一种电子存储产品高低温老化测试设备的制作方法

1.本实用新型涉及老化测试设备技术领域，具体为一种电子存储产品高低温老化测试设备。


背景技术：

2.老化测试项目是指模拟电子产品在高低温环境条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，常见的老化主要有光照老化，湿热老化，热风老化，在现阶段存在的针对于电子元器件的老化测试箱中，基本多数都是通过固定的夹具对电子元器件进行夹持，在对不同型号与规格的电子元器件进行测试时需更换夹具。
3.现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题，为此，我们提出一种电子存储产品高低温老化测试设备。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种电子存储产品高低温老化测试设备，以解决上述背景技术中提出由于现有的老化测试设备具有不方便对电子产品进行安放或取出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：
6.测试箱主体，所述测试箱主体的内部上方开设有低温老化室，所述测试箱主体的内部下方开设有高温老化室，所述高温老化室的前端活动设有第二防护门，所述低温老化室的前端活动设有第一防护门；
7.滑槽，其开设在所述低温老化室的内壁，所述滑槽的内部活动设有检测托板，所述检测托板的左右两壁后端固定设有滑轨，所述滑轨的内部活动设有滚轮；
8.固定板，其活动设在所述检测托板的上方，所述固定板的一端活动设有弹簧转轴，所述固定板的内壁固定设有防护垫，所述防护垫的内侧活动设有电子产品盒。
9.优选的，所述检测托板通过滑轨与滑槽相互卡合，所述检测托板通过滑轨和滚轮与滑槽构成滑动结构，所述检测托板与滑轨二者呈一体式固定。
10.优选的，所述防护垫与固定板的内壁固定胶粘连接，所述固定板的结构为半圆环型结构，所述固定板通过弹簧转轴与检测托板构成转动结构。
11.优选的，所述测试箱主体还设有：
12.第二防护箱，其固定设在所述测试箱主体的后端上方，所述第二防护箱的内部固定安装有制冷机。
13.优选的，所述第二防护箱还设有：
14.第一防护箱，其固定安装在所述第二防护箱的下方，所述第一防护箱的内部固定安装有电热器，所述第一防护箱与测试箱主体的后壁固定连接，所述测试箱主体、第一防护箱和第二防护箱三者呈一体式固定。
15.优选的，所述测试箱主体还设有：
16.制冷铜管，其固定设置在所述测试箱主体的内部后壁，所述制冷铜管的下方设有电热丝，所述电热丝与测试箱主体的内部后壁固定连接。
17.优选的，所述高温老化室的尺寸与低温老化室的尺寸相同，所述第一防护门的尺寸与低温老化室的尺寸相互匹配。
18.与现有技术相比，本实用新型提供了一种电子存储产品高低温老化测试设备，具备以下有益效果：该高低温老化测试设备通过滑轨内部的多个滚轮可以轻松的向前拉出检测托板，以此方便把装有电子元件的电子产品盒摆放到检测托板上，从而方便摆放和取出。
19.1.本实用新型通过弹簧转轴的弹性可以使两个固定板向中心位置转动，以此通过两个固定板可以对电子产品盒进行固定，从而保证在测试时的稳定性；
20.2.本实用新型通过第二防护箱内部制冷机的工作，可以通过制冷铜管对低温老化室进行快速降温，以此可以在低温老化室内部进行低温测试；
21.3.本实用新型通过第一防护箱内部电热器的工作，可以通过电热丝对高温老化室内部进行加温，以此可以在高温老化室内部对电子元件进行测试。
附图说明
22.图1为本实用新型整体结构示意图；
23.图2为本实用新型低温老化室结构示意图；
24.图3为本实用新型检测托板结构示意图；
25.图4为本实用新型测试箱主体内部结构示意图。
26.图中：1、测试箱主体；2、第一防护门；3、第二防护门；4、第一防护箱；5、电热器；6、第二防护箱；7、制冷机；8、低温老化室；9、滑槽；10、检测托板；11、高温老化室；12、固定板；13、防护垫；14、电子产品盒；15、滑轨；16、滚轮；17、弹簧转轴；18、制冷铜管；19、电热丝。
具体实施方式
27.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
28.如图1和图4所示，一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：第二防护箱6，其固定设在测试箱主体1的后端上方，第二防护箱6的内部固定安装有制冷机7；第一防护箱4，其固定安装在第二防护箱6的下方，第一防护箱4的内部固定安装有电热器5，第一防护箱4与测试箱主体1的后壁固定连接，测试箱主体1、第一防护箱4和第二防护箱6三者呈一体式固定；高温老化室11的尺寸与低温老化室8的尺寸相同，第一防护门2的尺寸与低温老化室8的尺寸相互匹配，通过第二防护箱6内部制冷机7的工作，可以通过制冷铜管18对低温老化室8进行快速降温，以此可以在低温老化室8内部进行低温测试；制冷铜管18，其固定设置在测试箱主体1的内部后壁，制冷铜管18的下方设有电热丝19，电热丝19与测试箱主体1的内部后壁固定连接，通过第一防护箱4内部电热器5的工作，可以通过电热丝19对高温老化室11内部进行加温，以此可以在高温老化室11内部对电子元件进行测试。
29.如图2和图3所示，一种电子存储产品高低温老化测试设备，包括：测试箱主体1，测
试箱主体1的内部上方开设有低温老化室8，测试箱主体1的内部下方开设有高温老化室11，高温老化室11的前端活动设有第二防护门3，低温老化室8的前端活动设有第一防护门2；滑槽9，其开设在低温老化室8的内壁，滑槽9的内部活动设有检测托板10，检测托板10的左右两壁后端固定设有滑轨15，滑轨15的内部活动设有滚轮16，通过滑轨15内部的多个滚轮16可以轻松的向前拉出检测托板10，以此方便把装有电子元件的电子产品盒14摆放到检测托板10上，从而方便摆放和取出；固定板12，其活动设在检测托板10的上方，固定板12的一端活动设有弹簧转轴17，固定板12的内壁固定设有防护垫13，防护垫13的内侧活动设有电子产品盒14，通过防护垫13防止夹伤电子产品盒14；检测托板10通过滑轨15与滑槽9相互卡合，检测托板10通过滑轨15和滚轮16与滑槽9构成滑动结构，检测托板10与滑轨15二者呈一体式固定；防护垫13与固定板12的内壁固定胶粘连接，固定板12的结构为半圆环型结构，固定板12通过弹簧转轴17与检测托板10构成转动结构，通过弹簧转轴17的弹性可以使两个固定板12向中心位置转动，以此通过两个固定板12可以对电子产品盒14进行固定，从而保证在测试时的稳定性。
30.工作原理：在使用该电子存储产品高低温老化测试设备时，首先，通过滑轨15内部的多个滚轮16可以向前拉出检测托板10，以此滑轨15在滑槽9内部滑动，可以轻松的前行拉出；其次，把电子产品盒14摆放到检测托板10上，之后通过两个弹簧转轴17带动两个固定板12向中心转动，以此可以对电子产品盒14进行夹持固定，同时通过防护垫13防止夹伤电子产品盒14，并且对第一防护门2进行闭合，通过第一防护门2的闭合，可以对低温老化室8进行密封，以此保证在对电子产品进行低温测试时的密封性，不会受外部环境影响；然后通过第二防护箱6内部的制冷机7经过制冷铜管18对低温老化室8进行快速降温，以此可以对电子零件进行低温测试；最后第一防护箱4内部电热器5的工作，经过电热丝19对高温老化室11进行加温，以此可以对电子零件进行高温测试，同时通过第二防护箱6对制冷机7进行保护，以此保证制冷机7工作运行时的稳定性，并且通过第一防护箱4对电热器5进行保护，以此保证电热器5的稳定性。
31.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。