液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组与流程

技术特征：
1.一种液晶模组的静电问题处理方法，其特征在于，所述方法包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设存储器为一次性可编程存储器。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器，包括：通过所述一次性可编程存储器的重写功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，还包括：开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。6.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：根据静电释放时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存器；其中，所述对各个待检测寄存器进行检测，包括：对各个待检测寄存器写入正常值，能够使所述液晶模组由异常状态恢复正常；或对待检测寄存器写入异常值，能够使所述液晶模组的异常状态复现。7.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：在所述液晶模组由于静电释放出现异常时，对所有寄存器写入正常值，检测液晶模块的工作状态；逐次减少写入正常值的寄存器的数量，且在每次写入后检测液晶模组的工作状态；将使得所述液晶模组的异常状态恢复正常的寄存器作为所述正常值对应的寄存器。8.一种液晶模组的静电问题处理装置，其特征在于，包括：寄存器写入模块，用于每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。10.一种液晶模组，包括寄存器、预设存储器和驱动ic，其特征在于，所述驱动ic执行所述权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

技术总结
一种液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组，其中，所述方法包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。由此，能够全面地检测LCM的ESD异常。地检测LCM的ESD异常。地检测LCM的ESD异常。


技术研发人员：姚军
受保护的技术使用者：格科微电子（上海）有限公司
技术研发日：2020.11.11
技术公布日：2022/5/16