一种测试线检测装置及其使用方法与流程

1.本发明属于半导体硬件检测技术领域，具体涉及一种测试线检测装置及其使用方法。


背景技术：

2.在测试芯片时需要硬件和软件的支持，而硬件设备中测试行业使用的64pin排线和v50cable在整个测试环节中起着很重要的作用。在这些测试线使用的过程中，没有专业设备来检测，完好和损坏的测试线不易区分，浪费了很多人力物力去进行验证。因此专门设计制作测试线检测板用来检测测试线的好坏，将测试线的状态确定，增加芯片测试过程中的可靠性，排除掉由于测试线的异常给芯片测试过程带来的困扰。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种测试线检测装置及其使用方法，以解决现有测试线好坏检测困难，浪费资源导致在测试线使用过程中可靠性低的技术问题。
4.为实现上述目的，本发明采用如下技术方案予以确认：
5.第一方面，一种测试线检测装置，包括电源、保护电路和若干检测电路，所述保护电路与电源并联；每个所述检测电路都与电源并联；
6.所述若干检测电路包括64pin排线检测电路、v50 cable 50pin检测电路和/或v50 cable68pin检测电路中的一种或多种；
7.所述64pin检测电路包括串联的第一电阻和64pin排线，所述64pin排线包括并联的64条导线，每条导线电流输出端都设有一个发光二极管；
8.所述v50 cable 68pin检测电路包括串联的第二电阻和v50 cable 68pin，所述v50 cable68pin包括并联的68条导线，每条导线电流输入端和电流输入端各设有一个发光二极管；
9.所述v50 cable 50pin检测电路包括串联的第三电阻和v50 cable 50pin，所述v50 cable50pin包括并联的50条导线，每条导线电流输入端和电流输入端各设有一个发光二极管。
10.本发明的进一步改进在于：所述保护电路包括串联的发光二极管和保护电阻。
11.本发明的进一步改进在于：所述64pin检测电路中还包括第一开关，所述第一开关与第一电阻串联，所述第一开关电流输出端与第一电阻电流输入端相连。
12.本发明的进一步改进在于：所述v50 cable 68pin检测电路中还包括第二开关，所述第二开关与第二电阻串联，所述第二开关电流输出端与第二电阻电流输入端相连。
13.本发明的进一步改进在于：所述v50 cable 50pin检测电路中还包括第三开关，所述第三开关与第三电阻串联，所述第三开关电流输出端与第三电阻电流输入端相连。
14.本发明的进一步改进在于：所述电源为5v电源。
15.本发明的进一步改进在于：所述第一电阻的阻值大于第三电阻的阻值大于第二电
阻的阻值。
16.本发明的进一步改进在于：所述电源、保护电路和若干检测电路设置在pcb板上。
17.本发明的进一步改进在于：所述pcb板厚度为3mm。
18.第二方面，一种测试线检测装置的使用方法，包括以下步骤：
19.首先，将待检测的64pin排线、v50 cable 50pin或/和v50 cable 68pin串联进对应的检测电路中；
20.然后，启动电源对64pin排线、v50 cable 50pin或/和v50 cable 68pin进行检测，在64pin排线检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有64pin排线都正常；
21.若存在不亮的发光二极管，则其连接的导线为开路；
22.在v50 cable 50pin检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有v50 cable 50pin都正常；
23.若同一条导线上的两个发光二极管都不亮，则该导线开路；
24.若同一条导线上的两个发光二极管一个发光一个不亮，则该导线短路；
25.在v50 cable 68pin检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有v50 cable 68pin都正常；
26.若同一条导线上的两个发光二极管都不亮，则该导线开路；
27.若同一条导线上的两个发光二极管一个发光一个不亮，则该导线短路。
28.与现有技术相比，本发明至少具有以下有益效果：
29.1、本发明通过设置64pin排线检测电路、v50 cable 68pin检测电路和v50 cable 50pin检测电路以检测对应测试线是否能正常工作填补了芯片测试行业测试线检测领域的空白，通过本技术能够轻松判断出那一条线是好的，那一条是坏的，坏的测试线问题出在哪里，简化维修工作，避免了因无法区分测试线的好坏导致全部报废处理，造成成本的巨大浪费；
30.2、本发明使芯片测试过程变得更加的顺畅，在机台维修，产品调试过程中，首先可以排除掉测试线的异常，使生产线处理异常、换测更加的高效，便捷。提高劳动生产率；
31.3、本发明通过给每种测试电路设立不同的开关，可以灵活控制检测目标。
附图说明
32.构成本发明的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
33.图1为本发明一种测试线检测装置的电路图。
具体实施方式
34.下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
35.以下详细说明均是示例性的说明，旨在对本发明提供进一步的详细说明。除非另有指明，本发明所采用的所有技术术语与本发明所属领域的一般技术人员的通常理解的含义相同。本发明所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而并非意图限制根据本发明的示例性实施方式。
36.实施例1
37.如图1所示，一种测试线检测装置，包括电源、保护电路和若干检测电路，保护电路与电源并联；每个检测电路都与电源并联；
38.若干检测电路包括64pin排线检测电路、v50 cable 50pin检测电路和/或v50 cable68pin检测电路中的一种或多种；
39.64pin检测电路包括依此串联的第一开关k1、第一电阻r1和64pin排线，64pin排线包括并联的64条导线，每条导线电流输出端都设有一个发光二极管；
40.v50 cable 68pin检测电路包括依此串联的第二开关k2、第二电阻r2和v50 cable 68pin，v50 cable 68pin包括并联的68条导线，每条导线电流输入端和电流输入端各设有一个发光二极管；
41.v50 cable 50pin检测电路包括依此串联的第三开关k3、第三电阻r3和v50 cable 50pin，v50 cable 50pin包括并联的50条导线，每条导线电流输入端和电流输入端各设有一个发光二极管。
42.通过设置第一开关k1、第二开关k2和第三开关k3控制不同的检测电路进行工作，互相之间没有干扰。
43.保护电路包括串联的发光二极管和保护电阻。
44.电源为5v电源。
45.在同一个测试线检测装置中r1＞r3＞r2。
46.保护电路中的保护电阻r0＞第一电阻r1。
47.电源、保护电路和若干检测电路设置在pcb板上。
48.pcb板的厚度为3mm，各种电子元器件通过焊接固定在pcb板上。
49.pcb板加工时采用镍金工艺。
50.64pin排线检测电路上共设有64个发光二极管。
51.v50 cable 50pin检测电路中共设有100个发光二极管；
52.v50 cable 68pin检测电路中共有136个发光二极管。
53.实施例2
54.一种测试线检测装置的使用方法，包括以下步骤：
55.首先，将待检测的64pin排线、v50 cable 50pin或/和v50 cable 68pin串联进对应的检测电路中；
56.然后，启动电源对64pin排线、v50 cable 50pin或/和v50 cable 68pin进行检测，在64pin排线检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有64pin排线都正常；
57.若存在不亮的发光二极管，则其连接的导线为开路；
58.在v50 cable 50pin检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有v50 cable 50pin都正常；
59.若同一条导线上的两个发光二极管都不亮，则该导线开路；
60.若同一条导线上的两个发光二极管一个发光一个不亮，则该导线短路；
61.在v50 cable 68pin检测电路中，若所有发光二极管都亮灯，则所有v50 cable 68pin都正常；
62.若同一条导线上的两个发光二极管都不亮，则该导线开路；
63.若同一条导线上的两个发光二极管一个发光一个不亮，则该导线短路。
64.由技术常识可知，本发明可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。因此，上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本发明范围内或在等同于本发明的范围内的改变均被本发明包含。
65.最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。