一种集成电路芯片的老炼板的制作方法

1.本实用新型涉及集成电路的老炼领域，具体涉及集成电路芯片的老炼板。


背景技术：

2.当一批产品被制造出来的时候，由于器件本身具有固有缺陷、或者制造工艺控制不当等各种因素的影响，会导致一批产品中每个元器件的可靠性不同，为了保证产品的质量，会在元器件出厂前或使用前对元器件进行老炼试验，剔除那些勉强合格的器件。通过老炼试验可以缩短元器件早期失效的时间，能够充分的暴露出大部分元器件的失效机理，使得元器件提前进入偶然失效期，保证了元器件投入使用的可靠性。
3.传统的老炼试验方式的老炼板在对adum15x这一系列的adum150、adum151、adum152和adum16x这一系列的adum160、adum161、adum162、adum163这七种型号器件老炼时，需要七种老炼板来实现老炼试验，价格较贵，浪费资源，又不便于整理存放，且不便于一次实现adum15x系列和adum16x系列器件的大批量老炼试验。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是提供一种集成电路芯片的老炼板。
5.本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种集成电路芯片的老炼板，包括芯片，芯片的左右两侧各伸出八个引脚，左侧的八个引脚自上而下依次为第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，右侧的八个引脚自下而上依次为第九引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚、第十六引脚，第一引脚接第一直流稳压电源再接第一输入电容的一端，第一输入电容的另一端接地，第十六引脚接第二直流稳压电源再接第二输入电容的一端，输入电容的另一端接地，第八引脚和第九引脚接地，第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第十引脚、第十一引脚、第十二引脚、第十三引脚、第十四引脚、第十五引脚各自接一个输入\输出电阻的一端，所述输入\输出电阻另一端接数字信号输入。
6.进一步的，所述输入\输出电阻的电阻值均为10kω。
7.进一步的，所述第一输入电容和第二输入电容的电容值均为0.1μf。
8.进一步的，所述第一直流稳压电源和第二直流稳压电源的电压 5v。
9.与现有技术相比，本实用新型集成电路芯片的老炼板的有益效果是：用一种老炼板即可完成七种型号器件的老炼试验，降低了老炼试验的硬件成本，便于存放和整理。
附图说明
10.图1是本实用新型的结构示意图。
11.图2是adum150型号的芯片结构示意图。
12.图3是adum160型号的芯片结构示意图。
具体实施方式
13.请参阅图1，一种集成电路芯片的老炼板，包括芯片1，芯片1的左右两侧各伸出八个引脚，左侧的八个引脚自上而下依次为第一引脚j1、第二引脚j2、第三引脚j3、第四引脚j4、第五引脚j5、第六引脚j6、第七引脚j7、第八引脚j8，右侧的八个引脚自下而上依次为第九引脚j9、第十引脚j10、第十一引脚j11、第十二引脚j12、第十三引脚j13、第十四引脚j14、第十五引脚j15、第十六引脚j16。
14.第一引脚j1接第一直流稳压电源3再接第一输入电容29的一端，第一输入电容29的另一端接地。
15.第十六引脚j16接第二直流稳压电源2再接第二输入电容30的一端，输入电容30的另一端接地。
16.第二引脚j2接第一输入\输出电阻17的一端，第一输入\输出电阻17另一端接第一数字信号输入5。
17.第三引脚j3接第二输入\输出电阻18的一端，第二输入\输出电阻18另一端接第二数字信号输入6。
18.第四引脚j4接第三输入\输出电阻19的一端，第三输入\输出电阻19另一端接第三数字信号输入7。
19.第五引脚j5接第四输入\输出电阻20的一端，第四输入\输出电阻20另一端接第四数字信号输入8。
20.第六引脚j6接第五输入\输出电阻21的一端，第五输入\输出电阻21另一端接第五数字信号输入9。
21.第七引脚j7接第六输入\输出电阻22的一端，第六接输入\输出电阻22另一端接第六数字信号输入10。
22.第十引脚j10接第七输入\输出电阻28的一端，第七输入\输出电阻28另一端接第七数字信号输入16。
23.第十一引脚j11接第八输入\输出电阻27的一端，第八输入\输出电阻27另一端接第八数字信号输入15。
24.第十二引脚j12接第九输入\输出电阻26的一端，第九输入\输出电阻26另一端接第九数字信号输入14。
25.第十三引脚j13接第十输入\输出电阻25的一端，第十输入\输出电阻25另一端接第十数字信号输入13。
26.第十四引脚j14接第十一输入\输出电阻24的一端，第十一输入\输出电阻24另一端接第十一数字信号输入12。
27.第十五引脚j15接第十二输入\输出电阻23的一端，第十二输入\输出电阻23另一端接第十二数字信号输入11。
28.第八引脚j8和第九引脚j9接地。
29.所有输入\输出电阻的电阻值均为10kω，第一输入电容29和第二输入电容30的电容值均为0.1μf，第一直流稳压电源3和第二直流稳压电源2的电压 5v。直流稳压电源及数字信号输入由外部的集成电路高温动态老化系统提供。集成电路高温动态老化系统为现有技术，用于半导体元器件老炼实验，适用于各种数字、模拟、数模混合集成电路和soc电路、
微处理器、存储器等微电子电路高温动态老化试验，能够为半导体元器件老炼试验提供直流稳压电源、64路数字信号、4路模拟信号以及老炼试验所需的环境。
30.下面用两个实施例来阐述本实用新型的工作原理。
31.实施例1
32.请参阅图2，使用该老炼板为adum150型号的芯片进行老炼试验时，先核实后器件管脚定义，器件老炼条件后，编写对应的程控程序给入正确的电压后，根据管脚定义将对应芯片1的vi输入引脚，即第二引脚j2、第三引脚j3、第四引脚j4、第五引脚j5、第六引脚j6的第一数字信号输入5、第二数字信号输入6、第三数字信号输入7、第四数字信号输入8、第五数字信号输入9给入方波数字信号，对应芯片1的vo输出引脚，即第十一引脚j11、第十二引脚j12、第十三引脚j13、第十四引脚j14、第十五引脚j15的第八数字信号输入15、第九数字信号输入14、第十数字信号输入13、第十一数字信号输入12、第十二数字信号输入11给入低电平信号即可。nic引脚无内部连接所以连接状态不用理会。
33.实施例2
34.请参阅图3，使用该老炼板为adum160型号的芯片进行老炼试验时，先核实后器件管脚定义，器件老炼条件后，编写对应的程控程序给入正确的电压后，根据管脚定义将对应芯片1的vi输入引脚，即第二引脚j2、第三引脚j3、第四引脚j4、第五引脚j5、第六引脚j6、第七引脚j7的数字信号输入第一数字信号输入5、第二数字信号输入6、第三数字信号输入7、第四数字信号输入8、第五数字信号输入9、第六数字信号输入10给入方波数字信号方波，对应芯片1的vo输出引脚，即第十引脚j10、第十一引脚j11、第十二引脚j12、第十三引脚j13、第十四引脚j14、第十五引脚j15的第七数字信号输入16、第八数字信号输入15、第九数字信号输入14、第十数字信号输入13、第十一数字信号输入12、第十二数字信号输入11给入低电平信号即可。
35.本实用新型采用sop16的夹具可以匹配封装为sop16的芯片,即adum150、adum151、adum152、adum160、adum161、adum162、adum163的老炼，只需要将这些sop16封装的器件放置在sop16的夹具中，发送对应型号的集成电路高温动态老化系统的程控程序即可。
36.本实用新型采用了将除电源及地管脚以外的其他输入及输出引脚全部接到数字输入上，只需根据不同器件的管脚定义来调整集成电路高温动态老化系统的老炼试验程控程序即可完成，使得用一种老炼板即可完成七种型号器件的老炼试验，降低了老炼试验的硬件成本，便于存放和整理。
37.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点,对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
38.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员
可以理解的其他实施方式。