用于功率电子器件的四探针测试仪的制作方法

1.本实用新型涉及半导体器件测试技术领域，尤其涉及一种用于功率电子器件的四探针测试仪。


背景技术：

2.半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可以用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量交换。
3.随着通信技术的迅速发展，半导体器件因其性能优异、体积小、重量轻等优点，在多个领域得到广泛应用，为了确保产品性能合格、稳定可靠，因此需要对半导体器件进行检测。现有技术中的四探针测试仪，存在以下缺陷：不能对待测试的器件进行快速、稳定的夹持，导致测试效率较低，还会出现损伤器件的情况。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是提供一种用于功率电子器件的四探针测试仪，该用于功率电子器件的四探针测试仪可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，还可以有效避免器件在圆盘转动过程中发生位置偏移或者脱落的情况，提高测试的效率和准确性。
5.为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于功率电子器件的四探针测试仪，包括：基板、可转动地安装于基板上方的圆盘和设置于圆盘正上方的探测仪，一支架的底部安装于基板上并位于圆盘外侧，所述支架的上部延伸至圆盘上方并安装有所述探测仪，所述圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，所述圆盘的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，所述圆盘外侧可转动地安装有一与所述齿槽啮合的齿轮；
6.所述安装座进一步包括：内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块，所述夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，所述夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区。
7.上述技术方案中进一步改进的方案如下：
8.1. 上述方案中，所述夹持块的竖直部朝向夹持区的表面为弧形面。
9.2. 上述方案中，所述基板下方设置有与探测仪电连接的检测仪。
10.3. 上述方案中，所述齿轮通过一竖直设置的固定轴安装于检测仪上。
11.4. 上述方案中，所述齿轮与圆盘的直径比值为1：10~20。
12.由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
13.本实用新型用于功率电子器件的四探针测试仪，其夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区，可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，还可以有效避免器件在圆盘转动过程中发生位置偏移或者脱落的情况，提高测试的效率和准确
性。
附图说明
14.附图1是本实用新型的整体结构示意图；
15.附图2是本实用新型的局部结构剖面图。
16.以上附图中：1、基板；2、圆盘；3、探测仪；4、支架；5、安装座；51、座体；52、夹持块；6、齿轮；7、弹簧；8、检测仪；9、固定轴。
具体实施方式
17.在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
18.下面结合实施例对本实用新型作进一步描述：
19.实施例1：一种用于功率电子器件的四探针测试仪，包括：基板1、可转动地安装于基板1上方的圆盘2和设置于圆盘2正上方的探测仪3，一支架4的底部安装于基板1上并位于圆盘2外侧，所述支架4的上部延伸至圆盘2上方并安装有所述探测仪3，所述圆盘2上沿周向间隔设置有若干个安装座5，所述圆盘2的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，所述圆盘2外侧可转动地安装有一与所述齿槽啮合的齿轮6；
20.所述安装座5进一步包括：内部开设有安装槽的座体51和2个轴对称设置的夹持块52，所述夹持块52各自的水平部滑动安装于座体51的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧7与安装槽内侧壁连接，所述夹持块52各自的竖直部自开设于座体51上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块52的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区，将待检测的半导体器件插入到对称设置的两个夹持块之间，通过夹持块上的弹簧来对半导体器件进行快速固定，提高了固定的效率。
21.上述夹持块52的竖直部朝向夹持区的表面为弧形面。
22.上述基板1下方设置有与探测仪3电连接的检测仪8。
23.上述齿轮6通过一竖直设置的固定轴9安装于检测仪8上。
24.实施例2：一种用于功率电子器件的四探针测试仪，包括：基板1、可转动地安装于基板1上方的圆盘2和设置于圆盘2正上方的探测仪3，一支架4的底部安装于基板1上并位于圆盘2外侧，所述支架4的上部延伸至圆盘2上方并安装有所述探测仪3，所述圆盘2上沿周向间隔设置有若干个安装座5，所述圆盘2的外圆周面下部具有沿全周向分布的齿槽，所述圆盘2外侧可转动地安装有一与所述齿槽啮合的齿轮6；
25.所述安装座5进一步包括：内部开设有安装槽的座体51和2个轴对称设置的夹持块
52，所述夹持块52各自的水平部滑动安装于座体51的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧7与安装槽内侧壁连接，所述夹持块52各自的竖直部自开设于座体51上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块52的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区，将待检测的半导体器件插入到对称设置的两个夹持块之间，通过夹持块上的弹簧来对半导体器件进行快速固定，提高了固定的效率。
26.上述夹持块52的竖直部朝向夹持区的表面为弧形面。
27.上述基板1下方设置有与探测仪3电连接的检测仪8。
28.上述齿轮6与圆盘2的直径比值为1：10~20，转动齿轮带动圆盘转动，能够更精准的使半导体器件移动到探测仪的下方，从而方便接下来的测试，由于齿轮的外径远远小于圆盘的外径，因此能够提高圆盘的调节精度。
29.采用上述用于功率电子器件的四探针测试仪时，其圆盘上沿周向间隔设置有若干个安装座，安装座进一步包括：内部开设有安装槽的座体和2个轴对称设置的夹持块，夹持块各自的水平部滑动安装于座体的安装槽内并通过一处于挤压状态的弹簧与安装槽内侧壁连接，夹持块各自的竖直部自开设于座体上表面并与安装槽连通的避位孔中向上伸出，从而在两个夹持块的竖直部之间形成一供器件嵌入的夹持区，可以实现对器件的快速、稳定夹持且不损伤器件，还可以有效避免器件在圆盘转动过程中发生位置偏移或者脱落的情况，提高测试的效率和准确性。
30.上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。