一种光学玻璃熔体样品测试结构的制作方法

1.本申请涉及光学玻璃，特别涉及一种光学玻璃熔体样品测试结构。


背景技术：

2.光学玻璃熔体的电学性能是确定玻璃配方优劣的重要性质之一。现有的测试方式是在坩埚内安放插入式电极进行的，测试时，电极的插入深度、电极的偏心度都会增大所测数据的误差。采用现有的测试方式，在常温或低温下测试样品的电学性能很容易实现；但是在高温下，由于玻璃熔融流动上涌，液面起伏不定且玻璃熔体具有一定的粘度，易导致电极的插入深度、电极的偏心度发生改变，甚至使电极片漂浮在玻璃熔体表面，极大的增加了检测难度和误差。此外，流动上涌的玻璃熔体容易溢出坩埚，造成腐蚀、污染和高温灼伤等危害。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种光学玻璃熔体样品测试结构。
4.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案。
5.本申请实施例公开了一种光学玻璃熔体样品测试结构，包括坩埚，所述坩埚内部形成有料腔，所述坩埚的内壁形成有耐高温套，外壁形成有金属基体，所述金属基体与所述耐高温套之间形成有真空腔体，所述耐高温套靠近顶部处形成有环形台面，所述耐高温套于所述环形台面下方由上至下排列形成有多个环形凹槽，还包括贴合支撑于所述环形台面的压盖，所述压盖的轴心向上凸伸形成有压杆，所述压杆于所述压盖上方向外凸伸形成有帽盖，所述帽盖贴合支撑于所述金属基体顶端，所述压盖上设置有测试电极片。
6.优选的，在上述的光学玻璃熔体样品测试结构中，所述金属基体与所述耐高温套一体成型。
7.优选的，在上述的光学玻璃熔体样品测试结构中，所述环形凹槽设置有3个。
8.优选的，在上述的光学玻璃熔体样品测试结构中，所述帽盖外侧向下凸伸形成有贴合于所述金属基体外壁的环形封边。
9.优选的，在上述的光学玻璃熔体样品测试结构中，电极片导线从所述帽盖中引出。
10.优选的，在上述的光学玻璃熔体样品测试结构中，所述耐高温套与所述金属基体之间设置有支撑块。
11.与现有技术相比，本实用新型技术方案的优势在于提高了坩埚的耐温性能，同时防止了玻璃熔体四溅，防止了溢出。
附图说明
12.为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，
还可以根据这些附图获得其他的附图。
13.图1所示为本实用新型具体实施例中光学玻璃熔体样品测试结构的示意图。
具体实施方式
14.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行详细的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
15.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
16.在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
17.结合图1所示，光学玻璃熔体样品测试结构100，包括坩埚101，坩埚101内部形成有料腔102，坩埚101的内壁形成有耐高温套103，外壁形成有金属基体104，金属基体104与耐高温套103之间形成有真空腔体105，耐高温套103靠近顶部处形成有环形台面106，耐高温套103于环形台面106下方由上至下排列形成有2-3个环形凹槽107，还包括贴合支撑于环形台面106的压盖108，压盖108的轴心向上凸伸形成有压杆109，压杆109于压盖108上方向外凸伸形成有帽盖110，帽盖110贴合支撑于金属基体104顶端，压盖108上设置有测试电极片111。
18.该技术方案中，坩埚通过内外并于中间设置真空夹层，提高了耐高温性能，同时节省了材料成本；环形凹槽防止了溢出；压盖以及帽盖的双层设计，彻底防止了熔体四溅，确保了安全性能。
19.进一步地，金属基体104与耐高温套103一体成型。
20.该技术方案中，确保结构的稳固性。
21.进一步地，帽盖110外侧向下凸伸形成有贴合于金属基体104外壁的环形封边112。
22.该技术方案中，进一步彻底防止熔体四溅。
23.进一步地，电极片导线113从帽盖110中引出。
24.进一步地，耐高温套103与金属基体104之间设置有支撑块114。
25.该技术方案中，保持结构稳定。
26.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要
素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
27.以上所述仅是本申请的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。


技术特征：
1.一种光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，包括坩埚，所述坩埚内部形成有料腔，所述坩埚的内壁形成有耐高温套，外壁形成有金属基体，所述金属基体与所述耐高温套之间形成有真空腔体，所述耐高温套靠近顶部处形成有环形台面，所述耐高温套于所述环形台面下方由上至下排列形成有多个环形凹槽，还包括贴合支撑于所述环形台面的压盖，所述压盖的轴心向上凸伸形成有压杆，所述压杆于所述压盖上方向外凸伸形成有帽盖，所述帽盖贴合支撑于所述金属基体顶端，所述压盖上设置有测试电极片。2.根据权利要求1所述的光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，所述金属基体与所述耐高温套一体成型。3.根据权利要求1所述的光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，所述环形凹槽设置有3个。4.根据权利要求1所述的光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，所述帽盖外侧向下凸伸形成有贴合于所述金属基体外壁的环形封边。5.根据权利要求1所述的光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，电极片导线从所述帽盖中引出。6.根据权利要求1所述的光学玻璃熔体样品测试结构，其特征在于，所述耐高温套与所述金属基体之间设置有支撑块。

技术总结
本申请公开了一种光学玻璃熔体样品测试结构，包括坩埚，所述坩埚内部形成有料腔，所述坩埚的内壁形成有耐高温套，外壁形成有金属基体，所述金属基体与所述耐高温套之间形成有真空腔体，所述耐高温套靠近顶部处形成有环形台面，所述耐高温套于所述环形台面下方由上至下排列形成有多个环形凹槽，还包括贴合支撑于所述环形台面的压盖，所述压盖的轴心向上凸伸形成有压杆，所述压杆于所述压盖上方向外凸伸形成有帽盖，所述帽盖贴合支撑于所述金属基体顶端，所述压盖上设置有测试电极片。本实用新型提高了坩埚的耐温性能，同时防止了玻璃熔体四溅，防止了溢出。防止了溢出。防止了溢出。


技术研发人员：王晶亮
受保护的技术使用者：苏州元创光电有限公司
技术研发日：2021.12.21
技术公布日：2022/5/30