检测装置中的发送模块实现的功能与图7中的发送单元实现的功能相同，异常电芯的检测装置中的存储模块实现的功能与图7中的存储器实现的功能相同。
102.本实施例中相关内容的解释可参考上述方法实施例，此处不再赘述。
103.通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
104.本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当计算机执行该指令时，使得计算机执行上述实施例提供的异常电芯的检测方法。
105.其中，计算机可读存储介质，例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、ram、rom、可擦式可编程只读存储器(erasable programmable read only memory，eprom)、寄存器、硬盘、光纤、cd-rom、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合、或者本领域熟知的任何其它形式的计算机可读存储介质。一种示例性的存储介质耦合至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于特定用途集成电路(application specific integrated circuit，asic)中。在本技术实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
106.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何在本技术揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。