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一种超声检测校准/复核用探头限位装置的制作方法

2022-05-17 18:59:26 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及一种装置,具体涉及一一种超声检测校准/复核用探头限位装置,用于对超声检测过程中探头滑动方向进行限位,降低回波反射幅度的人为影响因素,提高检测过程控制。


背景技术:

2.超声波无损检测过程中往往由于探头磨损、耦合和操作差异等因素,在仪器和探头系统校准后,校准试块中同一反射体反射回波当量存在差异。因此为实现检测过程控制,标准往往要求在探头、耦合剂和仪器调节发生变化,连续工作4h 以上和工作结束时应对仪器和探头系统进行复核,在复核时检测范围内如发现扫查灵敏度或距离-波幅曲线上任一深度反射体回波幅度下降2db,则应对上一次符合以来所有的检测部位进行复检;如回波幅度上升2db,则应对所有的记录信号进行重新评定。由于反射体回波幅度受超声波与反射体角度的影响,因此在复核过程中,为达到标准要求,往往人为采用扭动探头或调整探头压力的方式改变回波幅度。因此,为提高检测过程控制,在复核前后应固定超声波探头滑动位置,降低人为影响因素。
3.针对超声检测校准/复核过程,采用一种探头限位装置,在校准前后固定探头滑动位置,降低回波反射幅度人为影响因素,提高检测过程控制。


技术实现要素:

4.为解决上述问题,规范超声检测校准/复核工作过程,本实用新型提供了一种超声检测校准/复核用探头限位装置。
5.本实用新型采用如下技术方案来实现的:
6.一种超声检测校准/复核用探头限位装置,包括校准试块,沿着校准试块的侧面和顶面放置的限位框架,沿着校准试块的侧面和顶面放置的第一固定块和第二固定块,沿着校准试块的顶面放置在第一固定块和第二固定块之间的第一限位条和第二限位条,以及设置在第一限位条和第二限位条之间的探头。
7.本实用新型进一步的改进在于,限位框架的长度能够根据校准试块或不同角度探头声程自行设计。
8.本实用新型进一步的改进在于,限位框架采用立方晶格结构。
9.本实用新型进一步的改进在于,限位框架的水平支撑上设置有开放式“凸”字型凹槽。
10.本实用新型进一步的改进在于,第一限位条与第二限位条两端设置有“凸”字型嵌块,嵌块能够沿凹槽滑动,且能够通过滑动嵌块改变两个限位条的位置,用于对探头滑动方向起到限位的作用。
11.本实用新型进一步的改进在于,第一固定块与第二固定块一端呈“凸”字结构,用于将固定块嵌入限位框架水平支撑的开放式凹槽内,对校准试块起到夹持固定的作用。
12.本实用新型进一步的改进在于,根据不同尺寸的超声波检测用探头,通过调节两限位条的相对距离,对探头滑动方向起到限位作用。
13.本实用新型进一步的改进在于,将探头置于校准试块检测面设定位置,并置于两限位条之间,根据探头宽度将两限位条的相对距离,在校准/复核过程中始终保持限位条相对距离不变,确保探头仪器复核过程中探头滑动的方向保持不变。
14.本实用新型至少具有如下有益的技术效果:
15.本实用新型提供的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,可根据不同尺寸的超声波检测用探头,调节两限位条的相对距离,对探头滑动方向起到限位作用。
16.具体的,将探头置于校准试块检测面合适位置,并置于两限位条之间,根据探头宽度将两限位条的相对距离,在校准/复核过程中始终保持限位条相对距离不变,确保探头仪器复核过程中探头滑动的方向保持不变。
17.进一步,为保持限位框架的位置,可将固定块嵌入限位框架水平支撑的开放“凸”字凹槽内,使限位框架夹持固定于校准试块上。
附图说明
18.图1为超声检测校准/复核用探头限位装置透视图;
19.图2为超声检测校准/复核用探头限位装置俯视图;
20.图3为超声检测校准/复核用探头限位装置主视图;
21.图4为超声检测校准/复核用探头限位装置左视图。
22.附图标记说明:
23.1代表限位框架;
24.2代表第一限位条;
25.3代表第二限位条;
26.4代表第一固定块;
27.5代表第二固定块;
28.6代表探头;
29.7代表校准试块。
具体实施方式
30.以下结合附图对本实用新型做出进一步的说明。
31.应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限制本实用新型。
32.在本实用新型中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上”、“下”、“左”、“右”通常是用图1中的方向为基准进行描述的;
33.本实用新型中,并未固定限位框架、限位条及固定块等尺寸信息,使用时可参考工作需要合理规划;
34.如图1所示,本实用新型提供的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,包括校准试块7,沿着校准试块7的侧面和顶面放置的限位框架1,沿着校准试块7的侧面和顶面放置的第一固定块4和第二固定块5,沿着校准试块7的顶面放置在第一固定块4和第二固定块
5之间的第一限位条2和第二限位条3,以及设置在第一限位条2和第二限位条3之间的探头6。
35.如图1所示,限位框架1外观呈立方体晶格,由两条互相垂直的支撑与其间的横梁构成。
36.如图1所示,限位框架1水平的两条支撑上设置有“凸”字型凹槽,第一限位条2与第二限位条3两端设置有与凹槽匹配的“凸”字嵌块,限位条可通过滑动嵌块在限位框架水平支撑上调节位置。
37.如图1所示,第一固定块4与第二固定块5头部呈“凸”字型,可嵌入限位框架1开放式水平支撑的末端。
38.如图1所示,在校准/复核探头时,将限位框架1侧面与顶面紧贴校准试块 7,将探头6置于第一限位条2与第二限位条3之间,将第一固定块4与第二固定块5嵌入限位框架1水平支撑末端的“凸”型凹槽内,将限位框架1固定于校准试块7上,将探头6置于校准试块7检测面合适位置,将第一限位条2与第二限位条3紧靠探头6,固定探头滑动通道,在校准/复核过程中始终保持限位条相对距离不变,确保探头仪器复核过程中探头6滑动的方向保持不变。
39.对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。


技术特征:
1.一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,包括校准试块(7),沿着校准试块(7)的侧面和顶面放置的限位框架(1),沿着校准试块(7)的侧面和顶面放置的第一固定块(4)和第二固定块(5),沿着校准试块(7)的顶面放置在第一固定块(4)和第二固定块(5)之间的第一限位条(2)和第二限位条(3),以及设置在第一限位条(2)和第二限位条(3)之间的探头(6)。2.根据权利要求1所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,限位框架(1)采用立方晶格结构。3.根据权利要求1所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,限位框架(1)的水平支撑上设置有开放式“凸”字型凹槽。4.根据权利要求3所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,第一限位条(2)与第二限位条(3)两端设置有“凸”字型嵌块,嵌块能够沿凹槽滑动,且能够通过滑动嵌块改变两个限位条的位置,用于对探头(6)滑动方向起到限位的作用。5.根据权利要求4所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,第一固定块(4)与第二固定块(5)一端呈“凸”字结构,用于将固定块嵌入限位框架(1)水平支撑的开放式凹槽内,对校准试块(7)起到夹持固定的作用。6.根据权利要求1所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,根据不同尺寸的超声波检测用探头(6),通过调节两限位条的相对距离,对探头(6)滑动方向起到限位作用。7.根据权利要求1所述的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,其特征在于,将探头(6)置于校准试块(7)检测面设定位置,并置于两限位条之间,根据探头(6)宽度将两限位条的相对距离,在校准/复核过程中始终保持限位条相对距离不变,确保探头仪器复核过程中探头滑动的位置保持不变。

技术总结
本实用新型公开了一种超声检测校准/复核用探头限位装置,包括校准试块,沿着校准试块的侧面和顶面放置的限位框架,沿着校准试块的侧面和顶面放置的第一固定块和第二固定块,沿着校准试块的顶面放置在第一固定块和第二固定块之间的第一限位条和第二限位条,以及设置在第一限位条和第二限位条之间的探头。本实用新型提供的一种超声检测校准/复核用探头限位装置,可根据不同尺寸的超声波检测用探头,调节两限位条的相对距离,对探头滑动方向起到限位作用。位作用。位作用。


技术研发人员:赵阳 王飞 苏润 张寅 毛敏 魏亚兵 雷杰
受保护的技术使用者:西安热工研究院有限公司
技术研发日:2021.07.22
技术公布日:2022/5/16
再多了解一些

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