器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质与流程

1.本技术属于用电设备测试领域，尤其涉及一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质。


背景技术：

2.近年来，量子点发光二极管(qled)及有机发光二极管(oled)因具备高亮度、低功耗、广色域、易加工等诸多优点在照明和显示领域获得了广泛的关注与研究。相对比有机发光二极管(oled)，在同等画质下，qled的节能性有望达到oled的两倍，发光率将提升30％至40％。同时，qled具有启亮电压低、光致发光光谱半高宽窄、发光波长与颜色可通过量子点颗粒尺寸进行调节和低成本溶液法制备等优点，在固态照明和显示领域有巨大的应用潜力。作为一种显示器件，在实际研发过程中，需要对器件进行寿命测试评估。
3.然而，现有的器件寿命测试方法中，通常采用加速老化手段，例如在提高测试环境温度或湿度，使器件在严苛的测试条件下加速老化测试。在加速老化测试时，起始测试时，对器件损伤大，器件状态不稳定，导致亮度波动大，使得亮度准确性下降，而起始亮度值不准确，会造成器件寿命测试的结果有较大的误差。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，可以有效减少加速老化测试对器件的损伤，提高寿命测试准确性。
5.第一方面，本技术实施例提供了一种器件寿命测试方法，包括：
6.以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；
7.根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；
8.在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；
9.以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
10.第二方面，本技术实施例提供了一种器件寿命测试设备，包括：
11.获取模块，用于以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；
12.判断模块，用于根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；
13.通电模块，用于在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述
待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；
14.测试模块，用于以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
15.第三方面，本技术实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现器件寿命测试方法的步骤。
16.第四方面，本技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现器件寿命测试方法的步骤。
17.可以理解的是，上述第二方面至第四方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
18.本技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本技术实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本技术实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件在每个电流阶段既得到充分的通电的同时，又减少对待测试器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。
附图说明
19.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1是本技术一实施例提供的器件寿命测试方法的流程示意图；
21.图2是本技术一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度不可恢复的示意图；
22.图3是本技术一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度可恢复的示意图；
23.图4是本技术一实施例提供的器件寿命测试方法的效果示意图；
24.图5是本技术一实施例提供的器件寿命测试设备的结构示意图；
25.图6是本技术一实施例提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
26.以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体
细节的其它实施例中也可以实现本技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本技术的描述。
27.应当理解，当在本技术说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
28.还应当理解，在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
29.如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到所描述条件或事件”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到所描述条件或事件”或“响应于检测到所描述条件或事件”。
30.另外，在本技术说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
31.在本技术说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本技术的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。
32.参见图1示出的一种器件寿命测试方法的一种流程示意框图，该方法可以包括以下步骤：
33.步骤s101：以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；
34.将待测试器件放入器件寿命测试设备的工位治具中，将器件寿命测试设备的测试模式设置为恒流模式，设置寿命测试设备输出第一恒流电流，以第一恒流电流对待测试器件持续通电，使寿命测试设备对待测试器件持续通电，待测试器件的发光区方向对准器件寿命测试设备的亮度变化探测器，由亮度变化探测器在持续通电的过程中，间隔预设时间获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息。可以理解的是，亮度变化探测器可以获得器件亮度变化的情况，因此器件寿命测试设备可以获得器件亮度变化的趋势。可选的，亮度变化探测器可以选用光电二极管探测器。其中预设时间通常比较短，否则难以跟踪待测试器件的亮度变化，具体时间大小视待测试器件而定，通常取值范围为1s-5s，可选的设置为2s。第一恒流电流通常大于待测试器件的正常工作电流，具体的电流大小因待测试器件而异，例如可以为2ma，如果待测试器件寿命长且耐受能力强，可以适度提高至3ma。
35.步骤s102：根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度，包括：
36.根据所述第一器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第一目标时刻的器件亮度大于所述第一目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第一目标时刻后一时刻的器件亮度，且所述第一目标时刻的电流为第一恒流电流，则判断所述待测试器件在所述第一目标时刻达到所述第一恒流电流下的最大亮度。需要说明的是，所述待测试器件达到第
一恒流电流下的最大亮度，是指以第一恒流电流持续对待测试器件进行通电，所述待测试器件达到第一恒流电流下的最大亮度，即在第一目标时刻、第一目标时刻前一时刻，以及第一目标时刻后一时刻对应的器件的通电电流均为第一恒流电流。
37.步骤s103：在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行步骤s101以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流，即以较小的第一恒流电流开始通电，并不断增大至第二恒流电流。
38.其中增大所述第一恒流电流的值，可以按照一定的规律，等差增大、等比增大、线性增大、对数增大或者指数增大所述第一恒流电流的值，例如可以固定的幅值增大所述第一恒流电流的值，例如由0.8ma－1.2ma－1.6ma－2.0ma；也可以没有规律，例如以不同的幅值增大所述第一恒流电流的值，例如0.8ma－0.9ma－1.0ma－1.6ma－1.8ma－2.0ma。例如以第一恒流电流为0.8ma为例，以电流变化为0.8ma－1.2ma－1.6ma－2.0ma为例，待测试器件达到0.8ma下的最大亮度后，增大恒流电流至1.2ma，待测试器件达到1.2ma下的最大亮度后，增大恒流电流至1.6ma，待测试器件达到1.6ma下的最大亮度后，增大恒流电流至2.0ma，即达到第二恒流电流，需要说明的是，第二恒流电流是本领域技术人员为了加快器件寿命测试时，根据器件常规寿命，器件材料耐电流性，器件稳定性等参数确定的一个电流值，该电流值通常会高于器件正常工作电流值，该电流数值的选定，一方面要能够加快器件寿命测试，一方面还要不能对器件造成损伤。
39.本技术实施例，通过阶梯增长第一恒流电流，在每一个第一恒流电流下得到其对应的最大亮度，使得器件在通电的不同阶段都能取得稳定状态，最终使得第一恒流电流等于第二恒流电流，使得器件在增加电流过程中，逐渐保持更为稳定的状态，使得器件在测试过程中发光更为稳定，也能减小对器件的破坏，提高了器件测试的稳定性和准确性。
40.可选的，以较小的第一恒流电流开始通电，并不断增大所述第一恒流电流的值至第二恒流电流，其中电流增大的过程，还可以包括：
41.以第一恒流电流对所述待测器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息，所述第一器件亮度变化信息为所述第一恒流电流下的器件亮度变化信息，其中，所述第一恒流电流小于所述第二恒流电流；
42.根据所述第一器件亮度变化信息，增大所述第一恒流电流的值，直至增大后的电流等于所述第二恒流电流，其中，所述第一恒流电流增大的速率与亮度变化的速率负相关，即亮度变化越大时，第一恒流电流增大的速率可以放慢，亮度变化越小时，第一恒流电流增大的速率可以加快。
43.本技术实施例通过逐步增大通电电流至第二恒流电流，保证了待测试器件在每个电流阶段都可以得到充分的通电处理，借助亮度较缓慢的上升可以让待测试器件发光更为稳定，又减少对器件的损伤与破坏，降低不稳定造成的波动，使亮度数值更为准确，提高加速老化测试结果准确性。
44.在一个可选的实施例中，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度之后，还包括：
45.判断所述待测试器件在第一预设时间内的器件亮度变化值是否小于第一预设浮
动值，如果小于则执行步骤s104。
46.步骤s104：以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试，具体包括：
47.获取所述待测试器件在所述第二恒流电流下的第二器件亮度变化信息，所述第二恒流电流大于所述第一恒流电流，所述第二恒流电流大于所述第一恒流电流，且所述第二恒流电流大于所述待测试器件的工作电流；
48.根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，在所述待测试器件达到所述第二器件最大亮度时，对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
49.其中，根据所述第二器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，包括：
50.根据所述第二器件亮度变化信息，若确定出所述待测试器件在第二目标时刻的器件亮度大于所述第二目标时刻前一时刻的器件亮度，又大于所述第二目标时刻后一时刻的器件亮度，则判断所述待测试器件在所述第二目标时刻达到所述第二恒流电流下的最大亮度。
51.可以理解的是，可以不采用前述的以较小的第一恒流电流开始通电，并不断增大至第二恒流电流的技术方案，而是直接以第二恒流电流进行通电，并判断所述待测试器件是否达到在所述第二恒流电流下的第二器件最大亮度，在所述待测试器件达到所述第二器件最大亮度时，对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
52.在一种可能的实现方式中，进行器件寿命测试的过程中，若检测到所述待测试器件的器件亮度在第二预设时间内衰减至不大于预设截止亮度时，终止寿命测试。例如若设定预设截止亮度为初始亮度的40％，则检测到所述待测试器件的器件亮度衰减至初始亮度的40％或者初始亮度的30％，终止寿命测试。
53.在另一种可能的实现方式中，进行器件寿命测试的过程中，若检测到所述待测试器件的器件亮度在第二预设时间内衰减至不大于所述预设截止亮度时，并不终止寿命测试，而是继续对所述待测试器件通电，并获取预设数量的第二器件亮度，根据所述第二器件亮度判断是否终止寿命测试。具体可包括三种情况：
54.第一种：当所有第二器件亮度均无法恢复至所述预设截止亮度的95％～105％时，终止寿命测试。
55.第二种：当所有第二器件亮度均无法恢复至所述预设截止亮度的95％～105％时，检测所述待测试器件的表面温度或所述待测器件的两端电压；当检测到所述表面温度的增加量超过预设温度值，且所述两端电压的增加量超过预设电压值时，则终止寿命测试。预设温度值和预设电压值可以根据实际情况灵活设置。
56.如图2本技术一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度不可恢复的示意图。当寿命测试过程中出现第一种和第二种情况时，表明待测试器件出现故障，此时可终止寿命测试。其中故障可能包括断路现象，器件熄灭；或器件出现短路现象，亮度极低无法恢复。器件断路时会出现电阻骤增，电流增大的情况，因此持续通电会导致发光区因产生的焦耳热完全损坏，器件温度上升且器件两端电压增加，所以可以通过对器件表面温度与器件两端电压进行监控。
57.第三种：如图3是本技术一实施例提供的器件寿命测试方法中亮度可恢复的示意图。当第二器件亮度中至少有一个可以恢复至所述预设截止亮度的95％～105％时，则确定所述待测试器件闪烁，继续对所述待测试器件进行寿命测试；
58.若所述待测试器件闪烁的次数大于预设次数，终止寿命测试。
59.其中，预设截止亮度为初始亮度的30％～50％，可选的为40％。
60.在一种可能的实现方式中，可以不根据器件亮度判断是否终止寿命测试，而是检测所述待测试器件的表面温度或所述待测器件的两端电压；当检测到所述表面温度的增加量超过预设温度值，且所述两端电压的增加量超过预设电压值时，则终止寿命测试。
61.本技术实施例通过在寿命测试过程中，对暂时性异常不做终止寿命测试处理，提高了对永久断路、短路的器件或者闪烁的辨别能力提高，提高了常规测试的高效性，解决了不良器件导致的测试误差。
62.需要说明的是，器件寿命测试设备进行寿命测试时，由于亮度变化探测器仅能感知亮度变化，不能获取待测试器件的准确亮度，因此需要借助亮度计，通过以下步骤获得所述待测试器件持续通电过程中在候选目标时刻对应的亮度：
63.第一步：获取亮度计测量的参考亮度，然后获取参考亮度变化信息，所述参考亮度变化信息为所述待测试器件在参考时刻的亮度变化信息。其中，所述参考亮度为所述待测试器件在参考时刻对应的亮度，所述参考亮度可选的包括：由亮度计测得的第一器件最大亮度、由亮度计测得的第二器件最大亮度，或者由亮度计测得的所述待测试器件的结束亮度。这三个参考亮度比较方便测量，也可以根据实际情况测量其他时刻对应的亮度。可选的，可以将第二器件最大亮度作为初始亮度，进行器件寿命测试，此时，在确定待测试器件达到第二恒流电流下的最大亮度后，从寿命测试设备取出待测试器件，再使用亮度计进行测量。通过采用待测试器件在第二恒流电流下达到的最大亮度作为初始亮度，进行器件寿命测试，更具可信度，从而提高寿命测试准确性，如图4所示本技术一实施例提供的器件寿命测试方法的效果示意图，待测试器件发光面积增大，且发光均匀性得到极大改善。
64.第二步：获取候选目标亮度变化信息，所述候选目标亮度变化信息为所述待测试器件在候选目标时刻的亮度变化信息。
65.第三步：根据所述参考亮度、参考亮度变化信息和候选目标亮度变化信息的对应关系，确定所述待测试器件的候选目标亮度，具体的对应关系，本技术实施例不进行具体的限定。其中所述候选目标亮度为所述待测试器件持续通电过程中在候选目标时刻对应的亮度，其中候选目标时刻指测试过程中任何想获得亮度值的时刻。
66.参见图5示出的一种器件寿命测试设备的一种结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本技术实施例相关的部分，包括：
67.获取模块51，用于以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变化信息；
68.判断模块52，用于根据所述第一器件亮度变化信息，判断所述待测试器件是否达到在所述第一恒流电流下的第一器件最大亮度；
69.通电模块53，用于在所述待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大所述第一恒流电流的值，并将增大后的恒流电流更新为第一恒流电流，返回执行以第一恒流电流对所述待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取所述待测试器件的第一器件亮度变
化信息的步骤，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；
70.测试模块54，用于以所述第二恒流电流对所述待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。
71.图6是本技术实施例提供的终端设备的示意图。该实施例的终端设备6包括：处理器60、存储器61以及存储在所述存储器61中并可在所述处理器60上运行的计算机程序62。所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述器件寿命测试的步骤，例如图1所示的步骤101至104。或者，所述处理器60执行所述计算机程序62时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图5所示模块51至54的功能。
72.示例性的，所述计算机程序62可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器61中，并由所述处理器60执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序62在所述终端设备6中的执行过程。
73.所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器60、存储器61。本领域技术人员可以理解，图6仅仅是终端设备6的示例，并不构成对终端设备6的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
74.所称处理器60可以是中央处理单元(central processing unit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
75.所述存储器61可以是所述终端设备6的内部存储单元，例如终端设备6的硬盘或内存。所述存储器61也可以是所述终端设备6的外部存储设备，例如所述终端设备6上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smart media card,smc)，安全数字(secure digital,sd)卡，闪存卡(flash card)等。进一步地，所述存储器61还可以既包括所述终端设备6的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器61用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器61还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
76.本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如所述器件寿命测试方法的步骤。
77.本技术实施例还提供一种器件寿命测试系统，包括前述的器件寿命测试设备和亮度计，所述亮度计用于测量待测试器件在第一恒流电流下达到的第一器件最大亮度。
78.本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。