一种共面性检测校准设备的制作方法

1.本实用新型涉及检测设备技术领域，具体为一种共面性检测校准设备。


背景技术：

2.共面性指的是产品表面平整度,共面性通过共面度的数值体现,共面度指表面不平与绝对水平之间，所差的数据,在加工产品时,要求产品表面共面度在可控范围内,避免因产品表面的缺失、歪斜和翘起等不良情况影响安装设备的正常使用。
3.目前的共面性检测校准均通过人工观察和手动操作校准设备进行,不仅工作强度大、效率低,所述存在较大误差，准确率低，不合适大批量电子产品的检测校准，适用性较低。针对上述问题，设计一种共面性检测校准设备。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种共面性检测校准设备，以解决上述背景技术中提出目前的共面性检测校准均通过人工观察和手动操作校准设备进行,不仅工作强度大、效率低,所述存在较大误差，准确率低，不合适大批量电子产品的检测校准，适用性较低的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种共面性检测校准设备，包括底座，所述底座顶部固定有安装板，所述安装板顶面边缘与保护外罩底端连接固定，所述安装板边侧安装有第一视场调节器和支撑板，同时支撑板与第二视场调节器连接，所述安装板顶面中心安装有固定座和龙门架；
6.所述固定座上安装有纵向调节丝杆，所述纵向调节丝杆一端安装有第一活动座，所述第一活动座顶面与置物台底部连接固定；
7.所述龙门架上固定有安装座，所述安装座上安装有横向调节丝杆，所述横向调节丝杆上安装有第二活动座，同时第二活动座上设置有测微螺杆。
8.优选的，所述第一视场调节器包括第一固定块、第一距离粗调节机构、第一plc延时控制器和第一距离微调节机构，所述第一固定块底部安装在安装板上，所述第一固定块上安装有第一距离粗调节机构，所述第一距离粗调节机构上设置有第一plc延时控制器，所述第一plc延时控制器一侧安装有第一距离微调节机构。
9.优选的，所述第一距离微调节机构为水平设置，所述第一距离微调节机构与纵向调节丝杆为平行分布。
10.优选的，所述第二视场调节器包括第二固定块、第二距离粗调节机构、第二plc延时控制器和第二距离微调节机构，所述第二固定块与支撑板一端连接固定，所述第二固定块上安装有第二距离粗调节机构，所述第二距离粗调节机构上设置有第二plc延时控制器，所述第二plc延时控制器一侧安装有第二距离微调节机构。
11.优选的，所述第二距离微调节机构为竖直设置，所述第二距离微调节机构顶端低于置物台。
12.优选的，所述横向调节丝杆与测微螺杆为垂直分布，所述横向调节丝杆与置物台为平行分布。
13.本实用新型的共面性检测校准设备，具有如下有益效果：
14.采用新型的结构设计，能够通过自动控制设备，对大量的产品进行连续、高效的共面性检测校准，大大提高了检测效率和检测的准确性，降低了人工成本，提高了整体的适用性；
15.1、通过第一固定块、第一距离粗调节机构、第一plc延时控制器、第一距离微调节机构、第二固定块、第二距离粗调节机构、第二plc延时控制器和第二距离微调节机构相互配合工作，能够在较大范围内调节视场，令目标场景最好位于相机的中间视场附近，不超出近视场和远视场的边界，即目标场景的高度不超出测量范围；
16.2、通过固定座、纵向调节丝杆、第一活动座、龙门架、安装座、横向调节丝杆、第二活动座和测微螺杆相互配合工作，能够便捷的调整置物台的水平位置，令置物台上存放的多个待检测产品能灵活移动与相机对齐，方便检测的连续、高效进行，同时能便捷的调整光源的水平位置和高度，令装置可以对不同的产品进行检测。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1为本实用新型立体结构示意图；
19.图2为本实用新型爆炸结构示意图；
20.图3为本实用新型第一视场调节器结构示意图；
21.图4为本实用新型第二视场调节器结构示意图；
22.图5为本实用新型置物台立体结构示意图；
23.图6为本实用新型第二活动座和测微螺杆立体结构示意图。
24.【主要组件符号说明】
25.1、底座；101、安装板；2、保护外罩；
26.3、第一视场调节器；301、第一固定块；302、第一距离粗调节机构；303、第一plc延时控制器；304、第一距离微调节机构；
27.4、支撑板；
28.5、第二视场调节器；501、第二固定块；502、第二距离粗调节机构；503、第二plc延时控制器；504、第二距离微调节机构；
29.6、固定座；7、纵向调节丝杆；8、第一活动座；9、置物台；10、龙门架；11、安装座；12、横向调节丝杆；13、第二活动座；14、测微螺杆。
具体实施方式
30.下面结合附图及本实用新型的实施例对本实用新型的共面性检测校准设备作进一步详细的说明。
31.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
32.需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
33.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
34.为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在
……
之上”、“在
……
上方”、“在
……
上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在
……
上方”可以包括“在
……
上方”和“在
……
下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，所述对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
35.请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：一种共面性检测校准设备，包括底座1、安装板101、保护外罩2、第一视场调节器3、第一固定块301、第一距离粗调节机构302、第一plc延时控制器303、第一距离微调节机构304、支撑板4、第二视场调节器5、第二固定块501、第二距离粗调节机构502、第二plc延时控制器503、第二距离微调节机构504、固定座6、纵向调节丝杆7、第一活动座8、置物台9、龙门架10、安装座11、横向调节丝杆12、第二活动座13和测微螺杆14，底座1顶部固定有安装板101，安装板101顶面边缘与保护外罩2底端连接固定，安装板101边侧安装有第一视场调节器3和支撑板4，同时支撑板4与第二视场调节器5连接，安装板101顶面中心安装有固定座6和龙门架10；
36.固定座6上安装有纵向调节丝杆7，纵向调节丝杆7一端安装有第一活动座8，第一活动座8顶面与置物台9底部连接固定；
37.龙门架10上固定有安装座11，安装座11上安装有横向调节丝杆12，横向调节丝杆12上安装有第二活动座13，同时第二活动座13上设置有测微螺杆14。
38.本例中的第一视场调节器3包括第一固定块301、第一距离粗调节机构302、第一plc延时控制器303和第一距离微调节机构304，第一固定块301底部安装在安装板101上，第一固定块301上安装有第一距离粗调节机构302，第一距离粗调节机构302上设置有第一plc延时控制器303，第一plc延时控制器303一侧安装有第一距离微调节机构304，上述的结构设计能够对水平设置的相机进行视场调节。
39.本例中的第一距离微调节机构304为水平设置，第一距离微调节机构304与纵向调
节丝杆7为平行分布，上述的结构设计令视场调节所连相机能够从水平方向上对置物台9上的产品进行图像数据采集。
40.本例中的第二视场调节器5包括第二固定块501、第二距离粗调节机构502、第二plc延时控制器503和第二距离微调节机构504，第二固定块501与支撑板4一端连接固定，第二固定块501上安装有第二距离粗调节机构502，第二距离粗调节机构502上设置有第二plc延时控制器503，第二plc延时控制器503一侧安装有第二距离微调节机构504，上述的结构设计能够对垂直设置的相机进行视场调节。
41.本例中的第二距离微调节机构504为竖直设置，第二距离微调节机构504顶端低于置物台9，上述的结构设计能够从垂直方向上对置物台9上的产品进行图像数据采集。
42.本例中的横向调节丝杆12与测微螺杆14为垂直分布，横向调节丝杆12与置物台9为平行分布，上述的结构设计可以便捷的调整安装在测微螺杆14上的光源的垂直高度和水平位置，与第一视场调节器3和第二视场调节器5配合，保证图像采集工作的正常进行。
43.工作原理：使用本装置时，打开图1中保护外罩2正面的操作窗，将光源固定在测微螺杆14上，并将待检测产品置于置物台9上，随后通过控制图1和图6中横向调节丝杆12末端安装的电机，驱动横向调节丝杆12旋转，带动第二活动座13、测微螺杆14和光源进行水平位置的调节，接着通过控制测微螺杆14末端安装的电机，驱动测微螺杆14旋转带动测微螺杆14上安装的光源固定结构及光源进行垂直位置的调整；
44.接着启动纵向调节丝杆7所连电机，纵向调节丝杆7旋转驱动第一活动座8带着置物台9和待检测产品进行水平进给，令置物台9上放置的待检测产品与测微螺杆14上安装的电源对齐，然后启动第一距离微调节机构304和第二距离微调节机构504末端安装的cmos型工业像机，对产品表面的共面度进行检测校准，通过控制纵向调节丝杆7旋转，调节第一活动座8、置物台9及产品的水平位置，配合控制横向调节丝杆12旋转，调节第二活动座13、测微螺杆14和光源的水平位置，令光源始终与将要进行检测的产品对齐，实现连续、高效的共面性检测校准。
45.以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。