冲击测试设备的制作方法

1.本实用新型涉及机械部件的位置校准，尤其涉及一种冲击测试设备。


背景技术：

2.在对零部件进行冲击测试时，首先需要使得冲击设备的冲击头对准待进行测试的零部件，从而确保冲击头的位置能够对准测试的零部件。例如，在对简支梁或者悬臂梁进行冲击测试时，每次针对一个简支梁或者悬臂梁，都需要先在简支梁或者悬臂梁中间画辅助线，而后释放冲击头，用以检验冲击头与辅助线的对其程度，由此实现冲击头相对于零部件的对准。


技术实现要素：

3.本实用新型提供了一种冲击测试设备，从而更加方便地对准或者校准零部件的位置。
4.本实用新型提供了一种冲击测试设备，包括底座、设置于所述底座上的样品固定支架、位置调节组件和激光发射器，所述激光发射器通过所述位置调节组件设置于所述底座上，所述激光发射器朝向所述样品固定支架设置，所述位置调节组件用于调节所述激光发射器发射的激光相对于样品固定支架的位置。
5.在一些实施例中，所述样品固定支架构造为包括用于固定悬臂样品的第一测试支架和/或用于固定简支样品的第二测试支架，所述第一测试支架对应于第一固定位置，和/或所述第二测试支架对应于第二固定位置，并且所述位置调节组件使得所述激光发射器相对于所述第一固定位置和/或所述第二固定位置固定。
6.在一些实施例中，所述位置调节组件包括分别对应于所述第一固定位置和所述第二固定位置的固定座，所述固定座通过万向节与所述底座连接，所述激光发射器上设置有与所述固定座匹配的固定部，所述激光发射器通过所述固定部与所述固定座连接。
7.在一些实施例中，所述位置调节组件包括固定座、滑轨和锁止机构，所述固定座可滑动地设置于所述滑轨上，以滑动至所述第一固定位置或所述第二固定位置；
8.所述锁止机构包括锁止件和配合部，所述锁止件设置于所述固定座上，所述配合部设置于所述第一固定位置和所述第二固定位置，所述锁止件和所述配合部相配合，以将所述固定座锁定在所述第一固定位置或所述第二固定位置。
9.在一些实施例中，所述位置调节组件包括连接杆、固定座和锁止机构，所述连接杆的一端与所述底座转动连接，所述固定座设置于所述连接杆远离所述底座的一端；
10.所述锁止机构包括设置于所述连接杆与所述底座的连接处的锁止件，其中，所述锁止机构处于解锁状态时，所述连接杆绕与所述底座的连接处可转动，所述锁止机构处于锁止状态时，所述连接杆与所述底座相固定。
11.在一些实施例中，所述冲击测试设备还包括激光接收器和报警器，所述激光接收器和所述报警器信号连接，所述激光接收器设置于所述样品固定支架远离所述激光发射器
的一侧，所述激光接收器用于检测所述激光发射器发出的激光，所述报警器配置为根据所述激光接收器的激光接收结果发出提示信号。
12.在一些实施例中，所述激光接收器包括与所述第一测试支架对应的第一接收器，所述报警器配置为，在所述第一接收器接收到所述激光发射器发出的激光时发出提示信号。
13.在一些实施例中，所述激光接收器包括与所述第二测试支架对应的第二接收器，所述报警器配置为，在所述第二接收器未接收到所述激光发射器发出的激光时发出提示信号。
14.在一些实施例中，还包括透明的防护板，所述防护板设置于所述激光发射器和所述样品固定支架之间。
15.本实用新型实施例通过设置位置调节组件和激光发射器，通过位置调节组件安装激光发射器，并调节激光发射器的照射位置，使得激光发射器照射向样品和冲击头的匹配位置，进行测试时，只需要将样品与激光发射器发出的激光对准，即可完成冲击头和待测零部件的对准，有助于节约对准时间，提高了冲击测试的便利性。
16.应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本实用新型的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本实用新型的范围。本实用新型的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
17.附图用于更好地理解本方案，不构成对本实用新型的限定。其中：
18.图1是根据本实用新型实施例的冲击测试设备的结构示意图；
19.图2是根据本实用新型实施例的冲击测试设备的又一结构示意图；
20.图3是根据本实用新型实施例的冲击测试设备的又一结构示意图；
21.图4是根据本实用新型实施例的冲击测试设备的又一结构示意图；
22.图5是根据本实用新型实施例的冲击测试设备的又一结构示意图。
具体实施方式
23.以下结合附图对本实用新型的示范性实施例做出说明，其中包括本实用新型实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本实用新型的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。
24.本实用新型提供了一种冲击测试设备。
25.如图1所示，在一个实施例中，该冲击测试设备包括底座110、设置于底座110上的样品固定支架120、位置调节组件130和激光发射器140。
26.激光发射器140通过位置调节组件130设置于底座110上，激光发射器140朝向样品固定支架120设置，位置调节组件130用于调节激光发射器140 发射的激光相对于样品固定支架120的位置。
27.需要理解的是，根据不同的测试需求，待检测的样品需要按照不同的规格制作，同时，待检测的样品通常会以不同的方式支撑固定。一般来说，最常见的固定方式包括以简支
结构和悬臂结构两种方式进行固定。
28.如图1所示，简支结构的样品的两端均需要固定，冲击测试过程中，简支结构的样品通常水平设置。如图2所示，悬臂结构的样品只需要固定一端，其另一半悬空，一般来说，悬臂结构的样品在测试过程中会固定在竖直方向。
29.以对于简支结构的样品进行冲击测试做示例性说明，简支结构的两端分别固定在样品固定支架120上，一般来说，在样品背向冲击点的位置，通常会开设一个小缺口，以控制断裂位置位于该缺口处，因此，在测试过程中，需要使样品的缺口位于冲击头的冲击位置。
30.相关技术中，进行冲击测试时，将待测样品设置于样品固定支架120上，控制冲击头缓慢与样品接触，以确定冲击头的冲击位置，接下来调节待测样品的位置，使冲击位置对准待测样品上的缺口，然后固定样品，最后，抬起冲击头进行冲击测试。
31.如图1所示，本实施例的技术方案中，在对第一个待测样品进行冲击测试时，按照上述方式调节并固定好待测样品200后，通过位置调节组件130 调节激光发射器140的照射位置，使得激光发射器140发出的激光恰好照射在待测样品200的缺口处，然后固定好激光发射器140。
32.在进行后续的待测样品200的检测过程中，在固定待测样品200时，调整待测样品200的位置，使得待测样品200的缺口恰好对准激光发射器140 的照射位置，而不需要再次放下冲击头进行位置的对准。
33.需要理解的是，激光发射器140对准的位置并不限定为待测样品200的缺口，还可以是其他位置。示例性的，根据使用目的的不同，对于具有特定形状的样品来说，还可以是某一条边的中点、顶点、孔、槽、拐点等可以作为特征点的位置。
34.测试过程中，在使得激光发射器140对准第一个待测样品200的缺口或者待测试位置之后，后续只要使得其他的待测样品200的相同特征点同样位于激光发射器140发出的激光的照射位置，即可确保冲击头对准了第一次校准时的冲击位置，从而不必如现有技术中那样每次都要冲击头与待测样品接触才能够保证位置对准。
35.本实用新型实施例通过设置位置调节组件130和激光发射器140，通过位置调节组件130安装激光发射器140，并调节激光发射器140的照射位置，使得激光发射器140照射向待测样品200和冲击头的匹配位置，后续进行测试时，只需要将待测样品200与激光发射器140发出的激光对准(不需要冲击头的运动)，即可完成冲击头和待测零部件的对准，有助于节约对准时间，提高了冲击测试的便利性。
36.如图2和图3所示，在一些实施例中，样品固定支架120可以构造为包括用于固定悬臂样品201的第一测试支架121或者用于固定简支样品202的第二测试支架122，位置调节组件130能够将激光发射器140固定于与第一测试支架121对应的第一固定位置111，以及将激光发射器140将与第二测试支架122对应的第二固定位置112。
37.本实施例中，主要针对简支梁样品和悬臂梁样品进行测试，如图2所示，第一测试支架121用于将悬臂样品201纵向固定，如图3所示，而第二测试支架122则用于将简支样品202横向固定，这里，横向和纵向均指的是设备正常使用时的水平方向和竖直方向。
38.本实施例中，激光发射器140可以通过不同的方式，设置在两个固定位置。
39.如图2和图3所示，在其中一个实施例中，位置调节组件130包括至少两个固定座，第一固定位置111和第二固定位置112各设置有一个固定座，固定座通过万向节与底座110
连接，激光发射器140上设置有与固定座匹配的固定部，激光发射器140通过固定部与固定座连接。
40.本实施例中，在底座110上的指定位置设置了两个固定座，激光发射器 140可以通过该固定部安装在这两个固定座上，在固定于每一固定座上时，激光发射器140的大致照射方向是相对固定的。
41.固定座与底座110之间设有万向节，万向节选择具有自锁功能的万向节，这样，通过万向节能够在一定范围内微调激光发射器140的照射方向，从而实现激光发射器140发出的激光与上述特征点的精准对位。
42.进一步的，还可以设置锁止机构，该锁止机构可以是螺杆等，实施时，可以通过旋转螺杆，以使螺杆与万向节抵接，从而实现对于固定座位置的锁定。当然，现有技术中任意可以实现锁止功能的机构都落入本技术的保护范围，示例性的，可以选择销钉、限位螺丝等通过机械结构或摩擦力等不同方式锁止固定座位置的锁止机构。
43.实施时，当完成激光发射器140的位置调节之后，通过锁止机构锁定万向节的位置，避免激光发射器140的照射方向在冲击测试过程中的产生震动等外界因素的影响下发生变化，有助于提高对位精度。
44.如图4所示，在另外一些实施例中，位置调节组件130包括固定座和滑轨113，固定座可滑动的设置于滑轨113上，以通过滑轨113带动固定座滑动至第一固定位置111或第二固定位置112。
45.本实施例是通过滑轨113实现固定座位置的调节的，实施时，可以在底座110上设置一个滑轨113，固定座能够在滑轨113内滑动，第一固定位置 111和第二固定位置112分别对应滑轨113上的两个点。
46.当固定座滑动至这两个点时，可以通过锁止机构锁止固定座的位置，锁止机构包括锁止件和配合部，锁止件设置于固定座上，配合部设置于第一固定位置和第二固定位置，锁止件和配合部相配合，以将固定座锁定在第一固定位置或第二固定位置。
47.示例性的，锁止件可以是销钉，配合部可以是位于第一固定位置或第二固定位置的定位孔，这样，当销钉伸入定位孔时，能够使得固定座锁定在第一固定位置或第二固定位置。
48.此外，锁止机构还可以选择卡扣、紧固件等各种方式将固定座锁止在第一固定位置111或第二固定位置112。进一步的，可以调节激光发射装置的位置。
49.如图5所示，在又一些实施例中，位置调节组件130包括连接杆114和固定座，连接杆的一端与底座110转动连接，固定座设置于连接杆114远离底座110的一端。
50.固定座在连接杆114旋转至与底座110呈第一角度时，位于第一固定位置111，固定座在连接杆114旋转至与底座110呈第二角度时，位于第二固定位置112。
51.本实施例中，连接杆114能够绕着与底座110的连接端旋转，当其旋转并锁定在不同的角度，从而实现带动固定座移动至不同的固定位置。
52.与上述实施例类似的，本实施例中也可以设定锁止机构以固定座锁止在第一固定位置111或第二固定位置112。
53.锁止机构包括设置于连接杆与底座的连接处的锁止件，锁止机构处于解锁状态时，连接杆绕与底座的连接处可转动，锁止机构处于锁止状态时，连接杆与底座相固定。
54.示例性的，可以在转轴处设置紧固螺栓作为锁止件，当紧固螺栓松开时，连接杆114能够绕着与底座110的连接端自由旋转，当紧固螺栓紧固时，使得连接杆114与底座110之间的相对位置被锁定。
55.通过上述方式，能够通过位置调节组件130将激光发射器140固定在不同的位置，从而满足不同的测试需求。
56.在一些实施例中，冲击测试设备还包括激光接收器和报警器，激光接收器和报警器信号连接，激光接收器设置于样品固定支架120远离激光发射器140的一侧，激光接收器用于检测激光发射器140发出的激光，报警器配置为根据激光接收器的激光接收结果发出提示信号。
57.本实施例中的激光接收器在检测到激光和未检测到激光时，则输出不同的输出信号，报警器用于根据该输出信号发送提示信号，提示信号可以是声光等不同的信号，从而提示对位结果。
58.在一些实施例中，激光接收器包括与第一测试支架121对应的第一接收器，该第一接收器用于在使用第一测试支架121固定样品时，检测样品是否固定于准确的位置，报警器配置为，在第一接收器接收到激光发射器140发出的激光时发出提示信号。
59.示例性的，对于悬臂样品201来说，其通常竖直固定，且固定端位于底部，这样，对位过程中，最重要的在于调节该悬臂样品201在水平方向上的位置。
60.本实施例中，激光发射器140在针对第一测试支架121设置时，照射方向为大致横向，如果悬臂样品201位于第一测试支架121上正确的位置，则能够挡住激光发射器140发出的激光，因此，如果第一接收器没有接收到激光发射器140发出的激光，则说明悬臂样品201的位置是正确的。反之，如果第一接收器接收到激光发射器140发出的激光，则说明悬臂样品201的位置存在偏差。
61.在一些实施例中，激光接收器包括与第二测试支架122对应的第二接收器，该第二接收器用于在使用第二测试支架122固定样品时，检测样品是否固定于准确的位置，报警器配置为，在第二接收器未接收到激光发射器140 发出的激光时发出提示信号。
62.本实施例中，为了提高简支样品202的对位精度，激光发射器140在针对第二测试支架122设置时，激光发射器140和激光接收器中的一者位于第二测试支架122的正上方，另一者位于第二测试支架122的正下方，激光发射器140发出的激光位于基本竖直的方向上，这样，激光恰好能够穿过简支样品202上的缺口。
63.这样，如果样品对位准确，则激光会通过接口传递至第二接收器处，因此，第二接收器在接收到激光发射器140发出的激光时，报警器不会发出提示信号，如果对位存在偏差，则激光会被样品挡住，此时，报警器会根据第二接收器的输出信号发出提示信号。这样，本实施例能够显著提高简支样品 202冲击测试时的对位精度。
64.在一些实施例中，还包括透明的防护板，防护板设置于激光发射器140 和样品固定支架120之间。
65.本实施例中，进一步设置了防护板，该防护板用于避免冲击测试过程中产生的样品碎片撞击到激光发射器140，有助于避免激光发射器140损坏也能够避免激光发射器140的照射方向发生变化，减少了对于测试正常进行带来的干扰。
66.本实用新型实施例通过设置位置调节组件130和激光发射器140，通过位置调节组
件130安装激光发射器140，并调节激光发射器140的照射位置，使得激光发射器140照射向样品和冲击头的匹配位置，进行测试时，只需要将样品与激光发射器140发出的激光对准，即可完成冲击头和待测零部件的对准，有助于节约对准时间，提高了冲击测试的便利性。
67.上述具体实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型保护范围之内。