转光设备、存储介质和测试系统的制作方法

1.本技术涉及光纤通信和测试技术领域，特别是涉及一种转光设备、存储介质和测试系统。


背景技术：

2.光纤通道（fiber channel，简称fc）总线技术具备传输速度高、延时低、传输距离远、可靠性高等特性，主要应用于航空航天和军工电子系统的通信网络技术领域。在实际应用中，通信设备采用fc总线技术进行通信时，对通信性能要求较高，需要对fc通信设备的通信性能进行测试。
3.传统的fc通信设备具有两种不同形式的对外端口，即fc光口和fc同轴口。由于测试设备的通信端口为光口，因此在对同轴口的fc通信设备进行测试时，需要使用同轴转光设备将fc通信设备输出的同轴信号转换为光信号，再输入测试设备用于对fc通信设备进行测试。
4.在通过同轴转光设备对同轴口的fc通信设备进行测试时，fc通信设备连接的外部设备较多，例如，fc通信设备的每一个同轴端口都需要通过多个可调衰减器与同轴转光设备的同轴端口连接。在测试过程引入过多的外部设备，不仅增加测试成本还会导致测试过程繁琐，进而造成fc通信设备的测试效率较低。


技术实现要素：

5.基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种针对具有同轴口的fc通信设备的测试过程中，能够减少外部设备的连接、降低测试成本、简化测试过程、进而能够提高测试效率的转光设备、存储介质和测试系统。
6.第一方面，本技术提供了一种转光设备，该转光设备包括：处理器和至少两个光转换模块，其中，光转换模块包括衰减子模块；处理器分别与每个光转换模块连接，每个光转换模块分别与待测试通信设备的同轴接口和测试设备的光口连接；处理器，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
7.在其中一个实施例中，上述用户输入的测试参数包括待配置光转换模块和目标衰减值；处理器，具体用于根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值；根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
8.在其中一个实施例中，在该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块为目标光转换模块，该目标衰减值为目标光转换模块对应
的待配置衰减值。
9.在其中一个实施例中，在目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值，以及将目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值之差作为待配置光转换模块级联的光转换模块对应的待配置衰减值。
10.在其中一个实施例中，处理器，具体用于控制目标光转换模块的衰减子模块为衰减模式，并在衰减模式下，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
11.在其中一个实施例中，每个光转换模块的衰减子模块的默认模式为bypass模式，在bypass模式下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块。
12.在其中一个实施例中，上述转光设备还包括：与处理器连接的显示模块；显示模块，用于在处理器的控制下显示目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值。
13.在其中一个实施例中，上述转光设备还包括：与处理器连接的参数设置模块；参数设置模块，用于供用户输入测试参数。
14.在其中一个实施例中，该参数设置模块包括光转换选择模块和衰减值设置模块；光转换选择模块，用于供用户选择待配置光转换模块；衰减值设置模块，用于供用户输入目标衰减值。
15.在其中一个实施例中，上述转光设备还包括：与处理器连接的控制切换模块；控制切换模块，用于控制处理器根据参数设置模块发送的测试参数，确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
16.第二方面，本技术还提供了一种转光设备的控制方法，应用于上述第一方面中的任一转光设备，该方法包括：获取用户输入的测试参数；根据测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
17.第三方面，本技术还提供了一种转光设备的控制装置，其特征在于，应用于上述第一方面中的任一转光设备，该装置包括：获取模块，用于获取用户输入的测试参数；设置模块，用于根据测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
18.第四方面，本技术还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：获取用户输入的测试参数；根据测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
19.第五方面，本技术还提供了一种测试系统，该测试系统包括待测试通信设备、上述第一方面中的任一转光设备以及测试设备；其中，转光设备包括处理器和至少两个光转换模块，光转换模块包括衰减子模块；
待测试通信设备通过转光设备与测试设备连接。
20.上述转光设备、存储介质和测试系统，该转光设备包括处理器和至少两个光转换模块，其中，光转换模块包括衰减子模块；处理器分别与每个光转换模块连接，每个光转换模块分别与待测试通信设备的同轴接口和测试设备的光口连接；处理器，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。即本实施例中的转光设备内部设置有多路可调节衰减值的光转换模块，在实际测试过程中，无需再引入额外的可调衰减器，仅需通过短同轴线缆连接fc通信设备的同轴端口和转光设备的同轴端口即可实现对同轴接口的信号收发的功能测试，测试成本低，且测试过程简易，便于连接，也便于对衰减值进行灵活调整和设置，大大提高了同轴通信设备的测试效率。
附图说明
21.图1为现有技术中fc同轴设备的测试拓扑结构示意图；图2为本技术实施例提供的转光设备的结构示意图；图3为本技术实施例提供的转光设备的另一结构示意图；图4为本技术实施例提供的转光设备的另一结构示意图；图5为本技术实施例提供的转光设备的另一结构示意图；图6为本技术实施例提供的转光设备的另一结构示意图；图7为本技术实施例提供的转光设备中参数设置模块的结构示意图；图8为本技术实施例提供的转光设备的引脚连接示意图；图9为本技术实施例提供的转光设备的另一结构示意图；图10为一个实施例中转光设备的控制方法的流程示意图；图11为另一个实施例中转光设备的控制方法的流程示意图；图12为一个实施例中转光设备的控制装置的结构框图。
具体实施方式
22.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
23.本技术实施例提供的转光设备，适用于光纤通信和测试技术领域，尤其是涉及航空航天和军工领域的通信和测试技术。
24.现有技术中，针对同轴口的fc通信设备（以下可以简称为fc同轴设备），在进行通信测试时，需要通过转光设备与测试设备连接；其中，在进行fc同轴设备的同轴接口的发送指标测试（例如：上升/下降时间测试、发送眼图测试、抖动测试等）时，可以使用短同轴线缆（比如0.5米）与转光设备连接，进而通过光纤线连接转光设备和测试设备；在进行同轴接口的接收指标测试（例如：接收电平、抖动、接收眼图等）时，可以使用长同轴线缆（比如30米、甚至40米等）连接fc同轴设备和转光设备，进而通过光纤线连接转光设备和测试设备。
25.需要说明的是，长同轴线缆的长度可以根据同轴接口的接收灵敏度灵活选择，要想使同轴接口的接收灵敏度正好在指标的边界，同轴线缆的衰减需要比较精准，这样对同
轴线缆的长度控制就会要求较高且控制比较麻烦，而且同轴线缆比较昂贵。因此，针对这种情况，可以采用外接可调衰减器的方式，来代替长同轴线缆的衰减效果，即采用短同轴线缆和可调衰减器来连接fc同轴设备和转光设备；另外，根据现有的可调衰减器的衰减粒度，可调衰减器可以分为粗调可调衰减器（衰减粒度为1db）和细调可调衰减器（衰减粒度为0.1db），基于此，fc同轴设备的同轴接口的测试拓扑结构可以如图1所示，其中，fc同轴设备的一个同轴接口依次通过粗调可调衰减器和细调可调衰减器与转光设备的一个同轴口连接，接着，转光设备的一个光口通过光纤线与测试设备的一个光口连接；该fc同轴设备有几个同轴接口，就需要连接几个粗调可调衰减器和细调可调衰减器，这样将会造成在测试过程中需要引入的外部设备过多，测试成本较大，且测试过程过于繁琐，进而导致测试效率较低。
26.因此，本技术实施例提出了一种转光设备，通过该转光设备可以直接连接待测试的fc通信设备和测试设备，对该待测试的fc通信设备进行信号接收和信号发送测试，无需增加额外的外部设备，能够降低测试成本，简化测试过程，进而还能提高fc通信设备的测试效率。
27.下面以具体的实施例对本技术的技术方案以及本技术的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本技术的实施例进行描述。
28.图2为本技术实施例提供的转光设备的结构示意图。如图2所示，该转光设备10包括：处理器11和至少两个光转换模块12，其中，光转换模块12包括衰减子模块121；处理器11分别与每个光转换模块12连接，每个光转换模块12分别与待测试通信设备20的同轴接口和测试设备30的光口连接；处理器11，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块12中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
29.可选地，该处理器11包括但不限于mcu、cpu、dsp、fpga可编程逻辑器件等，本技术实施例对此并不做限定。
30.可选地，如图3所示，该光转换模块12还可以包括同轴变压器122和fc光模块123，该光转换模块12中的衰减子模块121依次与该同轴变压器122和该fc光模块123连接，从该衰减子模块121引出一个接口作为该转光设备10的一个同轴接口，从该fc光模块123引出一个接口作为该转光设备10的一个光口；也就是说，从该同轴接口依次经衰减子模块121、同轴变压器122和fc光模块123到光口可以形成一条信号通路。另外，对于该同轴变压器122，其可以实现高速差分接口和同轴的单端接口之间的信号转换，该同轴变压器内部设有驱动、均衡、变压器等功能模块，可以实现对信号的不同功能处理，此部分为现有技术，在此不做详细论述。对于该fc光模块123，其可以实现电信号和光信号之间的互相转换，电信号和同轴变压器122连接，同轴变压器122和fc光模块123之间采用差分连接。
31.进一步地，如图4所示，各个衰减子模块121之间还可以相互级联设置，在这种情况下，相互级联的多个衰减子模块121可以对信号进行多次衰减；也就是说，在不采用级联模式的情况下，信号可以从第一光转换模块12的同轴接口进入到该第一光转换模块12的衰减子模块121，经信号衰减处理后，传输至该第一光转换模块12的同轴变压器122处理后经该第一光转换模块12的fc光模块123输出；在采用级联模式的情况下，信号可以从第一光转换
模块12的同轴接口进入到该第一光转换模块12的衰减子模块121，经信号衰减处理后，传输至与该第一光转换模块12级联的第二光转换模块12的衰减子模块121，再次进行信号衰减处理后，传输至该第二光转换模块12的同轴变压器122处理后，经该第二光转换模块12的fc光模块123输出。
32.可选地，该转光设备10可以包括至少两个光转换模块12，可以同时实现对待测试通信设备20的多个同轴接口进行通信测试；需要说明的是，对于光转换模块12的数量，本技术实施例对此并不做限定，该光转换模块12的数量可以与待测试通信设备20的同轴接口的数量相同或不同。
33.另外，针对每一个光转换模块12，处理器11可以与每一个光转换模块12中的衰减子模块121连接，用于对衰减子模块121进行衰减值配置，以便于衰减子模块121能够对信号进行一定衰减值的信号衰减处理；可选地，该衰减子模块121可以采用衰减芯片实现，该衰减芯片可以具有iic接口，将处理器11的iic接口与每一个衰减子模块121的衰减芯片的iic接口连接，通过该iic接口，处理器11可以对每一个衰减芯片的衰减值进行配置。可选地，该衰减值的粒度可以为0.1db，或者0.01db等，本技术对此并不做限定；另外，在该衰减芯片的内部，还可以包括与衰减值设置相关的不同粒度对应的寄存器，例如：可以包括用于存放1db粒度衰减值的第一寄存器和用于存放0.1db粒度衰减值的第二寄存器；比如：处理器11可以通过iic接口为该衰减芯片设置8.5db的衰减值，相应地，该衰减芯片可以将8db的衰减值写入第一寄存器，将0.5db的衰减值写入第二寄存器。
34.可选地，处理器11还可以与每一个衰减芯片连接，以用于对衰减芯片的级联状态进行控制，例如：可以通过将处理器的不同控制引脚（如i/o引脚）与每一个衰减芯片的至少一个控制引脚相连接，通过不同的电平状态来控制衰减芯片与级联的衰减芯片之间的级联状态；可选地，也可以在级联的两个衰减芯片之间设置开关电路，处理器11通过控制该开关电路的通断来控制两个衰减芯片之间的级联状态；本技术实施例对级联控制的方式并不做限定。
35.在实际测试过程中，通过短同轴线缆连接待测试通信设备20的同轴接口与上述转光设备10的同轴接口，以及通过光纤线来连接上述转光设备10的光口与测试设备30的光口，形成测试通路；在进行接收信号的测试时，用户可以输入相应的测试参数，处理器11根据该测试参数确定该转光设备10的多个光转化模块12中待配置的目标光转换模块，并对该目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
36.可选地，该转光设备10可以通过有线（例如：以太网线）与外部终端设备（例如：上位机设备等）连接，用户通过外部终端设备输入测试参数，使得该外部终端设备可以将用户输入的测试参数发送至该转光设备10的处理器11，以便处理器11在获取到该测试参数后，根据该测试参数确定目标光转换模块，并对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。可选地，该转光设备10还可以包括与处理器11连接的无线通信模块，通过该无线通信模块也可以连接外部终端设备（例如：手机、控制终端等），进而可以接收由外部终端设备发送的测试参数；本技术对处理器获取用户输入的测试参数的方式并不做具体限定。
37.上述转光设备，包括处理器和至少两个光转换模块，其中，光转换模块包括衰减子模块；处理器分别与每个光转换模块连接，每个光转换模块分别与待测试通信设备的同轴接口和测试设备的光口连接；处理器，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块中
确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。即本实施例中的转光设备内部设置有多路可调节衰减值的光转换模块，在实际测试过程中，无需再引入额外的可调衰减器，仅需通过短同轴线缆连接fc通信设备的同轴端口和转光设备的同轴端口即可实现对同轴接口的信号收发的功能测试，测试成本低，且测试过程简易，便于连接，也便于对衰减值进行灵活调整和设置，使得测试难度也较低，大大提高了同轴通信设备的测试效率。
38.在本技术的一个可选的实施例中，上述用户输入的测试参数包括待配置光转换模块和目标衰减值；处理器11，具体用于根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值；接着，处理器11根据该目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
39.可选地，用户可以根据实际测试过程中，对待测试通信设备的某一同轴接口的信号测试需求，设置与该同轴接口连接的转光设备的目标光转换模块的衰减值；即用户可以输入当前待配置光转换模块和目标衰减值，以便处理器11可以根据用户输入的待配置光转换模块和目标衰减值，确定目标光转换模块，并对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
40.可选地，处理器11可以根据用户输入的目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值之间的大小关系，确定目标光转换模块和目标光转换模块对应的衰减值；需要说明的是，由于光转换模块的性能差异，每一光转换模块所能实现的衰减范围可以相同也可以不同，即每一光转换模块的衰减值阈值可以相同也可以不同。在处理器11内部，可以预先设置每一光转换模块对应的衰减值阈值。
41.可选地，处理器11在确定该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，可以确定该待配置光转换模块为目标光转换模块，并可以将该目标衰减值作为该目标光转换模块对应的待配置衰减值。
42.可选地，处理器11在确定该目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，可以确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；这里，可以根据目标衰减值的大小和待配置光转换模块的衰减值阈值、以及待配置光转换模块级联的光转换模块的衰减值阈值，确定级联的光转换模块的数量、以及每一级联的光转换模块对应的待配置衰减值。也就是说，处理器11在确定该目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值；接着，可以继续判断目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值的第一差值，和待配置光转换模块级联的第一光转换模块的衰减值阈值的大小关系，如果该第一差值不大于该第一光转换模块的衰减值阈值，那么可以将该第一差值作为该第一光转换模块对应的待配置衰减值，该待配置光转换模块和该待配置光转换模块级联的第一光转换模块即为目标光转化模块；如果该第一差值仍大于该第一光转换模块的衰减值阈值，则进一步判断该第一差值和该第一光转换模块的衰减值阈值的第二差值，和与该第一光转换模块级联的第二光转换模块的衰减值阈值的大小关系；以此类推，逐步确定各个目标光转化模块以及各个目标光转化模块分别对应的待配置衰减值。
43.最后，处理器11可以根据确定出的各个目标光转化模块以及各个目标光转化模块分别对应的待配置衰减值，依次对每个目标光转化模块的衰减子模块进行衰减值配置。
44.本实施例中，处理器在接收到用户输入的待配置光转换模块和目标衰减值之后，根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值，接着，根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置；即本实施例中的转光设备不仅可以实现衰减子模块衰减范围内的信号衰减，还可以通过级联的方式实现衰减子模块衰减范围外的信号衰减，增加了转光设备的衰减值测试范围，提高了转光设备的综合性能。
45.在本技术的一个可选的实施例中，上述每一个衰减芯片还可以具有两种不同的控制模式，即bypass模式和衰减模式，在bypass模式下，衰减芯片没有衰减，即可以进行无衰减的信号传输；在衰减模式下，衰减芯片可以基于处理器通过iic接口所设置的衰减值对信号进行衰减；可选地，针对衰减芯片的不同控制模式，可以通过衰减芯片上的使能引脚进行控制，例如：可以将处理器上的不同i/o引脚分别于不同的衰减芯片的使能引脚连接，以便处理器可以灵活控制不同衰减芯片进行控制模式切换；如：该使能引脚可以为衰减芯片的oe引脚，当oe=0时，衰减芯片为bypass模式，当oe=1时，衰减芯片为衰减模式。
46.可选地，每个光转换模块的衰减子模块的默认模式可以为bypass模式，在bypass模式下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块；在处理器确定出各个目标光转化模块以及各个目标光转化模块分别对应的待配置衰减值的情况下，可以分别对每一个目标光转化模块进行衰减值配置；在配置目标光转化模块的衰减值时，可以控制该目标光转化模块的使能引脚的电平状态切换为衰减模式对应的电平状态，即将该目标光转化模块的衰减子模块的默认bypass模式切换为衰减模式，并在衰减模式下，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置，可以通过iic接口将该目标光转换模块对应的待配置衰减值写入该目标光转换模块中。
47.本实施例中，处理器可以控制每一光转换模块的衰减子模块处于bypass模式或者衰减模式，即该衰减子模块即可以作为无衰减的信号传输模块，也可以作为具有衰减功能的信号衰减模块，不同的模式下，可以实现信号的不同功能测试，增加了转光模块的适用范围和使用场景。
48.在本技术的一个可选的实施例中，如图5所示，上述转光设备10还包括：与处理器连接的显示模块13；该显示模块13，用于在处理器11的控制下显示目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值。可选地，该显示模块13可以是液晶显示屏，该液晶显示屏可以通过spi接口与处理器11连接，用于显示当前设置的目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值，或者，在该目标光转换模块有多个，即存在级联的情况下，也可以根据级联状态，将所属同一信号通路的多个目标光转换模块进行特殊显示，以使用户明确信号的具体流向，提高用户的测试体验感。
49.在本技术的一个可选的实施例中，如图6所示，上述转光设备10还包括：与处理器连接的参数设置模块14；该参数设置模块14，用于供用户输入测试参数。可选地，该参数设置模块14可以是可触控的显示屏，也可以是触控按键；通过该参数设置模块14，用户可以输入当前待配置光转换模块和目标衰减值；另外，该参数设置模块14可以是集成于该转光设备上，也可以是通过有线或无线连接的外接参数设置设备，本技术对参数设置模块的具体形式并不做限定。
50.可选地，如图7所示，该参数设置模块14可以包括光转换选择模块141和衰减值设
置模块142；光转换选择模块141，用于供用户选择待配置光转换模块；衰减值设置模块142，用于供用户输入目标衰减值。可选地，该光转换选择模块141和/或衰减值设置模块142可以为可触控的显示屏，也可以是触控按键；另外，该光转换选择模块141可以包括0-9的数字按键和特殊字符按键（如：“#”），这些按键均与处理器11的不同i/o引脚连接；该0-9的数字按键可以用于选择待配置光转换模块，“#”按键可以用于设置待配置光转换模块的衰减子模块的控制模式。
51.可选地，如图8所示，该光转换选择模块141（即图8中的端口选择按钮u6）的数字按键1-9可以分别连接处理器11（即图8中的mcu）的iob1-iob9引脚，数字按键0可以连接处理器11的iob10引脚，特殊字符按键“#”可以连接处理器的iob11引脚；处理器11的ioc1-iocn中的部分引脚可以连接不同光转换模块的衰减子模块的使能引脚（如衰减芯片的oe引脚），处理器11的iic引脚连接不同光转换模块的衰减子模块的iic引脚；在处理器11内部，可以预先设置ioc1-iocn中表示衰减子模块的使能引脚的部分ioc引脚和iob1-iob11之间的第一对应关系，在检测到iob的相关引脚的有效信号后（即用户通过光转换选择模块选择了待配置光转换模块），可以根据该第一对应关系，确定与该待配置光转换模块对应的ioc引脚，并通过该ioc引脚修改该待配置光转换模块的衰减子模块的控制模式。
52.另外，针对该衰减值设置模块142（即图8中的衰减设置按钮u7）的数字按键1-9可以分别连接处理器11（mcu）的ioa1-ioa9引脚，数字按键0可以连接处理器11的ioa10引脚，小数点“.”可以连接处理器的ioa11引脚，在处理器11内部，可以预先设置不同的衰减值数值（0-9和小数点）和ioa1-ioa11引脚之间的第二对应关系，在检测到ioa的相关引脚的有效信号后，可以基于该第二对应关系，确定用户当前输入的该待配置光转换模块的目标衰减值；再结合上述通过光转换选择模块设置141的待配置光转换模块为衰减模式的情况下，通过iic接口将该目标衰减值写入到该待配置光转换模块的衰减子模块中，完成对该待配置光转换模块的衰减值配置。
53.再者，针对每个衰减芯片之间的级联控制，可以采用通道选择的方式实现对衰减芯片级联或者非级联的控制，可选地，对于每个衰减芯片，可以设置通道选择端口（如图8中所示的衰减芯片的ctr1、ctr2和ctr3引脚）分别与mcu的部分ioc引脚连接，mcu可以通过该部分ioc引脚控制该通道选择端口的不同信号状态，来实现衰减芯片的级联或者非级联状态；可选地，衰减芯片的通道选择端口的设置值和衰减芯片的通道选择之间的关系可以如表1所示：表1
下面以一个具体举例对级联和非级联状态下的通道选择端口设置和测试信号的传输通道进行说明。
54.例如：在用户选择对通道1的信号进行测试时，用户通过端口选择按钮u6选择按钮1，以指示muc将衰减芯片1设置为衰减模式（即控制ioc1端口输出高电平，衰减芯片1的oe=1）；接着，用户通过衰减设置按钮u7输入衰减芯片1对应的目标衰减值；假设用户输入的目标衰减值小于或等于衰减芯片1的预设阈值，则mcu控制衰减芯片1的通道选择信号为000（即1_rx1
→
1_tx1）和100（即2_rx1
→
2_tx1），也就是说，测试信号经过衰减芯片1和同轴变压器1以及fc光模块1进行传输。
55.假设用户输入的目标衰减值大于衰减芯片1的预设阈值，则mcu控制衰减芯片1的通道选择信号为001（即1_rx1
→
1_tx2）和110（即2_rx2
→
2_tx1）、以及控制与衰减芯片1级联的衰减芯片2的通道选择信号为010（即1_rx2
→
1_tx1）和101（即2_rx1
→
2_tx2），也就是说，测试信号经衰减芯片1、衰减信号2、同轴变压器2以及fc光模块2进行传输。与此同时，mcu根据用户输入的目标衰减值和衰减芯片1的预设阈值，确定衰减芯片1的第一待设置衰减值和衰减芯片2的第二待设置衰减值；可选地，第一待设置衰减值可以为衰减芯片1的预设阈值，第二待设置衰减值为用户输入的目标衰减值与衰减芯片1的预设阈值的差值；第一待设置衰减值和第二待设置衰减值也可以为用户输入的目标衰减值的二分之一；本技术对级联的各个衰减芯片的待设置衰减值的分配方式并不做限定。在确定出第一待设置衰减值和第二待设置衰减值之后，mcu可以控制衰减芯片2为衰减模式，即控制ioc2端口输出高电平，以使衰减芯片2的oe=1；接着，可以分别设置衰减芯片1和衰减芯片2的衰减值。
56.本实施例中，通过在转光设备上设置参数设置模块，能够便于用户进行现场测试，提高用户操作的便捷性和可行性。
57.在本技术的一个可选的实施例中，如图9所示，上述转光设备10还包括：与处理器连接的控制切换模块15；该控制切换模块15，用于控制处理器11根据参数设置模块14发送的测试参数，确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。可选地，该控制切换模块15可以为切换开关（其与处理器之间的连接关系可以参照上述图8所示），在默认情况下，该处理器11可以根据外部终端设备发送的测试参数，确定目标光转换模块；而在用户需要进行现场测试时，用户可以通过该控制切换模块15将
远程控制切换为现场控制，以便用户可以基于转光设备10上的参数设置模块14（光转换选择模块141和衰减值设置模块142）设置待配置光转换模块和目标衰减值，能够为用户提供多种不同的测试方式，便于用户在不同的场景下对fc通信设备进行通信功能测试，大大提高了用户的测试体验感和测试效率。
58.在一个实施例中，如图10所示，提供了一种转光设备的控制方法，以该方法应用于上述转光设备10或者上述转光设备10的处理器11为例进行说明，包括以下步骤：步骤1001，获取用户输入的测试参数。
59.可选地，处理器可以检测用户在参数设置模块上的触发指令，根据该触发指令获取用户输入的测试参数。
60.步骤1002，根据该测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
61.具体实现过程可以参照上述相关论述内容，在此不再赘述。
62.上述转光设备的控制方法中，转光设备的处理器通过获取用户输入的测试参数，接着，根据该测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置；也就是说，本实施例中的转光设备内部设置有多路可调节衰减值的光转换模块，在实际测试过程中，无需再引入额外的可调衰减器，仅需通过短同轴线缆连接fc通信设备的同轴端口和转光设备的同轴端口即可实现对同轴接口的信号收发的功能测试，测试成本低，且测试过程简易，便于连接，也便于对衰减值进行灵活调整和设置，大大提高了同轴通信设备的测试效率。
63.在一个实施例中，如图11所示，上述用户输入的测试参数可以包括待配置光转换模块和目标衰减值；可选地，处理器可以检测用户在光转换选择模块上的第一触发指令，并根据该第一触发指令获取用户选择的待配置光转换模块，以及检测用户在衰减值设置模块上的第二触发指令，并根据该第二触发指令获取用户输入的目标衰减值；此种情况下，上述步骤1002可以包括：步骤1101，根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值。
64.可选地，在该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，可以确定待配置光转换模块为目标光转换模块，该目标衰减值为目标光转换模块对应的待配置衰减值。
65.可选地，在目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，可以确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；接着，可以将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值，以及将目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值之差作为待配置光转换模块级联的光转换模块对应的待配置衰减值。
66.步骤1102，根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
67.可选地，处理器可以控制目标光转换模块的衰减子模块为衰减模式，并在衰减模式下，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
68.可选地，每个光转换模块的衰减子模块的默认模式为bypass模式，在bypass模式
下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块。
69.在一个实施例中，上述方法还可以包括：将目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值发送至显示模块，以指示显示模块显示该目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值。
70.在一个实施例中，上述方法还可以包括：接收控制切换模块发送的控制指令，基于该控制指令，获取参数设置模块发送的测试参数，接着，根据该测试参数确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
71.应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
72.基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的转光设备的控制方法的转光设备的控制装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个转光设备的控制装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于转光设备的控制方法的限定，在此不再赘述。
73.在一个实施例中，如图12所示，提供了一种转光设备的控制装置，包括：获取模块1201和设置模块1202，其中：获取模块1201，用于获取用户输入的测试参数；设置模块1202，用于根据测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
74.在其中一个实施例中，上述用户输入的测试参数包括待配置光转换模块和目标衰减值；上述设置模块1202，具体用于根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值；根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
75.在其中一个实施例中，上述设置模块1202，具体用于在该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块为目标光转换模块，该目标衰减值为目标光转换模块对应的待配置衰减值。
76.在其中一个实施例中，上述设置模块1202，具体用于在目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值，以及将目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值之差作为待配置光转换模块级联的光转换模块对应的待配置衰减值。
77.在其中一个实施例中，上述装置还包括控制模块；该控制模块，用于控制目标光转换模块的衰减子模块为衰减模式，并在衰减模式下，上述设置模块对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
78.在其中一个实施例中，每个光转换模块的衰减子模块的默认模式为bypass模式，
在bypass模式下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块。
79.在其中一个实施例中，上述装置还包括输出显示模块；该输出显示模块，用于显示目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值。
80.在其中一个实施例中，上述获取模块，具体用于检测用户在参数设置模块上的触发指令，根据该触发指令获取用户输入的测试参数。
81.在其中一个实施例中，上述获取模块，具体用于检测用户在光转换选择模块上的第一触发指令，并根据该第一触发指令获取用户选择的待配置光转换模块，以及检测用户在衰减值设置模块上的第二触发指令，并根据该第二触发指令获取用户输入的目标衰减值。
82.在其中一个实施例中，上述装置还包括接收模块；该接收模块用于接收控制切换模块发送的控制指令，基于该控制指令，上述获取模块获取参数设置模块发送的测试参数，接着，上述设置模块根据该测试参数确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
83.关于转光设备的控制装置的具体限定可以参见上文中对于转光设备的控制方法的限定，在此不再赘述。上述转光设备的控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
84.在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：获取用户输入的测试参数；根据测试参数，从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块中的衰减子模块进行衰减值配置。
85.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：上述用户输入的测试参数包括待配置光转换模块和目标衰减值；根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值；根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
86.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块为目标光转换模块，该目标衰减值为目标光转换模块对应的待配置衰减值。
87.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值，以及将目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值之差作为待配置光转换模块级联的光转换模块对应的待配置衰减值。
88.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：控制目标光转换模块的衰减子模块为衰减模式，并在衰减模式下，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
89.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：每个光转换模块
的衰减子模块的默认模式为bypass模式，在bypass模式下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块。
90.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：控制显示模块显示目标光转换模块以及目标光转换模块的衰减值。
91.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取参数设置模块检测到的测试参数。
92.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取光转换选择模块检测到的待配置光转换模块，以及获取衰减值设置模块检测到的目标衰减值。
93.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：接收控制切换模块发送的控制指令，并基于该控制指令，根据参数设置模块发送的测试参数，确定目标光转换模块，并根据该测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。
94.在一个实施例中，如上述图2所示，提供了一种测试系统，该测试系统包括待测试通信设备20、上述第一方面中的任一转光设备10以及测试设备30；其中，转光设备10包括处理器11和至少两个光转换模块12，光转换模块12包括衰减子模块121；待测试通信设备20通过转光设备10与测试设备30连接。具体实现过程可以参照上述关于转光设备10的相关描述，在此不再赘述。
95.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（read-only memory，rom）、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（random access memory，ram）或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（static random access memory，sram）或动态随机存取存储器（dynamic random access memory，dram）等。
96.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
97.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。