一种BGA芯片快速测试治具的制作方法

技术特征：
1.一种bga芯片快速测试治具，包括检测台(1)，其特征在于：所述检测台(1)的下表面四角处均固定连接有支撑腿(2)，检测台(1)的上表面通过卡接机构固定连接有测试治具本体(4)，所述卡接机构包括顶块(11)、压板(8)、通槽(12)、插杆(13)、安装槽(15)、压缩弹簧(14)和卡块(16)，测试治具本体(4)的下表面固定连接有两个对称设置的插杆(13)，检测台(1)的上表面开设有两个对称设置的插槽，插杆(13)伸入插槽内并与其滑动连接，插杆(13)伸入插槽内部分侧壁开设有安装槽(15)，安装槽(15)内滑动连接有卡块(16)，检测台(1)的侧壁开设有通槽(12)，通槽(12)内滑动连接有顶块(11)，顶块(11)的一端伸出通槽(12)并固定连接有压板(8)，卡块(16)的一端伸出安装槽(15)伸入通槽(12)内并与其滑动连接，安装槽(15)内侧壁设置有压缩弹簧(14)，压缩弹簧(14)的两端分别与安装槽(15)内侧壁和卡块(16)侧壁连接，卡块(16)与顶块(11)接触，测试治具本体(4)的上表面固定安装有测试板(5)。2.根据权利要求1所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述测试治具本体(4)后端面侧壁通过合页转动连接有保护盖(6)，保护盖(6)内壁开设有与测试板(5)匹配设置的凹槽(7)。3.根据权利要求1所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述检测台(1)的下表面开设有两个对称设置的槽口(17)，槽口(17)内固定安装有散热风扇(18)。4.根据权利要求1所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述支撑腿(2)的下表面固定连接有橡胶垫(3)。5.根据权利要求1所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述检测台(1)的侧壁固定连接有两个对称设置的限位板(9)，压板(8)与限位板(9)的侧壁滑动连接。6.根据权利要求1所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述压板(8)与检测台(1)相对面侧壁之间设置有两个对称设置的伸缩弹簧(10)。7.根据权利要求3所述的一种bga芯片快速测试治具，其特征在于，所述散热风扇(18)的外表面固定安装有防尘网板(19)。

技术总结
本实用新型公开了一种BGA芯片快速测试治具，涉及BGA芯片测试技术领域。本实用新型包括检测台，检测台的下表面四角处均固定连接有支撑腿，检测台的上表面通过卡接机构固定连接有测试治具本体，测试治具本体的下表面固定连接有两个对称设置的插杆，检测台的下表面开设有两个对称设置的插槽，插杆伸入插槽内并与其滑动连接，插杆伸入插槽内部分侧壁开设有安装槽，安装槽内滑动连接有卡块，检测台的侧壁开设有通槽，通槽内滑动连接有顶块，测试治具本体的上表面固定安装有测试板。本实用新型解决现有的测试治具在进行插拔时测试治具本体易出现晃动等，难以对测试治具进行快速固定安装处理，从而影响装置的测试效果，带来了极大的不便问题。不便问题。不便问题。


技术研发人员：王悦聪 徐艺凌
受保护的技术使用者：四川和恩泰半导体有限公司
技术研发日：2021.11.04
技术公布日：2022/4/15