1.本实用新型属于光电探测设备技术领域，具体涉及一种光纤四象限探测器。
背景技术：
2.四象限光电探测器是把四个性能完全相同的光电二极管按照直角坐标要求排列而成的光电探测器件，常用于激光制导或激光准直中。目前在光电探测系统中广为使用的多元非成像光电探测器多为四象限光电探测器件（以下简称四象限），它包括各种规格的硅光电池以及类型各异的四象限光电二极管，如四象限pin光电二极管、四象限雪崩光电二极管等。常规的四象限探测器如图1所示，其探头尺寸较大，一般在10mm左右，不适合精密部位的测试。
技术实现要素：
3.本实用新型的目的是提供一种光纤四象限探测器，至少可以解决现有技术中的部分缺陷。
4.为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
5.一种光纤四象限探测器，包括四个光纤组件，所述光纤组件由光纤纤芯和粘接在光纤纤芯外的毛细玻璃管整体经沿光纤纤芯纵向研磨而形成横截面为四分之一圆面结构，四个所述光纤组件的光纤纤芯研磨面顺次粘接，形成横截面为共心的圆面结构。
6.进一步的，所述光纤纤芯的研磨面上镀有一层反射膜。
7.进一步的，所述毛细玻璃管的直径为1
±
0.02mm。
8.进一步的，四个所述光纤组件粘接后的整体套接于金属套内。
9.进一步的，所述金属套的直径为2
±
0.1mm。
10.进一步的，所述金属套位于四个所述光纤组件的中部。
11.进一步的，上述光纤四象限探测器还包括带有四个fc/pc连接器的集束光纤，所述集束光纤远离fc/pc尾纤的一端与四个所述光纤组件构成的端面有源对接。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果：
13.本实用新型提供的这种光纤四象限探测器采用光纤制作四象限探头，大大减少了探头尺寸和受光面积，适用于精密部位的测试，并且对于光纤纤芯的研磨面镀有一层反射膜，有效解决了光纤研磨光纤反射的问题。
14.以下将结合附图对本实用新型做进一步详细说明。
附图说明
15.图1是现有常规四象限探测器探头的结构示意图；
16.图2是本实施例中光纤纤芯与毛细玻璃管组合示意图；
17.图3是本实施例中光纤纤芯与毛细玻璃管整体研磨后横截面示意图；
18.图4是本实施例中光纤纤芯与毛细玻璃管整体研磨后研磨面示意图；
19.图5是本实施例中四个光纤组件组装示意图；
20.图6是本实施例中四个光纤组件与集束光纤对接示意图；
21.图7是本实施例中四个光纤组件与集束光纤对接剖面示意图。
22.附图标记说明：1、毛细玻璃管；2、光纤纤芯；3、研磨面；4、金属套；5、集束光纤。
具体实施方式
23.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
24.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
25.术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
26.如图2、图3、图4和图5所示，本实施例提供了一种光纤四象限探测器，包括四个光纤组件，所述光纤组件由光纤纤芯2和粘接在光纤纤芯2外的毛细玻璃管1整体经沿光纤纤芯2纵向研磨而形成横截面为四分之一圆面结构，四个所述光纤组件的的研磨面3顺次粘接，形成横截面为共心的圆面结构。
27.在本实施例中，通过对光纤纤芯2进行研磨，然后粘接，组成四象限探头，而由于光纤纤芯2直径很小，研磨作业不方便操作，因而在光纤纤芯2外粘接定制的毛细玻璃管1，从而将光纤纤芯2连同毛细玻璃管1一起进行研磨，具体的，毛细玻璃管1的直径为1
±
0.02mm；在研磨过程中，多次用基恩士测量仪对光纤组件的截面进行测量，保证光纤纤芯2进行纵向研磨至光纤纤芯2中心的研磨尺寸。光纤组件研磨完成后，将四个光纤组件的研磨面3顺次粘接固定，以构成光纤四象限探测器的四个象限。本实施例提供的这种光纤四象限探测器采用光纤制作四象限探头，大大减少了探头尺寸和受光面积，适用于精密部位的测试。
28.而在四个光纤组件粘接后，需要对其端面进行研磨，以便与其它元件进行对接，为了保证在端面研磨过程中，四个光纤组件不会分离，优化的，可在四个光纤组件的毛细玻璃管1外加装一个金属套4进行加固。优选的，金属套4位于四个所述光纤组件的中部，四个所述光纤组件构成的整体与金属套4同轴布置，光纤组件两端均延伸至金属套4外部，以便与其它元件对接。具体的，为了保证该光纤四象限探测器具有适用于精密部位测试的较小尺寸，金属套4的直径选用2
±
0.1mm。
29.进一步的，为了保证光纤纤芯2研磨后，其研磨面3漏光，本实施例通过溅射镀膜工艺，选用合适的靶材，在光纤纤芯2的研磨面3镀一层反射膜；其中，溅射镀膜工艺为现有常规技术，其具体过程此处不再赘述。
30.另外，上述光纤四象限探测器还包括带有四个fc/pc连接器的集束光纤5，所述集束光纤5远离fc/pc尾纤的一端与四个所述光纤组件构成的端面通过对接夹具进行有源对接，而集束光纤5的四个fc/pc连接器则分别接入感光设备。在集束光纤5与光纤组件进行有源对接的过程中，调整四个光纤组件部分光强度最大且相等，再使用胶将集束光纤5与光纤组件端面粘接。
31.本实施例提供的这种光纤四象限探测器在测试过程中，光强度值在1μw～1400μw之间变化，当光源处于四象限探测器中点时，四个光纤组件部分光强度相等为789μw。
32.以上例举仅仅是对本实用新型的举例说明，并不构成对本实用新型的保护范围的限制，凡是与本实用新型相同或相似的设计均属于本发明的保护范围之内。
技术特征：
1.一种光纤四象限探测器，其特征在于：包括四个光纤组件，所述光纤组件由纤芯和粘接在纤芯外的毛细玻璃管整体经沿纤芯纵向研磨而形成横截面为四分之一圆面结构，四个所述光纤组件的光纤纤芯研磨面顺次粘接，形成横截面为共心的圆面结构。2.如权利要求1所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：所述光纤纤芯的研磨面上镀有一层反射膜。3.如权利要求1所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：所述毛细玻璃管的直径为1
±
0.02mm。4.如权利要求1所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：四个所述光纤组件粘接后的整体套接于金属套内。5.如权利要求4所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：所述金属套的直径为2
±
0.1mm。6.如权利要求4所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：所述金属套位于四个所述光纤组件的中部。7.如权利要求1所述的一种光纤四象限探测器，其特征在于：还包括带有四个fc/pc连接器的集束光纤，所述集束光纤远离fc/pc尾纤的一端与四个所述光纤组件构成的端面有源对接。
技术总结
本实用新型提供了一种光纤四象限探测器，包括四个光纤组件，所述光纤组件由光纤纤芯和粘接在光纤纤芯外的毛细玻璃管整体经沿光纤纤芯纵向研磨而形成横截面为四分之一圆面结构，四个所述光纤组件的光纤纤芯研磨面顺次粘接，形成横截面为共心的圆面结构。该光纤四象限探测器采用光纤制作四象限探头，大大减少了探头尺寸和受光面积，适用于精密部位的测试，并且对于光纤纤芯的研磨面镀有一层反射膜，有效解决了光纤研磨光纤反射的问题。效解决了光纤研磨光纤反射的问题。效解决了光纤研磨光纤反射的问题。
技术研发人员：关培 韩洋
受保护的技术使用者：武汉楚星光纤应用技术有限公司
技术研发日：2021.12.15
技术公布日：2022/7/5
再多了解一些
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