显示面板、显示装置、电子设备和裂纹检测方法与流程

技术特征：

1.一种显示面板，具有显示区和非显示区，所述显示面板还包括：

第一检测线，设置在所述非显示区中，且围绕所述显示区走线；

第二检测线，设置在所述非显示区中；

其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的膜层、材料和厚度均相同，且走线长度和/或走线线宽不同。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽相同；所述第一检测线的走线长度大于或等于3倍的所述第二检测线的走线长度。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线长度相同；所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽不同。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线均围绕所述显示区一圈走线。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二检测线设置于所述第一检测线靠近所述显示区的一侧。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：

驱动组件，位于所述非显示区；所述第二检测线位于被所述驱动组件覆盖的部分所述非显示区。

7.一种显示装置，其特征在于，包括：

如权利要求1-6任意一项所述的显示面板；

裂纹检测电路，分别连接所述第一检测线的第一端和第二端，且分别连接所述第二检测线的第三端和第四端；所述裂纹检测电路用于分别对所述第一检测线和所述第二检测线施加电信号，获取所述第一检测线的第一电学参数和所述第二检测线的第二电学参数，以及根据所述第一电学参数和所述第二电学参数判断所述显示面板是否存在裂纹。

8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线的走线长度为L1，所述第二检测线的走线长度为L2；所述第一检测线的第一电学参数为第一电阻R1，所述第二检测线的第二电学参数为第二电阻R2；所述裂纹检测电路用于将所述第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将R1与R2的比值与L1与L2的比值进行比较；其中，

响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值等于L1与L2的比值，则确定所述显示面板不存在裂纹；

响应于所述第一电阻R1未处于所述第一检测线的理论电阻范围内，和/或R1与R2的比值不等于L1与L2的比值，则确定所述显示面板存在裂纹。

9.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一检测线的走线线宽为W1，所述第二检测线的走线线宽为W2，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽波动幅度为2X；所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围为大于等于(W2-X)/(W1 X)且小于等于(W2 X)/(W1-X)；

所述裂纹检测电路用于将所述第一检测线的第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将所述第一检测线的第一电阻R1与所述第二检测线的第二电阻R2的比值与所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围进行比较；其中，

响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值处于所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围内，则确定所述显示面板不存在裂纹；

响应于所述第一电阻R1未处于所述第一检测线的理论电阻范围内，和/或R1与R2的比值未处于所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围内，则确定所述显示面板存在裂纹。

10.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求9所述的显示装置。

11.一种裂纹检测方法，其特征在于，所述裂纹检测方法包括：

采用相同工艺在待检测基板表面制备第一检测线和第二检测线；所述第一检测线与所述第二检测线的材料和厚度相同，且走线长度和/或走线线宽不同；

分别对所述第一检测线和所述第二检测线施加电信号；

获取所述第一检测线的第一电学参数和所述第二检测线的第二电学参数；以及

根据所述第一电学参数和所述第二电学参数判断所述待检测基板是否存在裂纹。

12.根据权利要求11所述的裂纹检测方法，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽相同且走线长度不同，所述第一检测线的走线长度为L1，所述第二检测线的走线长度为L2；

所述获取所述第一检测线的第一电学参数和所述第二检测线的第二电学参数的步骤包括：

获取所述第一检测线的第一电阻R1和所述第二检测线的第二电阻R2；

所述根据所述第一电学参数和所述第二电学参数判断所述待检测基板是否存在裂纹的步骤包括：

将所述第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将R1与R2的比值与L1与L2的比值进行比较；

响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值等于L1与L2的比值，则确定所述待检测基板不存在裂纹；

响应于所述第一电阻R1未处于所述第一检测线的理论电阻范围内，和/或R1与R2的比值不等于L1与L2的比值，则确定所述待检测基板存在裂纹。

13.根据权利要求11所述的裂纹检测方法，其特征在于，所述第一检测线与所述第二检测线的走线长度相同且走线线宽不同，所述第一检测线的走线线宽为W1，所述第二检测线的走线线宽为W2，所述第一检测线与所述第二检测线的走线线宽波动幅度为2X；所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围为大于等于(W2-X)/(W1 X)且小于等于(W2 X)/(W1-X)；

所述获取所述第一检测线的第一电学参数和所述第二检测线的第二电学参数的步骤包括：

获取所述第一检测线的第一电阻R1和所述第二检测线的第二电阻R2；

所述根据所述第一电学参数和所述第二电学参数判断所述待检测基板是否存在裂纹的步骤包括：

将所述第一电阻R1与所述第一检测线的理论电阻范围进行比较，并将R1与R2的比值与所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围进行比较；

响应于所述第一电阻R1处于所述第一检测线的理论电阻范围内，且R1与R2的比值处于所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围内，则确定所述待检测基板不存在裂纹；

响应于所述第一电阻R1未处于所述第一检测线的理论电阻范围内，和/或R1与R2的比值未处于所述第一检测线的理论电阻与所述第二检测线的理论电阻的比值范围内，则确定所述待检测基板存在裂纹。

技术总结
本申请提供一种显示面板、显示装置、电子设备和裂纹检测方法。显示装置包括显示面板和裂纹检测电路。显示面板包括第一检测线、第二检测线和裂纹检测电路。第一检测线的两端和第二检测线的两端分别连接在裂纹检测电路上，第一检测线与第二检测线的方块电阻相同且走线长度和/或走线线宽不同，使得第一检测线和第二检测线的理论电学参数不同；通过裂纹检测电路分别对第一检测线和第二检测线施加电信号，检测第一检测线的第一电学参数和第二检测线的第二电学参数，进而根据第一电学参数和第二电学参数的比值与第一检测线理论电学参数和第二检测线理论电学参数的比值进行比较，进而消除工艺波动造成的干扰，提高了裂纹检测的精确度。

技术研发人员：梁斌;李荣荣;
受保护的技术使用者：长沙惠科光电有限公司;惠科股份有限公司;
技术研发日：2021.12.27
技术公布日：2022.04.19