一种柱面镜测量工装的制作方法

1.本技术涉及测量工装领域，尤其涉及一种柱面镜测量工装。


背景技术：

2.现有技术中，对于柱面镜的筛选，需要将所需镜片放入镜框中，利用透射中心仪对镜片的等厚以及对称进行检测。等厚及对称检测结果均为合格的柱面镜产品则可以进行下一步；等厚及对称检测结果其中之一不合格的柱面镜则需要重新挑选。
3.然而，采用透射中心仪对多个柱面镜进行筛选，每次都需要更换使用对应的镜头对柱面镜等厚以及对称进行筛选，检测效率低，浪费大量时间，提高了生产成本。
4.此外，采用透射中心仪对多个柱面镜进行筛选，对于凸面向下时的对称测量，无法保证是否处于真正对称状态(即左右最高点是否在同一平面)。测量结束还需再用千分表对于镜片的左右边进行等高测量。检测流程多，检测效率低，浪费大量时间，提高了生产成本。


技术实现要素：

5.有鉴于此，本技术提供了一种柱面镜测量工装，用以测量柱面镜结构尺寸是否符合要求。
6.根据本技术的一个方面，提供了一种柱面镜测量工装。该柱面镜测量工装包括：
7.平台，用于定位放置柱面镜，并允许柱面镜沿所述平台表面横向移动；
8.连接支架，所述连接支架固定连接于所述平台；和
9.千分表，所述千分表固定连接于所述连接支架；
10.所述千分表的测头朝向所述平台设置，用于接触所述平台上的柱面镜。
11.可选地，所述连接支架包括第一连接杆和第二连接杆；
12.所述第一连接杆固定连接于所述平台，并突出于所述平台表面设置；
13.所述第二连接杆第一端固定连接于所述第一连接杆，第二端固定连接于所述千分表。
14.可选地，所述第二连接杆可拆卸固定连接于所述第一连接杆，以沿所述第一连接杆长度方向移动。
15.可选地，所述平台设置有定位区域，用于定位放置柱面镜，并允许柱面镜能沿所述平台表面横向移动。
16.可选地，所述定位区域和所述千分表设置于所述平台两侧；和/或，
17.所述定位区域和所述千分表分别设置于所述平台两侧，所述平台设置有通孔，所述千分表由所述平台第一侧穿过所述通孔至第二侧。
18.可选地，所述平台包括彼此固定连接的第一平台和第二平台；
19.所述千分表包括正置千分表和倒置千分表；
20.所述第一平台的上侧表面设置有所述定位区域，所述正置千分表设置于所述第一平台上侧；
21.所述第二平台的上侧设置有所述定位区域；所述第二平台设置有通孔；所述倒置千分表设置于所述第二平台的下侧，并由所述第二平台下侧穿过所述通孔至上侧。
22.可选地，所述连接支架包括第一连接杆和两个第二连接杆；
23.所述第一平台和所述第二平台平行设置，且两者分别固定连接于所述第一连接杆两端；所述第二平台位于所述第一平台上侧；
24.所述第一平台和所述第二平台分别通过两个所述第二连接杆固定连接于第一连接杆。
25.可选地，所述平台为二维移动平台；
26.所述二维移动平台的所述定位区域被配置为能沿所述平台表面横向移动。
27.可选地，所述二维移动平台包括光学平台和突出设置于所述光学平台表面的二维移动凸台；
28.所述二维移动凸台活动连接于所述光学平台，以沿所述光学平台表面横向移动；
29.所述定位区域为所述光学平台表面的邻接所述二维移动凸台一侧的部分区域。
30.可选地，所述二维移动凸台为形状。
31.本技术提供的柱面镜测量工装中，千分表通过连接支架固定连接于平台，千分表测头朝向平台设置，用于接触平台上的柱面镜，结构简单。
32.测量柱面镜时，将柱面镜放置在平台上，通过拉动柱面镜在平台上横向移动，并观察千分表数值变化，即可测量柱面镜表面的平行线的等高状况、和/或测量柱面镜表面的圆弧线的对称状况。该柱面镜测量工装用于测量柱面镜，测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
33.平台包括彼此连接且间隔设置的第一平台和第二平台。千分表包括正置千分表和倒置千分表。第一平台同一侧设置有定位区域和正置千分表，可用于测量柱面镜凸面的平行线的等高状况和/或圆弧线的对称状况。第二平台两侧分别设置有定位区域和倒置千分表，可用于测量柱面镜凹面的平行线的等高状况和/或圆弧线的对称状况。该柱面镜测量工装可用于测量柱面镜凸面和/或凹面的平行线等高状况、及圆弧线对称状况。结构精简，测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
34.平台可设置成二维移动平台，二维移动平台的定位区域可适配不同大小尺寸的柱面镜。
35.应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本技术。
附图说明
36.为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
37.图1为本技术实施例所提供的一种柱面镜测量工装的结构示意图；
38.图2为图1柱面镜测量工装另一视角的结构示意图。
39.图3为图1柱面镜测量工装的主视图。
40.附图标记：
41.10-第一平台；
42.12-光学平台；
43.14-二维移动凸台；
44.20-第二平台；
45.22-光学平台；
46.24-二维移动凸台；
47.30-正置千分表；
48.40-倒置千分表；
49.50-连接支架；
50.52-第一连接杆；
51.54-第二连接杆；
52.56-第二连接杆；
53.60-柱面镜。
54.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本技术的实施例，并与说明书一起用于解释本技术的原理。
具体实施方式
55.下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
56.在本技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本技术。在本技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
57.应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
58.需要注意的是，本技术实施例所描述的“上”、“下”、“左”、“右”等方位词是以附图所示的角度来进行描述的，不应理解为对本技术实施例的限定。此外，在上下文中，还需要理解的是，当提到一个元件连接在另一个元件“上”或者“下”时，其不仅能够直接连接在另一个元件“上”或者“下”，也可以通过中间元件间接连接在另一个元件“上”或者“下”。
59.根据申请的一种实施例，提供了一种柱面镜测量工装。该柱面镜测量工装可用于测量柱面镜结构尺寸是否符合相应要求。柱面镜具有位于其厚度方向其中一侧的凸面和另外一侧的凹面。柱面镜凸面或者凹面在与轴平行的方向上是平行线，该平行线是等高的。柱面镜凸面或者凹面在与轴垂直的方向上是圆弧线，该圆弧线是对称的。该柱面镜测量工装可用于：测量柱面镜凸面或者凹面的平行线的等高状况、和/或测量柱面镜凸面或者凹面的圆弧线的对称状况。
60.请参阅图1至图3，该柱面镜测量工装包括平台10、20、连接支架50和千分表30、40。平台10、20结构设置成适配于定位放置柱面镜60，并允许柱面镜60在平台10、20表面沿任意
方向横向移动。该平台10、20表面具有相互垂直的x方向和y方向。将柱面镜60定位放置至定位区域，柱面镜60收到外力拉动时能沿平台10、20表面横向移动。例如，柱面镜60收到外力拉动时能沿x方向或者y方向移动。
61.连接支架50固定连接于平台10、20。千分表30、40固定连接于千分表30、40。该连接支架50将千分表30、40固定安装在平台10、20上。通过选用合适的连接支架50，使千分表30、40与平台10、20的相对位置符合要求。
62.千分表是通过齿轮或杠杆将一般的直线位移(直线运动)转换成指针的旋转运动，然后在刻度盘上进行读数的长度测量仪器，其可用来检查工件的形状和位置误差。千分表30、40设置有侧头。千分表30、40的侧头朝向定位区域设置，用于接触平台10、20上定位放置的柱面镜60。
63.测量柱面镜60时，将柱面镜60推入千分表30、40侧头与平台10、20定位区域之间，使千分表30、40的侧头与平台10、20上定位放置的柱面镜60相接触。例如，测量时，可先用手轻轻抬起千分表30、40的测杆，再将柱面镜60放入千分表30、40测头下测量。
64.该柱面镜测量工装可测量柱面镜60凸面或者凹面的平行线的等高状况、和/或测量柱面镜60凸面或者凹面的圆弧线的对称状况。
65.一种具体测量方法中，如图所示，将柱面镜60推入千分表30、40侧头与平台10、20定位区域之间，千分表30、40侧头与柱面镜60的凸面或者凹面相接触。然后，拉动柱面镜60沿其轴方向(x方向)移动并观察千分表30、40数值变化。通过数值变化即可判断柱面镜60凸面或者凹面的平行线的等高状况。测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
66.该方法中，由于柱面镜60凸面或者凹面的平行线是等高的，故拉动柱面镜60沿轴向方向移动时，若千分表30、40数值应不变或者大致不变，即可判断柱面镜60凸面或者凹面的平行线是等高度符合要求；反之为否。
67.一种具体测量方法中，将柱面镜60推入千分表30、40侧头与平台10、20定位区域之间，千分表30、40侧头与柱面镜60的凸面或者凹面相接触。然后，拉动柱面镜60沿与轴垂直的方向(y方向)移动，并观察千分表30、40数值变化。通过数值变化即可判断柱面镜60凸面或者凹面的圆弧线的对称状况。测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
68.具体地，将柱面镜60推入千分表30、40侧头与平台10、20定位区域之间后，调整柱面镜60位置从而使千分表30、40测头与柱面镜60圆弧线中间位置接触。然后，拉动柱面镜60由圆弧线的中间位置朝向其中一侧移动，观察千分表30、40数值变化。之后，拉动柱面镜60由圆弧线的中间位置朝向另外一侧移动，观察千分表30、40数值变化。比较两次千分表30、40数值变化是否一致，即可判断柱面镜60凸面或者凹面的圆弧线的等高状况。
69.该方法中，由于柱面镜60凸面或者凹面的圆弧线是对称的，故圆弧线中间位置与圆弧线两侧端部之间的高度差相等一致。分别拉动柱面镜60由圆弧线中间位置分别朝向圆弧线两侧端部移动时，若两次拉动过程中的千分表30、40数值变化一致或者大致一致，即可判断柱面镜60凸面或者凹面的圆弧线对称度是符合要求的；反之为否。
70.连接支架50的结构可根据千分表30、40所需安装位置对应设置，使得千分表30、40的测头朝向平台10、20设置从而能接触平台10、20上的柱面镜60即可，并申请并对对其唯一限定。
71.一种可选示例中，连接支架50包括第一连接杆52和第二连接杆54、56。第一连接杆
52固定连接于平台10、20。第一连接杆52突出于平台10、20表面设置。
72.第二连接杆54、56第一端固定连接于第一连接杆52，第二端固定连接于千分表30、40。如此，千分表30、40通过第二连接杆54、56间接固定连接于平台10、20上。
73.更优选地，第二连接杆54、56可拆卸固定连接于第一连接杆52，以沿第一连接杆52长度方向移动。例如，第二连接杆54、56第一端可通过卡箍结构连接于第一连接杆52。第一连接可卡箍固定连接于第一连接杆52。第一连接可与第一连接杆52拆卸分离，从而调整千分表30、40相对于平台10、20的位置，以适用于检测不同结构尺寸的柱面镜60。
74.当然，在其他示例中，第二连接杆54、56也可不能拆卸固定连接于第一连接杆52；或者，第二连接杆与第一连接杆52一体设置。
75.平台上用于定位放置柱面镜60的区域结构可根据需要设置，其能支撑柱面镜60并允许柱面镜60沿平台表面横向移动即可。
76.一种可选示例中，如图所示，平台10、20设置有定位区域。定位区域结构适配于定位放置柱面镜60，并允许柱面镜60沿平台10、20表面横向移动。
77.更优选地，平台10、20可设置成二维移动平台。定位区域结构适配成能沿平台10、20表面横向移动，以适配不同大小尺寸的柱面镜60。
78.进一步地，二维移动平台10、20可包括光学平台12、22和二维移动凸台14、24。二维移动凸台14、24突出于光学平台12、22表面设置。二维移动凸台14、24活动连接于光学平台12、22，以沿光学平台12、22表面横向移动。
79.定位区域为光学平台12、22表面的邻接二维移动凸台14、24一侧的部分区域。
80.二维移动凸台14、24具体可设置为形状。二维移动凸台14、24包括横向延伸部和竖向延伸部。横向延伸部和竖向延伸部彼此垂直设置。例如图示，横向延伸部可沿x方向延伸设置，竖向延伸部可沿y方向延伸设置。平台10、20上定位区域为光学平台12、22表面的邻接二维移动凸台14、24内侧的部分区域。
81.将柱面镜60放置在平台10、20的定位区域上时，柱面镜60侧边表面可抵靠二维移动凸台14、24的横向延伸部或者竖向延伸部。
82.当拉动柱面镜60沿其轴方向(x方向)移动时，柱面镜60其中一个侧边表面始终抵靠横向延伸部从而实现导向，柱面镜60另一侧边表面远离竖向延伸部。
83.当拉动柱面镜60沿与轴垂直的方向(y方向)移动时，柱面镜60其中一个侧边表面始终抵靠竖向延伸部从而实现导向，柱面镜60另一侧边表面远离横向延伸部。
84.千分表30、40安装位置可根据需要设置，其测头能接触平台10、20上的柱面镜60即可，本技术并不对其唯一限定。
85.一种可选示例中，如图所示，定位区域和千分表30可设置于平台10同一侧。具体地，如图所示，定位区域设置于平台10上侧表面。千分表30位于平台10上侧。千分表30的侧头朝向定位区域设置，并与平台10上侧表面间隔设置，用于接触平台10上的柱面镜60。当柱面镜60放置在平台10定位区域上时，千分表30的侧头与柱面镜60凸面相接触。
86.另一种可选示例中，如图所示，定位区域和千分表40分别设置于平台20两侧。平台20设置有通孔。千分表40由平台20第一侧穿过通孔至第二侧。具体地，如图所示，定位区域设置于平台20上侧。千分表40位于平台20下侧。千分表40侧头由平台20下侧穿过通孔至平台20上侧，用于接触平台20上的柱面镜60。当柱面镜60放置在平台20定位区域上时，千分表
40的侧头与柱面镜60凹面相接触。
87.上述两种示例可单独使用或者组合使用。以下说明一种采用上述两种示例组合使用使用的实施例。
88.请参阅图1至图3，平台可包括第一平台10和第二平台20。第一平台10和第二平台20彼此固定连接。千分表可包括正置千分表30和倒置千分表40。第一平台10的上侧表面设置有定位区域。正置千分表30通过连接支架50固定连接于第一平台10，且正置千分表30位于第一平台10上侧。正置千分表30的侧头与平台上侧表面间隔设置，用于接触平台上的柱面镜60。当柱面镜60放置在平台定位区域上时，正置千分表30的侧头与柱面镜60凸面相接触。
89.第二平台20的上侧设置有定位区域。第二平台20设置有通孔。倒置千分表40通过连接支架50固定连接于第二平台20，且倒置千分表40位于第二平台20的下侧。倒置千分表40侧头由第二平台20下侧穿过通孔至第二平台20上侧，用于接触第二平台20上的柱面镜60。当柱面镜60放置在第二平台20的定位区域上时，倒置千分表40的侧头与柱面镜60凹面相接触。
90.连接支架50具体可包括第一连接杆52和两个第二连接杆54、56。第一连接杆52长度沿z方向延伸设置。第一平台10和第二平台20分别固定连接于第一连接杆52两端。第一平台10和第二平台20相互平行设置。第二平台20与第一平台10在z方向上间隔设置。第二平台20位于第一平台10上侧。
91.第一平台10和第二平台20分别通过两个第二连接杆54、56固定连接于第一连接杆52。第一平台10通过其中一个第二连接杆54固定连接于第一连接杆52。第二平台20通过另一个第二连接杆56固定连接于第一连接杆52。
92.以下举例说明上述柱面镜测量工装的一种柱面镜测量方法。
93.如图所示，将待测柱面镜60放置在第一平台10定位区域上。正置千分表30侧头与柱面镜60的凸面相接触。
94.拉动柱面镜60沿其轴方向(x方向)移动，并观察正置千分表30数值变化。通过数值变化即可判断柱面镜60凸面的平行线的等高状况。若正置千分表30数值应不变或者大致不变，即可判断柱面镜60凸面的平行线是等高度符合要求；反之为否。
95.调整柱面镜60位置从而使正置千分表30测头与柱面镜60凸面圆弧线中间位置接触。拉动柱面镜60由圆弧线中间位置分别朝向圆弧线两侧端部移动，并观察正置千分表30数值变化。比较两次正置千分表30数值变化是否一致，即可判断柱面镜60凸面的圆弧线的等高状况。若两次拉动过程中的正置千分表30数值变化一致或者大致一致，即可判断柱面镜60凸面的圆弧线对称度是符合要求的；反之为否。
96.取出待检柱面镜60，将待检柱面镜60放置在第二平台20定位区域上。倒置千分表40侧头与柱面镜60的凹面相接触。
97.拉动柱面镜60沿其轴方向(x方向)移动，并观察倒置千分表40数值变化。通过数值变化即可判断柱面镜60凹面的平行线的等高状况。若倒置千分表40数值应不变或者大致不变，即可判断柱面镜60凹面的平行线是等高度符合要求；反之为否。
98.调整柱面镜60位置从而使倒置千分表40测头与柱面镜60凹面圆弧线中间位置接触。拉动柱面镜60沿与轴垂直的方向(y方向)移动，使倒置千分表40由圆弧线中间位置分别
朝向圆弧线两侧端部移动，并观察倒置千分表40数值变化。比较两次倒置千分表40数值变化是否一致，即可判断柱面镜60凹面的圆弧线的等高状况。若两次拉动过程中的倒置千分表40数值变化一致或者大致一致，即可判断柱面镜60凹面的圆弧线对称度是符合要求的；反之为否。
99.测量结束后，若待检柱面镜60凸面和凹面的检测都合格，则待检柱面镜60的镜片符合要求，可以使用。
100.本技术提供的柱面镜测量工装中，千分表通过连接支架固定连接于平台，千分表测头朝向平台设置，用于接触平台上的柱面镜，结构简单。
101.测量柱面镜时，将柱面镜放置在平台上，通过拉动柱面镜在平台上横向移动，并观察千分表数值变化，即可测量柱面镜表面的平行线的等高状况、和/或测量柱面镜表面的圆弧线的对称状况。该柱面镜测量工装用于测量柱面镜，测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
102.平台包括彼此连接且间隔设置的第一平台和第二平台。千分表包括正置千分表和倒置千分表。第一平台同一侧设置有定位区域和正置千分表，可用于测量柱面镜凸面的平行线的等高状况和/或圆弧线的对称状况。第二平台两侧分别设置有定位区域和倒置千分表，可用于测量柱面镜凹面的平行线的等高状况和/或圆弧线的对称状况。该柱面镜测量工装可用于测量柱面镜凸面和/或凹面的平行线等高状况、及圆弧线对称状况。结构精简，测量便捷、方便，测量效率高，提高了生产效率。
103.平台可设置成二维移动平台，二维移动平台的定位区域可适配不同大小尺寸的柱面镜。
104.以上仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。