一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法与流程

1.本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法。


背景技术：

2.芯片又称为集成电路英语：integrated circuit，缩写作ic；或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
3.设计初期系统级芯片测试，soc的基础是深亚微米工艺，因此，对soc器件的测试需要采用全新的方法。由于每个功能元件都有其自身的测试要求，设计工程师必须在设计初期就做出测试规划。
4.芯片测试经常用到芯片测试装置，现有的芯片测试装置，不能满足不同尺寸大小芯片的使用进行测试，每种尺寸芯片测试都有独立的测试装置，质量测试其测试单一，不够全面从而影响测试质量，引脚测试效率低，为此，我们提出了一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法。


技术实现要素：

5.本发明的目的是为了解决现有技术中存在芯片测试经常用到芯片测试装置，现有的芯片测试装置，不能满足不同尺寸大小芯片的使用进行测试，每种尺寸芯片测试都有独立的测试装置，质量测试其测试单一，不够全面从而影响测试质量，引脚测试效率低的缺点，而提出的一种多用途芯片测试装置及芯片测试方法。
6.为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
7.设计一种多用途芯片测试装置，包括，
8.质量检测台，所述质量检测台的顶侧设有间距调节装置；
9.挡板a，所述挡板a通过卡扣可拆卸式连接在质量检测台的顶侧；
10.输送带a，所述输送带a内嵌在质量检测台的顶侧；
11.龙门架a，所述龙门架a通过螺栓可拆卸式连接在质量检测台的顶侧；
12.所述龙门架a的一侧固定设有多角度质检装置；
13.所述质量检测台的一侧且靠近龙门架a的位置固定设有第一次品收集装置；
14.运输台，所述运输台设置于质量检测台的一侧；
15.挡板b，所述挡板b固定连接在运输台的顶侧；
16.引脚检测台，所述引脚检测台设置于运输台的一侧，所述引脚检测台的一侧设有第二次品收集装置；
17.输送带b，所述输送带b内嵌于引脚检测台的顶侧；
18.龙门架b，所述龙门架b固定连接在引脚检测台的顶侧；
19.所述龙门架b的一侧固定设有引脚测试装置；
20.控制台，所述控制台设置于质量检测台的一侧；
21.显示屏，所述显示屏通过导线电性连接在控制台的顶侧。
22.优选的，所述间距调节装置包括：支撑杆a，所述支撑杆a的数量为两个，且分别设置于质量检测台的两侧，所述支撑杆a的顶侧固定设有支撑板a，所述支撑板a的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆a，所述电动推杆a的轴端固定连接设有推板a。
23.优选的，所述多角度质检装置包括：电机a，所述电机a通过螺栓可拆卸式连接在龙门架a的一侧，所述电机a的轴端固定设有螺纹杆a，所述螺纹杆a的外侧通过螺纹传动套接设有移动块a，所述移动块a的底侧插接设有连接框，所述连接框的一侧通过螺栓可拆卸式连接设有电机b，所述电机b的轴端固定设有螺纹杆b，所述螺纹杆b的外侧通过螺纹传动套接设有移动块b，所述移动块b的底侧活动插接设有质检摄像头。
24.优选的，所述第一次品收集装置包括：支撑杆b，所述支撑杆b位于质量检测台的一侧，所述支撑杆b的顶侧固定设有支撑板b，所述支撑板b的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆b，所述电动推杆b的轴端固定设有推板b，所述质量检测台远离支撑杆b的一侧设有次品收集箱a，所述次品收集箱a的底侧固定设有若干万向轮。
25.优选的，所述引脚测试装置包括：电机c，所述电机c通过螺栓可拆卸式连接在龙门架b的顶侧，所述电机c的轴端固定设有旋转盘，所述旋转盘的底侧平行对称插接设有两个测试探针。
26.优选的，所述第二次品收集装置包括：支撑杆c，所述支撑杆c设置于引脚检测台的一侧，所述支撑杆c的顶侧固定设有支撑板c，所述支撑板c的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆c，所述电动推杆c的轴端固定设有推板c，所述引脚检测台远离支撑杆c的一侧设有次品收集箱b。
27.一种多用途芯片测试装置的芯片测试方法，具体步骤如下：
28.s1、首先根据芯片的大小，利用间距调节装置进行适当的位置调节。
29.s2、然后将芯片运输到龙门架a底侧，利用多角度质检装置进行芯片质量测试、
30.s3、质量测试后，次品由第一次品收集装置进行处理，非次品通过运输台输送至引脚检测台之上。
31.s4、利用引脚测试装置对质检后的芯片进行引脚测试操作。
32.s5、最后测试出的次品利用第二次品收集装置进行处理，非次品进行封装运输处理。
33.本发明提出的一种多用途芯片测试装置，有益效果在于：通过设置支撑杆a、支撑板a、电动推杆a、推板a，因为其数量均为两个，可以满足一个对测试芯片尺寸限位调节的功能，满足不同尺寸的测试芯片进行限位运输测试，通过设置电动推杆a、推板a、电机a、螺纹杆a、移动块a、连接框、电机b、螺纹杆b、移动块b、质检摄像头，可进行全面位置的质量检测测试，提高其质量测试，通过设置电机c、旋转盘、测试探针，测试探针的数量为两个，且呈对称设置，相较于独立一个的引脚测试，其测试效率高，提高工作效率，该多用途芯片测试装置，操作方便快捷，适用于不同尺寸的测试芯片，质量测试质量高，引脚测试效率高。
附图说明
34.图1为本发明提出的一种多用途芯片测试装置的正面轴测结构示意图；
35.图2为本发明提出的一种多用途芯片测试装置的正面剖切轴测其一结构示意图；
36.图3为本发明提出的一种多用途芯片测试装置的正面剖切轴测其二结构示意图；
37.图4为本发明提出的一种多用途芯片测试装置的背面轴测结构示意图；
38.图5为本发明提出的一种多用途芯片测试装置的底面轴测结构示意图。
39.图中：1质量检测台、2挡板a、3输送带a、4龙门架a、5运输台、6挡板b、7引脚检测台、8输送带b、9龙门架b、10控制台、11显示屏、12支撑杆a、13支撑板a、14电动推杆a、15推板a、16电机a、17螺纹杆a、18移动块a、19连接框、20电机b、21螺纹杆b、22移动块b、23质检摄像头、24支撑杆b、25支撑板b、26电动推杆b、27推板b、28次品收集箱a、29电机c、30旋转盘、31测试探针、32支撑杆c、33支撑板c、34电动推杆c、35推板c、36次品收集箱b、37万向轮。
具体实施方式
40.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
41.参照图1-5，一种多用途芯片测试装置，包括，
42.质量检测台1，质量检测台1的顶侧设有间距调节装置；
43.挡板a2，挡板a2通过卡扣可拆卸式连接在质量检测台1的顶侧；
44.输送带a3，输送带a3内嵌在质量检测台1的顶侧；
45.龙门架a4，龙门架a4通过螺栓可拆卸式连接在质量检测台1的顶侧；
46.龙门架a4的一侧固定设有多角度质检装置；
47.质量检测台1的一侧且靠近龙门架a4的位置固定设有第一次品收集装置；
48.运输台5，运输台5设置于质量检测台1的一侧；
49.挡板b6，挡板b6固定连接在运输台5的顶侧；
50.引脚检测台7，引脚检测台7设置于运输台5的一侧，引脚检测台7的一侧设有第二次品收集装置；
51.输送带b8，输送带b8内嵌于引脚检测台7的顶侧；
52.龙门架b9，龙门架b9固定连接在引脚检测台7的顶侧；
53.龙门架b9的一侧固定设有引脚测试装置；
54.控制台10，控制台10设置于质量检测台1的一侧；
55.显示屏11，显示屏11通过导线电性连接在控制台10的顶侧。
56.为了适应不同大小尺寸的芯片进行限位运输，设置了间距调节装置包括：支撑杆a12，支撑杆a12的数量为两个，且分别设置于质量检测台1的两侧，支撑杆a12的顶侧固定设有支撑板a13，支撑板a13的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆a14，电动推杆a14的轴端固定连接设有推板a15；
57.利用控制台10对支撑杆a12上支撑板a13顶侧的电动推杆a14进行操控，两个电动推杆a14同时工作，对两个推板a15做相对运动驱动，从而使两个推板a15之间的间距满足所需测试芯片的间距，便于对不同尺寸的测试芯片进行限位运输，满足不同尺寸的测试芯片使用。
58.为了提高质检质量，全面进行质量检测观察，设置了多角度质检装置包括：电机a16，电机a16通过螺栓可拆卸式连接在龙门架a4的一侧，电机a16的轴端固定设有螺纹杆
a17，螺纹杆a17的外侧通过螺纹传动套接设有移动块a18，移动块a18的底侧插接设有连接框19，连接框19的一侧通过螺栓可拆卸式连接设有电机b20，电机b20的轴端固定设有螺纹杆b21，螺纹杆b21的外侧通过螺纹传动套接设有移动块b22，移动块b22的底侧活动插接设有质检摄像头23；
59.使用时，控制台10分别控制电机a16、电机b20进行工作，电机a16、电机b20分别驱动螺纹杆a17、螺纹杆b21进行转动，从而分别螺纹传动移动块a18、移动块b22进行位置移动，使质检摄像头23可以满足前后左右的移动，避免了检测位置不变，边缘位置检测不到的情况，质检摄像头23拍摄的画面会传输到显示屏11之上，利于质检员进行高清观察。
60.为了对质量有问题的次品进行收集，而不影响到测试芯片的正常运输，设置了第一次品收集装置包括：支撑杆b24，支撑杆b24位于质量检测台1的一侧，支撑杆b24的顶侧固定设有支撑板b25，支撑板b25的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆b26，电动推杆b26的轴端固定设有推板b27，质量检测台1远离支撑杆b24的一侧设有次品收集箱a28，次品收集箱a28的底侧固定设有若干万向轮37；
61.当存在质量有问题的测试芯片时，控制台10会控制支撑杆b24顶侧支撑板b25上的电动推杆b26进行工作，电动推杆b26推动推板b27，推板b27将有问题的测试芯片推送到次品收集箱a28的内部进行集中收集。
62.为了提高对测试芯片的引脚测试，设置了引脚测试装置包括：电机c29，电机c29通过螺栓可拆卸式连接在龙门架b9的顶侧，电机c29的轴端固定设有旋转盘30，旋转盘30的底侧平行对称插接设有两个测试探针31；
63.当测试芯片输送到引脚检测台7上时，控制台10控制电机c29工作，电机c29驱动旋转盘30进行旋转，使旋转盘30底侧的两个测试探针31进行全面引脚测试，测试结果会反馈到控制台10进行下一步处理，测试探针31采用为探针卡，探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。
64.为了便于对引脚测试的次品进行回收，设置了第二次品收集装置包括：支撑杆c32，支撑杆c32设置于引脚检测台7的一侧，支撑杆c32的顶侧固定设有支撑板c33，支撑板c33的顶侧通过卡扣可拆卸式连接设有电动推杆c34，电动推杆c34的轴端固定设有推板c35，引脚检测台7远离支撑杆c32的一侧设有次品收集箱b36；
65.利用电动推杆c34推动推板c35，将次品推送到次品收集箱b36内，进行集中收集。
66.一种多用途芯片测试装置的芯片测试方法，具体步骤如下：
67.s1、首先根据芯片的大小，利用间距调节装置进行适当的位置调节。
68.s2、然后将芯片运输到龙门架a4底侧，利用多角度质检装置进行芯片质量测试、
69.s3、质量测试后，次品由第一次品收集装置进行处理，非次品通过运输台5输送至引脚检测台7之上。
70.s4、利用引脚测试装置对质检后的芯片进行引脚测试操作。
71.s5、最后测试出的次品利用第二次品收集装置进行处理，非次品进行封装运输处理。
72.本发明使用时，通过设置支撑杆a12、支撑板a13、电动推杆a14、推板a15，因为其数量均为两个，可以满足一个对测试芯片尺寸限位调节的功能，满足不同尺寸的测试芯片进行限位运输测试；
73.通过设置电动推杆a14、推板a15、电机a16、螺纹杆a17、移动块a18、连接框19、电机b20、螺纹杆b21、移动块b22、质检摄像头23，可进行全面位置的质量检测测试，提高其质量测试；
74.通过设置电机c29、旋转盘30、测试探针31，测试探针31的数量为两个，且呈对称设置，相较于独立一个的引脚测试，其测试效率高，提高工作效率，该多用途芯片测试装置，操作方便快捷，适用于不同尺寸的测试芯片，质量测试质量高，引脚测试效率高。
75.以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。