缓冲机构及电子元件检测装置的制作方法

技术特征：
1.一种缓冲机构，其特征在于，包括：第一支撑板(100)、第二支撑板(200)和减震件(300)；所述减震件(300)包括主体(310)、第一限位部(320)和第二限位部(330)，所述第一限位部(320)和所述第二限位部(330)设于所述主体(310)的两端；所述减震件(300)位于所述第一支撑板(100)和所述第二支撑板(200)之间，且所述第一限位部(320)与所述第一支撑板(100)连接，所述第二限位部(330)与所述第二支撑板(200)连接。2.根据权利要求1所述的缓冲机构，其特征在于，所述第一支撑板(100)和所述第二支撑板(200)均包括安装板(110)、过渡板(120)和固定板(130)，所述安装板(110)和所述固定板(130)均与所述过渡板(120)呈夹角设置，且分别与所述过渡板(120)的两端连接，所述安装板(110)和所述固定板(130)位于所述过渡板(120)的同侧；所述第一支撑板(100)的所述固定板(130)位于所述第二支撑板(200)的所述安装板(110)和所述固定板(130)之间，且所述第二支撑板(200)的所述固定板(130)位于所述第一支撑板(100)的所述安装板(110)和所述固定板(130)之间；所述减震件(300)位于两个所述固定板(130)之间。3.根据权利要求2所述的缓冲机构，其特征在于，所述固定板(130)设有通孔(131)，所述通孔(131)沿所述固定板(130)的厚度方向贯穿；所述第一限位部(320)固定于所述第一支撑板(100)的所述通孔(131)内；所述第二限位部(330)固定于所述第二支撑板(200)的所述通孔(131)内。4.一种电子元件检测装置，其特征在于，包括下压机构(400)、压紧件(500)、测试座(600)和如权利要求1-3任一项所述的缓冲机构；所述缓冲机构的第一支撑板(100)与所述压紧件(500)连接，所述缓冲机构的第二支撑板(200)与所述下压机构(400)连接；所述压紧件(500)与所述测试座(600)相对设置，所述下压机构(400)配置为驱动所述压紧件(500)靠近或远离所述测试座(600)。5.根据权利要求4所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述下压机构(400)包括驱动组件(410)、从动组件和连接组件；所述从动组件一端与所述驱动组件(410)固定连接，另一端与所述连接组件传动连接；所述连接组件背离所述从动组件的一端与所述缓冲机构的所述第二支撑板(200)连接。6.根据权利要求5所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述从动组件包括膜片气缸(420)，所述膜片气缸(420)包括上盖板(421)、下盖板(422)、膜片(424)和活塞(425)；所述膜片(424)位于所述上盖板(421)和所述下盖板(422)之间，且所述上盖板(421)与所述膜片(424)围合形成密闭空腔，所述活塞(425)部分插设于所述下盖板(422)的通槽(423)内；所述驱动组件(410)与所述上盖板(421)背离所述下盖板(422)的一侧连接；所述连接组件与所述活塞(425)背离所述上盖板(421)的一端连接。7.根据权利要求5所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述连接组件包括活塞连接盘(430)和连接板(440)；
所述活塞连接盘(430)与所述从动组件连接，所述连接板(440)与所述缓冲机构的所述第二支撑板(200)连接；所述活塞连接盘(430)与所述连接板(440)相对设置，且活塞连接盘(430)与所述连接板(440)之间留有缝隙。8.根据权利要求7所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述活塞连接盘(430)与所述连接板(440)之间设有复位组件(700)；所述复位组件(700)包括复位帽(710)、复位球体(720)、球体固定帽(730)和弹性组件(740)；所述复位帽(710)设于所述活塞连接盘(430)与所述连接板(440)相对的表面的第一凹孔(431)内；所述球体固定帽(730)和所述弹性组件(740)设于所述连接板(440)与所述活塞连接盘(430)相对的表面的第二凹孔(441)内；所述复位球体(720)嵌于所述球体固定帽(730)内，且所述复位球体(720)分别与位于所述球体固定帽(730)两侧的所述复位帽(710)和所述弹性组件(740)抵接。9.根据权利要求8所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述活塞连接盘(430)与所述连接板(440)之间还设有晃动组件(800)；所述复位组件(700)和所述晃动组件(800)均设置有多个，多个所述复位组件(700)和多个所述晃动组件(800)沿所述连接板(440)的周向交错设置。10.根据权利要求9所述的电子元件检测装置，其特征在于，所述晃动组件(800)包括支柱(810)、大挡圈(820)、小挡圈(830)和滚珠(840)；所述大挡圈(820)和所述小挡圈(830)插设于所述连接板(440)的阶梯孔(442)内，所述大挡圈(820)、所述小挡圈(830)和所述阶梯孔(442)的内壁围合形成用于容纳所述滚珠(840)的空间；所述支柱(810)从所述连接板(440)背离所述活塞连接盘(430)的一侧依次穿过所述大挡圈(820)和所述小挡圈(830)，并与所述活塞连接盘(430)螺纹连接，且所述支柱(810)与所述大挡圈(820)和所述小挡圈(830)间隙配合。

技术总结
本实用新型提供了一种缓冲机构及电子元件检测装置，涉及电子元件测试的技术领域。该缓冲机构包括第一支撑板、第二支撑板和减震件；减震件包括主体、第一限位部和第二限位部，第一限位部和第二限位部设于主体的两端；减震件位于第一支撑板和第二支撑板之间，且第一限位部与第一支撑板连接，第二限位部与第二支撑板连接。本实用新型解决了电子元件检测装置测试头下压对电子元件施加的压力骤增，导致电子元件损坏的技术问题。元件损坏的技术问题。元件损坏的技术问题。


技术研发人员：陈正大 周卫华 杜博
受保护的技术使用者：杭州长川科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.24
技术公布日：2022/5/29