用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的设备和方法与流程

1.本发明总体上涉及一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的设备、一种用于在光学运行时间测量期间检验距离测定的测量设备以及一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法。


背景技术：

2.用于光学运行时间测量的多种方法是众所周知的，这些方法可基于所谓的飞行时间原理，其测量被物体反射的发射光信号的运行时间，以便根据运行时间确定到物体的距离。
3.已知用于汽车环境的是基于所谓的lidar(光检测和测距)原理的传感器，其周期性地发射脉冲以扫描环境，并检测反射的脉冲。例如，从wo 2017/081294中已知的相应方法和设备。
4.汽车环境中的lidar激光雷达系统在距离测定期间通常必须满足至少一个根据iso26262 asil b(d)的安全要求等级，以实现自动驾驶功能。因此，通常要进行安全分析以检验会导致系统故障的各种可能影响。


技术实现要素：

5.尽管在现有技术中在光学运行时间测量期间用于检验距离测定的解决方案是已知的，本发明的一个目的是提供一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的设备、一种用于在光学运行时间测量期间检验距离测定的测量设备以及一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法。
6.该目的通过根据权利要求1的设备、根据权利要求10的测量设备和根据权利要求15的方法来实现。
7.根据第一方面，本发明提供一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的设备，包括：
8.检验模式生成器，配置为用于生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列提供给检验直方图通道，以在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的与时间相关的检验直方图数据。
9.根据第二方面，本发明提供一种用于在光学运行时间测量期间检验距离测定的测量设备，包括：
10.根据第一方面的设备；以及
11.至少一个检验直方图通道，配置为用于接收检验模式生成器生成的检验事件的时间序列，并根据检验事件的时间序列生成与时间相关的检验直方图数据。
12.根据第三方面，本发明提供了一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法，包括：
13.生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列提供给检验直方图通道，以在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的与时间相关的检验直方图数据。
14.本发明的其他有利配置可以从从属权利要求、附图以及以下优选示例性实施例的描述中得出。
15.如上所述，一些示例性实施例涉及一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的设备，包括：
16.检验模式生成器，配置为用于生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列提供给检验直方图通道，以在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的与时间相关的检验直方图数据。
17.正如一开始所解释的，汽车环境中的lidar激光雷达系统在距离测定期间通常必须满足至少一个根据iso26262 asil b(d)的安全要求等级，从而实现自动驾驶功能。在这样的lidar激光雷达系统中，在距离测定期间可能存在各种故障原因。因此，一般期望为lidar激光雷达系统中的距离测定提供简单可靠的检验方法。
18.在光学运行时间测量期间，特别是在基于lidar激光雷达的测量期间，距离测定期间出现故障的一种可能原因可能涉及系统的错误时间刻度和/或错误时间参考点。错误的时间刻度可能导致不正确的折合距离；例如，在距离测定过程中，如果一个比例系数错误地偏离了2个系数因子，就会产生20m而不是10m的结果。在一些示例性实施例中，例如，错误的时间刻度可能由时间数字转换器(也称为“tdc”，时间数字转换器)的错误配置引起。在其他示例性实施例中，数据处理单元的错误配置又可能是原因。错误的时间参考点会导致恒定的距离偏移，例如，15m而不是10m，25m而不是20m，等等。例如，在一些示例性实施例中，错误的时间参考点可能由用于光学运行时间测量的错误确定的起始点引起。距离测定期间出现故障的另一个可能原因可能涉及峰值检测期间的错误数据处理，其中在峰值检测时使用测量数据来确定到反射发送光的物体的距离。
19.为此，在一些示例性实施例中，本发明的设备用于lidar激光雷达系统等，以及例如用于机动车辆环境，但本发明不限于这些情况。
20.在一些示例性实施例中，生成检验数据因此可包括在各种预定义时刻生成电子信号，其中电子信号模拟光学运行时间测量期间对反射光的检测。
21.在一些示例性实施例中，检验距离测定可包括将根据生成的检验数据测定的距离与根据预定义时刻确定的标称距离进行比较。在这样的示例性实施例中，所测定的距离和标称距离之间的偏差可作为距离测定期间出现故障的指标。
22.这在一些示例性实施例中是有利的，因为它能够对峰值检测进行例行验证，从而确保无错误的功能。
23.在一些示例性实施例中，光学运行时间测量基于所谓的tcspc(时间相关单光子计数)测量原理，特别在基于lidar激光雷达的示例性实施例中。基于此原理，光脉冲周期性地发射，通常是几纳秒长，并标记测量的起点。在直到下一个光脉冲的时间间隔中(测量时间)，通过光检测接收元件(例如，单光子雪崩二极管(spad))检测被物体反射的光或反向散射光，其中在发射光脉冲之前也可以在短时间内检测到光。测量时间在这里分为多个短时间间隔(例如:30皮秒)。然后可分配给每个时间间隔一个时间，该时间对应于距离启动时间的时间距离(例如，给定时间间隔为30皮秒，15皮秒的时间可以分配到第一时间间隔，45皮
秒的时间可以分配到第二时间间隔,等等)。
24.根据到物体的距离，光在不同的时刻到达光检测接收元件。在该过程中,它在光检测接收元件中产生电子信号。使用时间到数字转换器(也称为“tdc”，时间到数字转换器)，可将电子信号分配给一个时间间隔。对分配给时间间隔的电子信号(“事件”)进行计数，可得到所谓的直方图或时间相关的直方图(也称为tcspc直方图)，例如，这些直方图也可呈现为纯数据，以及例如，作为值对进行存储，值对包括时间间隔和伴随的项目(事故或事件)数量。因此，时间间隔和分配给每个时间间隔的事件数量形成直方图数据，其基本上可以用数字信号(甚至模拟信号)来表示。这种直方图数据可以在直方图通道中生成。一般来说，在一些示例性的例子中，lidar激光雷达数据通常包含来自反向散射、物体上的光反射、环境光、来自环境中其他光源的干扰光信号等的信号贡献。
25.在一些示例性的实施例中，检验模式生成器可以生成检验事件的时间序列。在一些示例性的实施例中，该时间序列可具有在预定义的时刻生成的若干个电子信号，其中这些电子信号可以对应于检验事件。在一些示例性的实施例中，生成的检验事件的时间序列与光学运行测量的启动时间(光脉冲发射的时间)同步，从而可以与正常测量并行地检验距离测定。在其他示例性的实施例中，可以独立于正常测量(例如在待机模式)检验距离测定。生成的检验事件的时间序列基本上会随着时间而变化，即一个生成的时间序列可与另一个生成的时间序列不同。在这种示例性的实施例中，可以根据至少一个输入参数生成检验事件的时间序列，这些参数能够由检验模式生成器访问。在一些示例性的实施例中，检验事件是相同的，即电子信号是相同的，但本发明不受这方面的限制。虽然在生成的检验事件的时间序列中检验事件的数量最好是恒定的，但在一些示例性的实施例中，该数量可以根据时间序列的不同而变化。
26.检验模式发生器基本上可以是电子电路系统或电子电路。电子电路系统可以包括电子元件、数字存储元件、信号输入(用于接收模拟和/或数字信号)、信号输出(用于输出模拟和/或数字信号或电子信号)等，以执行在此描述的功能。在一些示例性的实施例中，电子电路系统可以通过fpga(现场可编程门阵列)、dsp(数字信号处理器)、微处理器等实现。在一些示例性的实施例中，检验模式生成器可以在时域中以纳秒范围内的分辨率运行。
27.在一些示例性的实施例中，检验直方图通道可以生成与时间相关的检验直方图数据。在一些示例性的实施例中，与时间相关的直方图数据包括基于在(伴随的)测量时间内根据光检测接收元件的电子信号生成的数据。与此类似，在一些示例性的实施例中，生成了与时间相关的检验直方图数据，这些检验直方图数据是基于所生成的检验事件的时间序列(检验模式生成器的电子信号(生成的检验事件的时间序列))而生成的，并用于在光学运行测量期间检验距离测定。在一些示例性的实施例中，检验直方图通道可以，根据生成的与正常测量并行的检验事件的时间序列，生成与时间相关的检验直方图数据，而本发明不受这方面的限制。
28.检验直方图通道在此基本上具有与正常直方图通道相同的功能和配置。在一些示例性的实施例中，检验直方图通道可具有时间到数字转换器。检验直方图通道基本上可以是电子电路系统或电子电路。电子电路系统可以包含电子元件、数字存储元件、信号输入(用于接收模拟和/或数字信号)、信号输出(用于输出模拟和/或数字信号或与时间相关的直方图数据)等，以执行在此描述的功能。在一些示例性的实施例中，电子电路系统可以通
过fpga(现场可编程门阵列)、dsp(数字信号处理器)、微处理器等实现。
29.在一些示例性的实施例中，在生成的检验事件的时间序列中，两个按时间顺序连续的检验事件的两个时刻之间的时间距离，是基于光学运行时测量的时间分辨率。
30.在一些示例性的实施例中，光学运行时间测量的时间分辨率可对应于两个电子信号(事件)之间最小的、仍然可明显地区分的时间距离。在一些示例性的实施例中，时间分辨率可由电子信号(的时间长度限制，该电子信号由光检测接收元件响应于光的入射而产生。在其他示例性的实施例中，时间分辨率可以由时间到数字转换器限制。在进一步的示例性实施例中，时间分辨率可以受到数据处理的限制。
31.在一些示例性的实施例中，在生成检验事件的时间序列时必须考虑时间分辨率。在一些示例性的实施例中，在生成的检验事件的时间序列中，两个按时间顺序连续的检验事件的两个时刻之间的时间距离因此可以大于光学运行时间测量的时间分辨率。时间分辨率对应于光学运行时间测量关于光速的距离分辨率。
32.例如，在一些示例性的实施例中，距离分辨率(对应于时间分辨率)可在lidar激光雷达系统中测量10厘米。在这种示例性的实施例中，例如，在生成的检验事件的时间序列中，两个按时间顺序连续的检验事件的两个时刻之间的时间距离可测量50厘米。因此,在lidar激光雷达测量过程中可以检验更大的距离范围。
33.在一些示例性的实施例中，进一步基于至少一个输入参数生成检验事件的时间序列。
34.在一些示例性的实施例中，输入参数可以通过信号输入传输到检验模式生成器。例如，输入参数可以是图像计数、行或列索引或者系统时间。输入参数基本可以通过模拟和/或数字信号来表示。在一些示例性的实施例中，检验事件的数量和时刻可根据输入参数来编码并由此生成。
35.在其他示例性的实施例中，时间序列的时刻可基于输入参数在哈希生成器上进行外部编码。在这种示例性的实施例中，例如，编码可以呈现为二进制序列(位序列)，并通过信号输入传输到检验模式生成器，检验模式生成器根据接收的二进制序列生成检验事件的时间序列。在其他示例性的实施例中，哈希生成器也可以集成到检验模式生成器中。因此，输入参数对于检验模式生成器基本上是已知的或预定的。
36.根据输入参数生成检验事件的时间序列允许时间序列不时地发生变化，以使得在一定时间段内大多数可能的时刻或时间间隔都可以被检验。以此实现检验整个系统，发现距离测定中的故障并提高可靠性。
37.根据本文所述，在一些示例性的实施例中，用于光学运行时间测量的系统(特别是lidar激光雷达系统)可具有接收系统，其中每个光检测接收元件都被配置为用于检测光并响应于检测到的光而生成电子信号。
38.在一些示例性的实施例中，接收矩阵中的光检测接收元件以列和行(一般是已知的)排列，其中在一些示例性的实施例中，不失一般性地在每个行中都设置了相同数量的光检测接收元件。
39.在一些示例性的实施例中，接收系统有若干个直方图通道，其中各个直方图通道与一列中的光检测接收元件相连，或者各个直方图通道与一行中的光检测接收元件相连。
40.在一些示例性的实施例中，每个直方图通道被配置为用于，基于光检测接收元件
的电子信号，生成与时间相关的直方图。
41.在一些示例性的实施例中，输入参数是图像计数。
42.在一些示例性的实施例中，图像计数可以是一直到该时刻之前执行的测量的数量。在这种示例性的实施例中，一个测量对应于一个或多个光脉冲的发射和与时间相关的直方图数据的接收。
43.在一些示例性的实施例中，输入参数是接收矩阵的行索引。
44.如上所述，用于光学运行时间测量的系统可包括具有接收矩阵的接收系统。在这样的示例性实施例中，行索引可对应于接收索引的行。
45.在一些示例性的实施例中，输入参数是系统时间。
46.在一些示例性的实施例中，系统时间可以是在用于光学运行时间测量的系统中设置的一天中的某时刻。在其他示例性的实施例中，系统时间可以是自系统运转以来经过的时间或与其他参考时间相关的时间。
47.在一些示例性的实施例中，该设备包括哈希生成器，哈希生成器配置为用于根据输入参数生成位向量，并将哈希函数应用到该位向量，从而生成二进制序列。
48.在一些示例性的实施例中，哈希生成器可以包括输入参数并根据输入参数生成位向量。在一些示例性的实施例中，位向量可以是表示输入参数的、串连的或合并的二进制序列。在一些示例性的实施例中，哈希生成器可以将一般已知的哈希函数应用于这个位向量从而生成二进制序列。在这种示例性的实施例中，检验事件的时间序列中的时刻被编码，其中这些时刻显然来自二进制序列。位向量的位数优选比二进制序列的位数(例如8位或16位)大(例如64位)，但本发明不受这些情况的限制。
49.哈希生成器可以是电子电路系统或电子电路。电子电路系统可以包括电子元件、数字存储元件、信号输入(用于接收模拟和/或数字信号)、信号输出(用于输出模拟和/或数字信号)等，以执行在这里描述的功能。在一些示例性的实施例中，电子电路系统可以通过fpga(现场可编程门阵列)、dsp(数字信号处理器)、微处理器等实现。在一些示例性的实施例中，哈希生成器可集成到检验模式生成器中。
50.在一些示例性的实施例中，如上所述，进一步基于二进制序列生成检验事件的时间序列。
51.在一些示例性的实施例中，检验事件的时间序列中的检验事件是相同的。
52.这是有利的，因为可以更成本有效地制造检验模式生成器中的相应电子电路系统。此外，在这种示例性的实施例中，检验距离测定的相同的相关性被赋予每个检验事件。
53.基于输入参数对检验事件的时间序列中的时刻进行编码的例子将在下面描述。
54.对时刻进行编码的第一个示例涉及生成由两个位组成的二进制序列，这两个位是通过哈希函数根据输入参数中的位向量确定的。不失一般性地，可能的检验事件之间的时间距离在这里对应于1m的距离。在起始时没有检验事件生成，在1m处生成一个同步事件(第一检验事件)。然后可以使用这两个位来对另外四个可能的检验事件进行编码：
55.·
第1位＝1，在2米处的检验事件；
56.·
第1位＝0，在3米处的检验事件；
57.·
第2位＝1，在4米处的检验事件；以及
58.·
第2位＝0，在5米处的检验事件。
59.对时刻进行编码的第二个示例涉及考虑系统的时间分辨率(距离分辨率)、图像计数、行索引和同步事件。例如，系统的时间分辨率可以是10cm。例如，两个时刻之间的时间距离可以是0.5m。不失一般性地，在1m处生成第一个检验事件(同步事件)。例如，图像计数可用于模数运算：image counter mod(图像计数模)16。根据获得的模，在1.5m至7.5m的距离范围内生成第二个检验事件，例如，image counter mod 16＝1，则在1.5m处生成第二个检验事件，等等。例如，接收矩阵中的行索引可以假设100个值。根据时间索引，可在8m至58m的距离范围内生成第三个检验事件。相对于同步事件的距离位移可以产生几个距离范围。距离位移也可以相对于先前的检验事件进行设置。
60.对时刻进行编码的第三个示例涉及生成由16位组成的二进制序列，该二进制序列是通过哈希函数根据输入参数中的位向量确定的。前8位形成第一哈希向量，后8位形成第二哈希向量。例如，系统的时间分辨率可以是10cm。例如，两时刻之间的时间距离可以是0.5m。在1m处生成一个同步事件(第一个检验事件)。第一和第二个哈希向量各编码256次。因此，在1.5m至129.5m的距离范围内生成第二个检验事件，在130m至258m的距离范围内生成第三个检验事件。
61.一些示例性实施例涉及用于在光学运行时间测量期间检验距离测定的测量设备，包括：
62.如本文上述的设备；以及
63.至少一个检验直方图通道，配置为用于接收检验模式生成器生成的检验事件的时间序列，并根据检验事件的时间序列生成时间相关的检验直方图数据。
64.测量设备在此基本上可以是用于光学运行时间测量的系统的一部分，该测量设备配置为用于检验光学运行时间测量的距离测定。在一些示例性实施例中，可以有至少一个用于生成与时间相关的检验直方图数据的检验直方图通道，以保证对距离测定的连续检验。
65.在一些示例性实施例中，检验直方图通道将生成的与时间相关的检验直方图数据提供给峰值检测单元，峰值检测单元根据与时间相关的检验直方图数据确定距离。
66.在一些示例性实施例中，例如，峰值检测单元可以基于一般已知的各种信号贡献的信号高度和/或信号形状、信号贡献时间等，根据与时间相关的(检验)直方图数据测定时间或距离。在一些示例性实施例中，峰值检测单元如同分析正常测量的与时间相关的直方图数据一样地，分析与时间相关的检验直方图数据。在一些示例性实施例中，峰值检测单元将，根据对应的与时间相关的(检验)直方图数据测定的距离，输出到检验单元。
67.峰值检测单元在此基本上可以是电子电路系统或电子电路。电子电路系统可以包含电子元件、数字存储元件、信号输入(用于接收模拟和/或数字信号)、信号输出(用于输出模拟和/或数字信号)等，以便执行本文所述的功能。在一些示例性实施例中，电子电路系统可以通过fpga(现场可编程门阵列)、dsp(数字信号处理器)、微处理器等来实现。在另外的示例性实施例中，峰值检测单元由软件实现，其中这些示例性实施例中的信号输入对应于软件函数/方法的参数/属性。距离的测定因此对应于用于在计算机上执行特定计算操作的命令序列的执行，从而在所有命令都已执行之后呈现距离。在一些示例性实施例中，峰值检测单元也由硬件和基于软件的组件混合实现，本文描述的功能相应地分布到这些组件。
68.在一些示例性实施例中，测量设备还包括检验单元，其被配置为用于接收由峰值
检测单元测定的距离并接收检验事件的时间序列中的时刻，以根据这些时刻确定标称距离。
69.检验单元在此基本上可以是电子电路系统或电子电路。电子电路系统可以包含电子元件、数字存储元件、信号输入(用于接收模拟和/或数字信号)、信号输出(用于输出模拟和/或数字信号)等，以便执行本文所述的功能。在一些示例性实施例中，电子电路可以通过fpga(现场可编程门阵列)、dsp(数字信号处理器)、微处理器等来实现。在另外的示例性实施例中，检验单元由软件实现，其中在这样的示例性实施例中的信号输入对应于软件函数/方法的参数/属性。然后，标称距离的确定对应于用于在计算机上执行特定计算操作的命令序列的执行，从而在所有命令都已执行之后呈现距离。在一些示例性实施例中，峰值检测单元也由硬件和基于软件的组件混合实现，本文描述的功能相应地分布到这些组件。
70.在一些示例性实施例中，检验单元可以在信号输入端从峰值检测单元接收测定的距离(其是根据时间相关的检验直方图数据确定的)。在一些示例性实施例中，检验单元可以从检验模式生成器接收检验事件的时间序列中的时刻。在其他示例性实施例中，检验单元可以接收输入参数，并从中获得检验事件的时间序列中的时刻。在另外的示例性实施例中，检验单元可以从哈希生成器接收二进制序列，并从中获得检验事件的时间序列中的时刻。
71.检验单元可以根据所获得的检验事件时间序列中的时刻来确定标称距离。这里的标称距离对应于通过检验事件的时间序列中的时刻预定义的距离。由峰值检测单元测定的距离与标称距离之间的偏差可在光学运行时间测量过程中推断测定距离时的故障。
72.在一些示例性实施例中，检验单元因此被配置为用于基于所测定的距离和标称距离之间的偏差来生成误差信号。
73.误差信号在此可以指示由峰值检测单元测定的距离与标称距离之间的偏差是否在公差范围内。公差范围可以通过实验、经验或系统参数(抖动、时间分辨率等)确定。
74.在一些示例性实施例中，因此基于位于公差范围之外的偏差来生成误差信号。
75.根据检验事件的时间序列检验光学运行时间测量的距离测定可以发现系统的多种故障，例如：
76.·
时间标尺配置错误；
77.·
距离标尺配置错误；
78.·
峰值检测单元配置错误或故障；
79.·
不正确的时间参考点；或
80.·
错误的行索引或图像计数(例如，重复数据)。
81.一些示例性实施例涉及一种用于在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法，包括：
82.生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列提供给检验直方图通道，用于生成时间相关的检验直方图数据以在光学运行时间测量期间用于检验距离测定。
附图说明
83.现在将参考附图示例性地描述本发明的示例性实施例，其中：
84.图1示出了检验事件的时间序列中的时刻的编码；
85.图2以框图示出了用于光学运行时间测量的系统的示例性实施例；以及
86.图3以流程图示出了在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法的示例性实施例。
具体实施方式
87.图1示出了检验事件的时间序列的时间编码。
88.图1的图表中的横轴是距离(时间)。纵轴是无量纲的，仅用于对时间进行说明。垂直虚线显示生成检验事件的距离(时间点)。
89.在该示例性实施例中，由三个位组成的二进制序列由哈希生成器(未示出)生成。二进制序列是通过将哈希函数应用于由图像计数和行索引生成的位向量来确定的。二进制序列的第一位等于0，第二位和第三位分别等于1。检验事件之间的时间距离是恒定的并且对应于1m的距离。在起始点没有检验事件产生，而在1m处生成同步事件(第一检验事件)。基于二进制序列，在3m处生成第二检验事件，在4m处生成第三检验事件，并在6m处生成第四检验事件。
90.图2以框图示出了用于光学运行时间测量的系统1的示例性实施例。
91.用于光学运行时间测量的系统1是lidar激光雷达系统，其操作如下：脉冲发生器2输出用于启动光学运行时间测量的电子启动信号。响应于电子启动信号，发射系统3发出光脉冲，该光脉冲在物体4上反射。反射光到达具有接收矩阵(未示出)的接收系统5，该接收矩阵包括以128行和256列布置的光检测接收元件(这里为spad)。响应于入射光，光检测接收元件生成电子信号，该电子信号由直方图通道6接收。直方图通道6还接收用于同步的电子启动信号，并根据接收到的电子信号生成与时间相关的直方图数据。
92.设备7生成与光学运行时间测量并行的检验事件的时间序列。在这个示例性实施例中，检验事件是相同的并且是如图1所示间或生成的。设备7在检验模式生成器8处接收电子启动信号以进行同步。设备7还具有哈希生成器，哈希生成器基于图像计数和行索引根据图1生成二进制序列。哈希生成器9将二进制序列传输到检验模式生成器8，检验模式生成器8基于二进制序列生成检验事件的时间序列。检验事件的时间序列由检验模式生成器8传输到检验直方图通道10，检验直方图通道10根据接收到的检验事件的时间序列生成与时间相关的检验直方图数据。检验直方图通道10接收电子启动信号以进行同步。
93.在该示例性实施例中，一旦图像计数再次增加了4，开关11在与时间相关的直方图数据和与时间相关的检验直方图数据之间切换。如果开关11允许与时间相关的直方图数据通过，则它们被传输到根据与时间相关的直方图数据确定物距的峰值检测单元12。另一个开关13将确定的物距切换到处理器14，处理器14基于物距生成物体4的三维图像。
94.如果开关11允许与时间相关的检验直方图数据通过，则它们被传输到根据与时间相关的检验直方图数据确定距离的峰值检测单元12。开关将所测定的距离切换到检验单元15。检验单元15从检验模式生成器8接收检验事件的时间序列的时刻，并由此确定标称距离。检验单元15比较测定的距离和标称距离，并输出误差信号。
95.在流程图中，图3示出了在光学运行时间测量期间生成用于检验距离测定的检验数据的方法20的示例性实施例。
96.如本文所解释的，在21处生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列
提供给检验直方图通道以生成与时间相关的检验直方图，从而在光学运行时间测量期间用于检验距离测定。
97.附图标记列表
98.1 系统
99.2 脉冲发生器
100.3 发射系统
101.4 物体
102.5 接收系统
103.6 直方图通道
104.7 设备
105.8 检验模式生成器
106.9 哈希生成器
107.10 检验直方图通道
108.11，13 开关
109.12 峰值检测单元
110.14 处理器
111.15 检验单元
112.20 方法
113.21 生成检验事件的时间序列，以便将检验事件的时间序列提供给检验直方图通道，以在光学运行时间测量期间生成用于检验所述距离测定的与时间相关的检验直方图数据。