水分计、水分计的状态诊断方法及程序与流程

1.本发明涉及水分计，更详细地讲，涉及加热干燥式水分计。


背景技术：

2.以往，作为测量试料的水分的装置之一，已知有加热干燥式水分计(例如专利文献1)。加热干燥式水分计通过将试料加热而使试料中的水分蒸发，根据加热前和加热后的试料的质量的变化(减少)来计测该试料的水分率。以下，在本说明书中，只要没有特别否定，水分计就指加热干燥式水分计。
3.专利文献1公开了一种水分计，其构成为，使用酒石酸钠二水合物(c4h4na2o6·
2h2o，以下单称作“酒石酸钠”)等的预先判明了水分率的物质作为装置性能检查用的标准物质来进行校正。已知酒石酸钠通过在约160℃的温度下加热约10分钟，结晶会发生不可逆的变化而释放水分。
4.专利文献1的水分计将标准物质的实测水分率与预先存储在存储部中的该标准物质的理论水分率比较，将其比较结果按照预先设定的评价基准来评价水分计的状态。
5.另一方面，在计量装置(特别是电子天平)的领域，已知通过因空调的动作带来的急剧的温度变化、因低气压的经过带来的气压及湿度的变化、因远程的地震发生等的设置环境而影响等的所谓的干扰，计量值会散乱。专利文献2公开了多次计量已知的载荷并计算计量值的离差(标准偏差)、使用户能够识别装置的状态的计量装置。
6.现有技术文献
7.专利文献
8.专利文献1：日本特开2003－344255号公报
9.专利文献2：日本特开2012－154878号公报


技术实现要素：

10.发明要解决的课题
11.但是，在专利文献1的水分计中，不能评价水分计的性能不良是因质量计测部自身的性能不良造成的、还是因为其以外的因素即因设置环境带来的影响(干扰)造成的。另一方面，如果为了评价干扰而想要利用计量值的标准偏差，则需要如专利文献2那样多次计量已知的载荷。为此，水分计需要具备可自动升降的内置砝码，有水分计的结构变得复杂的问题。
12.本发明是鉴于该情况而做出的，目的是提供一种能够以简单的结构也考虑质量测量部自身以外的因素来诊断装置的状态的加热干燥式水分计。
13.用来解决课题的手段
14.为了达成上述目的，有关本发明的一技术方案的水分计具备：质量测量部，计测载置在称量皿上的试料的质量；加热部，将上述试料加热；控制运算部，控制上述加热部以加热直到上述试料的质量变化成为规定的阈值以下，根据加热前后的上述试料的质量变化计
算上述试料的水分率；以及存储部；上述控制运算部具备：标准物质测量部，以通过在规定的温度下加热而在任意的质量下都显示固定的理论水分率的检查用的标准物质为上述试料，执行多次水分率的测量；标准偏差计算部，计算在上述多次测量中的实测水分率的标准偏差；以及状态诊断部，将上述实测水分率与存储在上述存储部中的上述标准物质的理论水分率比较来评价上述质量测量部有无异常，并且判断上述标准偏差是否是规定值以下来评价设置环境的影响。
15.此外，在上述技术方案中，优选的是，上述控制运算部具备将上述多次测量的实测水分率取平均来计算平均水分率的平均水分率计算部；上述状态诊断部将上述平均水分率与上述理论水分率进行比较来评价上述质量测量部有无异常。
16.此外，在上述技术方案中，优选的是，上述标准物质是酒石酸钠二水合物。
17.此外，在上述技术方案中，优选的是，具备显示部；上述状态诊断部作为诊断结果，而在上述显示部显示异常的原因是起因于质量测量部还是起因于设置环境，并显示将与原因对应的对应方案向用户通知的消息。
18.此外，有关本发明的另一技术方案的水分计的状态诊断方法，是具备计测载置在称量皿上的试料的质量的质量测量部、将上述试料加热的加热部、控制上述加热部以加热直到上述试料的质量变化成为规定的阈值以下并根据加热前后的上述试料的质量变化计算上述试料的水分率的控制运算部、和存储部的水分计的状态诊断方法，具备：(a)上述控制运算部将通过在规定的温度下加热而在任意的质量下都呈现固定的理论水分率的检查用的标准物质作为上述试料，执行多次水分率的测量的步骤；(b)上述控制运算部计算在上述多次测量中的实测水分率的标准偏差的步骤；(c)上述控制运算部将上述实测水分率与存储在上述存储部中的上述标准物质的理论水分率进行比较来评价上述质量测量部有无异常的步骤；以及(d)上述控制运算部判断上述标准偏差是否是规定值以下来评价设置环境的影响的步骤。
19.此外，有关本发明的另一技术方案的程序，是用来使上述水分计执行上述水分计的状态诊断方法的程序。
20.发明效果
21.在加热干燥式水分计中，能够以简单的结构也考虑质量测量部自身以外的因素来诊断装置的状态。
附图说明
22.图1是表示有关本发明的实施方式的水分计的结构的框图。
23.图2是该水分计的将加热室的盖开放的状态的立体图。
24.图3是该水分计的试料测量模式下的动作的流程图。
25.图4是该水分计的检查模式下的动作的流程图。
26.图5是该水分计的标准物质测量的动作的流程图。
27.图6是表示该水分计的检查模式下的状态诊断结果的显示的例子的图。
28.图7是表示该水分计的检查模式下的状态诊断结果的显示的例子的图。
具体实施方式
29.以下，参照附图对本发明的优选的实施方式进行说明，但本发明并不限定于此。
30.(实施方式)
31.图1是表示有关本发明的实施方式的水分计100的结构的框图，图2是表示在水分计100中将加热室c的盖9开放的状态的立体图。如图1所示，水分计100具备质量测量部2、加热部3、控制运算部5、输入部6、显示部7及存储部8。
32.质量测量部2是电磁平衡式质量传感器等的所谓的质量计，与载置试料的称量皿2a连接。质量测量部2测量载置在称量皿2a上的试料的质量。此外，质量测量部2被容纳在水分计主体10的内部中。
33.称量皿2a配置在图2所示的通过将开闭式的盖9关闭而围成的加热室c内。称量皿2a具备把手2b，可拆装于质量测量部2而构成。加热室c被构成为由水分计主体10的上部和盖9围成的空间，容纳称量皿2a。
34.加热部3具备卤化物灯或焦耳发热的电阻线等的加热机构3a和温度传感器3b。基于来自温度传感器的输出而加热机构3a被控制运算部5控制，将试料加热。
35.加热机构3a被容纳在加热室c的盖9的内部中。盖9为了防止试料与加热机构3a的接触而具备将称量皿2a覆盖的容器状的玻璃罩9a。
36.控制运算部5是具备进行运算处理的cpu(中央处理器，central
·
processing
·
unit)、作为辅助存储部的rom(只读存储器，read
·
only
·
memory)及ram(随机存取存储器，randam
·
access
·
memory)的微型计算机。
37.控制运算部5与质量测量部2、加热部3、输入部6、显示部7及存储部8的各部连接，执行用来发挥水分计100的功能的各种动作。
38.控制运算部5控制各部，执行试料测量模式、检查模式下的测量。试料测量模式是水分计100的通常的使用模式，是测量想要知道水分率m的试料的水分率m的模式。检查模式是检查水分计100的状态的模式。
39.控制运算部5具备试料测量部51和检查执行部52。试料测量部51及检查执行部52例如由程序实现。
40.试料测量部51执行试料测量模式。试料测量部51控制加热部3，一边将试料加热，一边监视试料的质量变化，在试料的质量变化率成为规定的阈值以下的时点使加热部3停止。
41.此外，试料测量部51使用试料的加热前的质量测量值和加热后的质量测量值，通过以下的式1计算该试料的水分率m。
42.m(％)＝[[(w1－w2)]/w1]
×
100
…
(式1)
[0043]
(这里，w1是加热前的质量测量值，w2是加热后的质量测量值。)
[0044]
检查执行部52执行检查模式。检查执行部52具备标准物质测量部52a、平均水分率计算部52b、标准偏差计算部52c和状态诊断部52d。
[0045]
标准物质测量部52a以检查用的标准物质(以下，单称作“标准物质”)为试料，多次测量水分率m。
[0046]
平均水分率计算部52b将通过标准物质测量部52a的多次测量得到的标准物质的实测水分率平均，计算平均水分率m
ave
。
[0047]
标准偏差计算部52c计算通过标准物质测量部52a的多次测量得到的标准物质的实测水分率的标准偏差σ。
[0048]
状态诊断部52d判断标准物质的平均水分率m
ave
是否是以该标准物质的理论水分率m
t
为基准的规定的范围内，诊断质量测量部2的异常的有无。
[0049]
此外，状态诊断部52d对标准偏差计算部52c计算出的标准偏差σ进行评价，诊断设置环境的影响的有无。
[0050]
输入部6是开始按钮、停止按钮、上下按钮、选择按钮、决定按钮等的操作按钮，进行测量开始、测量停止的指示、模式的设定、动作的选择等。
[0051]
显示部7是液晶显示器，显示测量结果、模式选择用画面、消息等。另外，输入部6和显示部7也可以一体地构成为触摸面板显示器。
[0052]
存储部8例如是闪存存储器等的非易失性的半导体存储器。在存储部8中，与标准物质的理论水分率及标准物质对应而存储有能够进行正确的检查的加热温度的设定及试料载置量。
[0053]
接着，对在水分计100的状态诊断中使用的标准物质进行说明。作为标准物质并不限定于这些，例如可以使用表1所示的物质。特别是，酒石酸钠由于稳定性较高、处置较容易，所以是优选的。关于这些物质，已知有用来进行理论水分率m
t
及水分率的测量的适当的加热温度。即，已知通过在规定的温度下加热，在任意的质量下呈现固定的理论水分率m
t
。
[0054]
[表1]
[0055]
表1可使用的标准物质的例子
[0056]
物质名理论水分率酒石酸钠二水合物15.66％柠檬酸钠二水合物12.4％钨酸钠二水合物10.92％溴化钙二水合物15.26％氯化钙二水合物32.41％磷酸二氢钠二水合物20.23％
[0057]
标准物质只要设定至少1个即可，但也可以设定多个。在此情况下，存储部8将多个标准物质的理论水分率、适当的加热温度及试料载置量与分配给各个物质的代码对应而存储。
[0058]
接着，对试料测量模式及检查模式下的水分计100的动作进行说明。
[0059]
(试料测量模式)
[0060]
图3是水分计100的通常的使用状态、即试料测量模式下的水分计100的动作的流程图。
[0061]
在测量试料的情况下，在步骤s101中，用户从输入部6将水分计100设定为试料测量模式。也可以预先作为通常使用的模式而设定试料测量模式，将步骤s101省略。
[0062]
接着，在步骤s102中，用户将试料载置在称量皿2a上并将盖9关闭，从输入部6设定加热温度后，按下测量开始按钮。
[0063]
接着，在步骤s103中，试料测量部51开始加热部3的加热。通过加热，试料的水分逐渐蒸发，由质量测量部2测量的试料的质量测量值随着时间的经过而减小。
[0064]
试料测量部51监视该质量测量值的变化，在步骤s104中，在质量测量值的变化成为预先设定的阈值以下时(“是”的情况下)，转移到步骤s105。在步骤s105中，试料测量部51将加热部3的加热停止，按照式1计算水分率m，将计算结果显示在显示部7而结束测量。
[0065]
(检查模式)
[0066]
图4是说明检查模式下的水分计100的动作的流程图。检查模式可以在水分计100的用户想要检查水分计100的异常的有无的任意的时候执行。在以下的说明中，假设作为标准物质而使用酒石酸钠，将标准物质测量n次。
[0067]
如果在步骤s201中，用户从输入部6设定检查模式，则在步骤s202中，标准物质测量部52a以标准物质为试料，进行n次水分率的测量。这里，n只要是2以上的自然数即可。但是，从计算标准偏差的观点，n优选的是3以上。
[0068]
一边参照图5一边说明步骤s202的标准物质的测量的详细的动作。如果标准物质的测量开始，则标准物质测量部52a在步骤s301中，将计数测量次数n的计数器设定为n＝1。
[0069]
接着，在步骤s302中，标准物质测量部52a将与酒石酸钠对应而预先存储在存储部8中的、适合于检查的试料载置量及加热温度设定例如作为以下这样的消息显示在显示部7。
[0070]“标准物质：酒石酸钠
[0071]
(a)加热温度设定160℃
[0072]
(b)试料质量约5g”[0073]
接着，在步骤s303中，用户基于显示部7的指示，将约5g的酒石酸钠载置到称量皿2a上，将盖9关闭而设置后，将加热设定温度设定为160℃，开始测量。
[0074]
加热温度除了用户以手动设置以外，也可以根据标准物质的种类而水分计100自动设定为对应的加热温度。
[0075]
接着，在步骤s304中，标准物质测量部52a开始加热部3的加热。标准物质测量部52a与试料测量模式同样，监视质量测量部2的质量测量值的变化。
[0076]
接着，在步骤s305中，当质量测量值的变化成为预先设定的阈值以下时，在步骤s306中，标准物质测量部52a将加热部3的加热停止，按照式1计算标准物质的水分率m。计算结果被暂时地存储在存储部8中。
[0077]
接着，在步骤s307中，标准物质测量部52a判断是否是n＝n，即此次的测量是否是第n次的测量。
[0078]
在不是n＝n的情况下(“否”的情况下)，标准物质测量部52a在步骤s308中将计数器递增为n＝n 1，回到步骤s302，反复进行步骤s302～s307，直到成为n＝n。接着，在步骤s307中，在为n＝n的情况下(“是”)，标准物质测量部52a将标准物质的测量结束，处理转移到图4的步骤s203。
[0079]
在步骤s203中，平均水分率计算部52b将在步骤s202中测量的n次的标准物质的实测水分率平均，计算平均水分率m
ave
。
[0080]
接着，在步骤s204中，标准偏差计算部52c根据在步骤s202中测量的n次的标准物质的实测水分率，计算实测水分率的标准偏差σ。
[0081]
接着，如果在步骤s205中状态诊断部52d开始状态诊断，则状态诊断部52d在步骤s206中，判断在步骤s203中计算出的平均水分率m
ave
是否处于以理论水分率m
t
为基准的规
定的范围内。
[0082]
例如，在如本例那样使用酒石酸钠的情况下，判断水分率是否是15.0～16.0的范围内。
[0083]
以理论水分率m
t
为基准的规定的范围根据标准物质的种类而设定。例如，也可以设定为“理论水分率m
t
±
1％以内”。
[0084]
在步骤s206中，在平均水分率m
ave
为规定的范围内的情况下(“是”)，在步骤s207中，状态诊断部52d判断为在质量测量部2中没有异常。
[0085]
另一方面，在步骤s206中，平均水分率m
ave
为规定的范围外的情况下(“否”)，在步骤s208中，状态诊断部52d判断为在质量测量部2中有异常。
[0086]
接着，在步骤s209中，状态诊断部52d判断在步骤s204中计算出的n次的实测水分率的标准偏差σ是否为预先设定的规定值例如0.05％以下。
[0087]
在步骤s209中，在标准偏差σ为预先设定的规定值以下的情况下(“是”)，在步骤s210中，状态诊断部52d判断为在设置环境中没有问题。
[0088]
另一方面，在步骤s209中，在标准偏差比预先设定的规定值大的情况下(“否”)，在步骤s211中判断为在设置环境中有问题。
[0089]
接着，在步骤s212中，状态诊断部52d在显示部7显示诊断结果并结束处理。
[0090]
图6、图7表示在显示部7显示的诊断结果的显示例。在各显示中，由黑的箭头7a指示的图像上的按钮(图中被强调为灰色)是当前选择中的按钮，通过选择该按钮，显示画面变迁。
[0091]
图6的(a)是在步骤s206中判断为质量测量部2有异常、在步骤s209中判断为在环境中没有问题的情况下的显示的例子。用户如果在图6的(a)的状态下选择“下一步”，则状态诊断部52d如图6的(b－1)那样，在显示部7显示确认是否进行了校正的消息。
[0092]
在没有进行校正的情况下，用户选择“否”。于是，状态诊断部52d判断为需要校正，如图6的(b－2)那样，在显示部7显示敦促校正的执行的消息。确认了该消息的用户执行校正，选择结束按钮。或者，也可以构成为，自动地执行校正。
[0093]
在校正执行后，用户通过再次执行检查模式中的测量，确认异常是否被消除。在即使进行校正异常也没有被消除的情况下，如图6的(c－1)那样，用户选择“是”。
[0094]
于是，即使进行校正、质量测量部2的异常也没有被消除，状态诊断部52d判断为水分计100需要修理，如图6的(c－2)那样，显示敦促修理的消息。用户按照消息委托修理。
[0095]
图7的(a)是在步骤s206中判断为质量测量部2无异常、在步骤s209中判断为在环境中有问题的情况下的显示的例子。如果用户在图7的(a)的状态下选择“下一步”，则状态诊断部52d如图7的(b)那样，在显示部7显示敦促设置环境的确认的消息。
[0096]
这里，如果用户选择“下一步”，则状态诊断部52d如图7的(c－1)那样，显示表示有可能带来影响的环境的状态和对于该状态的对应方案的消息。
[0097]
用户在认为符合消息所示的状态的情况下，选择“结束”，按照消息采取对应的措施。用户在认为不符合消息所示的状态的情况下，通过选择“否”，如图7的(c－2)那样，显示表示接着可以想到的状态和对于该状态的对应方案的消息。图7的(c－3)也是同样的。
[0098]
这样，通过将作为原因的设置环境的状态和其对应方案依次作为消息显示，在用户不是熟练者的情况下，也仅通过遵循显示，就能够采取必要的措施。
[0099]
在以往的水分计中，在要判断水分计的不良的干扰的影响的情况下，需要以下这样的结构。例如，在水分计中需要具备温度传感器、湿度传感器、振动传感器、大气压传感器等的直接检测干扰的传感器。或者，如专利文献2那样，需要具备可自动升降的内置砝码，测量多次内置砝码来计算实测水分率的标准偏差。
[0100]
酒石酸钠等的标准物质通过在规定的温度下加热，在任意的质量下都呈现固定的水分率。在有关本实施方式的水分计100中，构成为，利用该特性，能够使用以标准物质为试料执行多次测量而得到的实测水分率的标准偏差，与计量值的标准偏差同样地评价环境的影响。通过上述结构，能够以不具备湿度传感器、振动传感器、大气压传感器等的环境传感器或不具备内置砝码的简单的结构来提供能够考虑环境的影响的水分计。
[0101]
此外，在本实施方式中，构成为，将标准物质测量多次，使用将该多次测量的实测水分率平均的平均水分率，与存储在存储部中的该标准物质的理论水分率比较，来诊断质量测量部的异常的有无，所以能够使用比以往精度高的值来诊断质量测量部的异常的有无，诊断的精度提高。
[0102]
此外，在有关本实施方式的水分计中，构成为，在显示部上显示异常的原因是起因于质量测量部还是起因于设置环境，并显示将与原因对应的对应方案向用户通知的消息。根据上述结构，在用户不是熟练者的情况下也能够容易地进行对于异常的原因的适当的处置，所以是用户友好的。
[0103]
以上，及本发明的优选的实施方式进行了说明，但上述的实施方式是本发明的一例，能够将它们基于本领域技术人员的知识组合，这样的形态也包含在本发明的范围中。
[0104]
标号说明
[0105]
2：质量测量部
[0106]
2a：称量皿
[0107]
3：加热部
[0108]
5：控制运算部
[0109]
7：显示部
[0110]
8：存储部
[0111]
52a：标准物质测量部
[0112]
52b：平均水分率计算部
[0113]
52c：标准偏差计算部
[0114]
52d：状态诊断部
[0115]
100：水分计