一种光纤传感器生产用自动检测装置及检测方法

1.本发明涉及一种传感器生产检测技术领域，具体是一种光纤传感器生产用自动检测装置及检测方法。


背景技术：

2.光纤传感器由光源、光纤和光探测器组成。光纤传感器的工作原理是将光源入射的光束经由光纤送入调制器，在调制器内与外界被测参数的相互作用，使光的光学性质如光的强度、波长、频率、相位、偏振态等发生变化，成为被调制的光信号。其适用环境广，可以制造传感各种不同物理信息(声、磁、温度、旋转等)的器件。由于光发射头的通透性、光接收器的灵敏度等有微小差异，其产生的误差可能会超出公差，其在生产完成后需要进行检测。现有技术中通过在标准环境下检测每个光纤传感器的精度，费时长，效率低，且不同类型的光纤传感器的测试环境不同，测试成本高。
3.因此，有必要提供一种光纤传感器生产用自动检测装置及检测方法，以解决上述背景技术中提出的问题。


技术实现要素：

4.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光纤传感器生产用自动检测装置，包括
5.底座，承载结构；
6.模拟调制环，固定在底座上中心位置的环状的密闭腔体，其上下平面为透光材料制成；
7.支架，固定架设在模拟调制环内的竖直结构；
8.转盘，两个转盘上下对称地可转动地连接到支架的上下端面，且两个转盘分别伸出模拟调制环的上下平面外；
9.快装接口，多个快装接口一一对应地圆周均匀分布在两个转盘的边缘；
10.传送装置，两个传送装置对称地分布在模拟调制环的两侧，每个传送装置由两条平行的传送带组成；
11.机械手，两个机械手分别对称地设置在两个传送装置中的两条传送带间。
12.进一步的，作为优选，所述支架中安装有旋转电机，所述旋转电机为能够驱动将其贯穿的转轴旋转的双轴电机，所述转轴两端各通过旋转传动带分别与两个转盘连接。
13.进一步的，作为优选，每个所述转盘远离支架的一面圆周分布地开设有多道沿其径向延伸的滑槽，每道所述滑槽中可滑动地连接有滑杆，每个所述快装接口分别安装到滑杆中。
14.进一步的，作为优选，每个所述转盘圆心活动地贯穿有升降轴，所述升降轴远离支架的一端中可转动地连接有连接盘，所述连接盘边缘圆周分布地铰接有多根连杆，每根所述连杆的另一端一一对应地铰接到所述滑杆上。
15.进一步的，作为优选，所述支架中设有竖直布置的环形的调整传动带，所述调整传动带的两侧边分别固定有连接块，两块所述连接块上下分布且以调整传动带中心对称地分布，上下分布的两块所述连接块分别固定连接到上下分布的两根升降轴中，所述调整传动带能够由固定在支架中的升降电机驱动。
16.进一步的，作为优选，每根所述滑杆靠近快装接口一端靠近支架的一面固定有定位传感器，上下对应的一对滑杆的定位传感器在同一垂线中。
17.一种光纤传感器生产用自动检测装置的检测方法，包括
18.s1、以一侧的传送装置为输入端，另一侧的传送装置为输出端，输入端的两根传送带中分别传送光发射头和光探测器；
19.s2、安装时，升降电机驱动升降轴下降使滑杆向远离转盘圆心方向伸出，通过旋转电机驱动两个转盘旋转使输入端方向的机械手分别将光发射头和光探测器安装到上、下方的转盘中的每个快装接口中；
20.s3、检测时，通过升降电机驱动使滑杆缩回到快装接口位于模拟调制环的上表面中部，给上方转盘的快装接口中连接的光发射头通入光源，下方转盘的快装接口中连接的光探测器连接到解调器而获得被测参数；
21.s4、通过加热装置调节模拟调制环内的温度，读取每个光探测器中的参数，得到每对光发射头和光探测器在该环境下的参数与平均参数之差的值，该值大于预设阈值时发出检测不合格信号；
22.s5、检测完成后，通过升降电机驱动使滑杆伸出，将合格的光发射头和光探测器通过输出端的机械手拆卸到输出端传送装置中。
23.进一步的，作为优选，在s4中通过加热装置调节模拟调制环内的温度使温度在一定时间内变化，读取每个光探测器在该过程中多个时刻的参数。
24.进一步的，作为优选，在s5中在同一垂线上进行检测的一对光发射头和光探测器在输出端传送装置中打上同一个编号，每对光发射头和光探测器编号不同。
25.进一步的，作为优选，在s3中光发射头中通入的光源由同一光源经过分光器输入到每个光发射头中。
26.与现有技术相比，本发明的有益效果是：
27.本发明中，模拟调制环上下平面为透光材料制成，其内部能够快速模拟被测参数的环境，如通过加热装置调节温度、通过加湿装置调节湿度等，能够快速检测光纤传感器的不同类型性能。
28.本发明中，由于升降电机驱动调整传动带时其两侧反向地移动，带动两个连接块反向同步地移动，从而使得两个连接盘同步靠近或远离支架的方向，使每根滑杆能够同步伸出或缩回，以确保上下对应的快装接口始终保持在同一垂线，确保检测精度。
附图说明
29.图1为一种光纤传感器生产用自动检测装置的示意图；
30.图2为支架和其连接的转盘中结构的示意图；
31.图中：1、底座；2、支架；3、转盘；4、传送装置；5、机械手；6、模拟调制环；7、快装接口；8、光发射头；9、光探测器；10、旋转电机；11、转轴；12、旋转传动带；13、滑杆；14、滑槽；
15、升降轴；16、连接盘；17、连杆；18、连接块；19、调整传动带；20、升降电机；21、定位传感器。
具体实施方式
32.请参阅图1和图2，本发明实施例中，一种光纤传感器生产用自动检测装置，包括
33.底座1，承载结构；
34.模拟调制环6，固定在底座1上中心位置的环状的密闭腔体，其上下平面为透光材料制成，其内部能够快速模拟被测参数的环境，如通过加热装置调节温度、通过加湿装置调节湿度等。
35.支架2，固定架设在模拟调制环6内的竖直结构；
36.转盘3，两个转盘3上下对称地可转动地连接到支架2的上下端面，且两个转盘3分别伸出模拟调制环6的上下平面外；
37.快装接口7，多个快装接口7一一对应地圆周均匀分布在两个转盘3的边缘；
38.传送装置4，两个传送装置4对称地分布在模拟调制环6的两侧，每个传送装置4由两条平行的传送带组成；
39.机械手5，两个机械手5分别对称地设置在两个传送装置4中的两条传送带间，所述机械手5能够将传送装置4中的光发射头8和光探测器9分别安装到两个转盘3的快装接口7中或将其从转盘3卸下到传送装置4中。
40.本实施例中，所述支架2中安装有旋转电机10，所述旋转电机10为能够驱动将其贯穿的转轴11旋转的双轴电机，所述转轴11两端各通过旋转传动带12分别与两个转盘3连接，从而使旋转电机10能够同步驱动两个转盘3旋转。
41.本实施例中，每个所述转盘3远离支架2的一面圆周分布地开设有多道沿其径向延伸的滑槽14，每道所述滑槽14中可滑动地连接有滑杆13，每个所述快装接口7分别安装到滑杆13中。
42.本实施例中，每个所述转盘3圆心活动地贯穿有升降轴15，所述升降轴15远离支架2的一端中可转动地连接有连接盘16，所述连接盘16边缘圆周分布地铰接有多根连杆17，每根所述连杆17的另一端一一对应地铰接到所述滑杆13上。也就是说，通过改变升降轴15的高度能够使连杆17同步推动与其连接的滑杆13伸出或缩回，且滑杆13伸出的距离使快装接口7在模拟调制环6的外壁外，滑杆13缩回快装接口7时在模拟调制环6的上表面中部内。
43.本实施例中，所述支架2中设有竖直布置的环形的调整传动带19，所述调整传动带19的两侧边分别固定有连接块18，两块所述连接块18上下分布且以调整传动带19中心对称地分布，上下分布的两块所述连接块18分别固定连接到上下分布的两根升降轴15中，所述调整传动带19能够由固定在支架2中的升降电机20驱动；由于升降电机20驱动调整传动带19时其两侧反向地移动，带动两个连接块18反向同步地移动，从而使得两个连接盘16同步靠近或远离支架2的方向，使每根滑杆13能够同步伸出或缩回，以确保上下对应的快装接口7始终保持在同一垂线。
44.本实施例中，每根所述滑杆13靠近快装接口7一端靠近支架2的一面固定有定位传感器21，上下对应的一对滑杆13的定位传感器21在同一垂线中，通过定位传感器21能够实时监测上下对应的快装接口7是否在同一垂线，防止机械误差对传感器的检测造成影响。
45.一种光纤传感器生产用自动检测装置的检测方法，包括
46.s1、以一侧的传送装置4为输入端，另一侧的传送装置4为输出端，输入端的两根传送带中分别传送光发射头8和光探测器9；
47.s2、安装时，升降电机20驱动升降轴15下降使滑杆13向远离转盘3圆心方向伸出，通过旋转电机10驱动两个转盘2旋转使输入端方向的机械手5分别将光发射头8和光探测器9安装到上、下方的转盘3中的每个快装接口7中；
48.s3、检测时，通过升降电机20驱动使滑杆13缩回到快装接口7位于模拟调制环6的上表面中部，给上方转盘3的快装接口7中连接的光发射头8通入光源，下方转盘3的快装接口7中连接的光探测器9连接到解调器而获得被测参数；
49.s4、通过加热装置调节模拟调制环6内的温度，读取每个光探测器9中的参数，得到每对光发射头8和光探测器9在该环境下的参数与平均参数之差的值，该值大于预设阈值时发出检测不合格信号；
50.s5、检测完成后，通过升降电机20驱动使滑杆13伸出，将合格的光发射头8和光探测器9通过输出端的机械手5拆卸到输出端传送装置4中。
51.本实施例中，通过加热装置调节模拟调制环6内的温度使温度在一定时间内变化，读取每个光探测器9在该过程中多个时刻的参数，能够检测动态温度时光发射头8和光探测器9的性能。
52.本实施例中，在同一垂线上进行检测的一对光发射头8和光探测器9在输出端传送装置4中打上同一个编号，每对光发射头8和光探测器9编号不同，从而使通过检测的一对光发射头8和光探测器9配对使用，确保检测结果的准确性。
53.本实施例中，光发射头8中通入的光源由同一光源经过分光器输入到每个光发射头8中，以确保每个光发射头8中的光源完全相同，以避免光源设备误差对检测结果造成影响。
54.以上所述的，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。