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基于全向性超声探头的检测方法及其装置、超声检测系统

2022-05-18 06:47:16 来源:中国专利 TAG:


1.本技术涉及超声检测技术领域,特别是涉及一种基于全向性超声探头的检测方法及其装置、超声检测系统。


背景技术:

2.近年来,具有弯曲、倾斜或多个表面的复杂形状结构越来越多地用于安全关键机械部件,如飞机结构。由于等效应力通常集中在弯曲区域周围,制造或使用期间引入的缺陷可能严重影响结构的安全性和可靠性。因此,迫切需要一种可靠的无损检测技术,能够有效地检测和量化复杂形状部件中的缺陷。超声检测以其高分辨率和深穿透的优点被广泛用于检测和表征缺陷。然而,几何结构的复杂性使得布置超声探头和确定声束传播路径变得很困难。具体来说,由于复杂的几何形状,超声波在传播过程中会变形、弯曲和分离,使得缺陷难以检测。对于几何形状复杂的大型结构,可靠的超声波检查应确保探头的对称轴在整个检查过程中垂直于结构表面,且检查路径应覆盖整个结构。
3.复杂形状结构的常规超声检测方法主要包括单探头超声检测和相控阵超声检测。对于单探头超声检测,现有技术中存在一种能够对任意曲面的超声无损检测装置,该方案能获取曲面的轮廓信息,指导机械手到达正确的位姿,实现对任意曲面的超声无损检测。对于相控阵超声检测,现有技术中存在一种自适应复杂曲面柔性超声阵列检测装置及方法,该技术方案通过在柔性超声相控阵探头的背面设置传感器座和在传感器座上设置测距传感器,利用测距传感器测量得到柔性超声相控阵探头不同位置相对于传感器座的距离,从而得到柔性超声相控阵探头与工件表面之间的耦合面的曲面关系,根据耦合面的曲面关系实现对检测面的形状创建,进而形成柔性超声相控阵探头的聚焦参数,最终将参数用于成像。
4.然而,本技术的发明人在长期研究中发现:对于上述的能够对任意曲面的超声无损检测装置,在进行任意曲面机械手超声检测时,机械手需要实时调整超声探头的姿态和位置,保证了超声探头中的超声换能器的声轴线方向与被检测工件靠近探头的表面法线方向保持重合,使得超声波以对检测最有利的角度在工件内部进行传播;对于上述的自适应复杂曲面柔性超声阵列检测装置及方法,由于柔性相控阵超声检测由于其极限弯曲曲率,无法很好地适应大曲率结构。此外,对于大型复杂形状的结构,上述两种传统的超声检测方法需要事先借助逆向工程技术获得结构的cad模型,然后再规划出随着模型结构而变化的扫描路径,导致检测过程漫长且成本高昂。
5.综上所述,传统的超声波检测技术在检测复杂形状结构时主要存在两个问题:(1)实时调整超声探头以有效发射和接收超声波带来的困难和不便;(2)在结构扫描过程中的扫描路径是复杂且不易获得的。


技术实现要素:

6.本技术主要的目的是提供一种基于全向性超声探头的检测方法及其装置、超声检
测系统、计算机可读存储介质,以解决现有技术中实时调整超声探头存在困难和不便的问题,以及在结构扫描过程中的扫描路径是复杂且不易获得的问题。
7.本技术实施例提供的一种基于全向性超声探头的检测方法,包括:
8.控制全向性超声探头沿预设线性路径移动并在多个位置对待检测件进行超声波扫描;
9.提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的表面轮廓回波信号;
10.根据所述表面轮廓回波信号重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像;
11.提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的缺陷回波信号;
12.根据所述缺陷回波信号进行聚焦成像,以获得所述待检测件的缺陷图像。
13.作为上述方案的改进,所述提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的表面轮廓回波信号,包括:
14.获取所述全向性超声探头接收到的回波信号;
15.对所述回波信号进行能量补偿;
16.从能量补偿后的回波信号中提取大于全局阈值的包络峰值作为所述表面轮廓回波信号。
17.作为上述方案的改进,所述从能量补偿后的回波信号中提取大于全局阈值的包络峰值作为所述表面轮廓回波信号,包括:
18.从能量补偿后的回波信号s(x,y)中提取满足以下条件的信号作为表面轮廓回波信号:
[0019][0020]
λ=β
·
max|s(x,y)|
ꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0021]
其中,λ为全局阀值,β为经验值,s(x,y)表示所述回波信号的幅值随所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标x和所述回波信号的传输距离y的变化关系,所述传输距离y由所述回波信号的延迟时间和传输速度计算获得,max为求最大值函数。
[0022]
作为上述方案的改进,所述提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的缺陷回波信号,包括:
[0023]
从能量补偿后的回波信号中移除所述表面轮廓回波信号,以提取缺陷回波信号。
[0024]
作为上述方案的改进,在所述提取缺陷回波信号之后,还包括:
[0025]
对所述缺陷回波信号进行降噪处理。
[0026]
作为上述方案的改进,所述根据所述表面轮廓回波信号重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像,包括:
[0027]
根据如下变换公式重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像:
[0028]
[0029]
其中,x和y分别为所述待检测件的表面轮廓中垂直反射所述回波信号的位置点在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标和垂直于所述第一坐标轴的第二坐标轴上的位置坐标,x和y分别为根据所述表面轮廓回波信号确定的所述全向性超声探头在所述第一坐标轴上的位置坐标以及所述回波信号的传播距离,所述传输距离y由所述回波信号的延迟时间和传输速度计算获得。
[0030]
作为上述方案的改进,所述根据所述缺陷回波信号进行聚焦成像,以获得所述待检测件的缺陷图像,包括:
[0031]
根据如下合成孔径聚焦算法对所述缺陷回波信号进行聚焦成像:
[0032][0033]
其中,x和y分别为垂直反射所述缺陷回波信号的所述待检测件的缺陷点在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标和垂直于所述第一坐标轴的第二坐标轴上的位置坐标,i(x,y)为位于位置(x,y)的缺陷点的重建叠加信号,ωn为权重系数,s(τn,un)为所述全向性超声探头在位置(un,0)处接收到的经位于位置(x,y)的缺陷点反射的第n个缺陷回波信号,un为所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上接收到所述缺陷回波信号的位置坐标,(un,0)表示所述全向性超声探头沿所述第一坐标轴移动并且在所述第二坐标轴上的位置坐标为0,n为所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径检测到的缺陷回波信号总数,τn是延迟时间,rn为位置(x,y)处的缺陷点与所述全向性超声探头接收到所述缺陷回波信号的距离,tn为对于位于位置(x,y)的缺陷点,所述全向性超声探头接收到第n个所述缺陷回波信号的时刻,τn的计算公式如下:
[0034][0035][0036][0037]
本技术实施例提供的一种基于全向性超声探头的超声检测装置,包括:
[0038]
扫描模块,用于控制全向性超声探头沿预设线性路径移动并在多个位置对待检测件进行超声波扫描;
[0039]
表面轮廓回波提取模块,用于提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的表面轮廓回波信号;
[0040]
表面轮廓重建模块,用于根据所述表面轮廓回波信号重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像;
[0041]
缺陷回波提取模块,用于提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的缺陷回波信号;
[0042]
缺陷成像模块,用于根据所述缺陷回波信号进行聚焦成像,以获得所述待检测件的缺陷图像。
[0043]
本技术实施例提供的一种超声检测系统,包括:
[0044]
一个或多个处理器;
[0045]
存储器,与所述处理器耦接,用于存储一个或多个程序;
[0046]
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如任一实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法。
[0047]
本技术实施例提供的一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如任一实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法。
[0048]
相较于现有技术,本技术的基于全向性超声探头的检测方法及其装置、超声检测系统、计算机可读存储介质具有如下有益效果:
[0049]
使用全向性超声探头和简单的预设线性扫描路径来检测复杂形状的待检测件,其中,全向性超声探头的声场全向性特征确保超声波始终沿垂直于待检测件的表面传播,而无需调整探头位置和姿态,同时还确保了使用简单的线性扫描路径进行扫描而不是沿表面轮廓连续变化的复杂路径进行扫描,扫描路径简单,可以实现对大型复杂形状待检测件的检测。此外,还通过表面轮廓回波信号重建待检测件的表面轮廓,获得待检测件的表面轮廓图像,以及根据缺陷回波信号进行聚焦成像,获得待检测件的缺陷图像,如此,实现了对具有复杂形状待测件的全面检测。因此,本技术提高了超声检测方法对复杂形状结构的适应性、简化了扫描操作、提高了检测效率和成像精度。
附图说明
[0050]
本技术将结合附图对实施方式进行说明。本技术的附图仅用于描述实施例,以展示为目的。在不偏离本技术原理的条件下,本领域技术人员能够轻松地通过以下描述根据所述步骤做出其他实施例。
[0051]
图1为本技术实施例中一种基于全向性超声探头的检测方法的流程示意图。
[0052]
图2为本技术实施例中利用半球形全向性超声探头检测复杂形状待检测件的原理示意图。
[0053]
图3为本技术实施例中复杂形状待检测件表面轮廓重建的原理示意图。
[0054]
图4为本技术实施例中复杂形状待检测件表面轮廓重建的结果示意图;
[0055]
图5为本技术实施例中合成孔径聚焦算法的原理示意图。
[0056]
图6为本技术实施例中通过去除表面轮廓回波并使用合成孔径聚焦算法获得的成像结果示意图。
[0057]
图7为本技术实施例中一种基于全向性超声探头的超声检测装置的结构示意图。
[0058]
图8为本技术实施例中一种超声检测系统的结构示意图。
具体实施方式
[0059]
下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术,而非对本技术的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部结构。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0060]
本技术中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。此外,术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含
了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0061]
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0062]
请参阅图1,本技术实施例提供一种基于全向性超声探头的检测方法,包括以下步骤:
[0063]
s10、控制全向性超声探头沿预设线性路径移动并在多个位置对待检测件进行超声波扫描。
[0064]
本实施例中,待检测件具有复杂形状,本实施例使用一个半球形全向性超声探头和一个简单的线性扫描路径来检测复杂形状的结构,利用半球形超声探头的全向性的特征,即半球型探头可以向各个方向发射超声波以及接收来自各个方向的超声波信号,而且各个方向的灵敏度是相近的,这一特征可确保超声波始终沿垂直于待检测件的表面传播,而无需调整探头的姿态和位置,同时还确保了通过使用简单的线性扫描路径而不是沿表面轮廓连续变化的复杂路径,就可以实现对大型复杂形状结构的扫查探测。因此,预设线性路径为简单直线路径。
[0065]
具体的,如图2所示,图2为利用半球形全向性超声探头和传统探头检测复杂形状结构的原理示意图。在对复杂形状结构进行扫描时,由于半球形超声探头的全方位特性确保了超声波始终沿垂直于复杂形状结构的表面传播,而无需调整常规检测方法的探头姿态和位置,因此本技术可以通过使用简单的线性扫描路径来实现,而不是传统方法中探头沿表面轮廓连续变化的复杂路径进行扫描。此外,本技术通过简单的线性扫描路径实现复杂形状待检测件的全覆盖检测,所述复杂形状待检测件的全覆盖检测可以在无cad模型的情况下,将探头通过使用简单的线性扫描路径实现,而不是传统方法中需要预先获得的cad模型,然后再将探头沿表面轮廓连续变化的复杂路径进行移动扫查。
[0066]
s20、提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的表面轮廓回波信号。
[0067]
由于全向性超声探头在所有方向上具有一致的发射和接收灵敏度,为了实现对复杂形状待检测件的全面检测,半球形全向超声探头接收到的回波信号分两部分用于超声成像:首先提取表面轮廓回波信号,将表面轮廓回波信号用于重构表面轮廓;然后提取缺陷回波信号,将缺陷回波信号用于聚焦成像。
[0068]
在一个具体实施例中,上述步骤s20,包括以下步骤:
[0069]
s21、获取所述全向性超声探头接收到的回波信号。
[0070]
本技术控制全向性超声探头沿简单直线路径扫描,向复杂形状构件发射超声波和接收其反射回波信号,记回波信号为s(x,y)。
[0071]
s22、对所述回波信号进行能量补偿。
[0072]
由于随着传播深度的增加,回波信号的能量变弱,信噪比会变低。所以可以通过下列增益函数来补偿吸水衰减:
[0073]
g(v,t)=10
α
·v·
t/20
ꢀꢀꢀꢀ
(9)
[0074]
其中,α是一个阈值常数;v是超声波在水中的传播速度;t是超声波从探头发出到再次发射传播回探头所用时间。因此,回波信号经补偿后可以表示为:
[0075]
s(x,y)=s(x,y)
·
g(v,t)
ꢀꢀꢀꢀꢀ
(10)
[0076]
然后利用希尔伯特函数对能量补偿后的回波信号进行包络。
[0077]
s23、从能量补偿后的回波信号中提取大于全局阈值的包络峰值作为所述表面轮廓回波信号。
[0078]
可选的,所述步骤s23,包括以下步骤:
[0079]
从能量补偿后的回波信号s(x,y)中提取满足以下条件的信号作为表面轮廓回波信号:
[0080][0081]
λ=β
·
max|s(x,y)|
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0082]
其中,λ为全局阀值,β为经验值,s(x,y)表示所述回波信号的幅值随所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标x和所述回波信号的传输距离y的变化关系,所述传输距离y由所述回波信号的延迟时间和传输速度计算获得,max为求最大值函数。
[0083]
示例性的,如图5所示,第一坐标轴为x轴,全向性超声探头沿x轴移动。
[0084]
本实施例建立全局阀标准,回波信号包络峰值只有大于全局阀值λ的才被视为是来自待检测件表面的回波信号,即满足公式(1),其中,λ=β
·
max|s(x,y)|,参数β的值由经验确定。
[0085]
s30、根据所述表面轮廓回波信号重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像。
[0086]
在一个具体实施例中,上述步骤s30,包括以下步骤:
[0087]
s31、根据如下变换公式重建所述待检测件的表面轮廓:
[0088][0089]
其中,x和y分别为所述待检测件的表面轮廓中垂直反射所述回波信号的位置点在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标和垂直于所述第一坐标轴的第二坐标轴上的位置坐标,x和y分别为根据所述表面轮廓回波信号确定的所述全向性超声探头在所述第一坐标轴上的位置坐标以及所述回波信号的传播距离,所述传输距离y由所述回波信号的延迟时间和传输速度计算获得。
[0090]
在一个实施例中,y的计算公式为:
[0091]
y=vt/2
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(11)
[0092]
其中,v为超声波在水中的传播速度,t为超声波传播时间。
[0093]
基于边界散射变换和直接散射波提取的形状估计算法可以简称为seabed,seabed算法是一种在表面轮廓与准波前信号之间的逆转换关系。采用基于边界散射变换和直接散射波提取的形状估计算法,用参数(x,y)来表示真实空间内的坐标点,用参数(x,y)来表示过渡空间内的坐标点。示例性的,表面轮廓重建的原理见图3所示,第一坐标轴为x轴,第二
坐标轴为y轴,其中,x表示的是全向性超声探头在x轴上的位置横坐标,y可以用超声传播时间t和超声波在水中的传播速度v表示为y=vt/2,即超声波d的传播距离。
[0094]
其中,边界散射变换公式为:
[0095][0096]
逆边界散射变换公式为:
[0097][0098]
在本实施例中,当满足|dy/dx|≤1时,待检测件的表面轮廓点(x,y)可通过上述逆边界散射变换公式(3)进行计算。然后对得到的边界离散点进行拟合,从而得到重建的表面轮廓。
[0099]
示例性的,图4给出了使用seabed算法估计的待检测件表面轮廓成像结果。实线和虚线分别是真实和重建的待检测件表面轮廓。真实表面轮廓与重建表面轮廓的一致性证明了重建算法的有效性。
[0100]
s40、提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的缺陷回波信号。
[0101]
在一个具体实施例中,上述步骤s40,包括以下步骤:
[0102]
s41、从能量补偿后的回波信号中移除所述表面轮廓回波信号,以提取缺陷回波信号。
[0103]
由于表面轮廓回波的存在会对缺陷成像产生很大的干扰,所以可通过以下等式对实验时域信号使用窗函数来直接移除表面轮廓回波:
[0104][0105]
其中,s
′i为去除表面轮廓回波后的时域信号,si(t)为原始能量补偿后的回波信号s(x,y)对应的时域信号,ε为抑制系数。t1和t2分别是表面轮廓回波的延迟和时域宽度。从待检测件的表面轮廓反射点(xi,yi)到全向性超声探头位置(x,y)接收到表面轮廓回波的延迟时间可表示为:
[0106][0107]
式中,v
water
为超声波在水中的传播速度,测量值为1497m/s。
[0108]
将上述步骤去除表面轮廓回波后的时域信号记为s

(x,y),即为缺陷回波信号。
[0109]
可选的,在所述提取缺陷回波信号之后,还包括:
[0110]
s42、对所述缺陷回波信号进行降噪处理。
[0111]
为了更好地提取到的有效缺陷回波信号进行聚焦成像,运用小波变化软阈值去噪技术对缺陷回波信号s

(x,y)进行预处理,从而有效消除误差,表示为:
[0112][0113]
其中,为去噪后的原始信号估计,yi是信号对应的小波系数,δ代表的是噪声级,是一个常数,sgn为阶跃函数函数。
[0114]
s50、根据所述缺陷回波信号进行聚焦成像,以获得所述待检测件的缺陷图像。
[0115]
尽管半球形超声探头的全向特性确保始终存在有垂直于结构表面轮廓传播的超声波,但它也会使得侧钻孔缺陷的反射信号是发散的,导致成像分辨率低,所以需要对发散的缺陷回波信号进行聚焦,以对待测件的缺陷进行成像。
[0116]
在一个具体实施例中,上述步骤s50,包括以下步骤:
[0117]
s51、根据如下合成孔径聚焦算法对所述缺陷回波信号进行聚焦成像:
[0118][0119]
其中,x和y分别为垂直反射所述缺陷回波信号的所述待检测件的缺陷点在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上的位置坐标和垂直于所述第一坐标轴的第二坐标轴上的位置坐标,i(x,y)为位于位置(x,y)的缺陷点的重建叠加信号,ωn为权重系数,s(τn,un)为所述全向性超声探头在位置(un,0)处接收到的经位于位置(x,y)的缺陷点反射的第n个缺陷回波信号,un为所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径设置的第一坐标轴上接收到所述缺陷回波信号的位置坐标,(un,0)表示所述全向性超声探头沿所述第一坐标轴移动并且在所述第二坐标轴上的位置坐标为0,n为所述全向性超声探头在沿所述预设线性路径检测到的缺陷回波信号总数,τn是延迟时间,rn为位置(x,y)处的缺陷点与所述全向性超声探头接收到所述缺陷回波信号的距离,tn为对于位于位置(x,y)的缺陷点,所述全向性超声探头接收到第n个所述缺陷回波信号的时刻,τn的计算公式如下:
[0120][0121][0122][0123]
合成孔径聚焦算法简称为saft,由于saft算法可以聚焦发散的反射信号,广泛用于提高成像的横向分辨率,因此所述saft算法被用于本技术重建高精度的侧钻孔缺陷的聚焦图像,saft算法的原理见图5所示。
[0124]
示例性的,图6显示了通过去除表面轮廓回波并使用saft算法获得的成像结果。图像的像素值经归一化处理后显示,白色圆圈表示侧钻孔的实际位置,每个圆圈上的点状白色表示算法测量的侧钻孔缺陷的位置。结果表明,三个侧钻孔的成像位置与实际位置吻合较好,成像准确性很高。
[0125]
因此,本技术利用seabed算法重建表面轮廓,然后利用saft算法对缺陷进行成像,
结果表明,seabed算法估计的表面轮廓线精度较高,采用saft算法后,所有侧钻孔的成像定位精度都很高。
[0126]
相较于现有技术,本技术的基于全向性超声探头的检测方法,使用全向性超声探头和简单的预设线性扫描路径来检测复杂形状的待检测件,其中,全向性超声探头的声场全向性特征确保超声波始终沿垂直于待检测件的表面传播,而无需调整探头位置和姿态,同时还确保了使用简单的线性扫描路径进行扫描而不是沿表面轮廓连续变化的复杂路径进行扫描,扫描路径简单,可以实现对大型复杂形状待检测件的检测。此外,还通过表面轮廓回波信号重建待检测件的表面轮廓,获得待检测件的表面轮廓图像,以及根据缺陷回波信号进行聚焦成像,获得待检测件的缺陷图像,如此,实现了对具有复杂形状待测件的全面检测。因此,本技术提高了超声检测方法对复杂形状结构的适应性、简化了扫描操作、提高了检测效率和成像精度。
[0127]
请参阅图7,本技术实施例还提供一种基于全向性超声探头的超声检测装置,该装置包括:
[0128]
扫描模块101,用于控制全向性超声探头沿预设线性路径移动并在多个位置对待检测件进行超声波扫描;
[0129]
表面轮廓回波提取模块102,用于提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的表面轮廓回波信号;
[0130]
表面轮廓重建模块103,用于根据所述表面轮廓回波信号重建所述待检测件的表面轮廓,以获得所述待检测件的表面轮廓图像;
[0131]
缺陷回波提取模块104,用于提取所述全向性超声探头接收到的回波信号中的缺陷回波信号;
[0132]
缺陷成像模块105,用于根据所述缺陷回波信号进行聚焦成像,以获得所述待检测件的缺陷图像。
[0133]
关于基于全向性超声探头的超声检测装置的具体限定可以参见上文中对于基于全向性超声探头的检测方法的限定,在此不再赘述。上述基于全向性超声探头的超声检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
[0134]
请参阅图8,本技术实施例还提供一种超声检测系统,包括:
[0135]
一个或多个处理器;
[0136]
存储器,与所述处理器耦接,用于存储一个或多个程序;
[0137]
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如上任一实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法。
[0138]
处理器用于控制该终端设备的整体操作,以完成上述的基于全向性超声探头的检测方法的全部或部分步骤。存储器用于存储各种类型的数据以支持在该终端设备的操作,这些数据例如可以包括用于在该终端设备上操作的任何应用程序或方法的指令,以及应用程序相关的数据。该存储器可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,例如静态随机存取存储器(static random access memory,简称sram),电可擦除可编程只读存储器(electrically erasable programmable read-only memory,简称
eeprom),可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read-only memory,简称eprom),可编程只读存储器(programmable read-only memory,简称prom),只读存储器(read-only memory,简称rom),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
[0139]
在一示例性实施例中,终端设备可以被一个或多个应用专用集成电路(application specific integrated circuit,简称asic)、数字信号处理器(digital signal processor,简称dsp)、数字信号处理设备(digital signal processing device,简称dspd)、可编程逻辑器件(programmable logic device,简称pld)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,简称fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行如上述任一项实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法,并达到如上述方法一致的技术效果。
[0140]
在另一示例性实施例中,还提供一种包括计算机程序的计算机可读存储介质,该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法的步骤。例如,该计算机可读存储介质可以为上述包括计算机程序的存储器,上述计算机程序可由终端设备的处理器执行以完成如上述任一实施例所述的基于全向性超声探头的检测方法,并达到如上述方法一致的技术效果。
[0141]
以上仅为本技术的较佳实施方式,并非因此限制本技术的专利范围,凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本技术的专利保护范围内。
再多了解一些

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