一种分区寻址dTOF测距系统的制作方法

技术特征：
1.一种分区寻址dtof测距系统，其特征在于，包括：分区可寻址光源，内包含n个光源分区，n≥2；成像芯片，内有spad像素阵列，所述spad像素阵列分为n个像素分区，n≥2；存储器，内存储有所述光源分区与像素分区之间的映射表关系；光源启动控制器，根据所述的映射表关系，控制光源分区和与之对应的像素分区同时启动。2.根据权利要求1所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，所述spad像素阵列包括一spad宏像素阵列，所述spad宏像素阵列内包括多个宏像素，每个宏像素由m*n个spad像素构成，每个宏像素独立地进行单光子探测。3.根据权利要求2所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，每个宏像素中的spad像素单元共用同一tdc，或不同像素分区的宏像素共同一tdc。4.根据权利要求3所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，所述宏像素与tdc之间设有一个光子并发检测电路，当开启的宏像素中spad像素产生的光子脉冲时间差不满足光子并发性时，光子并发性检测电路无法输出有效雪崩信号。5.根据权利要求2所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，所述spad像素阵列还包括在spad宏像素阵列外的预留像素点，所述预留像素点为列spad像素点或/和行spad像素点。6.根据权利要求5所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，根据光斑落在成像芯片上的位置，动态调节spad像素间的bining，使光斑位置与spad宏像素阵列内宏像素位置对应。7.根据权利要求6所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，所述每个spad像素阵列内，每个spad像素与周围的四个像素点建立是否导通的逻辑关系，选择被同一光斑覆盖的多个像素点导通并联作为一个宏像素感光成像。8.根据权利要求1所述的分区寻址dtof测距系统，其特征在于，所述光源启动控制器用于控制不同光源分区和像素分区工作，当启动某一光源分区时，会同时启动对该分区光源成像的像素分区，光源分区依次点亮，对应的成像像素分区也一一对应地启动，一个周期即能完成对整个待测场景的照明与成像，得到整个待测场景的深度信息。

技术总结
本发明公开一种分区寻址dTOF测距系统，包括：分区可寻址光源，内包含N个光源分区，N≥2；成像芯片，内有SPAD像素阵列，所述SPAD像素阵列分为N个像素分区，N≥2；存储器，内存储有所述光源分区与像素分区之间的映射表关系；光源启动控制器，根据所述的映射表关系，控制光源分区和与之对应的像素分区同时启动。本发明采用使用可寻址的光源激，光投射器光源进行分区，同一时间只启动一个或多个区域的激光发光点以及与发光点对应的SPAD工作像素阵列，使用多个SPAD像素构成宏像素，以宏像素作为激光探测的基本单元，且不同宏像素之间的TDC可以复用，降低成像的噪声，提高信噪比，降低了电路设计复杂度，降低功耗的同时，也降低了设计成本和芯片面积。和芯片面积。和芯片面积。


技术研发人员：陈驰 李安 张莉萍
受保护的技术使用者：深圳市安思疆科技有限公司
技术研发日：2021.12.31
技术公布日：2022/4/29