显示装置和制造显示装置的方法与流程

显示装置和制造显示装置的方法
1.相关申请的交叉引用
2.本技术要求于2020年11月6日提交的第10-2020-0147444号韩国专利申请的优先权及从其获得的所有权益，上述韩国专利申请的内容通过引用全部包含于此。
技术领域
3.本公开涉及显示装置和制造显示装置的方法。


背景技术：

4.诸如智能电话、平板个人计算机(“pc”)、数码相机、膝上型计算机、导航装置和智能电视机(“tv”)的为用户提供图像的电子装置可以包括用于显示图像的显示装置。
5.显示装置包括多个焊盘和对准标记。例如使驱动电路等安装在其上的薄膜覆晶(“cof”)的柔性膜通常耦接到多个焊盘，以将驱动信号传输到像素。对准标记可以用于将显示装置的基板与柔性膜对准。
6.柔性膜可以包括耦接到多个焊盘的多条引线。所述引线可以接合到彼此分离的焊盘。


技术实现要素：

7.本公开的实施例提供了一种能够测量绝缘电阻和绝缘间隙的显示装置以及一种用于制造显示装置的方法。
8.一种显示装置的实施例，包括：显示面板；第一膜，附着到所述显示面板；粘合构件，介于所述显示面板和所述第一膜之间，并且所述粘合构件在第一方向上延伸以将所述显示面板附着到所述第一膜；第一测试电极，被所述粘合构件覆盖；第二测试电极，被所述粘合构件覆盖，并且所述第二测试电极在垂直于所述第一方向的第二方向上与所述第一测试电极间隔开；以及测试线，包括电连接到所述第一测试电极的第一测试线和电连接到所述第二测试电极的第二测试线，其中，所述粘合构件在所述第二方向上设置在所述第一测试电极和所述第二测试电极之间。
9.一种显示装置的实施例，包括：显示面板；第一膜，附着到所述显示面板；第一对准标记，设置在所述显示面板与所述第一膜中的一者上；以及第二对准标记，设置在所述显示面板和所述第一膜中的另一者上并且面对所述第一对准标记，其中，所述第一对准标记包括彼此分离的第一测试电极、第二测试电极和第三测试电极，其中，所述第一对准标记的所述第一测试电极包括面对所述第二测试电极的第一面对区域，所述第二测试电极包括面对所述第一测试电极的第二面对区域和面对所述第三测试电极的第三面对区域，并且所述第三测试电极包括面对所述第二测试电极的第四面对区域，并且其中，所述第一面对区域、所述第二面对区域、所述第三面对区域和所述第四面对区域具有彼此相同的宽度。
10.一种制造显示装置的方法的实施例，包括：通过使用设置在所述显示面板上的第一对准标记和设置在所述第一膜上的第二对准标记将显示面板与第一膜对准；通过粘合构
件将所述显示面板附着到所述第一膜；并且通过所述第一对准标记和所述第二对准标记中的至少一者测量所述粘合构件的绝缘电阻，其中，所述第一对准标记和所述第二对准标记中的所述至少一者包括彼此分离且彼此绝缘的第一测试电极和第二测试电极，并且其中，所述测量所述粘合构件的所述绝缘电阻包括测量设置在所述第一测试电极和所述第二测试电极之间的所述粘合构件的所述绝缘电阻。
11.根据本公开的实施例，可以测量绝缘电阻，并且可以确定绝缘间隙。
附图说明
12.通过参照附图详细描述本公开的实施例，本公开的上述和其他特征将变得更明显，在附图中：
13.图1是示出根据本公开的实施例的显示装置的布局的平面图；
14.图2是示出根据本公开的实施例的显示装置的堆叠结构的截面图；
15.图3是示出根据实施例的显示装置的显示面板、第一膜和第二膜的布局的示意性平面图；
16.图4是示出图3的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图；
17.图5是示出在根据实施例的显示装置中重叠的第一对准标记和第二对准标记的放大平面图；
18.图6是示出在根据实施例的显示装置中彼此分离的第一对准标记和第二对准标记的平面图；
19.图7是沿着图5的线vii-vii'截取的截面图；
20.图8是用于示出根据本公开的实施例的制造显示装置的方法的视图；
21.图9是示出测量绝缘电阻的方法的电路图；
22.图10是根据可替代的实施例的第一对准标记的平面图；
23.图11是根据另一可替代的实施例的第一对准标记的平面图；
24.图12是根据又一可替代的实施例的第一对准标记的平面图；
25.图13是示出根据可替代的实施例的显示装置的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图；
26.图14是根据本公开的可替代的实施例的显示装置的平面图；
27.图15是示出根据可替代的实施例的显示装置的彼此耦接的显示面板和第二膜的视图；
28.图16是示出彼此分离的图15的显示面板和第二膜的视图；
29.图17是示出根据另一可替代的实施例的显示装置的彼此耦接的显示面板和第二膜的视图；
30.图18是示出图17的彼此分离的显示面板和第二膜的视图；
31.图19是示出根据又一可替代的实施例的显示装置的显示面板、第一膜和第二膜的布局的示意性平面图；并且
32.图20是示出图19的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图。
具体实施方式
33.在下文中，现在将参照其中示出了本发明的各种实施例的附图更充分地描述本发明。然而，本发明可以以许多不同的形式实现，并且不应被解释为限于本文中阐述的实施例。而是，提供这些实施例，使得本公开将是透彻的和完整的，并且将向本领域技术人员充分传达本发明的范围。同样的附图标记始终表示同样的元件。在附图中，为了清楚起见，夸大了层和区域的厚度。
34.还将理解的是，当层被称为“在”另一层或基板“上”时，该层可以直接在所述另一层或基板上，或者也可以存在中间层。相比之下，当元件被称为“直接在”另一元件“上”时，可能不存在中间元件。
35.尽管在本文中可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语可以用于将一个元件与另一元件区分开。因此，在不脱离一个或多个实施例的教导的情况下，以下讨论的第一元件可以被称为第二元件。将元件描述为“第一”元件可能不要求或暗示存在第二元件或其他元件。在本文中，术语“第一”、“第二”等还可以用于区分不同类别的元件或不同组的元件。为简洁起见，术语“第一”、“第二”等可以分别表示“第一类别(或第一组)”、“第二类别(或第二组)”等。
36.本文中使用的术语仅是为了描述特定实施例的目的，并非旨在进行限制。如本文中所使用的，除非上下文另有明确指示，否则“一个”、“一种”、“所述(该)”和“至少一个(种)”不表示对量的限制，并且旨在包括单数和复数两者。例如，除非上下文另有明确指示，否则“元件”具有与“至少一个元件”相同的含义。“至少一个(种)”不被解释为限于“一个”或“一种”。“或”是指“和/或”。如本文中使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列项的任何组合和所有组合。将进一步理解的是，当在本说明书中使用术语“包括”和/或“包含”或者“含有”和/或“具有”时，说明存在所陈述的特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或添加一个或多个其它特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
37.此外，在本文中可以使用诸如“下”或“底部”和“上”或“顶部”的相对术语来描述如附图中所示的一个元件与另一元件的关系。将理解的是，除了附图中描绘的方位之外，相对术语还旨在涵盖装置的不同方位。例如，如果在一幅附图中装置被翻转，则描述为在其他元件“下”侧的元件随后将被定位为在其他元件“上”侧。因此，根据附图的具体方位，术语“下”可以涵盖“下”和“上”两种方位。类似地，如果在一幅附图中装置被翻转，则描述为在其他元件“下方”或“下面”的元件随后将被定向为在其他元件“上方”。术语“在
……
下方”或“在
……
下面”可以涵盖上方和下方两种方位。
38.考虑到讨论中的测量和与特定量的测量相关的误差(即，测量系统的局限性)，如本文中使用的“大约”或“近似”包括所陈述的值，并且是指在由本领域普通技术人员确定的特定值的可接受的偏差范围内。例如，“大约”可以意指在一个或多个标准偏差内，或者在所陈述的值的
±
30％、
±
20％、
±
10％或
±
5％以内。
39.除非另有定义，否则本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属领域的普通技术人员所通常理解的相同的含义。将进一步理解的是，除非在本文中明确地如此定义，否则诸如在通用词典中定义的术语的术语应当被解释为具有与它们在相关领域和本公开的背景中的含义相一致的含义，并且将不以理想化的或过于形式化的含
义来解释所述术语。
40.在本文中参考作为理想化的实施例的示意图的截面图来描述实施例。如此，将预计到由于例如制造技术和/或公差导致的图示的形状的变化。因而，本文中描述的实施例不应被解释为局限于如本文中示出的区域的具体形状，而是将包括例如由制造导致的形状的偏差。例如，示出或描述为平坦的区域通常可以具有粗糙的和/或非线性的特征。此外，示出的尖角可以被倒圆。因而，附图中示出的区域在实质上是示意性的，并且它们的形状不旨在示出区域的精确形状，并且不旨在限制本公开的范围。
41.在下文中，将参照附图详细描述本公开的实施例。
42.图1是示出根据本公开的实施例的显示装置的布局的平面图。
43.参照图1，显示装置1的实施例显示运动图像或静止图像。显示装置1可以用作诸如移动电话、智能电话、平板个人计算机(“pc”)、智能手表、手表手机、移动通信终端、电子笔记本、电子书、便携式多媒体播放器(“pmp”)、导航装置和超移动pc(“umpc”)的便携式电子装置的显示屏幕以及诸如电视机、笔记本式计算机、监视器、广告牌和物联网(“iot”)装置的各种产品的显示屏幕。
44.在实施例中，如图1中所示，显示装置1可以包括显示图像的显示面板100、连接到显示面板100的第一膜300和连接到第一膜300的第二膜200。
45.在一个实施例中，例如，显示面板100可以是有机发光显示面板。在此，为了描述方便，将详细地描述显示面板100是有机发光显示面板的实施例。然而，将理解的是，诸如液晶显示面板、量子点有机发光显示面板、量子点液晶显示面板、量子纳米发光显示面板和微型发光二极管显示面板的其他类型的显示面板也可以用作显示面板100。
46.在实施例中，显示面板100包括设置有多个像素区域的显示区域da和设置在显示区域da周围的非显示区域nda。当从俯视平面图(例如，在显示面板100的厚度方向上的平面图)观察时，显示区域da可以具有矩形形状，该矩形形状具有呈直角的角或倒圆角。显示区域da可以包括较短边和较长边。显示区域da的较短边可以在第一方向dr1上延伸。显示区域da的较长边可以在第二方向dr2上延伸。然而，将理解的是，本公开不限于此。显示区域da的形状不限于矩形，并且可替代地，显示区域da可以具有诸如圆形和椭圆形的其他形状。
47.在实施例中，非显示区域nda可以设置为与显示区域da的两个较短边和两个较长边相邻。在这样的实施例中，非显示区域nda可以围绕显示区域da的所有边，并且可以形成显示区域da的边缘。然而，将理解的是，本公开不限于此。可替代地，非显示区域nda可以设置为仅与显示区域da的两个较短边相邻，或仅与显示区域da的两个较长边相邻。
48.在实施例中，可以在非显示区域nda中设置用于将信号施加到显示区域da的信号线或驱动电路。在显示装置1包括触摸构件的实施例中，可以进一步在非显示区域nda中设置用于将信号施加到触摸区域的线或电路。
49.参照稍后将描述的图3，显示面板100还包括焊盘区域pa。焊盘区域pa可以设置在非显示区域nda中。例如，焊盘区域pa可以设置在显示区域da的一个较短边周围，但是本公开不限于此。焊盘区域pa可以设置在显示区域da的两个较短边中的每一者的周围，或者设置在显示区域da的两个较短边和两个较长边中的每一者的周围。
50.焊盘区域pa可以电连接到信号线。焊盘区域pa可以包括显示信号线焊盘。在显示装置1包括触摸构件的实施例中，焊盘区域pa可以包括触摸信号线焊盘。
51.在实施例中，第二膜200可以是柔性印刷电路板或柔性印刷电路膜。然而，将理解的是，本公开不限于此。可替代地，第二膜200可以是刚性基板。在实施例中，第二膜200可以是驱动显示器以及触摸构件的集成驱动膜。然而，将理解的是，本公开不限于此。可替代地，用于驱动显示器的膜和用于驱动触摸构件的膜可以彼此单独地提供。
52.在实施例中，第一膜300可以将第二膜200与显示面板100电连接。在这样的实施例中，第二膜200可以通过第一膜300电连接到显示面板100。在一个实施例中，例如，第一膜300的一端可以附着到显示面板100的一侧，并且第一膜300的相对端可以附着到第二膜200。第一膜300可以通过粘合构件acf(参见图7)附着到显示面板100的一侧和第二膜200。
53.在这样的实施例中，第一膜300和显示面板100至少部分地彼此重叠，并且第一膜300可以在第一膜300的重叠部分处附着到显示面板100。在这样的实施例中，粘合构件acf(参见图7)可以设置在第一膜300和显示面板100之间，并且第一膜300和显示面板100可以通过粘合构件acf附着在一起。在实施例中，第一膜300和第二膜200至少部分地彼此重叠，并且第一膜300可以在第一膜300的重叠部分处附着到第二膜200。在这样的实施例中，附加的粘合构件可以设置在第一膜300和第二膜200之间，并且第一膜300和第二膜200可以通过粘合构件附着在一起。
54.驱动芯片350可以安装在第一膜300的第一表面或第二表面上。驱动芯片350可以包括用于驱动显示面板100的集成电路。驱动芯片350可以包括例如驱动显示面板100的集成电路，并且可以通过采用薄膜覆晶(“cof”)技术被实现为显示面板驱动芯片。
55.对准标记am1和am2(参见图3和图4)可以进一步提供或形成在显示面板100和第一膜300的重叠区域中，即，显示面板100和第一膜300彼此附着的区域中。在这样的实施例中，显示装置1包括对准标记am1和am2(参见图3)，使得显示面板100和第一膜300可以彼此对准。在实施例中，对准标记am1和am2(参见图3)可以包括彼此绝缘的多个测试电极amd11、amd12、amd13、amd14、amd21、amd22、amd23和amd24(参见图4)。多个测试电极amd11、amd12、amd13、amd14、amd21、amd22、amd23和amd24(参见图4)可以彼此间隔开不同的距离。在显示装置1中，通过使用多个测试电极amd11、amd12、amd13、amd14、amd21、amd22、amd23和amd24(参见图4)，可以测量将显示面板100附着到第一膜300的粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定稍后将详细描述的绝缘间隙。
56.第一膜300可以在厚度方向(例如，在显示装置1是顶发射发光显示装置的实施例中朝向后侧)上弯曲。因此，当第一膜300弯曲时，第二膜200可以定位在显示面板100下方，并且第一膜300的一部分可以定位在显示面板100下方。
57.图2是示出根据本公开的实施例的显示装置的堆叠结构的截面图。
58.参照图2，显示装置1的实施例还可以包括用于感测触摸输入的触摸构件tsp、防反射构件pol、窗口构件wdl和设置在显示面板100下方的覆盖面板cpl以及用于提供显示屏幕的显示面板100。
59.显示面板100可以包括第一基板sub1、第二基板sub2、有源元件层atl和密封构件sl。
60.第一基板sub1可以支撑设置在第一基板sub1上的有源元件层atl。第一基板sub1通常是透明的，并且可以具有高透光率。第一基板sub1可以包括无机材料，但不限于无机材料，所述无机材料例如玻璃和/或石英。第一基板sub1的无机材料可以包括氧化硅(sio2)，
但不限于氧化硅(sio2)。然而，将理解的是，本公开不限于此。第一基板sub1可以是透明板或透明膜。
61.第二基板sub2可以设置为面对第一基板sub1并且与第一基板sub1间隔开。第二基板sub2可以保护有源元件层atl免受外部湿气和空气的影响。第二基板sub2通常是透明的，并且可以具有高透光率。第二基板sub2可以包括无机材料，但不限于无机材料，所述无机材料例如玻璃和/或石英。第二基板sub2的无机材料可以包括氧化硅(sio2)，但不限于氧化硅(sio2)。然而，将理解的是，本公开不限于此。第二基板sub2可以是透明板或透明膜。
62.有源元件层atl可以设置在第一基板sub1和第二基板sub2之间。有源元件层atl可以设置在第一基板sub1的上表面(或第一表面)上。有源元件层atl可以包括发光元件和用于驱动发光元件的薄膜晶体管。在实施例中，第二基板sub2可以设置在有源元件层atl上。
63.尽管附图中未示出，但是有源元件层atl可以包括像素的电路驱动层和发射层。电路驱动层可以包括驱动像素的发射层的电路。电路驱动层可以包括多个薄膜晶体管。发射层可以包括有机发射层。发射层可以以与从电路驱动层传输到发射层的驱动信号相对应的亮度水平发光。发射层可以设置在电路驱动层上。
64.密封构件sl可以设置在第一基板sub1和第二基板sub2之间。在一个实施例中，例如，密封构件sl可以设置在显示装置1的非显示区域nda中，并且可以设置为围绕显示区域da。密封构件sl可以将第一基板sub1与第二基板sub2耦接，并且可以与第一基板sub1和第二基板sub2一起密封有源元件层atl。根据本公开的实施例，密封构件sl可以包括玻璃料，但不限于玻璃料。
65.在实施例中，如本文中所述，有源元件层atl可以设置在第一基板sub1和第二基板sub2之间，并且被密封构件sl围绕和密封。然而，将理解的是，本公开不限于此。在一个可替代的实施例中，例如，可以在有源元件层atl上设置薄膜封装层，并且可以通过薄膜封装层来封装有源元件层atl。在这样的实施例中，薄膜封装层可以包括无机膜和有机膜中的至少一者，并且可以包括多层的堆叠。在有源元件层atl通过薄膜封装层封装的实施例中，可以省略第二基板sub2和密封构件sl。
66.显示面板100的由第一基板sub1、第二基板sub2和密封构件sl限定的内部区域可以位于第一基板sub1和第二基板sub2之间。内部区域可以处于真空状态，或者可以填充有气体。气体可以是惰性气体或标准空气，但不限于惰性气体或标准空气。在实施例中，除了气体之外，内部区域还可以填充有填充物等。
67.在实施例中，触摸构件tsp可以设置在显示面板100上。触摸构件tsp可以感测触摸输入。触摸构件tsp可以设置在第二基板sub2的上表面(或第一表面)上。在实施例中，如图2中所示，触摸构件tsp可以以触摸层的形式与显示面板100一体地形成，但是本公开不限于此。触摸构件tsp可以以触摸面板或触摸膜的形式定位在显示面板100上。触摸构件tsp可以包括多个触摸电极。可替代地，可以省略触摸构件tsp。
68.在实施例中，防反射构件pol可以设置在触摸构件tsp上。防反射构件pol可以以偏振膜的形式附着到触摸构件tsp上。防反射构件pol对穿过防反射构件pol的光进行偏振。防反射构件pol可以减少外部光的反射。然而，将理解的是，本公开不限于此。在可替代的实施例中，防反射构件pol可以以防反射层的形式堆叠在显示面板100内部。在这样的实施例中，防反射构件pol可以包括滤色器，该滤色器选择性地透射特定波长的光等。在省略触摸构件
tsp的实施例中，防反射构件pol可以附着在第二基板sub2上。
69.在实施例中，窗口构件wdl设置在防反射构件pol上。窗口构件wdl用于覆盖并保护显示面板100。窗口构件wdl可以包括窗口材料wm和设置在窗口材料wm上的印刷层in。窗口构件wdl可以通过包括光学透明粘合剂(“oca”)、光学透明树脂等的透明耦接层ocr附着在显示面板100的一个表面上。在显示装置1包括防反射构件pol的实施例中，窗口构件wdl可以附着在防反射构件pol的上表面(或第一表面)上。
70.窗口材料wm可以包括透明材料或由透明材料制成。窗口材料wm可以包括例如玻璃或塑料，或者由例如玻璃或塑料制成。
71.当从俯视平面图观察时，窗口材料wm定义显示装置1的形状或外观。在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，显示装置1具有基本上矩形的形状，窗口材料wm也具有基本上矩形的形状。在一个可替代的实施例中，例如，在显示装置1为圆形的情况下，窗口材料wm也可具有圆形形状。
72.印刷层in可以设置在窗口材料wm上。印刷层in可以设置在窗口材料wm的第一表面和/或第二表面上。印刷层in可以设置在窗口材料wm的边缘上，并且可以设置在非显示区域nda中。印刷层in可以是光阻挡层或赋予美学效果的装饰层。然而，将理解的是，本公开不限于此。可替代地，可以省略印刷层in。
73.图3是示出根据实施例的显示装置的显示面板、第一膜和第二膜的布局的示意性平面图。图4是示出图3的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图。图3和图4示出了显示面板100的焊盘区域pa的外围。在图3和图4中，实线可以代表位于前表面上的元件，并且虚线可以代表位于后表面上的元件。
74.参照图3和图4，显示装置1的实施例还可以包括第一对准标记am1和第二对准标记am2，并且显示面板100还可以包括面板焊盘p_pad。面板焊盘p_pad和第一对准标记am1可以设置在显示面板100的基板sub的前表面上。在此，在显示装置1是顶发射显示装置的情况下，前表面可以指光从其出射的表面。
75.面板焊盘p_pad可以设置在显示面板100的位于显示面板100的基板sub的前表面上的焊盘区域pa中。面板焊盘p_pad可以提供为多个，并且多个面板焊盘p_pad可以沿着第一方向dr1重复地布置。面板焊盘p_pad可以包括例如电源焊盘、数据焊盘、面板虚设焊盘等。
76.面板焊盘p_pad可以电连接到像素。面板焊盘p_pad可以通过第一信号线l1物理连接和/或电连接到显示区域da中的像素。第一信号线l1可以与面板焊盘p_pad设置在不同的层中，但是本公开不限于此。可替代地，第一信号线l1可以与面板焊盘p_pad设置在相同的层中。
77.第一对准标记am1可以设置为在显示面板100的基板sub的前表面上与多个面板焊盘p_pad的在第一方向dr1上的一侧相邻，但是本公开不限于此。在实施例中，第一对准标记am1可以在将显示面板100附着到第一膜300的工艺期间用作标记。在这样的实施例中，第一对准标记am1连同第二对准标记am2可以用于将显示面板100与第一膜300对准。第一对准标记am1可以与面板焊盘p_pad具有相同的堆叠结构，但是本公开不限于此。
78.第一对准标记am1可以包括第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14。第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极
amd13和第四测试电极amd14可以彼此分离并且彼此绝缘。在实施例中，通过使用稍后将详细描述的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14，可以测量绝缘电阻并且可以测量绝缘间隙。
79.在实施例中，第一膜300可以包括第一膜基板310、第一连接引线le1、第二连接引线le2和测试引线t_le。第一连接引线le1、第二连接引线le2和测试引线t_le可以设置在第一膜基板310的后表面上。在这样的实施例中，第二对准标记am2可以设置在第一膜基板310的后表面上。在此，在显示装置1是顶发射显示装置的情况下，在如图3中所示的展开状态下，后表面可以指与光从其出射的表面相对的表面。
80.第一连接引线le1可以设置在驱动芯片350的在第二方向dr2上的一侧，并且第二连接引线le2可以设置在驱动芯片350的在第二方向dr2上的相对侧(即，与所述一侧相对的一侧)处。第一连接引线le1可以通过第二信号线l2电连接到驱动芯片350，并且第二连接引线le2可以通过第三信号线l3电连接到驱动芯片350。
81.在实施例中，第一连接引线le1可以在第一方向dr1上重复地布置且彼此间隔开。第一连接引线le1可以分别与显示面板100的面板焊盘p_pad相对应。第一连接引线le1可以与显示面板100的面板焊盘p_pad重叠，并且可以物理连接和/或电连接到面板焊盘p_pad。
82.在实施例中，第二连接引线le2可以在第一方向dr1上重复地布置且彼此间隔开。第二连接引线le2可以分别与第二膜200的主电路焊盘m_pad相对应。第二连接引线le2可以与第二膜200的主电路焊盘m_pad重叠，并且可以分别物理连接和/或电连接到主电路焊盘m_pad。
83.第二对准标记am2可以设置为与第一连接引线le1的在第一方向dr1上的一侧相邻。第二对准标记am2可以包括第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24。第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以彼此分离且彼此绝缘。第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以分别与稍后将详细描述的第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14相对应。
84.在实施例中，当第一膜300附着到显示面板100时，第二对准标记am2可以与第一对准标记am1重叠，并且可以物理连接和/或电连接到第一对准标记am1。在这样的实施例中，第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以分别物理连接和/或电连接到第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14。因此，第一对准标记am1可以通过第二对准标记am2电连接到第二膜200的测试点tpo。
85.测试引线t_le可以设置在第二连接引线le2的在第一方向dr1上的一侧。测试引线t_le可以分别通过第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14物理连接和/或电连接到第二对准标记am2。在实施例中，测试引线t_le可以包括第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4。第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4可以分别通过第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14物理连接和/或电连接到第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24。
86.测试引线t_le可以物理连接和/或电连接到测试焊盘t_pad。在实施例中，第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4可以分别与第二膜200的测试焊盘t_pad：t_pad1、t_pad2、t_pad3和t_pad4相对应。第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4可以分别与第二膜200的测试焊盘t_pad：t_pad1、t_pad2、t_pad3和t_pad4重叠，并且可以与第二膜200的测试焊盘t_pad：t_pad1、t_pad2、t_pad3和t_pad4物理连接和/或电连接。
87.第二膜200可以包括第二膜基板210、主电路焊盘m_pad、主电路250、测试焊盘t_pad和测试点tpo。主电路焊盘m_pad、主电路250、测试焊盘t_pad和测试点tpo可以设置在第二膜基板210的前表面上。
88.在实施例中，主电路焊盘m_pad可以沿着第一方向dr1重复地布置。主电路焊盘m_pad可以设置在主电路250的在第二方向dr2上的一侧。主电路焊盘m_pad可以电连接到主电路250。主电路焊盘m_pad可以物理连接和/或电连接到第四信号线l4，并且主电路250可以物理连接和/或电连接到第四信号线l4。因此，主电路250和主电路焊盘m_pad可以通过第四信号线l4彼此物理连接和/或电连接。
89.在实施例中，如图3中所示，主电路250可以设置在第二膜200上，但是本公开不限于此。可替代地，主电路250可以设置在单独的元件上，并且仅主电路焊盘m_pad、测试焊盘t_pad和测试点tpo可以设置在第二膜200的第二膜基板210上。
90.测试焊盘t_pad可以设置在主电路焊盘m_pad的在第一方向dr1上的一侧。与主电路焊盘m_pad不同，测试焊盘t_pad可以与主电路250电绝缘。在这样的实施例中，测试焊盘t_pad可以是虚设电极。在实施例中，测试焊盘t_pad可以包括第一测试焊盘t_pad1、第二测试焊盘t_pad2、第三测试焊盘t_pad3和第四测试焊盘t_pad4。
91.第一测试焊盘t_pad1、第二测试焊盘t_pad2、第三测试焊盘t_pad3和第四测试焊盘t_pad4可以分别物理连接和/或电连接到第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4。
92.测试点tpo可以在第二方向dr2上与测试焊盘t_pad间隔开。测试点tpo可以通过第二测试线t_l2：t_l21、t_l22、t_l23和t_l24物理连接和/或电连接到测试焊盘t_pad。在实施例中，测试点tpo可以包括第一测试点tpo1、第二测试点tpo2、第三测试点tpo3和第四测试点tpo4。第一测试点tpo1、第二测试点tpo2、第三测试点tpo3和第四测试点tpo4可以分别通过第二测试线t_l2：t_l21、t_l22、t_l23和t_l24物理连接和/或电连接到测试焊盘t_pad的第一测试焊盘t_pad1、第二测试焊盘t_pad2、第三测试焊盘t_pad3和第四测试焊盘t_pad4。
93.可以将预定的输入电压施加到测试点tpo，在这种情况下，可以通过测试点tpo测量输出电阻。因此，可以测量设置在第一对准标记am1的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14之间的粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间隙。在实施例中，例如，粘合构件acf(参见图7)可以在第二方向dr2上设置在第一测试电极amd11和第二测试电极amd12之间。
94.在下文中，将参照图5至图7更详细地描述对准标记am1和am2。
95.图5是示出在根据实施例的显示装置中重叠的第一对准标记和第二对准标记的放大平面图。图6是示出在根据实施例的显示装置中彼此分离的第一对准标记和第二对准标
记的平面图。图7是沿着图5的线vii-vii'截取的截面图。在图7中，图5中所示的第一对准标记am1和第二对准标记am2被示出为倒置地反转。
96.参照图1、图3、图5至图7，显示装置1的实施例还可以包括粘合构件acf。粘合构件acf可以设置在显示面板100和第一膜300彼此重叠的区域中。粘合构件acf可以介于显示面板100和第一膜300的其中显示面板100和第一膜300彼此重叠的重叠部分之间。显示面板100和第一膜300可以通过粘合构件acf彼此附着，并且第一对准标记am1和第二对准标记am2可以彼此电连接。在实施例中，显示面板100的面板焊盘p_pad和第一连接引线le1可以通过粘合构件acf彼此电连接。
97.在一个实施例中，例如，粘合构件acf可以是各向异性导电膜，但是不限于此。
98.在粘合构件acf是各向异性导电膜的实施例中，粘合构件acf可以包括粘合层adf和导电球cb。粘合层adf可以将显示面板100附着到第一膜300。粘合层adf可以覆盖显示面板100的面板焊盘p_pad和第一对准标记am1以及第一膜300的第一连接引线le1和第二对准标记am2。粘合层adf可以包括能够将显示面板100附着到第一膜300的粘合材料，并且可以包括绝缘材料。在这样的实施例中，粘合层adf可以包括具有粘合性和绝缘特性的材料。在实施例中，粘合层adf可以包括例如从环氧树脂、丙烯酸树脂和聚酯树脂中选择的至少一种，但是不限于此。
99.在实施例中，导电球cb可以具有球形形状，但不限于球形形状。在导电球cb具有球形形状的这样的实施例中，可以通过利用从镍(ni)、钴(co)、金(au)、银(ag)和铜(cu)中选择的至少一种金属涂覆球形聚合物形成导电球cb。导电球cb可以设置在第一对准标记am1和第二对准标记am2之间，以将第一对准标记am1与第二对准标记am2电连接。在这样的实施例中，导电球cb的一侧可以与第一对准标记am1直接接触，同时导电球cb的相对侧可以与第二对准标记am2直接接触。因此，第一对准标记am1的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14可以分别电连接到第二对准标记am2的测试电极amd21、amd22、amd23和amd24。
100.在粘合构件acf是各向异性导电膜的实施例中，显示面板100和第一膜300可以通过对粘合构件acf施加热或施压而彼此附着。
101.在实施例中，尽管在附图中未示出，但是粘合构件acf可以具有多层结构，例如，多层的堆叠。在这样的实施例中，除了粘合层adf和导电球cb之外，粘合构件acf还可以包括位于粘合层adf上和/或下方的附加绝缘层。附加绝缘层可以具有绝缘特性和粘合性。因此，附加绝缘层可以改善粘合层adf和显示面板100之间以及粘合层adf和第一膜300之间的粘合，并且可以覆盖并保护粘合层adf和导电球cb。
102.在实施例中，虽然在附图中未示出，但是导电球cb可以将显示面板100的面板焊盘p_pad与第一膜300的第一连接引线le1电连接，以及可以将第一对准标记am1与第二对准标记am2电连接。
103.在实施例中，如上所述，粘合构件acf可以是包括导电球cb的各向异性导电膜，但是本公开不限于此。可替代地，粘合构件acf可以是不包括导电球cb的粘合膜。在这样的实施例中，可以通过使用超声波将显示面板100和第一膜300附着在一起。
104.在实施例中，第一膜300和第二膜200也可以通过粘合构件附着在一起。将第一膜300附着到第二膜200的粘合构件可以是各向异性导电膜或不包括导电球cb的粘合膜。
105.在实施例中，如图5和图6中所示，第一对准标记am1可以包括第一测试电极amd11、
第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14。第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以彼此分离开某一距离。在这样的实施例中，第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以彼此绝缘。
106.第一测试电极amd11可以定位在第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14的在第二方向dr2上的一侧。第二测试电极amd12可以定位在第一测试电极amd11的在第二方向dr2上的相对侧，并且可以定位在第三测试电极amd13和第四测试电极amd14的在第一方向dr1上的相对侧。第三测试电极amd13可以设置在第一测试电极amd11的在第二方向dr2上的相对侧，并且可以在第一方向dr1上设置在第二测试电极amd12和第四测试电极amd14之间。第四测试电极amd14可以定位在第一测试电极amd11的在第二方向dr2上的相对侧，并且可以设置在第二测试电极amd12和第三测试电极amd13的在第一方向dr1上的一侧。
107.在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11可以定位在第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14的上侧。第二测试电极amd12可以定位在第一测试电极amd11的下侧，并且可以设置在第三测试电极amd13和第四测试电极amd14的左侧。第三测试电极amd13可以设置在第一测试电极amd11的下侧，并且可以设置在第二测试电极amd12和第四测试电极amd14之间。第四测试电极amd14可以定位在第一测试电极amd11的下侧，并且可以设置在第二测试电极amd12和第三测试电极amd13的右侧。然而，将理解的是，本公开不限于此。
108.当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以具有不同的尺寸或面积。然而，将理解的是，本公开不限于此。在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第二测试电极amd12和第四测试电极amd14可以具有彼此相同的面积。在这样的实施例中，当从俯视平面图观察时，第二测试电极amd12和第四测试电极amd14可以具有与第一测试电极amd11相同的面积。
109.在实施例中，如图5和图6中所示，当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14中的每一者可以具有四边形形状，但是本公开不限于此。在一个可替代的实施例中，例如，第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以具有诸如三角形、五边形和六边形的多边形形状，或者可以具有诸如圆形和椭圆形的形状。
110.第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以至少部分地彼此面对(或者在第一方向dr1上或在第二方向dr2上至少部分地彼此重叠)。在一个实施例中，例如，第一测试电极amd11可以至少部分地面对第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14中的每一者(或者在第二方向dr2上与第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14中的每一者重叠)。第二测试电极amd12可以至少部分地面对第一测试电极amd11和第三测试电极amd13中的每一者。第三测试电极amd13可以至少部分地面对第一测试电极amd11、第二测试电极amd12和第四测试电极amd14中的每一者。第四测试电极amd14可以至少部分地面对第一测试电极amd11和第三测试电极amd13中的每一者。
111.在实施例中，当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11的第一侧可以面对第二
测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14。当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11的第一侧可以包括面对第二测试电极amd12的第一面对区域(或部分)fa1、面对第三测试电极amd13的第二面对区域fa2和面对第四测试电极amd14的第三面对区域fa3。第一测试电极amd11的第一侧可以在第一方向dr1上延伸，并且可以定位在第一测试电极amd11的在第二方向dr2上的相对侧。
112.在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第一测试电极amd11的下侧可以包括面对第二测试电极amd12的第一面对区域fa1、面对第三测试电极amd13的第二面对区域fa2和面对第四测试电极amd14的第三面对区域fa3。
113.当从俯视平面图观察时，第二测试电极amd12的第一侧的至少一部分可以面对第一测试电极amd11，并且第二测试电极amd12的第二侧的至少一部分可以面对第三测试电极amd13。当从俯视平面图观察时，第二测试电极amd12的第一侧可以包括面对第一测试电极amd11的第四面对区域fa4，并且第二测试电极amd12的第二侧可以包括面对第三测试电极amd13的第五面对区域fa5。第二测试电极amd12的第一侧可以在第一方向dr1上延伸，并且可以定位在第二测试电极amd12的在第二方向dr2上的一侧。第二测试电极amd12的第二侧可以在第二方向dr2上延伸，并且可以定位在第二测试电极amd12的在第一方向dr1上的一侧。
114.在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第二测试电极amd12的上侧可以包括面对第一测试电极amd11的第四面对区域fa4，并且第二测试电极amd12的右侧可以包括面对第三测试电极amd13的第五面对区域fa5。
115.当从俯视平面图观察时，第三测试电极amd13的第一侧的至少一部分可以面对第一测试电极amd11，第三测试电极amd13的第二侧的至少一部分可以面对第二测试电极amd12，并且第三测试电极amd13的第三侧的至少一部分可以面对第四测试电极amd14。当从俯视平面图观察时，第三测试电极amd13的第一侧可以包括面对第一测试电极amd11的第六面对区域fa6，第三测试电极amd13的第二侧可以包括面对第二测试电极amd12的第七面对区域fa7，并且第三测试电极amd13的第三侧可以包括面对第四测试电极amd14的第八面对区域fa8。第三测试电极amd13的第一侧可以在第一方向dr1上延伸，并且可以定位在第三测试电极amd13的在第二方向dr2上的一侧。第三测试电极amd13的第二侧和第三侧可以在第二方向dr2上延伸，并且可以分别定位在第三测试电极amd13的在第一方向dr1上的一侧和相对侧。
116.在一个实施例中，例如，第三测试电极amd13的上侧可以包括面对第一测试电极amd11的第六面对区域fa6，第三测试电极amd13的左侧可以包括面对第二测试电极amd12的第七面对区域fa7，并且第三测试电极amd13的右侧可以包括面对第四测试电极amd14的第八面对区域fa8。在实施例中，如图6中所示，第三测试电极amd13的第一侧、第二侧和第三侧中的每一者可以完全面对第一测试电极amd11、第二测试电极amd12和第四测试电极amd14，但是本公开不限于此。
117.当从俯视平面图观察时，第四测试电极amd14的第一侧的至少一部分可以面对第一测试电极amd11，并且第四测试电极amd14的第二侧的至少一部分可以面对第三测试电极amd13。当从俯视平面图观察时，第四测试电极amd14的第一侧可以包括面对第一测试电极amd11的第九面对区域fa9，并且第四测试电极amd14的第二侧可以包括面对第三测试电极
amd13的第十面对区域fa10。第四测试电极amd14的第一侧可以在第一方向dr1上延伸，并且可以定位在第四测试电极amd14的在第二方向dr2上的一侧。第四测试电极amd14的第二侧可以在第二方向dr2上延伸，并且可以定位在第四测试电极amd14的在第一方向dr1上的相对侧。
118.在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第四测试电极amd14的上侧可以包括面对第一测试电极amd11的第九面对区域fa9，并且第四测试电极amd14的左侧可以包括面对第三测试电极amd13的第十面对区域fa10。
119.第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4可以彼此完全地面对。第一测试电极amd11的第二面对区域fa2和第三测试电极amd13的第六面对区域fa6可以彼此完全地面对。第一测试电极amd11的第三面对区域fa3和第四测试电极amd14的第九面对区域fa9可以彼此完全地面对。第二测试电极amd12的第五面对区域fa5和第三测试电极amd13的第七面对区域fa7可以彼此完全地面对。第三测试电极amd13的第八面对区域fa8和第四测试电极amd14的第十面对区域fa10可以彼此完全地面对。
120.各个面对区域之间的距离可以彼此不同。在实施例中，第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4之间的第一距离d1、第一测试电极amd11的第二面对区域fa2和第三测试电极amd13的第六面对区域fa6之间的第二距离d2、第一测试电极amd11的第三面对区域fa3和第四测试电极amd14的第九面对区域fa9之间的第三距离d3、第二测试电极amd12的第五面对区域fa5和第三测试电极amd13的第七面对区域fa7之间的第四距离d4、以及第三测试电极amd13的第八面对区域fa8和第四测试电极amd14的第十面对区域fa10之间的第五距离d5可以彼此不同。然而，将理解的是，本公开不限于此。
121.各个面对区域之间的距离d1、d2、d3、d4和d5中的每一者可以在大约0.1微米(μm)至大约30μm的范围内，或者可以在大约1μm至大约15μm的范围内。在一个实施例中，例如，第一距离d1可以在大约3μm至大约5μm的范围内，例如，可以是大约4μm。第二距离d2可以在大约5μm至大约7μm的范围内，例如，可以是大约6μm。第三距离d3可以在大约1μm至大约3μm的范围内，例如，可以是大约2μm。第四距离d4可以在大约9μm至大约11μm的范围内，例如，可以是大约10μm。第五距离d5可以在大约7μm至大约9μm的范围内，例如，可以是大约8μm。然而，将理解的是，距离d1、d2、d3、d4和d5中的每一者的大小不限于此。
122.各个面对区域之间的距离d1、d2、d3、d4和d5中的每一者在所述各个面对区域之间的空间中可以是基本上一致的(或恒定的)。在这样的实施例中，第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4之间的第一距离d1在第一测试电极amd11的第一面对区域fa1面对第二测试电极amd12的第四面对区域fa4的区域中可以是基本上一致的。在一个实施例中，例如，在第一距离d1是大约是4μm的情况下，第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4之间的距离可以在第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4之间的空间中保持在大约4μm。
123.在实施例中，第一测试电极amd11的第二面对区域fa2和第三测试电极amd13的第六面对区域fa6之间的第二距离d2在第一测试电极amd11的第二面对区域fa2面对第三测试电极amd13的第六面对区域fa6的区域中可以是基本上一致的。第一测试电极amd11的第三
面对区域fa3和第四测试电极amd14的第九面对区域fa9之间的第三距离d3在第一测试电极amd11的第三面对区域fa3面对第四测试电极amd14的第九面对区域fa9的区域中可以是基本上一致的。第二测试电极amd12的第五面对区域fa5和第三测试电极amd13的第七面对区域fa7之间的第四距离d4在第二测试电极amd12的第五面对区域fa5面对第三测试电极amd13的第七面对区域fa7的区域中可以是基本上一致的。第三测试电极amd13的第八面对区域fa8和第四测试电极amd14的第十面对区域fa10之间的第五距离d5在第三测试电极amd13的第八面对区域fa8面对第四测试电极amd14的第十面对区域fa10的区域中可以是基本上一致的。
124.测试电极amd11、amd12、amd13和amd14的相应的面对区域fa1、fa2、fa3、fa4、fa5、fa6、fa7、fa8、fa9和fa10可以具有彼此相同的宽度。然而，将理解的是，本公开不限于此。在实施例中，例如，测试电极amd11、amd12、amd13和amd14的彼此面对的面对区域fa1和fa4、fa2和fa6、fa3和fa9、fa5和fa7以及fa8和fa10可以分别具有彼此不同的宽度。在实施例中，第一测试电极amd11的第一面对区域fa1和第二测试电极amd12的第四面对区域fa4可以具有彼此相同的宽度，即，第一宽度w1。第一测试电极amd11的第二面对区域fa2和第三测试电极amd13的第六面对区域fa6可以具有彼此相同的宽度，即，第二宽度w2。第一测试电极amd11的第三面对区域fa3和第四测试电极amd14的第九面对区域fa9可以具有彼此相同的宽度，即，第三宽度w3。第二测试电极amd12的第五面对区域fa5和第三测试电极amd13的第七面对区域fa7可以具有彼此相同的宽度，即，第四宽度w4。第三测试电极amd13的第八面对区域fa8和第四测试电极amd14的第十面对区域fa10可以具有彼此相同的宽度，即，第五宽度w5。在实施例中，所有的第一宽度w1、第二宽度w2、第三宽度w3、第四宽度w4和第五宽度w5可以基本上彼此相等。然而，将理解的是，本公开不限于此。可替代地，第一宽度w1、第二宽度w2、第三宽度w3、第四宽度w4和第五宽度w5中的仅一些宽度可以基本上彼此相等。
125.在这样的实施例中，测试电极amd11、amd12、amd13和amd14的面对区域fa1、fa2、fa3、fa4、fa5、fa6、fa7、fa8、fa9和fa10之间的距离d1、d2、d3、d4和d5可以彼此不同，距离d1、d2、d3、d4和d5可以是基本上一致的，并且面对区域fa1、fa2、fa3、fa4、fa5、fa6、fa7、fa8、fa9和fa10的宽度w1、w2、w3、w4和w5可以基本上彼此相等。
126.因此，当测试电极amd11、amd12、amd13和amd14分别电连接到测试点tpo1、tpo2、tpo3和tpo4(参见图4)时，可以通过从测试点tpo1、tpo2、tpo3和tpo4(参见图4)中选择测试点来测量设置在测试电极amd11、amd12、amd13和amd14的面对区域fa1、fa2、fa3、fa4、fa5、fa6、fa7、fa8、fa9和fa10之间的具有不同距离的粘合构件acf的绝缘电阻。
127.在实施例中，通过从测试点tpo1、tpo2、tpo3和tpo4(参见图4)中选择测试点，可以根据使两个导体(例如，测试电极amd11、amd12、amd13和amd14)彼此绝缘的粘合构件acf的厚度或者当从俯视平面图观察时的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14之间的宽度来测量绝缘电阻。在一个实施例中，例如，通过选择第一测试点tpo1和第二测试点tpo2，可以测量设置在第一对准标记am1的第一测试电极amd11和第二测试电极amd12之间并具有基本上等于第一距离d1的厚度的粘合构件acf的绝缘电阻。在实施例中，通过选择第一测试点tpo1和第三测试点tpo3，可以测量设置在第一对准标记am1的第一测试电极amd11和第三测试电极amd13之间并具有基本上等于第二距离d2的厚度的粘合构件acf的绝缘电阻。
128.在这样的实施例中，如上所述，显示装置1的引线、线和焊盘之间的间距可以基于
所测量的粘合构件acf的绝缘电阻来调整。在这样的实施例中，可以改善显示装置1的可靠性。在这样的实施例中，通过将第一对准标记am1和第二对准标记am2划分成彼此间隔开不同距离的若干部分，可以容易地测量根据粘合构件acf的厚度的绝缘电阻。在这样的实施例中，通过将第一对准标记am1和第二对准标记am2划分成若干部分，可以在不使用任何附加元件的情况下有效地测量绝缘电阻。因此，可以基本上抑制或有效地防止工艺成本的增加和工艺效率的降低。
129.第二对准标记am2可以包括第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24。第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以彼此分离开某一距离。在实施例中，第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以彼此绝缘。当从俯视平面图观察时，第二对准标记am2的形状可以与第一对准标记am1的形状基本上相同。第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以分别与第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14相对应。
130.当第一膜300附着在显示面板100上时，第二对准标记am2可以面对第一对准标记am1。
131.第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以彼此间隔开第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10。第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10可以大于第一对准标记am1的第一距离d1、第二距离d2、第三距离d3、第四距离d4和第五距离d5。
132.在实施例中，第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10中的每一者可以在大约13μm至大约27μm的范围内，可以在大约15μm至大约25μm的范围内，可以在大约17μm至大约23μm的范围内，或者可以是大约20μm。第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10可以全部彼此相等，但是本公开不限于此。第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10可以全部彼此不同，或者第六距离d6、第七距离d7、第八距离d8、第九距离d9和第十距离d10中的一些距离可以彼此相等。
133.当第一膜300附着在显示面板100上使得第一对准标记am1和第二对准标记am2彼此重叠时，第二对准标记am2的测试电极amd21、amd22、amd23和amd24可以不与第一对准标记am1的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14之间的空间重叠。
134.在一个实施例中，例如，第二对准标记am2的第一测试电极amd21的下侧可以与第一对准标记am1的第一测试电极amd11的下侧对准，或者第二对准标记am2的第一测试电极amd21的下侧可以定位为比与第二对准标记am2重叠的第一对准标记am1的第一测试电极amd11的下侧更向内。
135.在实施例中，第一对准标记am1的第一测试电极amd11的下侧可以在第二方向dr2(例如，图5中的向下的方向)上从第二对准标记am2的第一测试电极amd21的下侧突出。因此，第二对准标记am2的第一测试电极amd21可以不与第一对准标记am1的第一测试电极amd11面对第二测试电极amd12的区域、第一对准标记am1的第一测试电极amd11面对第三测试电极amd13的区域、以及第一对准标记am1的第一测试电极amd11面对第四测试电极amd14
的区域中的任何一者重叠。
136.在实施例中，第二对准标记am2的第二测试电极amd22的上侧和右侧可以分别与第一对准标记am1的第二测试电极amd12的上侧和右侧对准，或者可以设置为分别比第一对准标记am1的第二测试电极amd12的上侧和右侧更向内。在实施例中，如图5中所示，第一对准标记am1的第二测试电极amd12的第一侧可以相对于第一对准标记am1的第二测试电极amd12和第二对准标记am2的第二测试电极amd22比第二对准标记am2的第二测试电极amd22的一侧(例如，在第二方向dr2上的上侧)向外突出，并且第一对准标记am1的第一测试电极amd11的第一侧可以相对于第一对准标记am1的第一测试电极amd11和第二对准标记am2的第一测试电极amd21比第二对准标记am2的第一测试电极amd21的一侧(例如，在第二方向dr2上的下侧)向外突出。在实施例中，第二对准标记am2的第二测试电极amd22和第二对准标记am2的第一测试电极amd21可以在第二方向dr2上彼此间隔开，粘合构件acf介于第二测试电极amd22和第一测试电极amd21之间。
137.第二对准标记am2的第三测试电极amd23的上侧、左侧和右侧可以分别与第一对准标记am1的第三测试电极amd13的上侧、左侧和右侧对准，或者可以设置为分别比第一对准标记am1的第三测试电极amd13的上侧、左侧和右侧更向内。
138.第二对准标记am2的第四测试电极amd24的上侧和左侧可以分别与第一对准标记am1的第四测试电极amd14的上侧和左侧对准，或者可以设置为分别比第一对准标记am1的第四测试电极amd14的上侧和左侧更向内。
139.因此，通过使用第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14，可以改善测量绝缘电阻和确定绝缘间隙的工艺的可靠性。在这样的实施例中，第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以对第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14之间的距离d1、d2、d3、d4和d5没有影响，并且因此，可以基于第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14之间的距离d1、d2、d3、d4和d5来测量绝缘电阻和绝缘间隙。因此，可以改善测量结果的可靠性。
140.在第一对准标记am1包括第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14并且第二对准标记am2包括第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24的这样的实施例中，第一对准标记am1和第二对准标记am2可以用作对准标记。
141.在这样的实施例中，即使第一对准标记am1和第二对准标记am2中的每一者被划分成多个部分，仍可以通过将第一对准标记am1的大致或总体形状与第二对准标记am2的大致或总体形状匹配使第一对准标记am1和第二对准标记am2有效地彼此对准。因此，显示面板100和第一膜300可以使用第一对准标记am1和第二对准标记am2彼此对准。在一个实施例中，例如，当从俯视平面图观察时，第一对准标记am1和第二对准标记am2中的每一者的大致形状可以包括倒t形形状，并且第一对准标记am1和第二对准标记am2可以通过使形状匹配并将第一对准标记am1和第二对准标记am2置于误差容限内而彼此对准。
142.在实施例中，通过将第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14分别与第二对准标记am2的第一测试电极
amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24对准，第一对准标记am1和第二对准标记am2可以彼此对准，并且因此，显示面板100和第一膜300可以彼此有效地对准。在一个实施例中，例如，通过将第一对准标记am1的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14分别与第二对准标记am2的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24匹配，并且将第一对准标记am1和第二对准标记am2置于误差容限内，第一对准标记am1和第二对准标记am2可以彼此对准。
143.在下文中，将参照图8和图9详细地描述根据实施例的制造显示装置的方法。
144.图8是用于示出根据本公开的实施例的制造显示装置的方法的视图。图9是示出测量绝缘电阻的方法的电路图。图8是进一步示出测量显示装置1的粘合构件acf的绝缘电阻的方法的视图。
145.参照图7、图8和图9，制造显示装置1的方法的实施例可以包括：在根据粘合构件acf的厚度测量绝缘电阻和绝缘间隙之前，在显示面板100上对准并提供粘合构件acf；通过使用第一对准标记am1和第二对准标记am2将其上提供有粘合构件acf的显示面板100与第一膜300对准；通过粘合构件acf将显示面板100和第一膜300彼此附着；以及测量粘合构件acf的绝缘电阻和绝缘间隙。可以按照上述顺序执行所述方法的工艺，但是本公开不限于此。可以修改或改变这样的工艺顺序。
146.根据本公开的实施例，可以通过夹具400和连接到夹具400的电阻测量装置500测量根据显示装置1的粘合构件acf的厚度的绝缘电阻和绝缘间隙。电阻测量装置500可以将预定的输入电压通过夹具400提供给测试点tpo，并且可以测量输出电压和漏电流。以这种方式，可以测量绝缘电阻。
147.在实施例中，绝缘电阻rx可以与施加的电压v的大小成正比，并且可以与漏电流i的大小成反比，如下面的等式1中所示：
148.[等式1]
[0149][0150]
可以通过两个夹具400中的一个来施加电压v，并且可以通过两个夹具400中的另一个来测量漏电流i。因此，可以测量施加的电压v的大小和漏电流i的大小，并且可以基于施加的电压v的大小和漏电流i的大小获得绝缘电阻rx。
[0151]
在一个实施例中，例如，当夹具400分别与第一测试点tpo1和第二测试点tpo2接触时，可以通过与第一测试点tpo1接触的夹具400施加电压v，并且可以通过与第二测试点tpo2接触的夹具400测量漏电流i。因此，电阻测量装置500可以计算绝缘体的绝缘电阻rx，所述绝缘体例如设置在第一对准标记am1的电连接到第一测试点tpo1的第一测试电极amd11和电连接到第二测试点tpo2的第二测试电极amd12之间的粘合构件acf(参见图7)。
[0152]
在一个实施例中，例如，当夹具400分别与第一测试点tpo1和第三测试点tpo3接触时，可以通过与第一测试点tpo1接触的夹具400施加电压v，并且可以通过与第三测试点tpo3接触的夹具400测量漏电流i。因此，电阻测量装置500可以计算绝缘体的绝缘电阻rx，所述绝缘体例如设置在第一对准标记am1的电连接到第一测试点tpo1的第一测试电极amd11和电连接到第三测试点tpo3的第三测试电极amd13之间的粘合构件acf(参见图7)。
[0153]
按照与上述方式相同的方式，根据与夹具400接触的测试点tpo，可以测量绝缘体的绝缘电阻，所述绝缘体例如设置在第一对准标记am1的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14之间的粘合构件acf(参见图7)。第一对准标记am1的测试电极amd11、amd12、amd13和amd14在它们彼此面对处彼此间隔开不同的距离，并且因此，可以根据将要与夹具400接触的测试点tpo测量不同距离的绝缘电阻rx。
[0154]
在实施例中，在测量绝缘电阻rx的工艺期间，可以进一步考虑夹具400与测试点tpo之间的接触电阻、每条线的电阻、引线与焊盘之间的接触电阻以及第一对准标记am1和第二对准标记am2之间的接触电阻。
[0155]
在下文中，将描述本公开的可替代的实施例。在这样的实施例中，与上述元件相同或相似的元件将由相同或相似的附图标记表示，并且将省略或简化其任何重复的详细描述。将着重于与上述实施例的不同之处进行描述。
[0156]
图10是根据可替代的实施例的第一对准标记的平面图。
[0157]
图10的第一对准标记am1_1与图6的第一对准标记am1的不同之处在于，当从俯视平面图观察时，前者具有与后者不同的形状。
[0158]
在这样的实施例中，第一对准标记am1_1可以包括第一测试电极amd11_1、第二测试电极amd12_1、第三测试电极amd13_1和第四测试电极amd14_1。第一对准标记am1_1的第二测试电极amd12_1和第四测试电极amd14_1可以不在第一方向dr1上相对于第一测试电极amd11_1突出。
[0159]
在这样的实施例中，第二测试电极amd12_1的在第一方向dr1上的侧表面(当从俯视平面图观察时为左侧)可以在第二方向dr2上与第一测试电极amd11_1的在第一方向dr1上的侧表面(当从俯视平面图观察时为左侧)对准，或者可以设置为比第一测试电极amd11_1的在第一方向dr1上的所述侧表面更向内侧。在这样的实施例中，第四测试电极amd14_1的在第一方向dr1上的侧表面(当从俯视平面图观察时为右侧)可以在第二方向dr2上与第一测试电极amd11_1的在第一方向dr1上的侧表面(当从俯视平面图观察时为右侧)对准，或者可以设置为比第一测试电极amd11_1的在第一方向dr1上的所述侧表面更向内。
[0160]
在这样的实施例中，尽管在附图中未示出，但是当从俯视平面图观察时，第二对准标记am2(参见图5)可以具有大致对应于第一对准标记am1_1的形状。然而，将理解的是，本公开不限于此。
[0161]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_1测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间隙。在这样的实施例中，由于第一对准标记am1_1可以形成为各种图案，因此工艺可以变得更方便，并且可以根据上述的测量绝缘电阻的方法进一步改善可靠性。
[0162]
图11是根据另一可替代的实施例的第一对准标记的平面图。
[0163]
图11的第一对准标记am1_2与图10的第一对准标记am1_1的不同之处在于，图11的第一对准标记am1_2还可以包括第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2。
[0164]
在这样的实施例中，如图11中所示，第一对准标记am1_2还可以包括第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2以及第一测试电极amd11_2、第二测试电极amd12_2、第三测试电极amd13_2和第四测试电极amd14_2。第二测试电极amd12_2、
第三测试电极amd13_2和第四测试电极amd14_2可以设置在第一测试电极amd11_2的在第二方向dr2上的一侧，同时第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2可以设置在第一测试电极amd11_2的在第二方向dr2上的相对侧。第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2可以在第一方向dr1上布置，并且可以彼此绝缘。
[0165]
第一测试电极amd11_2与第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2可以至少部分地彼此面对。第一测试电极amd11_2的第二侧还可以包括分别面对第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2的第十一面对区域fa11_2、第十二面对区域fa12_2和第十三面对区域fa13_2。
[0166]
第五测试电极amd15_2可以包括面对第一测试电极amd11_2的第十四面对区域fa14_2以及面对第六测试电极amd16_2的第十五面对区域fa15_2。
[0167]
第六测试电极amd16_2可以包括面对第一测试电极amd11_2的第十六面对区域fa16_2、面对第五测试电极amd15_2的第十七面对区域fa17_2以及面对第七测试电极amd17_2的第十八面对区域fa18_2。
[0168]
第七测试电极amd17_2可以包括面对第一测试电极amd11_2的第十九面对区域fa19_2以及面对第六测试电极amd16_2的第二十面对区域fa20_2。
[0169]
第一测试电极amd11_2的面对区域fa11_2、fa12_2和fa13_2可以分别包括第六宽度w6_2、第七宽度w7_2、第八宽度w8_2，并且第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2的面对区域fa14_2、fa15_2、fa16_2、fa17_2、fa18_2、fa19_2和fa20_2可以分别包括第六宽度w6_2、第九宽度w9_2、第七宽度w7_2、第九宽度w9_2、第十宽度w10_2、第八宽度w8_2和第十宽度w10_2。第六宽度w6_2、第七宽度w7_2、第八宽度w8_2、第九宽度w9_2和第十宽度w10_2可以分别基本上等于第一宽度w1、第二宽度w2、第三宽度w3、第四宽度w4和第五宽度w5。
[0170]
第一测试电极amd11_2的面对区域fa11_2、fa12_2和fa13_2以及第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2的面对区域fa14_2、fa15_2、fa16_2、fa17_2、fa18_2、fa19_2和fa20_2可以彼此间隔开第六距离d6_2、第七距离d7_2、第八距离d8_2、第九距离d9_2和第十距离d10_2。第六距离d6_2、第七距离d7_2、第八距离d8_2、第九距离d9_2和第十距离d10_2可以彼此不同，并且可以与面对区域fa1、fa2、fa3、fa4、fa5、fa6、fa7、fa8、fa9和fa10之间的距离d1、d2、d3、d4和d5不同。
[0171]
在这样的实施例中，尽管在附图中未示出，但是当从俯视平面图观察时，第二对准标记am2(参见图5)可以具有大致对应于第一对准标记am1_2的形状。然而，将理解的是，本公开不限于此。在一个实施例中，例如，如同第一对准标记am1_2那样，第二对准标记am2(参见图5)还可以包括第五测试电极至第七测试电极。测试点tpo(参见图4)的数量、测试焊盘t_pad(参见图4)的数量和测试引线t_le(参见图4)的数量等可以与第一对准标记am1_2的测试电极amd11_2、amd12_2、amd13_2、amd14_2、amd15_2、amd16_2和amd17_2的数量相对应。在一个实施例中，例如，测试点tpo(参见图4)的数量、测试焊盘t_pad(参见图4)的数量、测试引线t_le(参见图4)的数量等可以等于第一对准标记am1_2的测试电极amd11_2、amd12_2、amd13_2、amd14_2、amd15_2、amd16_2和amd17_2的数量。
[0172]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_2测量粘合构件acf(参见图7)的
绝缘电阻，并且可以确定绝缘间距。在这样的实施例中，由于第一对准标记am1_2还包括第五测试电极amd15_2、第六测试电极amd16_2和第七测试电极amd17_2，因此可以更精确地测量绝缘电阻。
[0173]
图12是根据又一可替代的实施例的第一对准标记的平面图。
[0174]
图12的实施例与图11的实施例的不同之处在于，第一对准标记am1_3的第五测试电极amd15_3、第六测试电极amd16_3和第七测试电极amd17_3设置在第一测试电极amd11_3的在第一方向dr1上的一侧。在这样的实施例中，第一测试电极amd11_3至第七测试电极amd17_3、面对区域fa1至fa20_3、面对区域fa1至fa20_3之间的距离d1至d10_3和宽度w1至w10_3与上面参照图11所描述的相应指标基本上相同，并且将省略对其任何重复的详细描述。
[0175]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_3测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间距。在这样的实施例中，由于第一对准标记am1_3可以形成为各种图案，因此工艺可以变得更方便，并且根据上述的测量绝缘电阻的方法可以进一步改善可靠性。
[0176]
图13是示出根据可替代的实施例的显示装置的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图。图13示出了显示面板100_4的焊盘区域pa的外围。
[0177]
图13的显示装置1_4与图4的实施例的不同之处在于，第二对准标记am2_4设置在显示面板100_4的基板sub上，并且第一对准标记am1_4设置在第一膜300_4的第一膜基板310上。
[0178]
在这样的实施例中，如图13中所示，第一对准标记am1_4可以设置在第一膜300_4的第一膜基板310上，同时第二对准标记am2_4可以设置在显示面板100_4的基板sub上。
[0179]
第一膜300_4还可以包括辅助测试引线ts_le：ts_le1、ts_le2、ts_le3和ts_le4。辅助测试引线ts_le：ts_le1、ts_le2、ts_le3和ts_le4可以设置在第一膜300_4的第一膜基板310上。第一膜300_4的辅助测试引线ts_le：ts_le1、ts_le2、ts_le3和ts_le4可以分别通过第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14物理连接和/或电连接到测试引线t_le的第一测试引线t_le1、第二测试引线t_le2、第三测试引线t_le3和第四测试引线t_le4。
[0180]
显示面板100_4还可以包括辅助测试焊盘ts_pad：ts_pad1、ts_pad2、ts_pad3和ts_pad4。当显示面板100_4附着到第一膜300_4时，显示面板100_4的辅助测试焊盘ts_pad：ts_pad1、ts_pad2、ts_pad3和ts_pad4可以分别与第一膜300_4的辅助测试引线ts_le：ts_le1、ts_le2、ts_le3和ts_le4重叠，并且可以分别物理连接和/或电连接到第一膜300_4的辅助测试引线ts_le：ts_le1、ts_le2、ts_le3和ts_le4。
[0181]
辅助测试焊盘ts_pad：ts_pad1、ts_pad2、ts_pad3和ts_pad4可以通过第三测试线t_l3：t_l31、t_l32、t_l33和t_l34物理连接和/或电连接到第二对准标记am2_4。因此，当显示面板100_4、第一膜300_4与第二膜200彼此附着时，第二膜200的测试点tpo可以电连接到设置在显示面板100_4的基板sub上的第二对准标记am2_4。
[0182]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_4测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间距。在这样的实施例中，由于第一对准标记am1_4和第二对准标记am2_4可以设置在不同的位置处，因此工艺可以变得更方便，并且根据上述的测量绝缘电阻的方法可以进一步改善可靠性。
[0183]
图14是根据本公开的可替代的实施例的显示装置的平面图。图15是示出根据可替代的实施例的显示装置的彼此耦接的显示面板和第二膜的视图。图16是示出彼此分离的图15的显示面板和第二膜的视图。图15和图16示出了显示面板100_5的焊盘区域pa的外围。
[0184]
图14至图16的显示装置1_5的实施例与图4的实施例的不同在于，显示装置1_5不包括第一膜300(参见图4)。
[0185]
在这样的实施例中，显示面板100_5可以是柔性显示面板。在这样的实施例中，显示面板100_5的基板sub可以是柔性基板。显示面板100_5可以包括主区域ma和连接到主区域ma的在第二方向dr2上的一侧的弯曲区域ba。显示面板100_5还可以包括辅助区域sa，辅助区域sa在面对主区域ma的在第二方向dr2上的一侧的一侧处连接到弯曲区域ba。
[0186]
显示区域da可以定位在主区域ma中。在主区域ma中，非显示区域nda可以定位在显示区域da的外围边缘处。
[0187]
弯曲区域ba可以通过主区域ma的一个较短边与主区域ma连接。在弯曲区域ba中，显示面板100_5可以朝向显示表面的相对侧以一曲率弯曲。当显示面板100_5在弯曲区域ba处弯曲时，显示面板100_5的表面可以反转。在实施例中，显示面板100_5的面朝上的表面可以被弯曲，使得显示面板100_5的该表面在弯曲区域ba处面朝外并且然后面朝下。
[0188]
辅助区域sa可以从弯曲区域ba延伸。当显示面板100_5在弯曲区域ba处弯曲时，辅助区域sa可以平行于主区域ma，并且可以从弯曲区域ba在与主区域ma从弯曲区域ba的延伸方向基本上相反的方向上延伸。焊盘区域pa可以定位在显示面板100_5的辅助区域sa上。
[0189]
在这样的实施例中，如图15中所示，驱动芯片350_5、面板焊盘p_pad和测试引线t_le可以设置在显示面板100_5的焊盘区域pa中。驱动芯片350_5可以通过第一信号线l1_5物理连接和/或电连接到显示区域da中的像素。驱动芯片350_5可以通过第二信号线l2_5物理连接和/或电连接到面板焊盘p_pad。
[0190]
驱动芯片350_5可以安装在显示面板100_5的表面上。驱动芯片350_5可以包括例如驱动显示面板100_5的集成电路，并且可以通过采用塑料覆晶(“cop”)技术被实现为显示面板驱动芯片。
[0191]
驱动芯片350_5还可以包括第一对准标记am1_5，并且显示面板100_5还可以包括第二对准标记am2_5。第一对准标记am1_5可以设置在驱动芯片350_5的后表面上，并且第二对准标记am2_5可以设置在显示面板100_5的基板sub的前表面上。当驱动芯片350_5附着在显示面板100_5的基板sub上时，第一对准标记am1_5和第二对准标记am2_5可以彼此面对。
[0192]
第二对准标记am2_5的测试电极amd21、amd22、amd23和amd24可以通过第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14物理连接和/或电连接到测试引线t_le：t_le1、t_le2、t_le3和t_le4。
[0193]
第二膜200_5可以包括主电路250_5、连接引线le_5、测试焊盘t_pad：t_pad1、t_pad2、t_pad3和t_pad4以及测试点tpo。主电路250_5、连接引线le_5、测试焊盘t_pad：t_pad1、t_pad2、t_pad3和t_pad4以及测试点tpo可以设置在第二膜200_5的后表面上。然而，将理解的是，本公开不限于此。
[0194]
主电路250_5可以通过第四信号线l4_5物理连接和/或电连接到连接引线le_5。测试点tpo可以通过第二测试线t_l2：t_l21、t_l22、t_l23和t_l24物理连接和/或电连接到测试焊盘t_pad。
[0195]
在实施例中，第二膜200_5可以直接附着到显示面板100_5。在这样的实施例中，显示面板100_5的面板焊盘p_pad可以物理连接和/或电连接到第二膜200_5的连接引线le_5。显示面板100_5的测试引线t_le可以物理连接和/或电连接到第二膜200_5的测试焊盘t_pad。因此，测试点tpo可以电连接到第二对准标记am2_5。
[0196]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_5测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间隙。在这样的实施例中，在省略第一膜300(参见图4)的情况下，可以测量绝缘电阻并且可以确定绝缘间隙。因此，工艺可以变得更方便，并且根据上述的测量绝缘电阻的方法可以进一步改善可靠性。
[0197]
图17是示出根据另一可替代的实施例的显示装置的彼此耦接的显示面板和第二膜的视图。图18是示出图17的彼此分离的显示面板和第二膜的视图。图17和图18示出了显示面板100_6的焊盘区域pa的外围。
[0198]
图17和图18的实施例与图14至图16的实施例的不同之处在于，显示装置1_6的第一对准标记am1_6和第二对准标记am2_6设置在显示面板100_6和第二膜200_6彼此重叠的位置处。
[0199]
在这样的实施例中，如图17中所示，第一对准标记am1_6可以设置在显示面板100_6的前表面上，同时第二对准标记am2_6可以设置在第二膜200_6的后表面上。第二对准标记am2_6可以通过第二测试线t_l2：t_l21、t_l22、t_l23和t_l24物理连接和/或电连接到测试点tpo：tpo1、tpo2、tpo3和tpo4。在这样的实施例中，例如驱动芯片350_6、第一信号线l1_6、第二信号线l2_6、连接引线le_6、第四信号线l4_6、第二膜200_6和主电路250_6的其他元件与上面描述的元件基本上相同，并且将省略对其任何重复的详细描述。
[0200]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_6测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间距。在这样的实施例中，在省略第一膜300(参见图4)的情况下，可以测量绝缘电阻，并且可以如上所述地确定绝缘间隙。因此，工艺可以变得更方便，并且可以根据上述的测量绝缘电阻的方法进一步改善可靠性。
[0201]
图19是示出根据又一可替代的实施例的显示装置的显示面板、第一膜和第二膜的布局的示意性平面图。图20是示出图19的彼此分离的显示面板、第一膜和第二膜的视图。
[0202]
图19和图20的实施例与图3和图4的实施例的不同之处在于，显示装置1_7的第一对准标记am1_7直接连接到第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14。
[0203]
在这样的实施例中，如图19和图20中所示，第一对准标记am1_7可以设置在第一膜300的第一膜基板310上，同时第二对准标记am2_7可以设置在显示面板100的基板sub上。第一对准标记am1_7的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14可以分别直接连接到第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14。在这样的实施例中，第二对准标记am2_7的第一测试电极amd21、第二测试电极amd22、第三测试电极amd23和第四测试电极amd24可以分别通过第一对准标记am1_7的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14电连接到第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14。
[0204]
在这样的实施例中，可以通过第一对准标记am1_7测量粘合构件acf(参见图7)的绝缘电阻，并且可以确定绝缘间距。在这样的实施例中，由于第一对准标记am1_7的第一测试电极amd11、第二测试电极amd12、第三测试电极amd13和第四测试电极amd14不经过第二
对准标记am2_7直接连接到第一测试线t_l1：t_l11、t_l12、t_l13和t_l14，因此可以进一步改善测量的绝缘电阻的可靠性。
[0205]
本发明不应被解释为局限于本文中阐述的实施例。而是，提供这些实施例使得本公开将是彻底的和完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达本发明的构思。
[0206]
尽管已经参照本发明的实施例具体示出并描述了本发明，但是本领域普通技术人员将理解，在不脱离由权利范围限定的本发明的精神或范围的情况下，可以在其中进行形式和细节上的各种改变。