液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组与流程

1.本发明涉及硬件测试领域，具体地涉及一种液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组。


背景技术：

2.液晶模组(liquid crystal display module，简称lcm或lcd module)在各类终端(或平台)进行应用时，会出现一些静电释放(electro-static discharge，简称esd)引起的不良现象，如液晶显示器(liquid crystal display，简称lcd)显示画面错乱、显示颜色不对(如出现红(red，简称r)绿(green，简称g)蓝(blue，简称b)颜色反)、lcd驱动时序(gip timing)错乱(如门面板(gate in panel，简称gip)的时钟信号的高脉宽变窄等)、显示电压异常等。
3.传统地，通常通过两种方式来检测lcm由于esd产生的异常：读取状态寄存器的值或者对te信号检测，其中，te信号为te(tearing effect)输出引脚输出的信号，也可称为同步信号。然而，读取状态寄存器的值检测esd异常时，无法检测不在状态寄存器所覆盖范围内的不良现象，而te检测无法检测到不能使te信号发生异常的不良现象。由此，传统的两种检测方式均无法全面地检测lcm的esd异常。


技术实现要素：

4.本发明解决的技术问题是如何全面地检测lcm的esd异常。
5.为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种液晶模组的静电问题处理方法，包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
6.可选的，所述预设存储器为一次性可编程存储器。
7.可选的，所述将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器，包括：通过所述一次性可编程存储器的重写功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。
8.可选的，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，还包括：开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。
9.可选的，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。
10.可选的，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：根据静电释放时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存器；其中，所述对各个待检测寄存器进行检测，包括：对各个待检测寄存器写入正常值，能够使所述液晶模组由异常状态恢复正常；或，对待检测寄存器写入异常值，能够使所述液晶模组的异常状态复现。
11.可选的，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：在所述液晶模组由于
静电释放出现异常时，对所有寄存器写入正常值，检测液晶模块的工作状态；逐次减少写入正常值的寄存器的数量，且在每次写入后检测液晶模组的工作状态；将使得所述液晶模组的异常状态恢复正常的寄存器作为所述正常值对应的寄存器。
12.本发明实施例还提供一种液晶模组的静电问题处理装置，包括：寄存器写入模块，用于每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
13.本发明实施例还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。
14.本发明实施例还提供一种液晶模组，包括寄存器、预设存储器和驱动ic，所述驱动ic执行任一项所述方法的步骤。
15.与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：
16.本发明实施例提供一种液晶模组的静电问题处理方法，包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。较之现有技术，本发明的方案中，预先定位静电释放时可能出错的一个或多个寄存器，将这些寄存器的正常器存储至预设存储器中，并每隔预设时间(可为毫秒级)写入所述正常值对应的寄存器，从而定时复位这些易出错的寄存器。较之传统方法所能覆盖的寄存器范围广很多，预设存储器里能烧写的寄存器都能覆盖到；此方法只需改动driver ic，能够适用于不能支持传统方法的平台；毫秒级别的复位间隔可以在用户发现异常之前，即通过复位寄存器克服异常，能够有效提高用户的使用体验。
17.进一步，在终端出厂之前，将正常值存储至预设存储器中，在其出厂之后解决esd异常，终端的driver ic能够自行解决因寄存器错乱而引起的esd不良，而无需平台的驱动工程师支持，且该方法能够适用于不同的平台，使用范围更广。
18.进一步，直接通过otp的重写功能完成正常值的写入。
19.进一步，本发明实施例提供了两种esd不良的寄存器的定位方法，能够准确定位lcm中可能导致esd不良的寄存器，以在预设存储器中存储这些寄存器的正常值，从而解决在终端运行时的esd不良。
附图说明
20.图1为现有技术中的主机esd检测流程的示意图；
21.图2为现有技术中一种正常te信号的波形图；
22.图3为现有技术中一种主机和driver ic的连接示意图；
23.图4为本发明实施例的一种液晶模组的静电问题处理方法的流程示意图；
24.图5为本发明实施例的一种主机与driver ic的交互的示意图；
25.图6为本发明实施例的一种定位所述正常值对应的寄存器的方法的流程示意图；
26.图7为本发明实施例的另一种定位所述正常值对应的寄存器的方法的流程示意图；
27.图8为本发明实施例的一种液晶模组的静电问题处理装置的结构示意图。
具体实施方式
28.如背景技术所言，现有技术中提供的两种传统检测方式均无法全面地检测lcm的esd异常。
29.具体地，请参见图1，图1为现有技术中的主机esd检测流程的示意图。一般采用两种传统检测方法：方法一也称作“读状态寄存器方法”，主机周期性读状态寄存器的值，方法一包括以下步骤：
30.步骤s111，存储驱动(driver)ic的状态寄存器的初始值；
31.步骤s112，主机定时读ic的状态寄存器的值并与初始值进行对比；
32.若步骤s112中读取的值与初始值相同，执行步骤s1113，主机不动作；主机esd检测流程结束。
33.若步骤s112中读取的值与初始值不相同，执行步骤s114，主机调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”的流程，对ic初始化。主机esd检测流程结束。进入下一次检测，如图1中“定时开始下一次循环”。
34.例如，请参见表1，表1提供了一种状态寄存器各比特位值的内容示例：
35.表1
[0036][0037]
其中，write表示“写”操作，read表示“读”操作，default为默认值，booster表示“推进电压”，idle表示“空闲状态”。
[0038]
表2提供了表1中各个比特位值的说明
[0039][0040]
主机读driver ic的状态寄存器的值是“0x0a”，该值为16进制(hex)，该状态寄存器的初始值为“0x08”。当esd将bit7 booster所覆盖的模块电压打异常且此异常引起以下bit d7发生改变(即由0变成了1)，其值将会变成“0x88”。由于初使值0x08与定时循环读到的值0x88不相同，则主机认为发生了异常，就会调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”将ic恢复成一个正常状态。这个传统原理是基于寄存器值读出来不同而产生的。
[0041]
方法二也称作“te检测的方法”，主机周期性检测te信号。方法二包括以下步骤：
[0042]
步骤s121，主机检测te信号；
[0043]
若步骤s121检测结果为异常，则跳转至步骤s114，主机调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”的流程，对ic初始化。主机esd检测流程结束。
[0044]
若步骤s121检测结果为正常，则执行步骤s122，主机不动作。主机esd检测流程结束。
[0045]
进入下一次检测，如图1中“定时开始下一次循环”。
[0046]
其中，主机通过对te信号的边沿进行检测，即检测有一个低电平和一个高电平，则认为te信号正常。请参见图2，图2为现有技术中一种正常te信号的波形图，te信号的高电平的幅值为h，低电平的幅值为l，当主机检测到的电平高于80％h时，则认为高电平正常；当检测到的低电平幅值低于30％时，则认为低电平正常，当两者都正常则认为te信号正常。请参
见图3，图3为现有技术中一种主机和driver ic的连接示意图，主机通过电源a和电源b对driver ic供电，可向driver ic下达复位信号，以使得driver ic复位，主机还可通过数据线与driver ic进行交互。目前市场用到的te信号的电源通常是接口电源(iovcc)，如iovcc＝1.8v，而没有模拟电源，所以当模拟电源出现异常后te信号不会异常，主板也就无法通过判断te是否异常的方式调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”的流程将driver ic恢复成一个正常状态。
[0047]
其中，主机调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”步骤的说明：主机原有相应控制以上三个动作的语句和函数。“主机供ic电源断开”即通过函数将图3中的电源a/b断开不给driver ic供电；“复位”即主机通过语句发送复位的命令对driver ic进行复位；“发ic初使化代码”即主机通过调用发初使化的函数对driver ic进行初使化。
[0048]
然而，上述现有技术也存在一定弊端，主要包括：
[0049]
对于方法一可能存在下述几个问题：
[0050]
a)状态寄存器所能覆盖的ic功能有限，如rgb颜色反、黑白反、显示画面左右反等；当所出现的不良现象不在状态寄存器所覆盖范围内，这个方法将帧测不到这种异常。比如电压异常，智能机时序电路，输出控制信号，控制信号被打乱，状态寄存器覆盖不到。液晶屏行/列(送电压)，行打开的控制信号做到玻璃上，需要ic送控制信号。状态寄存器一般都不会覆盖这一块的功能。
[0051]
b)目前市场上有些平台(手机主板)不能支持读状态寄存器的功能。
[0052]
c)方法一需要平台商(手机主板)的驱动工程师提供支持，这需要驱动工程师熟悉平台，且工作量较大。
[0053]
d)方法一的循环间隔时间是秒级别，因此若出现不良现象，用户容易发现；例如，颜色反很容易看出来。且可能会影响用户使用。
[0054]
e)方法一由于主机会调用“复位”的动作，所以不良现象消失前会先出现一次“闪黑”或“闪白”的闪烁现象，用户较容易发现，影响用户的使用体验。
[0055]
对于方法二，可能存在下述几个问题：
[0056]
a)te检测所能侦测的范围非常小，只能侦测到使te信号发生异常的不良现象，上述的颜色反、左右反等不良，都不能反馈到te信号上；
[0057]
b)需要平台(手机主板)支持此功能；
[0058]
c)需要平台商(手机主板)的驱动工程师提供支持；
[0059]
d)此方法循环间隔时间是秒级别，因此不良现象出现后，用户容易发现；
[0060]
e)此方法由于主机会调用“复位”的动作，所以不良现象消失前会先出现一次“闪黑”或“闪白”的闪烁现象，用户较容易发现，影响用户的使用体验。
[0061]
为解决上述两种传统检测方式存在的问题，本发明实施例提供了一种液晶模组的静电问题处理方法，所述方法包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
[0062]
通过液晶模组的静电问题处理方法，能够全面地检测lcm的esd异常，且不会出现“闪黑”或“闪白”的闪烁现象，能够有效改善用户体验。
[0063]
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本
发明的具体实施例做详细的说明。
[0064]
请参见图4，图4提供了本发明实施例的一种液晶模组的静电问题处理方法的流程示意图，该方法包括：
[0065]
步骤s401，每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
[0066]
其中，预设时间为根据需要设定的时长，可以为10ms、20ms等。
[0067]
可选的，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。由此能够将检测时间缩小至毫秒级别，在用户未发现显示异常之前，就可以解决异常，从而提高用户体验。
[0068]
可选的，所述预设存储器为一次性可编程存储器(one time programmable，简称otp)。需要说明的是，预设存储器除了可以是otp之外，还可以是多次可编程存储器(multiple-time programming，简称mtp)等常用的存储器。
[0069]
可提前定位静电释放时可能出错的寄存器(可以为状态寄存器中的一个或多个)，因为esd不良现象与手机主板设计、结构设计等相关性很强，不完全由driver ic驱动芯片决定；同样的driver ic在不同的终端表现出来的esd不良现象不完全相同。可提前进行esd不良检测以确定静电释放时可能出错的寄存器，并得到这些寄存器的正常值，并将其存储至预设存储器。
[0070]
请再次参见图1中的传统方案，在步骤s114主机调“主机供ic电源断开 复位 发ic初使化代码”的流程时，需要对driver ic断电复位，本发明实施例的方案，只需将正常值写入其对应的寄存器，无需断电或者复位，能够保证driver ic的正常运行。
[0071]
本实施例中，预先定位静电释放时可能出错的一个或多个寄存器，将这些寄存器的正常器存储至预设存储器中，并每隔预设时间(可为毫秒级)写入所述正常值对应的寄存器，从而定时复位这些易出错的寄存器。较之传统方法所能覆盖的寄存器范围广很多，预设存储器里能烧写的寄存器都能覆盖到；此方法只需改动driver ic，能够适用于不能支持传统方法的平台；毫秒级别的复位间隔可以在用户发现异常之前，即通过复位寄存器克服异常，能够有效提高用户的使用体验。
[0072]
并且，在终端出厂之前，将正常值存储至预设存储器中，在其出厂之后，可按照图4所述的方法运行以解决esd异常，终端的driver ic能够自行解决因寄存器错乱而引起的esd不良，而无需平台的驱动工程师支持，且该方法能够适用于不同的平台，使用范围更广。
[0073]
在一个实施例中，所述将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器，包括：通过所述一次性可编程存储器(otp)的重写(re-load)功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0074]
在使用otp存储上述正常值时，可将需要重写的正常值以及该正常值对应的状态寄存器的地址存储在otp的重写区，每隔预设时间，通过otp的重写功能将需要重写的正常值写入该正常值对应的状态寄存器，以对该状态寄存器的值进行更新。请参见图5，图5为本发明实施例一种主机与driver ic的交互的示意图，该otp位于driver ic内部，主机控制driver ic的运行状态，以控制otp定时重写。若driver ic内部无otp，可增加otp用于存储上述正常值。
[0075]
可选的，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，还包括：开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0076]
开启otp的重写功能，开始控制每隔预设时间，将otp中存储的正常值写入对应的寄存器。
[0077]
本实施例中，直接通过otp的重写功能完成正常值的写入。
[0078]
在一个实施例中，请参见图6，所述正常值对应的寄存器是通过如下步骤s601和步骤s602定位的：
[0079]
步骤s601，根据静电释放(esd)时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；
[0080]
可选的，对esd不良现象进行相关测试(如电压测试等)，推测出造成esd不良的相关寄存器，记作待检测寄存器。
[0081]
步骤s602，对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存器；
[0082]
可选的，可通过复写推测各个待检测寄存器能否将不良现象恢复，以判定待检测寄存器是否为造成esd不良的寄存器，若是，则将其定位为正常值对应的寄存器。
[0083]
步骤s602所述对各个待检测寄存器进行检测，可以包括步骤s6021或者步骤s6022：
[0084]
其中，步骤s6021，对各个待检测寄存器写入正常值，能够使所述液晶模组由异常状态恢复正常；
[0085]
步骤s6022，对待检测寄存器写入异常值，能够使所述液晶模组的异常状态复现。
[0086]
可选的，复写推测为在lcm出现异常状态时，每次对其中一个待检测寄存器写入其对应的正常值，其他寄存器保持不变，若能够使得lcm的显示由异常状态恢复正常，则表示本次写入的待检测寄存器造成了之前的esd不良，本次写入的待检测寄存器即为定位到的寄存器。经过多次复写推测，对每一待检测寄存器写入正常值，以定位到待检测寄存器中的一个或多个寄存器。
[0087]
可选的，复写推测还可以为在lcm处于正常状态时，逐个对待检测寄存器写入异常值，其他寄存器保持不变，若能够使得lcm的显示由正常状态变为异常状态，则复现esd不良，本次写入的待检测寄存器即为定位到的寄存器。经过多次复写推测，对每一待检测寄存器写入异常值，以定位到待检测寄存器中的一个或多个寄存器。
[0088]
在另一个实施例中，请参见图7，所述正常值对应的寄存器是通过如下方步骤s701至步骤s703定位的：
[0089]
步骤s701，在所述液晶模组由于静电释放出现异常时，对所有寄存器写入正常值，检测液晶模块的工作状态；
[0090]
在esd出现异常(也即esd不良时)，若将所有寄存器写入正常值，可使得异常状态恢复正常。
[0091]
步骤s702，逐次减少写入正常值的寄存器的数量，且在每次写入后检测液晶模组的工作状态；
[0092]
继续恢复esd出现异常的情况，将部分寄存器写入正常值，若异常状态恢复正常，则造成esd不良的寄存器，在已写入正常值的部分寄存器中，否则，则在本次未写入正常值
的部分寄存器中。继续恢复esd出现异常的情况，对造成esd不良的寄存器所在的部分寄存器写入正常值，再次检测异常状态是否恢复正常，直至定位到造成esd不良的寄存器。
[0093]
可选的，可按照二分法每次减少写入正常值的寄存器，以完成上述步骤。
[0094]
步骤s703，将使得所述液晶模组的异常状态恢复正常的寄存器作为所述正常值对应的寄存器。
[0095]
以上两种方法，能够准确定位lcm中可能导致esd不良的寄存器，以在预设存储器中存储这些寄存器的正常值，从而解决在终端运行时的esd不良。
[0096]
本发明实施例还提供一种液晶模组的静电问题处理装置80，请参见图8，所述液晶模组的静电问题处理装置80包括：
[0097]
寄存器写入模块801，用于每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
[0098]
可选的，所述预设存储器为一次性可编程存储器。
[0099]
在一个实施例中，所述寄存器写入模块801还用于通过所述一次性可编程存储器的重写功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0100]
在一个实施例中，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，所述液晶模组的静电问题处理装置80还包括：
[0101]
重写功能开启模块，用于开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0102]
可选的，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。
[0103]
在一个实施例中，液晶模组的静电问题处理装置80还包括：
[0104]
待检测寄存器确定模块，用于根据静电释放时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；
[0105]
定位模块，用于对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存器；
[0106]
其中，所述定位模块还可以包括：
[0107]
正常值写入单元，用于对各个待检测寄存器写入正常值，能够使所述液晶模组由异常状态恢复正常；或
[0108]
异常值写入单元，用于对待检测寄存器写入异常值，能够使所述液晶模组的异常状态复现。
[0109]
在一个实施例中，液晶模组的静电问题处理装置80还包括：
[0110]
工作状态检测模块，用于在所述液晶模组由于静电释放出现异常时，对所有寄存器写入正常值，检测液晶模块的工作状态；
[0111]
多次写入模块，用于逐次减少写入正常值的寄存器的数量，且在每次写入后检测液晶模组的工作状态；
[0112]
寄存器定位模块，用于将使得所述液晶模组的异常状态恢复正常的寄存器作为所述正常值对应的寄存器。
[0113]
关于液晶模组的静电问题处理装置80的工作原理、工作方式的更多内容，可以参照上述图4至图7中关于液晶模组的静电问题处理方法的相关描述，这里不再赘述。
[0114]
本发明实施例还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现图4至图7任一项所述方法的步骤。优选地，存储介质可以包括诸如非挥发性(non-volatile)存储器或者非瞬态(non-transitory)存储器等计算机可读存储介质。存储介质可以包括rom、ram、磁盘或光盘等。
[0115]
本发明实施例还提供一种液晶模组(lcm)，包括寄存器、预设存储器和驱动ic，所述驱动ic执行图4至图7任一项所述方法的步骤。
[0116]
应理解，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0117]
本技术实施例中出现的“多个”是指两个或两个以上。
[0118]
本技术实施例中出现的第一、第二等描述，仅作示意与区分描述对象之用，没有次序之分，也不表示本技术实施例中对设备个数的特别限定，不能构成对本技术实施例的任何限制。
[0119]
本技术实施例中出现的“连接”是指直接连接或者间接连接等各种连接方式，以实现设备间的通信，本技术实施例对此不做任何限定。
[0120]
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。