效能计算系统、效能计算方法与电子装置与流程

技术特征：
1.一种效能计算方法，其特征在于，适用于一晶片，该晶片包含多个振荡器电路系统，该多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测该晶片的工作状态以调整该多个振荡信号的周期，其中该效能计算方法包含：当该晶片处于一第一工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第一效能值或该第一效能值的一近似值建构一第一函数；当该晶片处于一第二工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第二效能值或该第二效能值的一近似值建构一第二函数；依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数，以使该第一函数的图形与该第二函数的图形相交于一座标点；以及依据该第一函数与该第二函数建构该晶片的一效能函数。2.根据权利要求1所述的效能计算方法，其特征在于，该晶片的一输入输出(input/output，i/o)端用于接收一工作电压，该第一工作状态为该工作电压具有一第一电压值或是该晶片具有一第一温度，且建构该第一函数包含：自该多个振荡器电路系统收集该多个振荡信号；量测该晶片的该第一效能值；以及将多个第一权重值作为该第一函数的系数分别分配给该多个振荡信号的周期以建构该第一函数，并以该第一电压值或该第一温度作为该第一函数的一输入，且以该第一效能值或该第一效能值的该近似值作为该第一函数的一输出，以决定该多个第一权重值。3.根据权利要求2所述的效能计算方法，其特征在于，该第二工作状态为该工作电压具有一第二电压值或是该晶片具有一第二温度，且建构该第二函数包含：自该多个振荡器电路系统收集该多个振荡信号；量测该晶片的该第二效能值；以及将多个第二权重值作为该第二函数的系数分别分配给该多个振荡信号的周期以建构该第二函数，并以该第二电压值或该第二温度作为该第二函数的一输入，且以该第二效能值或该第二效能值的该近似值作为该第二函数的一输出，以决定该多个第二权重值。4.根据权利要求1所述的效能计算方法，其特征在于，依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数包含：若以该第二电压值作为该第一函数的一输入所得到的该第一函数的一输出大于或等于该第二效能值，则调整该第一函数的系数；以及若以该第一电压值作为该第二函数的一输入所得到的该第二函数的一输出大于或等于该第一效能值，则调整该第二函数的系数。5.根据权利要求4所述的效能计算方法，其特征在于，该第一函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第一线段与一第二线段，该第二函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第三线段与一第四线段，且建构该晶片的该效能函数包含：选择该第一线段与该第三线段中用于将一对应电压值映射至一较高效能值者作为该效能函数的图形的一第一部分；选择该第二线段与该第四线段用于将另一对应电压值映射至另一较高效能值者作为该效能函数的图形的一第二部分；以及依据该第一部分、该第二部分与该座标点建构该效能函数。
6.根据权利要求1所述的效能计算方法，其特征在于，依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数包含：若以该第二电压值作为该第一函数的一输入所得到的该第一函数的一输出小于或等于该第二效能值，则调整该第一函数的系数；以及若以该第一电压值作为该第二函数的一输入所得到的该第二函数的一输出小于或等于该第一效能值，则调整该第二函数的系数。7.根据权利要求6所述的效能计算方法，其特征在于，该第一函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第一线段与一第二线段，该第二函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第三线段与一第四线段，且建构该晶片的该效能函数包含：选择该第一线段与该第三线段中用于将一对应电压值映射至一较低效能值者作为该效能函数的图形的一第一部分；选择该第二线段与该第四线段中用于将另一对应电压值映射至另一较低效能值者作为该效能函数的图形的一第二部分；以及依据该第一部分、该第二部分与该座标点建构该效能函数。8.根据权利要求1所述的效能计算方法，其特征在于，该效能函数的多个输出包含该第一效能值或该第一效能值的该近似值、该第二效能值或该第二效能值的该近似值、以及对应于该座标点的一第三效能值。9.根据权利要求1或8所述的效能计算方法，其特征在于，该第一效能值与该第一效能值的该近似值之间的差异为该第一效能值的0.1～1％，该第二效能值与该第二效能值的该近似值之间的差异为该第二效能值的0.1～1％。10.一种效能计算系统，其特征在于，包含：一电子装置；以及一晶片，耦接于该电子装置，且包含：多个振荡器电路系统，用于产生多个振荡信号，且用于感测该晶片的工作状态以调整该多个振荡信号的周期；以及一控制电路，耦接于该多个振荡器电路系统，用于传输该多个振荡信号至该电子装置；其中，该电子装置被设置为执行以下操作：当该晶片处于一第一工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第一效能值或该第一效能值的一近似值建构一第一函数；当该晶片处于一第二工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第二效能值或该第二效能值的一近似值建构一第二函数；依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数，以使该第一函数的图形与该第二函数的图形相交于一座标点；以及依据该第一函数与该第二函数建构该晶片的一效能函数。11.根据权利要求10所述的效能计算系统，其特征在于，该晶片的一输入输出(input/output，i/o)端用于接收一工作电压，该第一工作状态为该工作电压具有一第一电压值或是该晶片具有一第一温度，且当该电子装置建构该第一函数时，该电子装置还被设置为执行以下操作：自该控制电路接收该多个振荡信号；
量测该晶片的该第一效能值；以及将多个第一权重值作为该第一函数的系数分别分配给该多个振荡信号的周期以建构该第一函数，并以该第一电压值或该第一温度作为该第一函数的一输入，且以该第一效能值或该第一效能值的该近似值作为该第一函数的一输出，以决定该多个第一权重值。12.根据权利要求11所述的效能计算系统，其特征在于，该第二工作状态为该工作电压具有一第二电压值或是该晶片具有一第二温度，且当该电子装置建构该第二函数时，该电子装置还被设置为执行以下操作：自该控制电路接收该多个振荡信号；量测该晶片的该第二效能值；以及将多个第二权重值作为该第二函数的系数分别分配给该多个振荡信号的周期以建构该第二函数，并以该第二电压值或该第二温度值作为该第二函数的一输入，且以该第二效能值或该第二效能值的该近似值作为该第二函数的一输出，以决定该多个第二权重值。13.根据权利要求10所述的效能计算系统，其特征在于，当该电子装置依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数时，该电子装置被设置为执行以下操作：若以该第二电压值作为该第一函数的一输入所得到的该第一函数的一输出大于或等于该第二效能值，则调整该第一函数的系数；以及若以该第一电压值作为该第二函数的一输入所得到的该第二函数的一输出大于或等于该第一效能值，则调整该第二函数的系数。14.根据权利要求13所述的效能计算系统，其特征在于，该第一函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第一线段与一第二线段，该第二函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第三线段与一第四线段，且当该电子装置建构该晶片的该效能函数时，该电子装置被设置为执行以下操作：选择该第一线段与该第三线段中用于将一对应电压值映射至一较高效能值者作为该效能函数的图形的一第一部分；选择该第二线段与该第四线段中用于将另一对应电压值映射至另一较高效能值者作为该效能函数的图形的一第二部分；以及依据该第一部分、该第二部分与该座标点建构该效能函数。15.根据权利要求10所述的效能计算系统，其特征在于，当该电子装置依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数时，该电子装置被设置为执行以下操作：若以该第二电压值作为该第一函数的一输入所得到的该第一函数的一输出小于或等于该第二效能值，则调整该第一函数的系数；以及若以该第一电压值作为该第二函数的一输入所得到的该第二函数的一输出小于或等于该第一效能值，则调整该第二函数的系数。16.根据权利要求15所述的效能计算系统，其特征在于，该第一函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第一线段与一第二线段，该第二函数的图形包含分别位于该座标点左侧与右侧的一第三线段与一第四线段，且当该电子装置建构该晶片的该效能函数时，该电子装置被设置为执行以下操作：
选择该第一线段与该第三线段中用于将一对应电压值映射至一较低效能值者作为该效能函数的图形的一第一部分；选择该第二线段与该第四线段中用于将另一对应电压值映射至另一较低效能值者作为该效能函数的图形的一第二部分；以及依据该第一部分、该第二部分与该座标点建构该效能函数。17.根据权利要求10所述的效能计算系统，其特征在于，该效能函数的多个输出包含该第一效能值或该第一效能值的该近似值、该第二效能值或该第二效能值的该近似值、以及对应于该座标点的一第三效能值。18.根据权利要求10或17所述的效能计算系统，其特征在于，该第一效能值与该第一效能值的该近似值之间的差异为该第一效能值的0.1～1％，该第二效能值与该第二效能值的该近似值之间的差异为该第二效能值的0.1～1％。19.一种电子装置，其特征在于，用于耦接于一晶片，其中该晶片包含多个振荡器电路系统与一控制电路，其中该多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测该晶片的工作状态以调整该多个振荡信号的周期，其中该控制电路耦接于该多个振荡器电路系统，且用于传输该多个振荡信号至该电子装置，其中该电子装置被设置为执行以下操作：当该晶片处于一第一工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第一效能值或该第一效能值的一近似值建构一第一函数；当该晶片处于一第二工作状态时，依据该多个振荡信号的周期，且依据该晶片的一第二效能值或该第二效能值的一近似值建构一第二函数；依据该第一函数的图形与该第二函数的图形的走势，调整该第一函数的系数或该第二函数的系数，以使该第一函数的图形与该第二函数的图形相交于一座标点；以及依据该第一函数与该第二函数建构该晶片的一效能函数。20.根据权利要求19所述的电子装置，其特征在于，该效能函数的多个输出包含该第一效能值或该第一效能值的该近似值、该第二效能值或该第二效能值的该近似值、以及对应于该座标点的一第三效能值。

技术总结
本揭示文件有关一种效能计算系统、效能计算方法与电子装置。一种效能计算方法，适用于晶片，晶片包含多个振荡器电路系统，多个振荡器电路系统用于产生多个振荡信号，且用于感测晶片的工作状态以改变多个振荡信号的周期。计算方法包含以下流程：当晶片处于第一工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第一效能值或第一效能值的近似值建构第一函数；当晶片处于第二工作状态时，依据多个振荡信号的周期，且依据晶片的第二效能值或第二效能值的近似值建构第二函数；依据第一与第二函数的图形的走势，调整第一或第二函数的系数，使第一与第二函数的图形相交于一座标点；依据第一与第二函数建构晶片的效能函数。上述的计算方法能精确估计晶片的效能。法能精确估计晶片的效能。法能精确估计晶片的效能。


技术研发人员：汪鼎豪 林倍如
受保护的技术使用者：台湾积体电路制造股份有限公司
技术研发日：2020.10.19
技术公布日：2022/4/22