一种取样装置及其样品托的制作方法

技术特征：
1.一种样品托，其特征在于，包括用于承托样品的支撑主体和布置在所述支撑主体的周部的若干支撑耳(102)，所述支撑耳(102)包括沿纵向分布的第一部分和第二部分；所述第一部分可进入取样头(200)的内部并与所述取样头(200)沿纵向卡接，所述第二部分位于所述取样头(200)的外侧。2.根据权利要求1所述的样品托，其特征在于，所述支撑主体呈环形，所述支撑耳(102)的中部设有装配槽(103)，所述装配槽(103)沿所述支撑主体的周向贯穿；所述第一部分和所述第二部分分别位于所述装配槽(103)的上下部。3.根据权利要求2所述的样品托，其特征在于，所述装配槽(103)沿纵向的宽度为所述支撑耳(102)沿纵向的宽度的0.5-0.8倍。4.根据权利要求1所述的样品托，其特征在于，所述支撑主体的中部设有用于承托样品的样品槽(101)。5.根据权利要求1所述的样品托，其特征在于，所述支撑耳(102)的个数为3-6个。6.根据权利要求1至5任意一项所述的样品托，其特征在于，所述支撑耳(102)的顶部一侧设有弧形导入面，所述弧形导入面可与所述取样头(200)的取样口相配合。7.一种取样装置，包括取样头(200)、样品架(300)和样品托(100)，其特征在于，所述样品托(100)为权利要求1至6任意一项所述的样品托(100)。8.根据权利要求7所述的取样装置，其特征在于，所述样品架呈圆筒型，所述样品架的端部设有若干与所述支撑耳(102)相配合的卡槽。

技术总结
本实用新型公开了一种取样装置及其样品托，样品托包括用于承托样品的支撑主体和布置在所述支撑主体的周部的若干支撑耳，所述支撑耳包括沿纵向分布的第一部分和第二部分；所述第一部分可进入取样头的内部并与所述取样头沿纵向卡接，所述第二部分位于所述取样头的外侧。本实用新型所提供的样品托，通过将所述支撑耳分为所述第一部分和所述第二部分，所述第一部分保留传样的目的，所述第二部分位于所述取样头的外侧，起到定位的目的，当取样架从取样头上取下样品托时，所述第二部分的设置，可以方便取样架的卡槽与样品托的支撑耳进行定位，提高传样效率和位置精度，节省传样时间。节省传样时间。节省传样时间。


技术研发人员：倪健 陈志敏 薛聪
受保护的技术使用者：埃特曼（北京）半导体技术有限公司
技术研发日：2021.11.19
技术公布日：2022/6/14