一种测试板及测试装置的制作方法

1.本技术涉及存储器测试技术领域，具体涉及一种测试板及测试装置。


背景技术：

2.存储器测试板上通常布置有多种元器件，被动元件是其中最常用的一种元器件。在同一电路中，不同类型的被动元件可以起到不同的作用，比如，电阻可以控制电路的电流或电压，电容可以在电路中滤波或储能。而不同数值的同一类型的被动元件也有不同作用，以电阻为例，零欧电阻可以起到减少布线难度、保留调整位置、或者作为短路保护的作用；高阻值电阻则起到限流、分流的作用。因此，对于同一测试电路，更换不同的被动元件可以形成不同功能的电路。
3.由于被动元件一般都是焊接在基板上，当需要更换不同数值甚至类型的被动元件进行测试时，需要拆下原被动元件再重新焊接新被动元件，不仅操作繁琐，而且拆焊原被动元件时容易导致原被动元件报废，增加了成本。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种测试板及测试装置，可以对测试板的被动元件进行更换，不仅操作简单，而且拆下的原被动元件可以重复利用，可以降低成本。
5.第一方面，本技术实施例提供一种测试板，包括：
6.基板；
7.安装槽，设置在所述基板上，所述安装槽的内壁设置有弹性导电部、固定导电部和限位部，所述弹性导电部和所述固定导电部相对设置，并分别与所述基板电连接，用于固定被动元件，所述限位部位于所述固定导电部的上方，用于对所述被动元件进行限位。
8.可选的，所述安装槽包括相对设置的第一侧板和第二侧板，所述弹性导电部设置于所述第一侧板靠近所述第二侧板的一面，所述固定导电部和所述限位部设置于所述第二侧板靠近所述第一侧板的一面。
9.可选的，所述限位部为凸起结构。
10.可选的，所述第二侧板靠近所述第一侧板的一面包括相互连接的竖直面和倾斜面，所述倾斜面位于所述竖直面的上方，所述固定导电部位于所述竖直面上，所述倾斜面的顶端相对底端向所述第一侧板的一侧倾斜，所述倾斜面构成所述限位部。
11.可选的，所述第一侧板向所述第二侧板的一侧弯折延伸有两个相对设置的第一折边，所述第二侧板向所述第一侧板的一侧弯折延伸有两个相对设置的第二折边，所述第一折边和所述第二折边用于对所述被动元件进行水平方向限位。
12.可选的，所述弹性导电部为导电弹片或导电弹簧。
13.可选的，所述测试板还包括：
14.被动元件，包括第一电极和第二电极，所述第一电极与所述弹性导电部接触，所述第二电极与所述固定导电部接触，所述弹性导电部和所述固定导电部将所述被动元件固定
于所述安装槽中，所述限位部对所述被动元件靠近所述固定导电部的一端进行竖直方向限位；
15.测试芯片，设置于所述基板上，并通过所述基板与所述被动元件电连接；
16.第一接口，设置于所述基板上，并与所述基板电连接，用于连接待测试模块；
17.第二接口，设置于所述基板上，并与所述基板电连接，用于连接外部电源，其中，所述外部电源用于给所述待测试模块供电；
18.第三接口，设置于所述基板上，并与所述基板电连接，用于连接外部主机；
19.所述测试芯片通过所述基板分别与所述第一接口、所述第二接口和所述第三接口电连接。
20.可选的，所述外部主机通过所述第三接口向所述测试板供电，以及向所述测试板进行数据传输和命令传输。
21.可选的，所述测试芯片用于向所述待测试模块进行数据传输或中断数据传输，以及控制所述外部电源向所述待测试模块进行供电或中断供电。
22.可选的，所述被动元件为电阻。
23.第二方面，本技术实施例提供一种测试装置，包括如上实施例所述的测试板。
24.本技术实施例中，测试板包括基板，设置在基板上的安装槽，安装槽的内壁设置有弹性导电部、固定导电部和限位部，弹性导电部和固定导电部相对设置，并分别与基板电连接，用于固定被动元件，限位部位于固定导电部的上方，用于对被动元件进行限位。由于被动元件通过弹性导电部和固定导电部进行夹持固定，以及通过弹性导电部和固定导电部与基板进行电连接，并进一步通过限位部进行限位，而不是通过传统的焊接与基板进行连接，更换拆卸时不会对原被动元件造成破坏，拆下的原被动元件可以重复利用，从而可以降低成本，并且更换操作方便。
附图说明
25.下面结合附图，通过对本技术的具体实施方式详细描述，将使本技术的技术方案及其有益效果显而易见。
26.图1是本技术实施例提供的一种测试板的结构示意图；
27.图2是图1中a部分的放大结构示意图；
28.图3是本技术实施例提供的一种安装槽的结构示意图；
29.图4是本技术实施例提供的一种电阻与测试芯片之间的电路连接示意图；
30.图5是本技术实施例提供的一种测试板的电路结构示意图；
31.图6是本技术实施例提供的另一种安装槽的结构示意图；
32.图7是本技术实施例提供的一种电阻安装过程示意图；
33.图8是本技术实施例提供的另一种电阻安装过程示意图。
具体实施方式
34.请参照图示，其中相同的组件符号代表相同的组件，以下的说明是基于所例示的本技术具体实施例，其不应被视为限制本技术未在此详述的其它具体实施例。
35.请参阅图1-图3，图1是本技术实施例提供的一种测试板的结构示意图，图2是图1
中a部分的放大结构示意图，图3是本技术实施例提供的一种安装槽的结构示意图。该测试板100包括基板10和安装槽20，基板10可以是刚性电路板，也可以是柔性电路板加上补强板的组合件。安装槽20设置在基板10上，安装槽20的内壁设置有弹性导电部21、固定导电部22和限位部242，弹性导电部21和固定导电部22相对设置，并分别与基板10电连接；弹性导电部21和固定导电部22可以固定被动元件30，限位部242位于固定导电部22的上方，用于对被动元件30进行限位。
36.相关技术中，由于被动元件一般都是焊接在基板上，当需要更换不同的参数值甚至类型的被动元件进行测试时，需要拆下原被动元件再重新焊接新被动元件，不仅操作繁琐，而且拆焊原被动元件时容易导致原被动元件报废，增加了成本。
37.可以理解的是，本实施例中被动元件30可以安装在安装槽20中，具体来说，被动元件30通过弹性导电部21和固定导电部22进行夹持固定，以及通过弹性导电部21和固定导电部22与基板10进行电连接，并进一步通过限位部242进行限位。该被动元件30可以是电阻、电容或电感等元件，当需要更换安装槽内的被动元件30时，例如将高阻值的电阻更换为低阻值的电阻，或者将高阻值的电阻更换为电容等，由于弹性导电部21可以变形，从而可以从安装槽20中取出原被动元件30，将新的被动元件装入安装槽20即可。例如，可以通过镊子进行操作更换，不需要采用专门的焊接工具。
38.本实施例中，由于被动元件30通过安装槽20与基板10的电连接为物理的机械连接，具体通过弹性导电部21和固定导电部22夹紧固定，并进一步通过限位部242进行限位，而不是传统的焊接连接，更换拆卸时不会对原被动元件造成破坏，拆下的原被动元件可以重复利用，从而可以降低成本，并且更换操作方便。
39.需要说明的是，本实施例中，测试板上还可以包括其他结构，比如，可以设置一个或多个芯片，以及设置相应的被动元件，以实现特定功能的测试电路，还可以设置相应的电源接口、数据接口等等。具体的测试电路及接口，本领域技术人员可以根据实际需要进行设计，本技术创新之处在于测试板10上设置的安装槽20，被动元件30可以通过物理的机械连接实现与基板10的电性连接，而不是采用传统的焊接连接结构。
40.以下实施例中，以被动元件30为电阻30对本实用新型作进一步说明。
41.电阻30的第一电极31与安装槽20的弹性导电部21接触，电阻30的第二电极32与安装槽20的固定导电部22接触，即电阻30位于弹性导电部21和固定导电部22之间，并被弹性导电部21和固定导电部22夹紧固定。同时由于安装槽20的弹性导电部21和固定导电部22分别与基板10电连接，从而使电阻30与基板10电连接，测试芯片40设置于基板10上，并通过基板10与电阻30电连接，从而形成测试电路。例如，图4示出了一种电阻30与测试芯片40之间的电路连接示意图，电阻30连接在测试芯片40的电源引脚vdd与外部电源vcc之间，用作限流电阻。电阻30还可以连接在测试芯片40的两个引脚焊点之间，用作测试芯片40的分压电阻，实现对电路电压的控制。电阻30还可以连接在测试芯片40的信号焊点与外部源之间或测试芯片40的信号焊点与地线之间，作为上拉电阻或下拉电阻以稳定电路状态或提高输出信号的电平值等等。当需要调整电路功能更换新的阻值的电阻时，由于弹性导电部21可以变形，从而可以从安装槽20中取出电阻30，将新的阻值的电阻装入安装槽20即可。例如，可以通过镊子进行操作更换，不需要采用专门的焊接工具在一个实施例中，请参阅图1和图5，图5是本技术实施例提供的一种测试板的电路结构示意图，测试板100可以包括基板10、安
装槽20、电阻30、测试芯片40、第一接口50、第二接口60和第三接口70。
42.安装槽20设置在基板10上，安装槽20的内壁设置有弹性导电部21、固定导电部22和限位部242，弹性导电部21和固定导电部22相对设置，并分别与基板10电连接；限位部242位于固定导电部22的上方。
43.电阻30包括第一电极31和第二电极32，第一电极31与安装槽20的弹性导电部21接触，第二电极32与安装槽20的固定导电部22接触，即电阻30位于弹性导电部21和固定导电部22之间，并被弹性导电部21和固定导电部22夹紧固定。同时由于安装槽20的弹性导电部21和固定导电部22分别与基板10电连接，从而使电阻30与基板10电连接，限位部242位于固定导电部22的上方，可以对电阻30靠近固定导电部22的一端进行竖直方向限位。
44.测试芯片40设置于基板10上，并通过基板10与电阻30电连接，从而形成测试电路。例如，图4示出了一种电阻30与测试芯片40之间的电路连接示意图，电阻30连接在测试芯片40的电源引脚vdd与外部电源vcc之间，用作限流电阻。电阻30还可以连接在测试芯片40的两个引脚焊点之间，用作测试芯片40的分压电阻，实现对电路电压的控制。电阻30还可以连接在测试芯片40的信号焊点与外部源之间或测试芯片40的信号焊点与地线之间，作为上拉电阻或下拉电阻以稳定电路状态或提高输出信号的电平值等等。当需要调整电路功能更换新的阻值的电阻时，由于弹性导电部21可以变形，从而可以从安装槽20中取出电阻30，将新的阻值的电阻装入安装槽20即可。
45.第一接口50设置于基板10上，并与基板10电连接，用于连接待测试模块81，比如，第一接口50可以是usb接口。第二接口60设置于基板10上，并与基板10电连接，用于连接外部电源82，比如，第二接口60可以是dc电源插座，外部电源82通过第二接口60给待测试模块81供电。第三接口70设置于基板10上，并与基板10电连接，用于连接外部主机83，比如，第三接口70可以是usb type-c接口。测试芯片40通过基板10与第一接口50、第二接口60和第三接口70电连接。作为一个示例，外部主机83可以通过第三接口70向测试板100供电，以及向测试板100进行数据传输和命令传输，测试芯片40用于向待测试模块81进行数据传输或中断数据传输，以及控制外部电源82向待测试模块81进行供电或中断供电。
46.本实施例的测试板100进行测试时，将待测试模块81连接第一接口50，将外部电源82连接第二接口60，并向待测试模块81提供电源。外部主机83连接第三接口70，为测试板100提供电源，并且将数据通过第三接口70传输给测试芯片40，测试芯片40再通过第一接口50将数据传输给待测试模块81。测试芯片40可以管理第三接口70处的数据传输行为和以及第二接口60处的电源供给行为，因此能够在向待测试模块81传输数据时断开第二接口60处的供电，模拟待测试模块81在进行数据传输时突然断电的情况，测试芯片40随后还可以控制恢复对待测试模块81的供电，以验证待测试模块81在突然断电时的使用情况。本实施例可以进行待测试模块81的掉电测试，以确定待测试模块81的可靠性。需要说明的是，本实施例各元器件及接口的设置以及测试原理只是其中一个实施例，本领域技术人员可以根据实际需求，设置其他的元器件和接口，比如设置多个测试芯片40以及多个第一接口50，并适应性改变其他电路设计，以同时对多个待测试模块81进行测试。
47.在一个实施例中，请参阅图2和图3，测试板100的安装槽20可以包括相对设置的第一侧板23和第二侧板24，弹性导电部21设置于第一侧板23靠近第二侧板24的一面，固定导电部22和限位部242设置于第二侧板24靠近第一侧板23的一面，即弹性导电部21和固定导
电部22分别位于第一侧板23和第二侧板24的内侧，并相对设置，从而可以对电阻30进行夹持固定，并实现电阻30与基板10之间的电连接，限位部242位于第二侧板24的内侧，并处于固定导电部22的上方，对电阻30靠近固定导电部22的一端进行限位，即限位部242基本位于电阻30的顶面，限制电阻30向上运动，防止电阻30从固定导电部22处滑出，以提高电阻30的固定效果和电性连接可靠性。作为一个示例，弹性导电部21可以是导电弹片或导电弹簧，当导电弹片或导电弹簧被压缩时，将电阻30放入安装槽20，通过导电弹片或导电弹簧的回复力对电阻30进行夹持固定。
48.作为一个示例，请继续参阅图2，安装槽20的第一侧板23还可以包括两个第一折边231，第二侧板24还可以包括两个第二折边241，具体来说，第一侧板23向第二侧板24的一侧弯折延伸有两个相对设置的第一折边231，第二侧板24向第一侧板23的一侧弯折延伸有两个相对设置的第二折边241，第一折边231和第二折边241可以对电阻30进行水平方向限位。即第一侧板23和两个第一折边231大致形成“c”形，第二侧板24和两个第二折边241大致形成“c”形，本实施例的安装槽20可以更好地对电阻30进行固定，并且有利于电阻30的安装操作。
49.作为一个示例，限位部242可以是凸起结构，比如挡块或筋条等。
50.作为另一个示例，请参阅图6，图6是本技术实施例提供的另一种安装槽的结构示意图。限位部242还可以是斜面结构，比如，可以在第二侧板24上设置该斜面结构。例如，第二侧板24靠近第一侧板23的一面包括相互连接的竖直面243和倾斜面242(即限位部)，倾斜面242位于竖直面243的上方，固定导电部22位于竖直面243上，倾斜面242的顶端相对底端向第一侧板23的一侧倾斜。
51.比如，请参阅图7，图7为本技术实施例提供的一种电阻安装过程示意图。当弹性导电部21是导电弹片、限位部242是斜面结构时，可以先将电阻30的一端安装到限位部242以下，然后将电阻30的另一端向下按压，导电弹片发生变形，电阻30安装到位后，导电弹片对电阻30进行挤压固定。本实施例的测试板，在安装电阻30时，采用机械式电连接，而非传统的焊接，便于拆换，并且拆下的电阻可以重复使用，降低成本。需要说明的是，本实施例中，当限位部242是凸起结构时，电阻30的安装方法也同样适用，本技术不再进行赘述。
52.比如，请参阅图8，图8为本技术实施例提供的另一种电阻安装过程示意图。当弹性导电部21是导电弹簧、限位部242是凸起结构时，由于导电弹簧为线状螺旋结构，可以先将电阻30的一端抵接至导电弹簧上并施加横向压力，使导电弹簧压缩，然后将电阻30的另一端向下按压，电阻30安装到位后，导电弹簧对电阻30进行挤压固定。需要说明的是，本实施例中，当限位部242是斜面结构时，电阻30的安装方法也同样适用，本技术不再进行赘述。
53.本技术实施例还提供一种测试装置，该测试装置包括至少一个测试板，该测试板为上述任一实施例中的测试板，可以将测试板上的原被动元件更换为新参数值的被动元件或者新类型的被动元件。例如，当该被动元件为电阻时，可以将测试板上的电阻更换为新的阻值的电阻，以调整测试板测试电路中的电流或者电压。拆下的原电阻可以重复利用，从而可以降低成本，并且拆卸与安装也更加方便。
54.以上对本技术实施例所提供的一种测试板及测试装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体
实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。