一种IC去除装置及TOC分析系统的制作方法

技术特征：
1.一种ic去除装置，其特征在于，包括壳体以及选择透过膜；所述选择透过膜为薄片状结构，且所述选择透过膜用于供碳氧化物通过；所述选择透过膜设置于所述壳体，且所述壳体在所述选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，所述第一空间用于容纳通过所述选择透过膜的碳氧化物，所述第二空间用于容纳样品流体。2.根据权利要求1所述的ic去除装置，其特征在于，所述壳体包括相对设置的上流道夹板和下流道夹板，所述选择透过膜夹设于所述上流道夹板和所述下流道夹板之间，且所述上流道夹板限定所述第一空间，所述下流道夹板限定所述第二空间。3.根据权利要求2所述的ic去除装置，其特征在于，所述壳体还包括上固定板和下固定板，所述下固定板位于所述下流道夹板下侧，所述上固定板位于所述上流道夹板上侧，且所述上固定板与所述下固定板锁紧固定，以将所述上流道夹板、所述选择透过膜以及所述下流道夹板夹持固定。4.根据权利要求3所述的ic去除装置，其特征在于，所述上固定板开设有与所述第一空间连通的第一入口和第一出口，所述下固定板开设有与所述第二空间连通的第二入口和第二出口，所述第一入口和所述第二出口用于供所述样品流体进出所述第二空间。5.根据权利要求1所述的ic去除装置，其特征在于，所述第一空间呈往复弯折的蛇形；和/或，所述第二空间呈往复弯折的蛇形。6.根据权利要求5所述的ic去除装置，其特征在于，所述第二空间在上下方向上的投影落在所述第一空间内，且所述第一空间的长度大于所述第二空间。7.根据权利要求1所述的ic去除装置，其特征在于，所述选择透过膜的厚度为10μm-200μm。8.根据权利要求1所述的ic去除装置，其特征在于，所述ic去除装置还包括设置在所述壳体外的加热件，所述加热件位于所述第二空间远离所述第一空间的一侧，且所述加热件用于使所述第二空间内的所述样品流体的温度位于预设温度范围内。9.根据权利要求1-8任一项所述的ic去除装置，其特征在于，所述ic去除装置还包括真空泵以及空气净化柱，所述真空泵和所述空气净化柱均与所述第一空间连通，且所述真空泵用于在所述第一空间内形成真空，所述空气净化柱用于在空气进入所述第一空间前对所述空气进行净化。10.一种toc分析系统，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的ic去除装置。

技术总结
本实用新型的实施例提供了一种IC去除装置及TOC分析系统，涉及TOC检测技术领域。IC去除装置包括壳体以及选择透过膜，选择透过膜为薄片状结构，其设置于壳体，且选择透过膜用于供碳氧化物选择性通过，即一氧化碳和二氧化碳之类的碳氧化物能够从选择透过膜的一侧运动至另一侧，而其他物质则不可以。同时壳体在选择透过膜的上下两侧分别形成第一空间和第二空间，第二空间用于容纳样品流体，样品流体中的碳氧化物即可穿过选择透过膜从而进入第一空间中。试验证明，由于选择透过膜呈薄片状结构，碳氧化物的透过率大大提高，故IC去除率也进一步大大提高。进一步大大提高。进一步大大提高。


技术研发人员：张文俊 黎雷
受保护的技术使用者：碳逐迹科技（上海）有限公司
技术研发日：2022.05.10
技术公布日：2022/9/6