用于减小的下死区的雷达物位计系统和方法与流程

技术特征：
1.一种使用雷达物位计系统确定罐中的产品的物位的方法，所述雷达物位计系统包括：收发器；探头，所述探头被布置成从耦接至所述收发器的第一探头端部朝向所述产品延伸并且进入所述产品中，延伸到第二探头端部，所述探头包括通过所述第二探头端部处的探头终端布置彼此导电地耦接的第一探头导体和第二探头导体；以及处理电路，所述方法包括以下步骤：通过所述收发器生成和发射电磁发射信号；通过所述探头将所述发射信号朝向所述产品导引并将所述发射信号导引到所述产品中；通过所述探头返回由所述发射信号在所述产品的表面处和在所述第二探头端部处的反射而产生的电磁反射信号；通过所述收发器接收所述反射信号；基于所述反射信号以及所述反射信号与所述发射信号之间的时序关系来确定回波信号，所述回波信号表现出随指示沿所述探头的位置的传播参数而变化的回波信号强度；以及通过所述处理电路，基于下述传播参数值以及下述偏移来确定所述产品的表面的物位：上述传播参数值指示针对其的所述回波信号已经达到预定的阈值信号强度的、沿所述探头的第一阈值位置，上述偏移指示从所述第一阈值位置朝向所述第二探头端部的、沿所述探头的偏移距离。2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：接收指示所述罐中的当前温度的温度参数值；以及基于所述当前温度确定所述偏移。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述偏移基于所述产品的至少一种材料特性。4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述偏移基于至少一个先前确定的回波信号。5.根据权利要求1或2所述的方法，其中：所述发射信号包括具有第一脉冲重复频率的第一脉冲串；并且所述方法还包括以下步骤：通过所述收发器生成具有第二脉冲重复频率的第二脉冲串形式的电磁参考信号，所述第二脉冲重复频率被控制成与所述第一脉冲重复频率相差频率差；以及基于所述反射信号、所述参考信号和所述频率差来确定所述回波信号。6.一种用于确定罐中的产品的物位的雷达物位计系统，所述雷达物位计系统包括：收发器，所述收发器用于生成、发射和接收电磁信号；探头，所述探头被布置成从耦接至所述收发器的第一探头端部朝向所述产品延伸并且进入所述产品中，延伸到第二探头端部，所述探头包括通过所述第二探头端部处的探头终端布置彼此导电地耦接的第一探头导体和第二探头导体；回波信号形成电路，所述回波信号形成电路连接至所述收发器，用于基于反射信号以及所述反射信号与发射信号之间的时序关系来形成回波信号，所述回波信号表现出随指示
沿所述探头的位置的传播参数而变化的回波信号强度；以及物位确定电路，所述物位确定电路连接至所述回波信号形成电路，用于基于下述传播参数值以及下述偏移来确定所述罐中的所述产品的物位：上述传播参数值指示针对其的所述回波信号已经达到预定的阈值信号强度的、沿所述探头的第一阈值位置，上述偏移指示从所述第一阈值位置朝向所述第二探头端部的、沿所述探头的偏移距离。7.根据权利要求6所述的雷达物位计系统，其中，所述探头终端布置提供所述第一探头导体与所述第二探头导体之间的高于1nh的电感。8.根据权利要求7所述的雷达物位计系统，其中，所述探头终端布置提供所述第一探头导体与所述第二探头导体之间的低于30nh的电感。9.根据权利要求6或7所述的雷达物位计系统，其中，所述探头终端布置包括附接至所述第一探头导体并且附接至所述第二探头导体的导电构件。10.根据权利要求9所述的雷达物位计系统，其中，所述导电构件通过焊接、螺纹接合、铆接和弹簧力中的至少一个导电地且机械地连接至所述第一探头导体并且连接至所述第二探头导体。11.根据权利要求9所述的雷达物位计系统，其中，所述导电构件在所述探头的纵向方向上具有至少10mm的延伸。12.根据权利要求6或7所述的雷达物位计系统，其中，所述探头是具有内导体和外导体的同轴探头。13.根据权利要求6或7所述的雷达物位计系统，其中：所述雷达物位计系统还包括用于指示温度参数值的温度指示电路，所述温度参数值指示所述罐中的当前温度；并且所述物位确定电路还被配置成基于所述温度参数值确定所述第一偏移。14.根据权利要求6或7所述的雷达物位计系统，其中：所述收发器包括：发射信号生成电路，用于生成具有第一脉冲重复频率的第一脉冲串形式的所述发射信号；以及参考信号生成电路，用于生成具有第二脉冲重复频率的第二脉冲串形式的电磁参考信号，所述第二脉冲重复频率被控制成与所述第一脉冲重复频率相差频率差；并且所述回波形成电路被配置成基于所述反射信号、所述参考信号和所述频率差来形成所述回波信号。

技术总结
本发明涉及用于减小的下死区的雷达物位计系统和方法。确定罐中的产品的物位的方法包括：生成和发射电磁发射信号；将发射信号朝向产品导引并将该发射信号导引到产品中；返回由发射信号的反射而产生的电磁反射信号；接收反射信号；基于反射信号以及反射信号与发射信号之间的时序关系来确定回波信号，该回波信号表现出随指示沿探头的位置的传播参数而变化的回波信号强度；以及基于下述传播参数值以及下述偏移来确定产品的表面的物位，上述传播参数值指示针对其的回波信号已经达到预定的阈值信号强度的、沿探头的第一阈值位置，上述偏移指示从第一阈值位置朝向第二探头端部的、沿探头的偏移距离。头的偏移距离。头的偏移距离。


技术研发人员：米卡埃尔
受保护的技术使用者：罗斯蒙特储罐雷达股份公司
技术研发日：2021.11.29
技术公布日：2022/6/7